標準解讀

《T/CIE 144-2022 半導體器件可靠性強化試驗方法》這一標準詳細規定了半導體器件在進行可靠性強化測試時應遵循的方法與步驟。該標準旨在通過一系列嚴苛的試驗條件，對半導體器件潛在的設計、制造缺陷或材料問題進行早期暴露，從而提高產品最終的質量和可靠性。

標準中首先定義了適用范圍，明確指出適用于各類半導體集成電路及其他相關電子元器件。接著，對于試驗前準備工作的說明包括但不限于樣品選擇原則、環境條件設定等基礎要求。此外，還特別強調了試驗過程中需記錄的數據類型及其重要性，以便后續分析使用。

針對具體的試驗方法，《T/CIE 144-2022》列舉了幾種常見的強化試驗項目，如溫度循環、高加速應力篩選（HASS）、振動測試等，并為每種試驗提供了詳細的執行指南。這些指南不僅涵蓋了操作流程，還包括了推薦使用的設備參數設置以及安全注意事項等內容。

在數據處理與結果評價部分，標準提出了一套科學合理的方法來評估試驗后產品的性能變化情況。這涉及到失效模式識別、故障率計算等方面的專業知識。同時，也指出了如何根據試驗結果采取相應措施以改進產品質量。


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....

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  • 正在執行有效
  • 2022-12-31 頒布
  • 2023-01-31 實施
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T/CIE 144-2022半導體器件可靠性強化試驗方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31020

CCSL.05

團體標準

T/CIE144—2022

半導體器件可靠性強化試驗方法

Reliabilityenhancementtestofsemiconductordevices

2022-12-31發布2023-01-31實施

中國電子學會發布

中國標準出版社出版

T/CIE144—2022

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

一般要求

4…………………3

試驗樣品

4.1……………3

儀器與設備

4.2…………………………3

試驗環境

4.3……………3

參數監測

4.4……………3

試驗方法

5…………………3

試驗程序

5.1……………3

試驗項目

5.2……………4

試驗步驟

5.3……………6

試驗報告

6…………………13

參考文獻

……………………14

T/CIE144—2022

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中國電子學會可靠性分會提出并歸口

。

本文件起草單位工業和信息化部電子第五研究所航空工業第一飛機設計研究院

:、。

本文件主要起草人楊少華顏佳輝薛海紅牛皓劉昌王鐵羊呂宏峰來萍許少輝賴燦雄

:、、、、、、、、、、

陳希宇廖文淵柳月波

、、。

Ⅰ

T/CIE144—2022

半導體器件可靠性強化試驗方法

1范圍

本文件規定了半導體器件可靠性強化試驗方法并規定了半導體器件強化試驗的一般步驟相關要

,、

求方法及參數監測等

、。

本文件適用于半導體分立器件集成電路微波器件的可靠性強化試驗指導

、、。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

半導體器件第部分分立器件和集成電路總規范

GB/T4589.110:

實驗室儀器設備管理指南

GB/Z27427

半導體分立器件總規范

GJB33B

半導體分立器件試驗方法

GJB128B—2021

電子產品防靜電放電控制大綱

GJB1649

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T4589.1。

31

.

可靠性強化試驗reliabilityenhancementtest

一種采用逐步增強應力如溫度振動快速溫變及振動綜合應力等的可靠性試驗方法通過步進

(、、),

的方式對器件施加應力來激發器件中的潛在缺陷所施加的應力量級會超出器件的設計水平直至器件

,,

的破壞極限

。

32

.

規格極限specificlimit

規格書所規定的器件可正常使用的最高應力水平

。

33

.

工作極限operatinglimit

當施加的應力達到一定水平后器件不能正常工作但當應力強度降低后器件恢復正常工作則器

,;,,

件能夠恢復正常工作的最高應力水平值

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