XRD考試題庫(kù)及答案

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）1.XRD中文全稱是（）A.X射線光電子能譜B.X射線衍射C.掃描電子顯微鏡答案：B2.XRD主要用于分析材料的（）A.表面形貌B.元素組成C.晶體結(jié)構(gòu)答案：C3.以下哪種不是XRD的常用靶材（）A.CuB.FeC.Ag答案：C4.XRD圖譜中峰的位置反映（）A.晶面間距B.晶體取向C.晶粒大小答案：A5.當(dāng)X射線以掠射角θ入射到晶體表面時(shí)，滿足布拉格方程的條件是（）A.2dsinθ=nλB.dsinθ=nλC.2dcosθ=nλ答案：A6.利用XRD確定晶體結(jié)構(gòu)類型屬于（）分析A.定量B.定性C.半定量答案：B7.一般XRD測(cè)試使用的X射線是（）A.連續(xù)X射線B.特征X射線C.軔致輻射X射線答案：B8.XRD峰的半高寬與（）有關(guān)A.晶體密度B.晶體完整性C.晶體顏色答案：B9.粉末XRD測(cè)試樣品要求（）A.塊狀B.粉末狀C.液態(tài)答案：B10.若XRD圖譜中某物質(zhì)峰強(qiáng)度明顯低于標(biāo)準(zhǔn)圖譜，可能原因是（）A.結(jié)晶度高B.含量少C.粒徑大答案：B二、多項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）1.XRD可用于（）A.確定晶體結(jié)構(gòu)B.分析結(jié)晶度C.測(cè)定晶格參數(shù)D.分析元素價(jià)態(tài)答案：ABC2.影響XRD圖譜質(zhì)量的因素有（）A.樣品制備B.儀器參數(shù)C.環(huán)境溫度D.測(cè)試時(shí)間答案：ABCD3.常用的XRD測(cè)試模式有（）A.連續(xù)掃描B.步進(jìn)掃描C.定點(diǎn)掃描D.快速掃描答案：AB4.布拉格方程中的參數(shù)包括（）A.d（晶面間距）B.θ（掠射角）C.n（衍射級(jí)數(shù)）D.λ（X射線波長(zhǎng)）答案：ABCD5.從XRD圖譜中可以獲取的信息有（）A.晶體相組成B.晶格畸變C.晶粒大小D.表面粗糙度答案：ABC6.XRD儀器主要組成部分有（）A.X射線發(fā)生器B.測(cè)角儀C.探測(cè)器D.數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)答案：ABCD7.以下關(guān)于XRD說(shuō)法正確的是（）A.能分析非晶態(tài)材料B.對(duì)樣品破壞小C.可用于物相鑒定D.測(cè)試速度快答案：BCD8.提高XRD圖譜分辨率的方法有（）A.選擇合適靶材B.優(yōu)化儀器參數(shù)C.改善樣品制備D.增加掃描次數(shù)答案：ABC9.當(dāng)樣品存在擇優(yōu)取向時(shí)，XRD圖譜會(huì)出現(xiàn)（）A.峰強(qiáng)度異常B.峰位置偏移C.峰寬變化D.某些峰消失答案：AD10.XRD可用于研究材料的（）A.相變B.殘余應(yīng)力C.晶體生長(zhǎng)D.元素分布答案：ABC三、判斷題（每題2分，共10題）1.XRD只能分析晶體材料。（）答案：錯(cuò)2.布拉格方程對(duì)所有晶體結(jié)構(gòu)都適用。（）答案：對(duì)3.XRD圖譜中峰越高，對(duì)應(yīng)晶體含量一定越高。（）答案：錯(cuò)4.不同靶材產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)相同。（）答案：錯(cuò)5.樣品結(jié)晶度越高，XRD圖譜峰越尖銳。（）答案：對(duì)6.XRD測(cè)試不需要對(duì)樣品進(jìn)行特殊處理。（）答案：錯(cuò)7.利用XRD可以直接分析出材料中元素的具體含量。（）答案：錯(cuò)8.儀器分辨率不會(huì)影響XRD圖譜的峰形。（）答案：錯(cuò)9.多晶材料的XRD圖譜比單晶材料復(fù)雜。（）答案：對(duì)10.XRD測(cè)試過(guò)程中，環(huán)境濕度對(duì)結(jié)果無(wú)影響。（）答案：錯(cuò)四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共4題）1.簡(jiǎn)述XRD工作原理答案：X射線入射到晶體，晶體中原子的電子散射X射線，散射波在某些方向干涉加強(qiáng)產(chǎn)生衍射。通過(guò)測(cè)角儀測(cè)量衍射角等參數(shù)，探測(cè)器接收信號(hào)，依據(jù)布拉格方程確定晶體結(jié)構(gòu)等信息。2.說(shuō)明XRD樣品制備的要點(diǎn)答案：粉末樣品需研磨均勻且粒度合適，保證樣品平整、無(wú)擇優(yōu)取向。塊狀樣品要切割合適，表面處理光滑。避免樣品有雜質(zhì)、團(tuán)聚等影響測(cè)試結(jié)果。3.解釋XRD圖譜中峰寬化的原因答案：一是儀器本身分辨率限制，二是樣品晶粒細(xì)化，三是晶格畸變。晶粒越小、晶格畸變?cè)酱?，峰寬化越明顯。4.舉例說(shuō)明XRD在材料研究中的應(yīng)用答案：可用于陶瓷材料物相鑒定，確定其晶相組成；在金屬材料中分析熱處理后的相轉(zhuǎn)變；在半導(dǎo)體材料中研究晶體結(jié)構(gòu)完整性及晶格參數(shù)變化。五、討論題（每題5分，共4題）1.討論如何提高XRD定量分析的準(zhǔn)確性答案：選擇合適標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，準(zhǔn)確測(cè)量峰強(qiáng)度，精確校正儀器參數(shù)，保證樣品均勻性和代表性，減少擇優(yōu)取向等影響，采用合適定量分析方法如內(nèi)標(biāo)法等。2.分析XRD與其他材料分析技術(shù)的互補(bǔ)性答案：與SEM互補(bǔ)，SEM看形貌，XRD分析晶體結(jié)構(gòu)；和XPS互補(bǔ)，XPS分析元素價(jià)態(tài)，XRD確定物相。多種技術(shù)結(jié)合能全面了解材料特性。3.探討XRD在新材料研發(fā)中的作用答案：在新材料研發(fā)中，可確定合成材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組成，監(jiān)測(cè)材料制備過(guò)程中的相變，評(píng)