Opensandshorts孫磊2009.03.12Contents測試目的基礎知識測試的基本原理PMU和PECardPMU測試方法Functional測試方法兩種測試方法的不足和生產中實際應用的方法PMU測試程序Function測試程序總結測試目的：檢驗測試系統和DVC的電氣連接情況(system&contact)

chip是否存在物理缺陷或DVC有組裝不良(Assembly&Physicaldefect)作為第一項的原因，個人認為是確認電氣連接，為以后的測試和不良分析提供基礎以Terachips的20SSOP-225產品為例：PMUTEST

Openshort的測試時間占總測試時間的11.2%-12.1%

Openshort的Function測試時間很短，>(4+signalPin)*10us.

設備消耗的時間和測試系統需要的waittime和settlingtime，占大多數消耗時間現在產品的OSrata都是很小，通過Openshort來減少測試時間的說法不實際該做得是利用OS測試來發現測試過程中設備存在的問題：提高Primeyield，減少goodrataOpenshort的測試基礎：

如左圖PN結伏安特性圖所示：二極管的正向特性和反向特性，正向開啟電壓≈0.5V導通電壓0.6V-0.8V反向飽和電流＜0.1uA當導通電流在100-500uA時，導通電壓在0.65V左右利用以上描述的關系，OS測試利用ISVM測試法：二極管和連接都正常是，壓降為0.65V左右二極管或連接open時，壓降無限大二極管失效和連接ok時，壓降接近OV。VDDVSSSignalPinPMU的知識點包含:l:ForceandMeasurementModesISMV和VSMI不可以隨意切換2:ForceandSenseLines開爾文連接點，提高精度3:RangeSettings

不同的Rang對應不同的范圍4:LimitSettings

要小于測量范圍5:ClampSettings保護作用，不可忽略PMU單元說明PinElectronicscard說明1：TheDriver

驅動單元，VIH/VIL2:CurrentLoad(VREF）動態負載IOL/IOH3:VoltageReceiverComparator，還有一個叫DCDigitalCompare4：PMUConnection

T3324（MDC/UDC)5：HighSpeedCurrentComparatorsT3324MDC6:PPPMU（PerPinPMU）

T3324沒有所有Pin接地用PMU提供100uA給信號Pin，一次只提供電流給一個Pin并測量該Pin的電壓電壓大于1.5V是openfail，小于0.2V是shortfail。UpdiodeTest所有Pin接地用PMU提供-100uA給信號Pin，一次只提供電流給一個Pin并測量該Pin的電壓電壓小于-1.5V就是openfail，大于－0.2V是shortfail。DowndiodeTest特別說明1:Power和GND之間是有一個反向的PN結的，被稱為Naturaldiode。測試方法同Downdiode的測試，但需要單獨測試。對于T3324,更是需要單獨DUT單獨Power測試2：無論是DC測試還是Function測試，測試原理講的都是存在保護二極管的測試，對地或電源Pin。所謂的openshort全部是對信號Pin和電源Pin兩者之間的diode而言的，也包含線路。3：信號Pin之間的short，DC測試是無法測量，需要使用Function的辦法。這是DC測試的重要缺點。4：Function測試的缺點是在fail的時候不知道是Open還是short，其根本原因是在VOH和VOL的設置使用Z

mode問題，所以在實際的生產中，我們使用的是把Open和Short測試分離，具體是：

1.

Downdiodeopen測試

2.Downdiodeshort測試

3.PintoPinshort測試

4.Updiodeopen測試

5.PowertoGNDshort測試OpenShorttestPGM-DCmethod;============================Precondition=================================MCON=0ALLPIN=OPENVS1=0.0V,R8V,M0.8A;GroundallpinincludingVDD;==========================Downdiodetest================================ISVMMDC=-100UA,R400UA,M8V,3V,-3V;useMDC,fore-100uA,setvoltageclamp3voltsLIMITMDC=-0.2V,-1.2V;setlimitCAT=20;failbinNo.TEST100MEAS/TMDC(P1-2)UseMDC,Measureresultantvoltage;===========================Updiodetest==================================ISVMMDC=100UA,R400UA,M8V,3V,-3V;useMDC,fore-100uA,setvoltageclamp3voltsLIMITMDC=1.2V,0.2V;setlimitTEST110MEAS/TMDC(P1-2);UseMDC,measureresultantvoltage;=============================Powerpinshorttest=========================ISVMUDC=-200.00UAR800UAM8V2.0V-2.0VLIMITUDC=-0.3V-0.9VMULTIPLEDUTSINGLE;Start:OneDUTatatimeMCON=VS1;UDCconnectVS1CAT=18TEST300MEASUDC;TESTVDDOSMULTIPLEDUTEND;end:OneDUTatatimeMCON=0Short&pintopinshorttest

CAT=19RATE=10US;OpenshorttestperiodACLK1=0US;SignaltransitionpointDREL1=0USDRET1=0US;ThedriverinactivetimeduringtestSTRB1=9US;comparetimeSETTLINGTIME=1MS;1MSisallowedafterreferencing-offALLPIN=IN1,ACLK1,NRZA,DRE1,OUT1,STRB1,IL1;selectiondriverconditions,comparatorconditions,driverinactivetime,VREFcurrentandvoltageIN1=-0.3V-0.5V;inputvoltageOUT1=0.2V0.2V;VOHVOLVT1=0.3V;VREFVTvoltageIL1=-100UA100UA;IOHIOLPATCREATE;startcreatepatternCHANNEL1-2;Selectionchannel1-2/T1!HH;signalpintoGNDshorttest/T1!H1;checkpintopinshort/T1!1HPATEND;createpatternendTEST200MEASLPAT;Runandmeasurepattern;Ifshort,thevoltagemay-0.3voltsor0voltsOpentestPGM-FunctionalmethodVS1=0VR8V;GNDPowerRATE=10USACLK1=0USDREL1=0USDRET1=0USSTRB1=9US;settimingconditionSETTLINGTIME=1MS;SETSETTLINGTIMECAT=20ALLPINS=IN1,NRZA,ACLK1,DRE1,OUT1,STRB1,IL1;selectconditionIN1=-0.30V-0.50V;Inputvoltage,nouseonthisitem;==========================DowndiodeOpentest=======================OUT1=-1V-1V;VOHVOLVT1=-1.5V;VREFIL1=-100UA0UA;force-100uAPATCREATECHANNEL1-42/T1!HHHHHHHHHHHHHHHHHXHHHHHHHHHHXXXXHHXXXXXXXX;Xmaskandnodriver?????PATENDTEST1&MEASLPAT;========================UpdiodeOpentest===========================OUT1=1.0V,1.0VVT1=1.5V