MASK與2ASK功率譜分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)目的：測試MASK信號(hào)及2ASK信號(hào)的功率譜。設(shè)計(jì)內(nèi)容：設(shè)計(jì)MASK及2ASK信號(hào)的調(diào)制與解調(diào)仿真電路，并生成功率譜，對(duì)二進(jìn)制和多進(jìn)制信號(hào)進(jìn)行分析。設(shè)計(jì)步驟：調(diào)制：設(shè)置系統(tǒng)時(shí)鐘（參考：采樣點(diǎn)數(shù)1024，采樣速率1000Hz）；找出信源庫圖標(biāo)，選出兩個(gè)PN序列（Noise/PN/PNSeq），并設(shè)置參數(shù),一個(gè)設(shè)置為四進(jìn)制數(shù)字信號(hào)（參考參數(shù)：速率Rate:10Hz;進(jìn)制No.Levels：4；其它默認(rèn)），另一個(gè)設(shè)置為二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)（參考參數(shù)：速率Rate:10Hz;進(jìn)制No.Levels：2；其它默認(rèn)）；選擇通信庫圖標(biāo)，找出兩個(gè)雙邊帶調(diào)幅圖標(biāo)（Modulators/DSB-AM），設(shè)置參數(shù)（參考頻率：100Hz）；將四進(jìn)制和二進(jìn)制的PN序列分別送入兩個(gè)雙邊帶調(diào)幅器中進(jìn)行調(diào)制，輸出即為4ASK和2ASK信號(hào)找出信源庫圖標(biāo)，選出高斯噪聲（Noise/PN/GaussNoise）模擬信道噪聲；選擇兩個(gè)加法器，將噪聲信號(hào)加入到4ASK及2ASK信號(hào)中。在信源及調(diào)制后的4ASK及2ASK處設(shè)置觀察窗。解調(diào)選擇信源庫圖標(biāo)，找出正弦信號(hào)（Periodic/Sinusoid）作為相干載波，設(shè)置參數(shù)（參考參數(shù)：頻率：100Hz，與調(diào)制信號(hào)頻率相同）；選出兩個(gè)乘法器，將4ASK信號(hào)和2ASK信號(hào)分別與相干載波信號(hào)進(jìn)行乘積；選出算子庫圖標(biāo)，找出兩個(gè)低通濾波器（Filters/Systems/LinearSysFilters），設(shè)置參數(shù)（參考參數(shù)：LowCuttoff：20Hz）；將步驟2中的兩路輸出分別送入低通濾波器，取樣器（Operator/sampler,參數(shù)：取樣速率10Hz），保持器（Operator/Hold，參數(shù)：默認(rèn)）。輸出送入觀察窗。運(yùn)行系統(tǒng)。問題：分析二進(jìn)制和四進(jìn)制的ASK系統(tǒng)的抗干擾性能？將四進(jìn)制改成多進(jìn)制信號(hào)，觀察系統(tǒng)性能的變化情況？分析ASK信號(hào)的頻譜，說明多進(jìn)制振幅鍵控和二進(jìn)制振幅鍵控的頻帶占用情況？參考設(shè)計(jì)方