ICS31200

CCSL.56

中華人民共和國國家標準

GB/T429684—2024/IEC62132-42006

.:

集成電路電磁抗擾度測量

第4部分射頻功率直接注入法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part4DirectRFowerinectionmethod

:pj

IEC62132-42006Interatedcircuits—Measurementofelectromanetic

(:,gg

immunit150kHzto1GHz—Part4DirectRFowerinectionmethodIDT

y:pj,)

2024-12-31發布2024-12-31實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T429684—2024/IEC62132-42006

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

通則

4………………………1

測量原理

4.1……………1

單引腳功率直接注入法

4.2……………3

多引腳功率直接注入法

4.3……………3

試驗條件

5…………………4

試驗設備

6…………………4

通則

6.1…………………4

功率源

6.2RF……………4

功率計和定向耦合器

6.3RF……………4

試驗布置

7…………………5

概述

7.1…………………5

功率注入布置

7.2………………………5

試驗電路板

7.3…………………………5

功率注入布置的特性

7.4………………6

去耦網絡

7.5……………7

試驗程序

8…………………7

通則

8.1…………………7

具體試驗程序

8.2………………………7

試驗報告

9…………………8

附錄資料性汽車應用中抗擾度電平的示例

A()………9

附錄資料性最佳試驗布置的安裝提示

B()RF………10

附錄資料性恒定峰值試驗電平的說明

C()……………16

參考文獻

……………………17

Ⅰ

GB/T429684—2024/IEC62132-42006

.:

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是的第部分已經發布了以下部分

GB/T429684。GB/T42968:

第部分通用條件和定義

———1:;

第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法

———2:TEMTEM;

第部分射頻功率直接注入法

———4:;

第部分輻射抗擾度測量帶狀線法

———8:IC。

本文件等同采用集成電路電磁抗擾度測量第部分射

IEC62132-4:2006《150kHz~1GHz4:

頻功率直接注入法

》。

本文件做了下列最小限度的編輯性改動

:

為與現有標準協調將標準名稱改為集成電路電磁抗擾度測量第部分射頻功率直接

———,《4:

注入法

》。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本文件由全國集成電路標準化技術委員會歸口

(SAC/TC599)。

本文件起草單位中國電子技術標準化研究院南京容測檢測技術有限公司深圳市北測標準技術

:、、

服務有限公司北京智芯微電子科技有限公司工業和信息化部電子第五研究所天津先進技術研究院

、、、、

江蘇省質量和標準化研究院上海市計量測試技術研究院蘇州菲利波電磁技術有限公司安徽省計量

、、、

科學研究院中國信息通信研究院深圳市銓興科技有限公司重慶郵電大學重慶仕益產品質量檢測有

、、、、

限責任公司東莞職業技術學院上海精密計量測試研究所

、、。

本文件主要起草人張強崔強沈學其喬彥彬方文嘯吳建飛劉小軍王少啟付君楊博

:、、、、、、、、、、

李金龍崔培賓廉鵬飛史鎖蘭黃旭彪張紅升劉洋鮑晶晶

、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T429684—2024/IEC62132-42006

.:

引言

為規范集成電路電磁抗擾度測量以及為集成電路制造商和檢測機構提供不同的電磁抗擾度測量

,

方法規定了集成電路電磁抗擾度測量的通用條件定義和不同測量方法的試驗程序和試

,GB/T42968、

驗要求擬由個部分構成

,7。

第部分通用條件和定義目的在于規定集成電路電磁抗擾度測量的通用條件和定義

———1:。。

第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法目的在于規定小室和寬

———2:TEMTEM。TEM

帶小室法的試驗程序和試驗要求

TEM。

第部分大電流注入法目的在于規定大電流注入法的試驗程序和試驗要求

———3:(BCI)。。

第部分射頻功率直接注入法目的在于規定射頻功率直接注入法的試驗程序和試驗要求

———4:。。

第部分工作臺法拉第籠法目的在于規定工作臺法拉第籠法的試驗程序和試驗要求

———5:。。

第部分輻射抗擾度測量帶狀線法目的在于規定帶狀線法的試驗程序和試驗要求

———8:IC。。

第部分輻射抗擾度測量表面掃描法目的在于規定表面掃描法的試驗程序和試驗要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429684—2024/IEC62132-42006

.:

集成電路電磁抗擾度測量

第4部分射頻功率直接注入法

:

1范圍

本文件規定了在傳導射頻騷擾存在的情況下集成電路抗擾度的測量方法例如由輻射

(RF)(IC),,

騷擾引起的傳導騷擾本方法確保抗擾度測量的高度可重復性和相關性

RFRF。。

本文件為設備中的半導體器件在無用電磁波環境下工作時的評估建立公共基礎

RF。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

集成電路電磁發射測量第部分傳導發射測量直接耦合法

IEC61967-44:1Ω/150Ω(In-

tegratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—Part4:Measurementofconducted

emissions—1Ω/150Ωdirectcouplingmethod)

注集成電路電磁發射測量第部分傳導發射測量直接耦合法

:GB/T44937.4—20244:1Ω/150Ω

(IEC61967-4:2021,IDT)

集成電路電磁抗擾度測量第部分通用條件和定義

IEC62132-11:(Integratedcircuits—

Measurementofelectromagneticimmunity—Part1:Generalconditionsanddefinitions)

注集成電路電磁抗擾度測量第部分通用條件和定義

:GB/T42968.1—20231:(IEC62132-1:2015,IDT)

3術語和定義

界定的術語和定義適用于本文件

IEC62132-1。

4通則

41測量原理

.

所需的最小電磁抗擾度電平取決于電子系統所能發射的最大騷擾電平抗擾度電平的值

ICRF。

由系統和實際應用的具體參數確定為了確定的抗擾度性能保證較高的可重復性要求測量程序

。IC,,

簡便以及測量布置能夠避免諧振下面給出了本試驗的基本要求

,。