標準解讀

《GB/T 45325-2025 貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定 掃描電鏡法》是一項國家標準,旨在規定使用掃描電子顯微鏡(SEM)技術來測量貴金屬鍵合絲在焊接或熱處理過程中產生的熱影響區長度的方法。該標準適用于各種類型的貴金屬鍵合絲,如金、銀、鉑及其合金等,在電子封裝行業中的應用尤為重要。

根據這項標準,首先需要準備合適的樣品,這通常涉及到將鍵合絲固定在一個能夠清晰顯示其橫截面的基底上,并通過適當的手段(例如機械切割和拋光)暴露待測區域。然后利用掃描電鏡觀察這些經過處理后的樣品表面形貌,特別是關注那些由于加熱而導致材料微觀結構發生變化的區域。熱影響區是指因焊接或其他形式的局部加熱作用下,材料物理性能與原始狀態相比發生顯著改變的那一部分。

為了準確界定熱影響區邊界,標準中定義了基于顯微組織特征變化的標準,比如晶粒尺寸的變化、相變現象或者是其他可通過SEM圖像識別出來的微觀結構差異。此外,還可能涉及對不同位置進行元素分析以輔助判斷熱影響區范圍。最終,依據上述觀察結果,可以精確地測量出熱影響區的實際長度。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。

....

查看全部

  • 即將實施
  • 暫未開始實施
  • 2025-02-28 頒布
  • 2025-09-01 實施
?正版授權
GB/T 45325-2025貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定掃描電鏡法_第1頁
GB/T 45325-2025貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定掃描電鏡法_第2頁
GB/T 45325-2025貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定掃描電鏡法_第3頁
免費預覽已結束,剩余13頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 45325-2025貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定掃描電鏡法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS7704099

CCSH.21.

中華人民共和國國家標準

GB/T45325—2025

貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定

掃描電鏡法

Determinationoflengthofheataffectedzoneforpreciousmetalbondingwire—

Scanningelectronmicroscopemethod

2025-02-28發布2025-09-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T45325—2025

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中國有色金屬工業協會提出

本文件由全國有色金屬標準化技術委員會歸口

(SAC/TC243)。

本文件起草單位貴研檢測科技云南有限公司北京達博有色金屬焊料有限責任公司貴研半導

:()、、

體材料云南有限公司煙臺一諾電子材料有限公司國合通用青島測試評價有限公司郴州市產商

()、、()、

品質量監督檢驗所云南貴金屬實驗室有限公司有色金屬技術經濟研究院有限責任公司北京有色金

、、、

屬與稀土應用研究所有限公司浙江佳博科技股份有限公司

、。

本文件主要起草人王一晴毛端趙萬春陳雯陳國華周文艷向磊朱武勛閆茹林良齊岳峰

:、、、、、、、、、、、

薛子夜張曉辰張卓佳劉潔畢勤嵩袁曉虹梁辰金婭秋趙義東

、、、、、、、、。

GB/T45325—2025

貴金屬鍵合絲熱影響區長度測定

掃描電鏡法

1范圍

本文件描述了各類貴金屬鍵合絲以下簡稱鍵合絲熱影響區長度的掃描電鏡測定方法

(“”)。

本文件方法一適用于鍵合金絲熱影響區長度的測定

本文件方法二適用于直徑不超過的純金屬合金或復合類鍵合絲的熱影響區長度測定

50μm、。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

微束分析掃描電子顯微術術語

GB/T23414—2009

貴金屬復合材料覆層厚度的掃描電鏡測定方法

GB/T38783—2020

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T23414—2009。

31

.

自由空氣球freeairballFAB

;

引線鍵合燒球階段高壓電弧擊穿空氣并放出大量的熱使鍵合絲末端熔化冷卻時由于表面張力

,,,

作用使鍵合絲末端形成的一個金屬圓球

32

.

熱影響區heataffectedzoneHAZ

;

引線鍵合燒球過程中高溫熔化鍵合絲末端形成自由空氣球同時熱量傳導使鍵合絲近

,(FAB),

區域發生再結晶及晶粒長大現象的區域

FAB。

33

.

聚焦離子束focusedionbeamFIB

;

將離子源通過離子槍加速電磁透鏡聚焦后形成的離子束流

、。

來源有修改

[:GB/T38783—2020,3.1,]

34

.

雙束電子顯微鏡dualbeamelectronmicroscope

由聚焦離子束與掃描電子顯微鏡結合而成的雙束電子束離子束系統

(/)。

來源有修改

[:GB/T38783—2020,3.2,]

35

.

氣體注入系統gasinjectionsystemGIS

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用,未經授權,嚴禁復制、發行、匯編、翻譯或網絡傳播等,侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數字商品的特殊性,一經售出,不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質量問題。

評論

0/150

提交評論