[20]。5.2系統(tǒng)測試單片機(jī)的出現(xiàn)是計算機(jī)發(fā)展史上的關(guān)鍵一步：它本質(zhì)上是一種將各個設(shè)備集成在半導(dǎo)體硅芯片上的微型計算機(jī)，其功能主要用于測量和控制領(lǐng)域。有兩種方法可以將匯編語言轉(zhuǎn)換成可由CPU執(zhí)行的機(jī)器代碼。出手動外就是機(jī)械裝配。自從1980年以來，單片機(jī)發(fā)展非常迅速，MCS-51是Intel公司做出的一款普及最廣、便于使用、設(shè)計成功的一臺機(jī)型，產(chǎn)品型主要有8051、8751等型號但是產(chǎn)品的存儲器較小在這之后又設(shè)計了52子系列單片機(jī)。從以下事實(shí)可以看出Keil軟件為MCS-51系列最受喜愛的單片機(jī)軟件，隨著21世紀(jì)的到來，該領(lǐng)域各種仿真器制造商都對該軟件表示接受。其原因是Keil為制造商提供了完整的開發(fā)程序。系統(tǒng)測試原理為：以MCS-51單片機(jī)的RLC檢測器為根本利用信號來測量各種參數(shù)。振蕩頻率送至AT89C52的計數(shù)端。通過計時和計數(shù)計算被測頻率，然后根據(jù)頻率計算被測參數(shù)。用C語言和匯編語言編寫應(yīng)用軟件可以以Keil為平臺，包括主程序、顯示、電阻、電容和電感模塊。在測試中，通過測量參數(shù)值與參數(shù)值的比較，了解系統(tǒng)的測試精度。測試結(jié)果：實(shí)現(xiàn)按鈕的功能，觀察結(jié)果，進(jìn)一步修正，并記錄觀察結(jié)果。測試結(jié)果如下：電阻測試數(shù)據(jù)如表2所示。表2電阻測試數(shù)據(jù)標(biāo)稱值(Ω)振蕩頻率（Hz）系統(tǒng)測量（Ω）相對誤差(%)22071203210.7819894972082.752149865300.64697503348883.9200002588192134.04700001604647001.3電容測試數(shù)據(jù)如表3所示。表3電容測試數(shù)據(jù)讀取示值（pF）振蕩頻率（Hz）標(biāo)稱值（pF）相對誤差值（%）101313101001.110231962003.6220201996009.8由于電感制作復(fù)雜本次測試暫未對電感進(jìn)行測試。（4）測試分析：在實(shí)際測量中，由于環(huán)境、儀器、等對結(jié)果有影響，測量結(jié)果偏離測量的真實(shí)值多多少少有點(diǎn)誤差。本試驗(yàn)的修正主要是通過實(shí)驗(yàn)得出的，它是由溫度、濕度、電源電壓等的變化引起的，選取平均值，最后確定K值，從而達(dá)到減小誤差的目的。第六章結(jié)束語就本次在設(shè)計電路元件參數(shù)測試儀中，通過查找學(xué)習(xí)整理有關(guān)知識和文獻(xiàn)，在測試儀設(shè)計方案中通過對比多種方案如積分-比例運(yùn)算法，恒流和比較法，PLC與CPLD及單片機(jī)的結(jié)合，為本次設(shè)計選出更為簡便，經(jīng)濟(jì)，實(shí)用的方案。再對其硬件設(shè)計與仿真通過MCS-51來完成，在555定時器中，通過單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和多諧振振蕩器的振蕩周期改變頻率。在整個過程中，首先了解了電路元件參數(shù)測試儀的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)的研究背景及發(fā)展現(xiàn)狀，其次明確了自己的研究目的及意義從而選擇出合適自己的方案和方法，通過對測量檢測RLC的方法研究（如諧振法和電橋法）進(jìn)行對比之后選出方案。在選擇本次設(shè)計的核心部件的過程中，選用AT89C52與其它型號進(jìn)行了對比，通過經(jīng)濟(jì)，方便的方面綜合考慮后確定AT89C52單片機(jī)為本次核心部件，在選擇檢測電阻、電阻、電容的方法中采用了555振蕩器為本畢業(yè)設(shè)計的檢測，為了是將所測得的參數(shù)轉(zhuǎn)化為頻率最終再通過頻率計算出參數(shù)。通過本畢業(yè)設(shè)計的研究和學(xué)習(xí)，進(jìn)一步提高了我對畢業(yè)設(shè)計對思考的能力，詳細(xì)了解對于單片機(jī)的應(yīng)用及選型、方法的選擇及軟件編程的學(xué)習(xí)。總的來說，我們還有許多方面需要學(xué)習(xí)與進(jìn)步，吸取經(jīng)驗(yàn)，持續(xù)改進(jìn)為進(jìn)一步研究學(xué)習(xí)，使做的更好。

參考文獻(xiàn)趙巧妮.基于單片機(jī)的電阻、電感、電容測試儀的設(shè)計[J].福建電腦,2016,32(6):113-114.王貴恩,郭春香.多功能電路參數(shù)智能測試儀的設(shè)計[J].電測與儀表,2008,045(012):59-62.向昌達(dá),古天祥.高精度智能RLC參數(shù)測試儀的研究[J].電子科技大學(xué)學(xué)報,1996,(S2):235-239.鄭毅.基于單片機(jī)控制的便攜式智能電路元件測試儀設(shè)計[J].廣東石油化工學(xué)院學(xué)報,2011,21(03):35-37.謝鑫華.元件參數(shù)測量儀中新的測量原理與方法[J].電測與儀表,1979(08):3-7.祁文哲.電路綜合參數(shù)測試儀改進(jìn)方法研究[J].現(xiàn)代科學(xué)儀器,2004(01):53-55..侯承貴,王風(fēng)先.電氣設(shè)備絕緣參數(shù)測試儀的設(shè)計[J].電網(wǎng)技術(shù),1994,(04):59-62.葉芳,潘曉明.非線性電阻參數(shù)測試儀的研制[J].電工技術(shù),2018(17):66-67+69.余會娟,王文靜,曹彥,喬忠,蔣長順.基于單片機(jī)控制的數(shù)字式電參數(shù)測試儀設(shè)計[J].新鄉(xiāng)學(xué)院學(xué)報(自然科學(xué)版),2013,30(05):348-351.李林倬,車蔚俊,納尊.電感、電容、電阻參數(shù)測試儀便捷化、小型化的研制[J].中國信息化,2013(14):400-400,401.王丹.半導(dǎo)體制冷器件原理及其應(yīng)用[J].河南科技,2015(7):36-39.張向豐.鍋爐的單片機(jī)控制系統(tǒng)[D].山東:山東大學(xué),2006:6-47.孫文利.現(xiàn)代電子技術(shù)在道路交通中的實(shí)際應(yīng)用[J].城市建設(shè)理論研究（電子版）,2014(36):7076-7077.楊漢祥,劉良福,鄔喜輝.利用單片機(jī)改進(jìn)交通燈控制系統(tǒng)[J].北京電子科技學(xué)院學(xué)報,2005,13(4):68-71.張璐雅,阮景.一種基于555時基電路的振蕩器設(shè)計[J].集成電路應(yīng)用,2019,36(12):12-13.葉何.基于555時基電路的運(yùn)動控制延時模塊[J].電腦知識與技術(shù),2017,13(28):239-241.周謙益.基于時柵傳感器的編碼器信號研究[D].重慶理工大學(xué),2010:7-34.郭豫冀.基于GSM的樓道防火防盜報警系統(tǒng)設(shè)計[D].天津:天津大學(xué),2018:1-53.劉英.Protel99SE電路設(shè)計[J].福建電腦,2016,32(04):137-138.高科,劉炳承.PROTEL99SE設(shè)計電路步驟[J].電子制作,2014(20):66.MohamedEl-Borhamy,EssamEddinM.Rashad,IsmailSobhy.FloquetanalysisoflineardynamicRLCcircuits[J].OpenPhysics,2020,18(1):2-3