材料分析測試技術(shù)智慧樹知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年山東科技大學(xué)在電子探針中，用細聚焦電子束入射樣品表面，若含有多種元素，則可激發(fā)出各個相應(yīng)元素的特征X射線。（）

答案:對對于同一個單晶電子衍射花樣，指數(shù)化標(biāo)定結(jié)果要相同。（）

答案:錯透射電鏡的投影鏡焦長較小。（）

答案:錯電子探針的線分析原理，將譜儀固定在所要測量的某一元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上；使電子束沿著指定的路徑作直線軌跡掃描，得到這一元素沿該直線的濃度分布曲線。（）

答案:對差熱分析中，若升溫速率慢，峰位向高溫方向遷移。（）

答案:錯倒易點hkl與正點陣（hkl）晶面有一一對應(yīng)的關(guān)系。（）

答案:對X射線特征譜中，Kβ譜線是由L殼層的電子向K殼層躍遷所產(chǎn)生的。（）

答案:錯在差熱分析中所采用的坩堝材料，對試樣、產(chǎn)物（包括中間產(chǎn)物）、氣氛都是惰性的，并且不起催化作用。（）

答案:對掃描電鏡中二次電子成像原理是：由于二次電子產(chǎn)額是試樣表面傾角的函數(shù)，當(dāng)電子束在試樣上掃描時，任何兩點的形貌差別，表現(xiàn)為二次電子信號強度的差別，從而在圖像中形成顯示形貌的襯度。（）

答案:對掃描電鏡的分辨率會受到顯示信號（如二次電子、特征X射線等）類型的影響，不同物理信號分辨率不同，在掃描電鏡中有不同的分辨率。（）

答案:對透射電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)包括（）。

答案:成像系統(tǒng);照明系統(tǒng);觀察與記錄系統(tǒng)物質(zhì)對X射線的吸收，主要由原子內(nèi)部電子的躍遷引起，包括（）。

答案:俄歇效應(yīng);光電效應(yīng)在簡單點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為（）時，能產(chǎn)生衍射。

答案:奇數(shù);任意情況;偶數(shù)在面心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的HKL為（）時，才能產(chǎn)生衍射。

答案:全為偶數(shù);全為奇數(shù)電子探針中，把分光晶體適當(dāng)?shù)貜椥詮澢股渚€源（樣品表面被分析點）、彎曲分光晶體表面和檢測器位于同一個圓周上，達到使衍射束聚焦的目的。這個圓周稱為（）。

答案:聚焦圓;羅蘭圓利用XRD譜圖對物相進行定量分析時，K值法中的K值（）。

答案:與加入的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的量無關(guān);具有普遍適用性;在實驗時，加入標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的量不需要恒定以下關(guān)于X射線的正確描述有（）。

答案:X射線波長越短，穿透力越強;X射線波長越長，穿透力越弱以下關(guān)于X射線譜的描述正確的是（）。

答案:當(dāng)管電壓超過激發(fā)電壓時，在X射線連續(xù)譜的某些特定波長位置上，就會疊加強度很高，非常狹窄而尖銳的特征X射線譜。;X射線連續(xù)譜是由波長連續(xù)變化的X射線構(gòu)成，是多種波長的混合體。;X射線譜是關(guān)于X射線強度隨波長變化的關(guān)系曲線。在X射線衍射儀中，為接受所有晶面產(chǎn)生的衍射線，（）。

答案:計數(shù)管可以從高角度移動到低角度。;計數(shù)管可以從低角度移動到高角度。熱重分析法中，熱重曲線的影響因素包括（）。

答案:試樣粒度;環(huán)境氣氛;試樣裝填;升溫速率透射電鏡成像時，中間鏡的像平面有時會出現(xiàn)一定的位移，如果這個位移距離處于投影鏡的（）范圍之內(nèi)，得到的圖像仍舊是清晰的。

答案:景深在電子探針中，測定X射線特征波長的譜儀為波長分散譜儀，簡寫為（）。

答案:WDS在（）點陣中，所有晶面都能產(chǎn)生衍射。

答案:簡單DSC中，試樣和參比物的（）始終保持相同。

答案:溫度在建立埃瓦爾德球時，以（）為半徑構(gòu)建一個球，在球心放置試樣。

答案:1/λ在X射線衍射儀的測量過程中，聚焦圓的半徑（）。

答案:不斷改變在點陣常數(shù)測量中，只要采用足夠（）的θ角衍射線條進行測量，即使存在一定的θ角測量誤差，也可以獲得高精度的點陣常數(shù)。

答案:高電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生二次電子。二次電子的產(chǎn)額主要決定于樣品的（）。

答案:表面形貌布拉格方程2dsinθ=nλ中，d為（）

答案:晶面間距（）是像差中影響電磁透鏡分辨率的主要因素。

答案:球差在電子探針中，分析特征X射線的波長（或特征能量），可知樣品中所含元素的種類，稱為（）。

答案:定性分析利用X射線譜圖確定點陣常數(shù)時，當(dāng)θ角趨近于90°時，盡管存在同樣大小的測量誤差△θ，對應(yīng)的sinθ的誤差趨近于（）。

答案:零電子探針的工作原理，用細聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的（）。

答案:特征X射線由于（）為零而使X衍射線消失的現(xiàn)象稱為系統(tǒng)消光。

答案:結(jié)構(gòu)因子主要用于觀察材料表面形貌的儀器是（）。

答案:掃描電鏡在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為（）時，才能產(chǎn)生衍射。

答案:偶數(shù)采用柱體近似時，如相鄰的三個晶柱內(nèi)晶體結(jié)構(gòu)不同，則三個晶柱底表面的襯度（）。

答案:不同在底心點陣中，（HKL）晶面的結(jié)構(gòu)因子F不受晶面指數(shù)（）的影響。

答案:L在底心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K為（）時，產(chǎn)生消光現(xiàn)象。

答案:奇數(shù)在多晶試樣中，能產(chǎn)生X射線衍射的是（）。

答案:倒易點落在反射球上的晶粒熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。（）

答案:錯在熱分析技術(shù)中，參比物質(zhì)的選擇是任意的。（）

答案:錯差熱分析中，試樣對曲線會產(chǎn)生影響，影響因素有（）。

答案:試樣結(jié)晶度;試樣粒度;試樣用量;試樣的裝填熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。（）

答案:錯（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

答案:DSC熱重分析法的簡稱為（）。

答案:TG差熱分析法的簡稱為（）。

答案:DTA差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

答案:基線在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。（）

答案:錯熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。（）

答案:對利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。（）

答案:對在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

答案:EDS利用電子探針，可以對樣品的成分進行（）。

答案:定量分析;定性分析電子探針只能對材料進行微區(qū)成分分析，不能同步觀察材料微觀形貌。（）

答案:錯在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

答案:高在電子探針中，測定X射線特征波長的譜儀為波長分散譜儀，簡寫為EDS。（）

答案:錯電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

答案:分析速度慢;分辨率高;分析元素范圍廣電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。（）

答案:錯利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。（）

答案:對電子探針的主要功能是進行微區(qū)成分分析。（）

答案:對在掃描電鏡觀察樣品，對樣品微觀組織形貌敏感的成像信號是（）。

答案:二次電子掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。（）

答案:錯電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

答案:原子序數(shù)電子束與固體樣品作用時，產(chǎn)生的信號有（）。

答案:背散射電子;俄歇電子;二次電子;特征X射線掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

答案:大于掃描電鏡的分辨率等于入射電子束直徑。（）

答案:錯掃描電鏡中，無論二次電子呈像還是背散射電子呈像，圖像的分辨率不發(fā)生改變。（）

答案:錯被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。（）

答案:錯二次電子像襯度最亮的表面區(qū)域是（）。

答案:法線與電子束成86°的表面與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

答案:景深暗場像中位錯線的像為亮線。（）

答案:對根據(jù)衍襯運動學(xué)原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

答案:樣品厚度;偏離矢量產(chǎn)生電子衍射的充分條件是滿足布拉格方程。（）

答案:錯衍射襯度在晶體和非晶體中都是存在的。（）

答案:錯影響電磁透鏡分辨率的因素包括（）。

答案:衍射效應(yīng);色差;球差;像散透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

答案:中間鏡孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。（）

答案:錯簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

答案:（110）;（111）;（100）;（200）制備透射電鏡薄膜樣品時，離子減薄既適用于導(dǎo)電樣品，又適用于不導(dǎo)電樣品。（）

答案:對晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）

答案:形狀;大小關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

答案:樣品臺和計數(shù)管可以分別繞O軸轉(zhuǎn)動，也可機械連動。;機械連動時，樣品臺轉(zhuǎn)過θ角時，計數(shù)管轉(zhuǎn)2θ角。每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。（）

答案:對當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。（）

答案:對X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和