ReliabilityandEnvironmentalConformationSpecificationforClientSolidStateDrive2023-11-13發布2023-11-13實施ICT產業高質量與綠色發展聯盟發布 II 2 2 2 2 2 3 4 5 5 5 6 6 7 7 7 7 8 9 T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICT本文件起草單位：北京市閃聯信息產業協會、深圳憶聯信息系統有限公司、司、聯想信息產品（深圳）有限公司、聯想開天科技有限公羅培中、陶宏芝、呂飛燕、謝曉波、和志華、李楊、武瑞1GB/T2423.50電工電子產品環GB/T9254.1信息技術設備、多媒體設備和接收機電磁兼容第1部JESD22-A104TemperatureJESD22-B103Vibration,VariableFJESD22-B110MechanicalShock–DeviceandSub一種以閃存為存儲媒體的數據存儲設備，主要T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICT平均無故障工作時間MeanOperatingTimeBetween相鄰兩次故障之間的平均工作時間，稱為平MTBFMeanOperatingTimeBetweenFailuresUBERUncorrectableBitErrorRateUECCUncorrectableErrorCorrectionCode可靠性要求應符合表1的規定。應在產品說明書中標明其MTBF、壽命、UBER表1可靠性要求無線電騷擾的輻射要求應符合表2的規定，項目1、212333BCBCAAA注1：性能判據A為在制造商、委托方或購買方規定的限值內性能正常。性能判據B功能或性能暫時喪失或降級，但在騷擾停止后能自行恢復，不需要操作者干預。性能判據C為功能或性能暫時喪失或降低，但需操作者干預才能恢復。注2：本表格中溫度范圍為樣品周圍環境溫度T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICT工作濕度和貯存濕度范圍應符合表5的規定，試驗方法參表5濕度適應性要求溫度變化(溫度循環、溫度沖擊)要求應符合表6的規定，試驗方法參考JESD22-A104和G表6溫度變化適應性要求振動(運輸態、工作態)適應性要求應符合表9的規定，試驗方法參考JESD注3：本表格中的軸指X、Y、Z三軸注4：本表格中的軸向指X、Y、Z、-X、-Y、-Z6個軸向6T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICT本文件要求的所有試驗在未加特殊說明時，均應在下a)能夠生成指定的試驗負載，同時能夠記錄試驗h)能夠針對不同的試驗指標提供相應2)連接被測固態硬盤與試驗系統，確認1)將230*塊被測固態硬盤置于恒c)掉電試驗（包含正常掉電和異常掉電）；注5：230為建議樣品數量，該樣品量按文中試驗條件進行試驗，累計故障數r=1時仍滿足5.1MTBF≧200萬小時。若需調節樣品數量其調節后的MTBF結果仍應滿足5.1要求。7a)將6.1.2中230塊被測固態硬盤置于恒溫箱中；c)從試驗箱取出試驗樣品，上電進行全盤數據讀校故障時的工作條件和環境條件，單項試驗時間和累計試驗結束后，統計故障數量r及等效累計相關試驗時間T后，可由公式B.1(附錄b)硬件環境：與被測固態硬盤擁有相同硬件接口的微8T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICT對于各項抗擾度試驗，按照表3列出的參考標準在本文件表4規定的存儲極限低溫條件下存放96小時，最后在室溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能在本文件表4規定的存儲極限高溫條件下存放336小時，最后在室溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能果整個試驗過程中上電和讀寫試驗無異常，沒有出現新增壞塊、不可修復數據錯誤、數據校驗錯誤、按GB/T2423.22試驗方法進行。被測固態硬盤在常溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能試驗，隨后在本文件表6規定的試驗條件進行300次循環，最后在室溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能試驗，按GB/T2423.22試驗方法進行。選擇溫度持續時間48小時(低溫/高溫持續48小時)，溫度變化嚴苛等級選擇（1±0.2）K/min，對被測固態硬盤進行5個周期溫度循環試驗，即被升溫到工作溫度極限高溫，極限高溫持續48小時，采用（1±0.2）K/min降溫到度變化時間5小時，對被測固態硬盤進行12個周期濕度循環試驗，即被測固態硬盤在有讀寫業務的情況下，設置溫箱濕度變化曲線如下：濕度下限持續2小時，然后采用17%/hour速率升濕到濕度上限，濕度試驗步驟：按照GB/T2423.50方法進行。被測固態硬盤在常溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能試驗，隨后在本文件表7規定的試驗條件進行504小時，最后在室溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能b)硬件環境：與被測固態硬盤接口相同微型計算機；預置條件：被測固態硬盤安裝于微型計算機，運行試驗工具對被測固態硬盤進行持續讀寫，同時試驗步驟：按照GB/T2423.21試驗方法進行。對被測微型計算機依次進行2小時如表8嚴酷度等級異常、被測固態硬盤讀寫正常且無數據一致性校驗錯能試驗，隨后分別在本文件表9規定的試驗條件進行正弦掃頻振動和隨機振動，最后在室溫下進行24小時一個循環6.1.2的功能試驗，如果整個試驗過程中上電和讀寫試驗無異常，沒有修復數據錯誤、數據校驗錯誤、SMART信息警告事T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICT預置條件：被測固態硬盤安裝于專用試驗夾具，且與試驗步驟：按照JESD22-B103試驗方法進行。被測固態硬盤在有讀寫業務的情況下，同時進行本文件表9規定的試驗條件進行正弦掃頻振動和隨機振動，試驗過程中被測固態硬盤應讀寫正常且無數據一預置條件：被測固態硬盤安裝于專用試驗夾具，且與試驗步驟：按照JESD22-B110試驗方法進行。被測固態硬盤在有讀寫業務的情況下，同時進行本文預置條件：被測固態硬盤安裝于專用試驗夾具，且與試驗步驟：按照GB/T2423.6試驗方法進行。被測固態硬盤在有讀寫業務的情況下，同時進行本文AT=e-Tfield——客戶端工作態閃存介質的殼溫；將各個參數代入公式A.1，可得AT=18.6T/IGRS0020-2023T/AHQGD-ICTB.1推薦的置信區間為c;X2——卡方分布假設230個樣品均完成1000小時的高溫加速試驗，那么實其中選取附錄1中加速因子AT=18.6；那么等效累計相關試驗時間EQ\*jc3\*hps14\o\al(\s\up