1、高頻電子線路實 驗 指 導 書衛建華 宋鵬編 徐進審實驗要求 1實驗前必須充分預習，完成指定的預習任務。預習要求如下：1） 認真閱讀實驗指導書，分析、掌握實驗電路的工作原理，并進 行必要的估算。 2）完成各實驗“預習要求”中指定的內容。 3）熟悉實驗任務。 4）預習實驗中所用各儀器的使用方法及注意事項。2使用儀器和學習機前必須了解其性能、操作方法及注意事項，在 使用時應嚴格遵守。3實驗時接線要認真，相互仔細檢查，確定無誤才能接通電源，初 學或沒有把握應經指導教師審查同意后再接通電源。 4高頻電路實驗注意： 1）將實驗板插入主機插座后，即已接通地線，但實驗板所需的正負電源則要另外使用導線進行連接

2、。2）由于高頻電路頻率較高，分布參數及相互感應的影響較大。所以在接線時連接線要盡可能短。接地點必須接觸良好，以減少干擾。3）做放大器實驗時如發現波形削頂失真甚至變成方波，應檢查工作點設置是否正確，或輸入信號是否過大。5實驗時應注意觀察，若發現有破壞性異常現象（例如有元件冒煙、 發燙或有異味）應立即關斷電源，保持現場，報告指導教師。找 出原因、排除故障，經指導教師同意再繼續實驗。 6實驗過程中需要改接線時，應關斷電源后才能拆、接線。7實驗過程中應仔細觀察實驗現象，認真記錄實驗結果(數據、波形、 現象) 。所記錄的實驗結果經指導教師審閱簽字后再拆除實驗線 路。8實驗結束后，必須關斷電源、拔出電源插

3、頭，并將儀器、設備、 工具、導線等按規定整理9實驗后每個同學必須按要求獨立完成實驗報告實驗一 高頻常用儀器的使用一、實驗目的 1.熟悉高頻電路實驗箱。 2.熟悉高頻信號發生器的使用。 3.熟悉掃頻儀的使用。 4.熟悉毫伏表的使用。二、實驗儀器設備1.雙蹤示波器2.掃頻儀 3.高頻信號發生器4.毫伏表5.萬用表三、實驗內容及步驟1.高頻信號發生器的使用。（1）名稱：多功能函數信號產生器。（2）型號：GFG-813。（3）主要技術指標：內建兩部函數信號產生器。 （4）特性： ·頻率范圍：0.2Hz 2MHz。 ·粗調、微調旋鈕。 ·正弦波, 三角波, 方波, TTL

4、脈波和 CMOS 輸出。 ·附 4 位數內部頻率計數器。 ·0.5" 大型 LED 顯示器。 ·可調 DC offset 電位。 ·輸出過載保護。（5）性能參數見表1-1。表1-1 多功能函數信號產生器GFG-813性能參數主要輸出 波形正弦波, 三角波, 方波, Ramp 與 脈波輸出 振幅>20Vp-p (open circuit)； >10Vp-p (加 50W 負載) 阻抗50+10%衰減器 -20dB, -20dB+1.0dB (at 1kHz) 顯示幕4位LED顯示幕DC Offset<-10V >+10V,

5、 (<-5V >+5V 加 50W 負載)Duty Control1 : 1 to 10 : 1 continuously rating頻率范圍+5% + 1Hz (在 0.2, 2.0 刻度位置)Frequency controlSeparate coarse and fine tuning檔位準確度+5% + 1Hz (在 0.2, 2.0 刻度位置) 正弦波 失真<1% 0.2Hz 200kHz 頻率響應 <0.1dB 0.2Hz 100kHz；<0.5dB 100kHz 2MHz 三角波 線性98% 0.2Hz 100kHz； 95% 100kHz 2MH

6、z 方波對稱性 <2% 0.2Hz 100kHz 上升/下降時間<120nS CMOS 輸出Level4Vp-p±1Vp-p 14.5Vp-p±0.5Vp-p 可調上升/下降時間<120nSTTL 輸出 Level>3Vpp 上升/下降時間<30nS 頻率計數器模式內部范圍0.2Hz 2MHz準確度±Time Base accuracy ± 1 Count時基振蕩頻率 3.58MHz , 溫度穩定度 ± 20ppm (23°C±5°C)解析度0.1Hz, 1Hz, 10Hz, 100H

7、z, 1kHz VCF輸入電壓 約 0V10V ±1V input for 1000 : 1 frequency ratio 輸入阻抗10kW (±10%)使用電源交流 100V/120V/220V/230V ±10%, 50/60Hz 附件測試線 GTL-101 × 1, 操作手冊 × 1, 電源線 × 1 尺寸及重量230(寬) × 95(高) × 280(長) mm, 約 2.1 公斤2.熟悉掃頻儀的使用。（1）名稱：高頻掃頻儀。（2）型號：BT-5A。（3）主要技術指標及性能參數見表1-2。 表1-2 高頻

8、掃頻儀BT-5A主要技術指標及性能表指標名稱參數頻率范圍0.150MHz不平坦度<+/-0.5dB掃頻輸出0.5Vrms(75)頻率特性1、1.0/10MHz及外標功耗40W體積240(W)×310(H)×400(D)mm重量12kg3.熟悉毫伏表的使用。（1）名稱：高頻毫伏表。（2）型號：DA22A。（3）主要技術指標及性能參數見表1-3。 表1-3 高頻掃頻儀BT-5A主要技術指標及性能表參數名稱指標頻率范圍20 kHz -1000 MHz測量電壓范圍100V-300 V刻度特性線性刻度其他工作性能穩定，不用逐檔調零及自校， 可擴展量程，帶DB值讀出。重量1.5K

9、g四、實驗報告要求 1.寫明實驗目的。 2.簡述高頻信號發生器能產生的各種信號。 3.簡述毫伏表使用方法。4.簡述毫伏表的使用。 實驗二 單調諧回路諧振放大器一、實驗目的 1.熟悉電子元器件和高頻電路實驗箱。 2.熟悉諧振回路的幅頻特性分析-通頻帶與選擇性。 3.熟悉信號源內阻及負載對諧振回路的影響，從而了解頻帶擴展。 4.熟悉和了解放大器的動態范圍及其測試方法。二、實驗儀器設備1.雙蹤示波器2.掃頻儀 3.高頻信號發生器4.毫伏表5.萬用表三、實驗原理圖2-1 單調諧回路諧振放大器原理圖諧振放大器時各種電子設備中常用的一種電壓放大器，其特點是晶體管集電極負載不是純電阻而是由LC組成的并聯諧振

10、回路，當放大器的輸入信號頻率和諧振回路的振蕩頻率相同時，放大器處于諧振工作狀態，其輸出頻率f0= ，此時諧振回路呈純電阻性，放大器具有最高增益，信號頻率高于或低于f0時放大器失諧，增益下降。單調諧放大器優點是電路簡單，調整方便，缺點是選擇性較差。四、實驗內容及步驟1. 單調諧回路諧振放大器實驗電路見圖2-1(1).按圖2-1所示連接電路(注意接線前先測量+12V 電源電壓，無誤后，關斷電源再接線)。 (2).接線后仔細檢查，確認無誤后接通電源。2. 靜態測量實驗電路中選Re=1K 測量各靜態工作點，計算并填表2.1表2.1 靜態參數記錄表實 測實測計算根據VCE判斷V是否工作在放大區原因VBV

11、EICVCE是否 * VB，VE是三極管的基極和發射極對地電壓。 3.動態研究 (1). 測放大器的動態范圍ViV0(在諧振點) 選R=10K，Re=1K。把高頻信號發生器接到電路輸入端，電路輸出端接高頻毫伏表，選擇正常放大區的輸入電壓Vi，調節頻率f使其為10.7MHz，調節CT使回路諧振，使輸出電壓幅度為最大。此時調節Vi由0.02伏變到0.8伏，逐點記錄V0電壓，并填入 表2.2。Vi的各點測量值可根據(各自)實測情況來確定。表2.2 電壓值記錄表Vi(V)0.8V0(V)Re=1kRe=500Re=2K (2).當Re分別為500、2K時，重復上述過程，將結果填入表2.2。在同一坐標紙

12、上畫出IC不同時的動態范圍曲線，并進行比較和分析。 (3).用掃頻儀調回路諧振曲線。 仍選R=10K，Re=1K。將掃頻儀射頻輸出送入電路輸入端，電路輸出接至掃頻儀檢波器輸入端。觀察回路諧振曲線(掃頻儀輸出衰減檔位應根據實際情況來選擇適當位置)，調回路電容CT，使f0=10.7MHz。 注意：當掃頻儀的檢波探頭為高阻時，電路的輸出端必須接入RL，而當掃頻儀的檢波探頭為低阻探頭時，則不要接入RL（下同）。 (4).測量放大器的頻率特性 當回路電阻R=10K時, 選擇正常放大區的輸入電壓Vi，將高頻信號發生器輸出端接至電路輸入端，調節頻率f使其為10.7MHz，調節CT使回路諧振（輸出電壓幅度為最

13、大），此時的回路諧振頻率f0=10.7MHz為中心頻率，然后保持輸入電壓Vi不變，改變頻率f由中心頻率向兩邊逐點偏離，測得在不同頻率f時對應的輸出電壓V0，將測得的數據填入表2.3。頻率偏離范圍可根據(各自)實測情況來確定。計算f0=10.7MHz時的電壓放大倍數及回路的通頻帶和Q值。(5).改變諧振回路電阻，即R分別為2K，470時，重復上述測試，并填入表2.3。 比較通頻帶情況。表2.3 頻率與電壓值記錄表f(MHz)V0R=10KR= 2KR=470 五、實驗報告要求 1.寫明實驗目的。 2.畫出實驗電路的直流和交流等效電路，計算直流工作點，與實驗實測結果比較。 3.寫明實驗所用儀器、設

14、備及名稱、型號。4.整理實驗數據，并畫出幅頻特性。 實驗三 LC電容反饋式三點式振蕩器一、實驗目的1. 掌握LC三點式振蕩電路的基本原理，掌握LC電容反饋式三點振蕩電路設計及電 參數計算。2.掌握振蕩回路Q值對頻率穩定度的影響。 3.掌握振蕩器反饋系數不同時，靜態工作電流IEQ對振蕩器起振及振幅的影響。二、實驗儀器設備 1.雙蹤示波器 2.頻率計 3.萬用表三、 實驗內容及步驟 圖3-1 LC電容反饋式三點式振蕩器原理圖實驗電路見圖3-1。實驗前根據圖3-1所示原理圖在實驗板上找到相應器件及插孔并了解其作用。 1.檢查靜態工作點 (1).在實驗板+12V扦孔上接入+12V直流電源，注意電源極性

15、不能接反。 (2).反饋電容C不接，C接入(C=680pf)，用示波器觀察振蕩器停振時的情況。 注意：連接C的接線要盡量短。 (3).改變電位器RP測得晶體管V的發射極電壓VE，VE可連續變化，記下VE的最大值，計算IE值 設:Re=1K2.振蕩頻率與振蕩幅度的測試 實驗條件： Ie=2mA、C=120pf、C=680pf、R=110K(1).改變CT電容，當分別接為C9、C10、C11時，記錄相應的頻率值，并填入表3.1。(2).改變CT電容，當分別接為C9、C10、C11時，用示波器測量相應振蕩電壓的峰峰值VP-P，并填入表3.1。表3.1 頻率與振蕩電壓值記錄表CTf(MHz)VP-P5

16、0pf100pf150pf 3.測試當C、C不同時，起振點、振幅與工作電流IER的關系(R=110K)(1).取C=C3=100pf、C=C4=1200pf，調電位器RP使IEQ(靜態值)分別為表3.2所標各值,用示波器測量輸出振蕩幅度VP-P(峰-峰值),并填入表3.2。表3.2 輸出振蕩幅度記錄表IEQ(mA)0.81.01.52.02.53.03.54.04.55.0VP-P(V)(2).取C=C5=120pf、C=C6=680pf， C=C7=680pf、 C=C8=120pf，分別重復測試表3.2的內容。 4.頻率穩定度的影響(1).回路LC參數固定時，改變并聯在L1上的電阻使等效Q

17、值變化時，對振蕩頻率的影響。 實驗條件： C/C=100/1200pf、IEQ=3mA，改變L1的并聯電阻R，使其分別為1K、10K、110K， 分別記錄電路的振蕩頻率, 并填入表3.3。注意:頻率計后幾位跳動變化的情況。 (2).回路LC參數及Q值不變，改變IEQ對頻率的影響。 實驗條件： C/C=100/1200pf、R=110K、IEQ=3mA，改變晶體管IEQ，使其分別為表3.2所標各值，測出振蕩頻率，并填入表3.4。表3.3 振蕩頻率與并聯電阻關系記錄表R1K10K11OKf(MHz)表3.4 振蕩頻率與晶體管IEQ關系記錄表IEQ(mA)1234F(MHz)四、實驗報告要求 1.寫

18、明實驗目的。 2.寫明實驗所用儀器設備。 3.畫出實驗電路的直流與交流等效電路，整理實驗數據，分析實驗結果。4.以IEQ為橫軸，輸出電壓峰峰值VP-P為縱軸，將不同C/C值下測得的三組數據，在同一座標紙上繪制成曲線。 5.說明本振蕩電路有什么特點。實驗四 石英晶體振蕩器一、實驗目的 1.了解晶體振蕩器的工作原理及特點。 2.掌握晶體振蕩器的設計方法及參數計算方法。二、實驗儀器設備 1.雙蹤示波器2.頻率計3.萬用表。三、實驗內容及步驟圖4-1 晶體振蕩器原理圖 實驗電路見圖4-1 1.測振蕩器靜態工作點，調圖中RP，測得IEmin及IEmax。2.取RL=11K歐姆，測量當工作點在上述范圍時的

19、振蕩頻率及輸出電壓，填入表4.1。表4.1 振蕩頻率及輸出電壓關系表VE(V)f(MHz)VOP-P(V)3.負載不同時對頻率的影響，RL分別取110K，10K，1K，測出電路振蕩頻率，填入表4.2，并與LC振蕩器比較。 表4.2 振蕩頻率與RL關系表RL110K10K1Kf(MHz)四、實驗報告要求 1.畫出實驗電路的交流等效電路。 2.整理實驗數據。 3.比較晶體振蕩器與LC振蕩器帶負載能力的差異，并分析原因。 4.你如何肯定電路工作在晶體的頻率上。 5.根據電路給出的LC參數計算回路中心頻率,闡述本電路的優點。實驗五 振幅調制器一、實驗目的 1.掌握用集成模擬乘法器實現全載波調幅和抑制載

20、波雙邊帶調幅的方法與過程，并 研究已調波與二輸入信號的關系。 2.掌握測量調幅系數的方法。 3.通過實驗中波形的變換，學會分析實驗現象。二、實驗儀器設備 1.雙蹤示波器。 2.高頻信號發生器。 3.萬用表。 三、實驗電路說明圖5-1 1496芯片內部電路圖 幅度調制就是載波的振幅受調制信號的控制作周期性的變化。變化的周期與調制信號周期相同。即振幅變化與調制信號的振幅成正比。通常稱高頻信號為載波信號，低頻信號為調制信號，調幅器即為產生調幅信號的裝置。本實驗采用集成模擬乘法器1496來構成調幅器，圖5-1為1496芯片內部電路圖，它是一個四象限模擬乘法器的基本電路，電路采用了兩組差動對由V1-V4

21、組成，以反極性方式相連接，而且兩組差分對的恒流源又組成一對差分電路，即V5與V6，因此恒流源的控制電壓可正可負，以此實現了四象限工作。D、V7、V8為差動放大器V5、V6的恒流源。進行調幅時，載波信號加在V1-V4的輸入端，即引腳的、之間；調制信號加在差動放大器V5、V6的輸入端，即引腳的、之間，、腳外接1K電阻，以擴大調制信號動態范圍，已調制信號取自雙差動放大器的兩集電極(即引出腳、之間)輸出。用1496集成電路構成的調幅器電路圖如圖5-2所示，圖中RP1用來調節引出腳、之間的平衡，RP2用來調節、腳之間的平衡，三極管V為射極跟隨器，以提高調幅器帶負載的能力。四、實驗內容及步驟 實驗電路見圖

22、4-2圖5-2 1496構成的調幅器 1.直流調制特性的測量(1).調RP2電位器使載波輸入端平衡：在調制信號輸入端IN2加峰值為100mv，頻率為1KHz的正弦信號，調節Rp2電位器使輸出端信號最小，然后去掉輸入信號。(2).在載波輸入端IN1加峰值VC為10mv，頻率為100KHz的正弦信號，用萬用表測量A、B之間的電壓VAB，用示波器觀察OUT輸出端的波形，以VAB=0.1V為步長，記錄RP1由一端調至另一端的輸出波形及其峰值電壓，注意觀察相位變化，根據公式 VO=KVABVC(t) 計算出系數K值。并填入表5.1。表5.1 VAB 與輸出電壓關系表VABVO（P-P）K 2.實現全載波

23、調幅(1).調節RP1使VAB=0.1V，載波信號仍為VC(t)=10sin2×105t(mV)，將低頻信號Vs(t)=VSsin2×103t(mV)加至調制器輸入端IN2，畫出VS=30mV和100mV時的調幅波形(標明峰一峰值與谷一谷值)并測出其調制度m。(2).加大示波器掃描速率，觀察并記錄m=100%和m100%兩種調幅波在零點附近的波形情況。(3).載波信號VC(t)不變，將調制信號改為VS(t)=100sin2×103t(mV)調節RP1觀 察輸出波形VAM(t)的變化情況，記錄m=30%和m=100%調幅波所對應的VAB值。(4).載波信號VC(t)

24、不變，將調制信號改為方波，幅值為100mV，觀察記錄VAB=0V、0.1V、0.15V時的已調波。 3.實現抑制載波調幅(1).調RP1使調制端平衡，并在載波信號輸入端IN1加VC(t)=10Sin2×105t(mV) 信號，調制信號端IN2不加信號，觀察并記錄輸出端波形。(2).載波輸入端不變，調制信號輸入端IN2加VS(t)=100sin2×103t(mV) 信號， 觀察記錄波形，并標明峰一峰值電壓。(3).加大示波器掃描速率，觀察記錄已調波在零點附近波形，比較它與m=100%調幅波的區別。 (4).所加載波信號和調制信號均不變，微調RP2為某一個值，觀察記錄輸出波形。

25、 (5).在(4)的條件下，去掉載波信號，觀察并記錄輸出波形，并與調制信號比較。五、實驗報告要求 1.整理實驗數據，用坐標紙畫出直流調制特性曲線。 2.畫出調幅實驗中m=30%、m=100%、m100%的調幅波形，在圖上標明峰一峰值電壓。 3.畫出當改變VAB時能得到幾種調幅波形，分析其原因。 4.畫出100%調幅波形及抑制載波雙邊帶調幅波形，比較二者的區別。 實驗六 調幅波信號的解調一、實驗目的 1.進一步了解調幅波的原理，掌握調幅波的解調方法。 2.了解二極管包絡檢波的主要指標，檢波效率及波形失真。 3.掌握用集成電路實現同步檢波的方法。二、實驗儀器設備 1.雙蹤示波器 2.高頻信號發生器

26、 3.萬用表三、實驗電路說明 調幅波的解調即是從調幅信號中取出調制信號的過程，通常稱之為檢波。調幅波解調方法有二極管包絡檢波器和同步檢波器。 1. 二極管包絡檢波器適合于解調含有較大載波分量的大信號的檢波過程，它具有電路簡單，易于實現，本實驗如圖6-1所示，主要由二極管D及RC低通濾波器組成，它利用二極管的單向導電特性和檢波負載RC的充放電過程實現檢波。 所以RC時間常數選擇很重要， RC時間常數過大, 則會產生對角切割失真。RC時間常數太小，高頻分量會濾不干凈。圖6-1 二極管包絡檢波器 綜合考慮要求滿足下式:其中: m為調幅系數，fO為載波頻率，為調制信號角頻率。 圖中A對輸入的調幅波進行

27、幅度放大（滿足大信號的要求），D是檢波二極管，R4、C2、C3濾掉殘余的高頻分量，R5、和RP1是可調檢波直流負載，C5、R6、RP2是可調檢波交流負載，改變RP1和RP2可觀察負載對檢波效率和波形的影響。2.同步檢波器 利用一個和調幅信號的載波同頻同相的載波信號與調幅波相乘，再通過低通濾波器濾除高頻分量而獲得調制信號。本實驗如圖6-2所示，采用1496集成電路構成解調器，載波信號VC經過電容C1加在、腳之間，調幅信號VAM經電容C2加在、腳之間，相乘后信號由(12)腳輸出，經C4、C5、R6組成的低通濾波器，在解調輸出端，提取調制信號。圖6-2 1496構成的解調器 四、實驗內容及步驟 注意

28、:做此實驗之前需恢復實驗四的實驗內容2（1）的內容。(一)二極管包絡檢波器 實驗電路見圖6-11. 解調全載波調幅信號(1).m30%的調幅波的檢波 載波信號仍為VC(t)=10sin2×105(t)(mV)調節調制信號幅度，按調幅實驗中實驗內容2(1)的條件獲得調制度m30%的調幅波，并將它加至圖5-1信號輸入端，（需事先接入12V電源），由OUT1處觀察放大后的調幅波（確定放大器工作正常），在OUT2觀察解調輸出信號，調節RP1改變直流負載，觀測二極管直流負載改變對檢波幅度和波形的影響，記錄此時的波形。(2).適當加大調制信號幅度，重復上述方法，觀察記錄檢波輸出波形。(3).接入

29、C4，重復(1)、(2)方法，觀察記錄檢波輸出波形。 (4).去掉C4，RP1逆時針旋至最大，短接a、b兩點，在OUT3觀察解調輸出信號，調節RP2改變交流負載，觀測二極管交流負載對檢波幅度和波形的影響，記錄檢波輸出波形。 2.解調抑制載波的雙邊帶調幅信號。載波信號不變，將調制信號VS的峰值電壓調至80mV，調節RP1使調制器輸出為抑制載波的雙邊帶調幅信號，然后加至二極管包絡檢波器輸入端，斷開a、b兩點，觀察記錄檢波輸出OUT2端波形，并與調制信號相比較。(二)集成電路(乘法器)構成解調器 實驗電路見圖6-2 1.解調全載波信號 (1).將圖6-2中的C4另一端接地，C5另一端接A，按調幅實驗

30、中實驗內容2(1)的條件獲得調制度分別為30%，100%及100%的調幅波。將它們依次加至解調器VAM的輸入端，并在解調器的載波輸入端加上與調幅信號相同的載波信號，分別記錄解調輸出波形，并與調制信號相比。 (2).去掉C4，C5觀察記錄m=30%的調幅波輸入時的解調器輸出波形，并與調制信號相比較。然后使電路復原。 2.解調抑制載波的雙邊帶調幅信號 (1).按調幅實驗中實驗內容3(2)的條件獲得抑制載波調幅波，并加至圖6-2的VAM輸入端，其它連線均不變，觀察記錄解調輸出波形，并與調制信號相比較。 (2).去掉濾波電容C4，C5觀察記錄輸出波形。五、實驗報告要求1.通過一系列兩種檢波器實驗，將下

31、列內容整理在表內，并說明二種檢波結果的異同原因。輸入的調幅波波形m30%m=100%抑制載波調幅波二極管包絡檢波器輸出同步檢波輸出 2.畫出二極管包絡檢波器并聯C4前后的檢波輸出波形，并進行比較，分析原因。3.在同一張坐標紙上畫出同步檢波解調全載波及抑制載波時去掉低通濾波器中電容C4、C5前后各是什么波形，并分析二者為什么有區別。實驗七 變容二極管調頻振蕩器一、實驗目的 1.了解變容二極管調頻器電路原理及構成。 2.了解調頻器調制特性及測量方法。 3.觀察寄生調幅現象，了解其產生原因及消除方法。二、預習要求 1.復習變容二極管的非線性特性，及變容二極管調頻振蕩器調制特性。 2.復習角度調制的原

32、理和變容二極管調頻電路有關資料。三、實驗儀器設備 1.雙蹤示波器2.頻率計3.毫伏表 4.萬用表 5.實驗板G4四、實驗內容及步驟 實驗電路見圖7-1圖7-1 變容二極管構成的調頻振蕩器1.靜態調制特性測量 輸入端不接音頻信號，將頻率計接到調頻器的F端。C3(=100pf)電容分接與不接兩種狀態,調整RP1使Ed =4V時f0=6.5MHz，然后重新調節電位器RP1，使Ed在0.58V范圍內變化，將對應的頻率填入表7.1。 表7.1Ed(V)0.512345678f0(MHz)接C3不接C32. 動態測試(需利用相位鑒頻器作輔助測試)：重要提示：為進行動態測試，必須首先完成實驗九指導書中的第四

33、項第2條的內容，并利用其實驗結果，即相應的S曲線。(1). C3電容不接，調RP1使Ed=4V時，調RP2使=6.5MHz,自IN端口輸入頻率f=2KHz、VP-P=0.5V的音頻信號Vm，輸出端接至相位鑒頻器的輸入端，用示波器觀察解調輸出正弦波的波形，并記錄輸出幅值，將其與測量得出的S曲線相比較，計算出的對應的中心頻率與上下頻偏。將音頻信號VP-P分別改為0.8V、1V,重復以上步驟。將實驗所得數據填入表格（表格自擬），記下調制電壓幅度與調制波上下頻偏的關系，核算中心頻率附近動態調制靈敏度即曲線斜率S。將動態調制靈敏度與靜態調試特性相比較。(2).接上C3電容后測試，調整RP1使已調信號的中

34、心頻率f0接近S曲線的上下極點頻率，觀察解調后的波形。五、實驗報告要求 1.整理實驗數據 2.在同一坐標紙上畫出靜態調制特性曲線，并求出其調制靈敏度S，說明曲線斜率受哪些因素的影響。 3.在坐標紙上畫出動態調制特性曲線，說明輸出波形畸變原因。實驗八 相位鑒頻器一、實驗目的相位鑒頻器是模擬調頻信號解調的一種最基本的解調電路，它具有鑒頻靈敏度高，解調線性好等優點。通過本實驗： 1.熟悉相位鑒頻電路的基本工作原理。 2.了解鑒頻特性曲線(S曲線)的正確調整方法。 3.將變容二極管調頻器與相位鑒頻器兩實驗板進行聯機試驗，進一步了解調頻和解調全過程及整機調試方法。二、預習要求 1.認真閱讀實驗內容，預習

35、有關相位鑒頻的工作原理，以及典型電路和實用電路。 2.分析初級回路、次級回路和耦合回路有關參數對鑒頻器工作特性(S曲線)的影響。三、實驗儀器設備 1.雙蹤示波器 2.掃頻儀1. 頻率計 4.萬用表 5.實驗板G4四、實驗內容及步驟 實驗電路見圖8-11. 用掃頻儀調整鑒頻器的鑒頻特性。實驗條件:將實驗電路中E、F、G三個接點分別與半可調電容CT1、CT2、CT3連接。 將掃頻儀輸出信號接入實驗電路輸入端IN，其輸出信號不宜過大，一般用30db衰減器，掃頻頻標用外頻標，外頻標源采用高頻信號發生器，其輸出頻率調到6.5MHz。 (1).調整波形變換電路的回路頻率。將掃頻儀輸入檢波頭插入測式孔A，耦合電容CT3調到最小，此時顯示屏將顯示一諧振曲線圖形。調CT1使諧振曲線的諧振頻率為6.5MHZ，此時頻標應在曲線頂峰上，再加