1185芯傳輸速率為20Gbps塑料外殼數據傳輸正交背板連接器詳細規范本文件規定了185芯傳輸速率為20Gbps塑料外殼數據傳輸正交背板連接器的分類、要求、試驗方法、質量保證規定、標志、包裝、運輸和儲存等內容。本文件適用于185芯傳輸速率為20Gbps塑料外殼數據傳輸正交背板連接器的設計、制造、檢驗和驗收等。2規范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T1804-2000一般公差未注公差的線性和角度尺寸的公差GB/T2408-2008塑料燃燒性能的測定水平法和垂直法GB/T2423.51-2000電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法Ke:試驗流動混合氣體腐蝕試驗GB/T2828.1-2012計數抽樣檢驗程序第1部分：按接收質量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T4210電子設備用機電件名詞術語國家標準GB/TGB/TGB/T4588.4-20175095.1-19975095.2-1997剛性多層印制板分規范電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓力試驗GB/T5095.4-1997電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法GB/T5095.5-1997電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法件）、靜負荷試驗（固定元件）、壽命試驗和過負荷試驗GB/T5095.6-1997電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法驗GB/T5095.7-1997電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法封性試驗第1部分：總則第2部分：一般檢查、電連續第4部分：動態應力試驗第5部分：撞擊試驗（自由元第6部分：氣候試驗和錫焊試第7部分：機械操作試驗和密2GB/T5095.8-1997電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第8部分：連接器、接觸件及引出端的機械試驗GB/T5095.CCCC-20XX電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第XX部分：阻抗、反射系數和電壓駐波比（VSWR）GB/T5095.EEEE-20XX耗）GB/T5095.HHHH-20XXGB/T5095.KKKK-20XX驗外來串擾電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第XX部分：衰減（插入損第XX部分：回波損耗第XX部分：信號完整性試GB/T18290.5-2000無焊連接第5部分：無焊壓入式連接一般要求、試驗方法和使用導則T/CESAAAAA-20XX電子設備用連接器基本試驗規程及測量方法：磨損和鹽霧綜合試驗T/CESABBBB-20XX電子設備用連接器基本試驗規程及測量方法：斜插拔試驗T/CESADDDD-20XX電子設備用連接器基本試驗規程及測量方法：灰塵試驗3術語和定義本文件沒有需要界定的術語和定義。4通用特征4.1軸測圖軸測圖見圖1、圖2。圖1直式插座示意圖3圖2彎式插頭示意圖4.2材料4.2.1金屬件a)接觸件：一般為銅質材料，表面處理為鍍金、鍍錫或鍍鎳，滿足RoHS2.O環保要求；b)屏蔽件：一般為銅質材料，表面處理為鍍金、鍍錫或鍍鎳，滿足RoHS2.O環保要求；c)固定件：不銹鋼，滿足RoHS2.O環保要求。4.2.2絕緣件絕緣材料應有合適的電氣性能和機械性能且應有一定的撞擊強度，以防止在裝配和規定的使用過程中發生起層、裂紋或破碎現象，絕緣材料要求滿足標準UL94V-0阻燃等級及RoHS2.0環保要求。絕緣材料有黃卡時無需進行阻燃測試。4.2.3鍍層材料鍍層應符合GB/T5095.2-1997，局部表面處理如下：a)接觸件接觸部位：電鍍鎳打底表面鍍金，金鍍層的厚度應至少為0.76μm；b)接觸件壓接部位：電鍍鎳打底表面鍍錫，錫鍍層的厚度應至少為0.5μm；c)非功能表面：非功能表面不需覆蓋鍍涂層，但需按規定鍍鎳，鎳鍍層的厚度應至少為1.27μm。接觸件以帶料形式提供時，接觸件落料切口處的非功能表面可以無鍍層，但鹽霧腐蝕試驗造成的腐蝕不得滲入接觸件插合面。4.2.4非磁性材料所有零件應由非磁性（磁導率小于2.0）類材料制造。4.2.5模制塑料不允許采用再生塑料,按GB/T2408-2008中試驗方法B要求，材料的阻燃等級應達到或優于UL94V-0等級。4.2.6禁限用材料4制造連接器所用的材料，盡可能使用滿足或優于工作和維修要求的可回收、再生和環保材料，并充分提高其經濟效益和降低壽命期內的費用。表1列舉了環保機構確定的17種最危險的材料，應盡量少用。如果需要使用這些危險材料，建議只有在其它材料不能滿足性能要求時才使用這些材料。表1危險材料1234567苯89——4.3外觀和尺寸4.3.1概述尺寸單位為毫米。圖樣為第三象限投影。只要不影響規定的尺寸，連接器的形狀可與圖樣中所示形狀不同。對于本規范中的尺寸，所示毫米尺寸為1位小數時，要求公差為±0.25mm；所示毫米尺寸為2位小數時，要求公差為±0.13mm；角度公差為±2°4.3.2外觀質量按GB/T5095.2-1997中試驗1a的規定進行，用量具和目視法對連接器進行外觀檢驗，連接器的外觀應無裂紋、起泡、起皮等缺陷；絕緣體應無龜裂、明顯掉塊、氣泡等影響使用的缺陷。接器的標記應正確、清晰、牢靠、耐久，其標記應由以下幾部分組成，可根據具體需求增加或刪減：a)公司商標；b)電連接器型號標記；c)批次號和生產號。4.3.3外形尺寸a)外形尺寸應符合8.1的要求。b)連接器互配尺寸符合8.2的要求。5特性5.1測試條件5表2測試條件\5.2環境性能5.2.1儲存溫度連接器儲存溫度：-40℃~+85℃。5.2.2工作溫度連接器工作溫度：-55℃~+125℃。5.2.3鹽霧條件：GB/T5095.6-1997中試驗11f的規定將連接器完全插合后放入試驗箱內，試驗時間為48小時，試驗完成后應該用蒸餾水洗凈和干燥后。連接器零件應無變形、裂紋、保護層起泡、脫落等損傷，按照4.3.2進行外觀檢查，連接器的鍍金接觸區不應有銅綠，金屬裁切面區域銅綠生長不影響連接器接觸區，接觸電阻符合5.3.6條的規定。5.2.4濕熱循環條件：GB/T5095.6-1997中試驗11m的規定將連接器完全插合后放入試驗箱內，50個循環，每循環10小時，共500小時試驗，1個循環明細如下：a)從25°C、濕度80%-98%線性提升到65°C、濕度90%-98%，持續時間：2小時；b)65°C、90%-98%濕度，保持4小時；c)降到25°C、濕度80%-98%，持續時間：2小時；d)25℃、濕度80%-98%，持續時間：2小時；e)試驗前后應按照5.3.6條的試驗方法進行接觸電阻測量。連接器零件應無變形、裂紋、保護層起泡、脫落等損傷，按照4.3.2進行外觀檢查；接觸電阻符合5.3.6條的規定；絕緣電阻應滿足5.3.4條的規定；耐電壓符合5.3.5條的規定。5.2.5溫度壽命條件：GB/T5095.6-1997中試驗11i中規定對插合好的連接器進行試驗，并采用以下細則：a)連接器暴露溫度：試驗條件（105℃);試驗時間：500小時；b)電負荷條件：不加電荷；c)試驗前后應按照5.3.6條的試驗方法進行接觸電阻測量；d)試驗后應按照5.4.1條的試驗方法進行單pin拔出力測量。試驗后外觀質量符合4.3.2中的規定，接觸電阻符合5.3.6的規定，單pin拔出力符合5.4.1的規定。5.2.6工業大氣腐蝕條件：使用GB/T2423.51-2000中表1方法3規定的氣體，試驗步驟如下：a)將未插合的插頭、插座放入密閉的流動空氣系統中，暴露10天；6b)將插頭與插座插合好，再暴露10天。連接器的外觀及接觸電阻應符合下列要求：a)應無起泡、起皺、脫落、基體金屬允許輕微發黑（不包括帶料斷料部位，具體部位詳見附錄I）但不得腐蝕；b)非金屬材料應無明顯泛白、膨脹、起泡、皺裂、麻坑等；c)接觸電阻符合5.3.6條的規定。5.2.7磨損和鹽霧綜合實驗條件：按照T/CESAAAAA-20XX。a)不插合的連接器放入試驗設備；b)摩擦行程：1.5mm；c)摩擦位置：接觸區；d)試驗完成后應該用蒸餾水洗凈和干燥。試驗后連接器的鍍金接觸區不應有銅綠，金屬裁切面區域銅綠生長不影響連接器接觸區，接觸電阻符合本規范5.3.6的規定，單pin拔出力符合本規范5.4.1的規定。5.2.8溫升條件：按照GB/T5095.3-1997中方法5a對插合好的連接器進行試驗。并執行以下細則：a)插合好的連接器，插頭和插座分別安裝在印制板上，印制板上將所有接觸件串聯，連結兩端進行溫升測試；b)常溫下測試，連接器接通1A的額定工作電流，并保持5h。連接器外觀應無明顯變形，溫升不超過30℃,穩定溫升值應15min內溫度變化不超過1℃。5.2.9溫度沖擊條件：GB/T5095.4-1997中試驗6c進行，標準大氣條件，對插合好的連接器進行試驗，并執行以下細則：a)循環次數：25次；b)極限溫度下暴露時間：-55℃（30分鐘）至+85℃（30分鐘），從-55℃開始，到+85℃結束，轉換時間不超過30分鐘，恢復時間2小時；連接器零件應無變形、裂紋、保護層起泡、脫落等損傷。試驗后其外觀質量應符合4.3.2中的規定，接觸電阻符合5.3.6條的規定。5.2.10灰塵條件：T/CESADDDD-20XX，不插合的連接器放入試驗箱進行。試驗后外觀質量符合4.3.2中的規定，接觸電阻符合本規范5.3.6中的規定。5.3電氣性能5.3.1傳輸速率最大傳輸速率：20Gbps，基準頻率為10GHz。5.3.2額定電流額定工作電流：1A。75.3.3額定電壓額定工作電壓：12V5.3.4絕緣電阻條件：GB/T5095.2-1997中試驗3a方法C；試驗電壓：500V±50VDC；正常條件下，性能水平1：≥1000MΩ;試驗后，性能水平2：≥20MΩ。5.3.5耐電壓條件：GB/T5095.2-1997中試驗4a方法B，標準大氣條件。耐電壓：500VAC。性能水平1：漏電流≤5mA。5.3.6接觸電阻條件：GB/T5095.2-1997中試驗2a方法A；測試印制板采用四點法連線，連線示意見圖3。圖3接觸電阻連線示意圖性能水平PL1：20mΩ+導體直流電阻；性能水平PL2：Δ≤10mΩ。5.3.7特性阻抗條件：插合好的連接器按GB/T5095.CCCC-20XX的規定進行試驗，并采用以下細則：a)使用時域法測試設備進行特性阻抗檢測，允許采用試驗夾具，但應把試驗夾具的測試數據排除；a)抽樣：隨機抽取一對差分信號進行測量；b)頻率范圍：0.0～10GHz；設備出口上升沿時間17ps。連接器的特性阻抗應滿足下表3的規定。8表3特性阻抗要求ΩΩ5.3.8插入損耗條件：插合好的連接器按GB/T5095.EEEE-20XX的規定進行試驗，并采用以下細則：使用頻域法進行插入損耗檢測，允許采用試驗夾具，但應把試驗夾具的測試數據排除；a)抽樣：隨機抽取一對差分信號進行檢測；b)頻率范圍：0.0～10GHz。連接器的插入損耗符合下表4的規定。表4插入損耗要求5.3.9回撥損耗條件：插合好的連接器按GB/T5095.HHHH-20XX的規定進行試驗，并采用以下細則：a)抽樣：隨機抽取一對差分信號進行檢測；b)頻率范圍：0.0～10GHz。連接器的差分信號對回波損耗滿足下表5的規定。表5回波損耗要求5.3.10綜合串擾條件：插合好的連接器按GB/T5095.KKKK-20XX的規定進行試驗，并采用以下細則：a)抽樣：隨機抽取一對差分信號進行檢測；b)頻率范圍：0.0～10GHz。連接器的差分信號對綜合串擾應滿足表6的規定。9表6綜合串擾要求頻率范圍串擾要求≤-38dB≤-30dB≤-22dB5.4機械性能5.4.1單Pin拔出力條件：按GB/T5095.7-1997中試驗13b的規定進行，標準大氣條件按圖4單接觸件拔出力測試方法進行，并采用下列細則：a)從直式插座產品上取下完好的插針，用很細的線穿過引腳魚眼，將線固定在試驗機夾具上；b)將彎式插頭產品安裝在合適的位置或夾具內，以便能逐步增加作用負荷，使插針與彎式插頭接觸件分離；c)試驗時插針與彎式插頭接觸件的嚙合深度為2mm～2.5mm；d)拔出時線、針體和彎式插頭連接器呈豎直狀態；e)插針測試10次后需進行更換；f)每個連接器至少測量10個孔位。圖4單接觸件拔出力測試示意圖連接器的單pin拔出力應符合表7的規定。表7單pin拔出力N5.4.2整體插拔力條件：GB/T5095.7-1997中試驗13b的規定進行，標準大氣條件，測試速度為25.4mm/min。連接器的整體插入力/拔出力應符合表8的規定。表8整體插拔力NN--5.4.3承壓力條件：按圖5承壓力測試方法進行，并采用下列細則：a)將連接器和印制板安裝在合適的位置或夾具內，并采用力學測試設備給連接器施加以下規定要求的力；b)印制板PCB孔徑需在規定孔徑下限值，表面處理方式采用化學鍍鎳或化學鍍金；c)測試速度：25.4mm/min。連接器承受最大壓接力滿足以下規定要求，試驗后連接器外觀無明顯損傷，連接器內部線路無短路不良；連接器底部和PCB間隙不超過0.1mm，引腳上無金屬絲刮出，無跪腳現象。圖5承壓力測試示意圖5.4.4接端壓接力和保持力條件：使用有力學曲線輸出功能的設備，將單根魚眼壓入下限孔徑板，記錄壓入力曲線上的峰值即為最大壓入力。將單根魚眼壓入上限孔徑板后使用力學設備拔出，記錄拔出力曲線上的峰值即為最小保持力。當一根接觸件上有2個魚眼時，應破壞1個魚眼，對保留的魚眼進行壓接力和保持力測試；a)壓接力使用印制板孔為下限值進行測試，使用Sn鍍層處理；b)保持力使用印制板孔為上限值進行測試，使用OSP鍍層處理。要求每組試驗最少測試五組數據，符合下表9的規定。表9接端壓接力和保持力5.4.5側向剪切力（適用于彎式插頭）條件：按圖6所示的方法進行，并采用如下細則：a)將連接器壓接在PCB板上，用合適的夾具夾持PCB板進行固定；b)印制板PCB孔徑需在規定孔徑上限值，表面處理方式采用OSP；c)從連接器前端底部連續施加側向剪切力F，將連接器從PCB上推出來，記錄最大推力.連接器從PCB上的退出力應不小于89N。圖6側向剪切力測試示意圖5.4.6接觸（組）件固定性條件：GB/T5095.8-1997中試驗15a規定進行，使用有力學曲線輸出功能的設備（下文簡稱設備）。6.4.6.1端子保持力（直式插座）a)把連接器安裝在合適的夾具上（根據端子與Housing的組裝方式來放置連接器，端子從上往下組裝，連接器就倒過來放置，反之亦然，要求從上往下能順利推出組裝的端子b)根據被測產品的力學參數，選用合適的傳感器，測試工具安裝到設備傳感器上；c)通過頂針從上向下推出端子，自動記錄下測試曲線；6.4.6.2接觸件（組）件保持力試驗時連接器不插合，安裝固定在夾具內，接觸件部件與插頭殼體之間施加力，可以使用懸重法或計力儀器。連接器的單一接觸件（組）件在絕緣基座中應承受表10中規定的插合方向壓力，接觸件在基座中的位移量不大于0.1mm。表10接觸（組）件固定性N5.4.7側壁強度（適用于直式插座）條件：按圖7所示的方法進行，并采用如下細則：a)將直式插座壓接在PCB板上并用合適的夾具進行固定；b)用材料試驗機推連接器殼體上下側壁和左右側壁（如果有）的上側中間，從內側往外推，直到推斷基座側壁為止；記錄試驗測試曲線，推斷塑膠側壁的力不應小于25N。圖7側壁強度測試示意圖5.4.8機械壽命條件：GB/T5095.5-1997中試驗9a的規定進行，標準大氣條件，并執行以下細則：插頭與插座連接和分開一次為一個周期，用專用試驗工具或手工進行。插拔速度每分鐘不大于5次，共200次。試驗次數可分為兩個100次分別進行，累積完成200次數。連接器應能承受200次的機械壽命，且試驗后連接器應無機械損傷，但金屬零件磨擦表面允許有輕微磨損；插針、插孔接觸表面不允許鍍層大塊脫落，接觸對接觸電阻應符合5.3.6的規定，單pin拔出力符合5.4.1條的規定。5.4.9機械振動條件：GB/T5095.4-1997中試驗6d進行，標準大氣條件，對插合好的連接器進行試驗，并執行以下細則：a)將連接器的插頭、插座固定安裝在合適的夾具內，在試驗過程中，將接觸件串聯在一起進行監測信號傳輸連續性；a)試驗條件：II(10～500～10Hz),振幅1.52mm或加速度10G；b)試驗時間：3個相互垂直方向，每個方向2h；c)試驗前后應按照5.3.6條的試驗方法對相同的接觸件進行接觸電阻測量，計算接觸電阻的變化量。不應有影響連接器正常工作的損壞，不允許出現大于1μs的瞬斷。試驗后其外觀質量應符合4.3.2中的規定，結構尺寸符合4.3的規定，接觸電阻符合5.3.6條的規定，單pin拔出力符合5.4.1條的規定。5.4.10機械沖擊條件：GB/T5095.4-1997中試驗6c進行，標準大氣條件，對插合好的連接器進行試驗，并執行以下細則：a)將連接器的插頭、插座固定安裝在合適的夾具內；b)測試條件：峰值加速度50G，持續時間11ms，波形為半正弦波，速度變化2.07m/s；c)沖擊次數：沿著三條相互垂直軸線X、Y、Z，每一條軸線的正負兩個方向既然X、Y、Z、-X、-Y、-Z共6個方向，每個方向沖擊3次總共沖擊18次；試驗前后應按照5d).3.6條的試驗方法對相同的接觸件進行接觸電阻測量，計算接觸電阻的變化量。不應有影響連接器正常工作的損壞，不允許出現大于1μs的瞬斷。試驗后其外觀質量應符合4.3.2中的規定，接觸電阻符合5.3.6條的規定，單pin拔出力符合5.4.1條的規定。5.4.11針體強度（適用于直式插座）條件：按照圖8所示的方法進行試驗，并采用如下細則：a)將直式插座壓接在PCB板上并用合適的夾具進行固定；b)給推拉力機的壓頭施加10N的力從上面壓插針，插針的變形量應不大于2mm；c)每個連接器信號針和屏蔽針至少數量不小于5根。圖8針體強度測試示意圖5.4.12斜插拔條件：按T/CESABBBB-20XX的規定進行。插拔次數：25次，插拔速率：25.4mm/min。試驗后其外觀質量應符合4.3.2中的規定。6質量保證規定6.1檢驗條件6.1.1標準大氣條件基準的大氣條件同GB/T5095.1-1997中的第4標準大氣條件。6.1.2仲裁試驗的標準大氣條件仲裁試驗的標準大氣條件符合GB/T5095.1-1997中的第4條的規定，并采用以下細則：a)溫度：15℃-35℃;b)相對濕度：25%～75%；c)氣壓：86kPa～106kPa。6.1.3試驗用標準大氣條件試驗用標準大氣條件符合GB/T5095.1-1997中的第4章的規定。6.2檢驗項目和順序表11規定了各組所需樣品數。表12、表13、表14、表16規定了要進行的全部試驗及其順序，以及要滿足的要求。表11樣品數P36.3P組檢驗插頭插座應經受表12規定的試驗。表12P組檢驗P1b6.4AP組檢驗從已通過P組檢驗的產品中抽取測試樣品，插頭插座每個分組3套樣品，每組中的樣品應經受表13規定的試驗。表13AP組檢驗AP1）；表13（續）注：1.機械、環境試驗方法中規定的試驗后檢測項目和本表中機械、環2.個別試驗條款只針對某一特定類型的連接器，試驗項6.5BP組檢驗從已通過P組檢驗的產品中抽取測試樣品，插頭插座每個分組3套樣品，每組中的樣品應經受表14規定的試驗。表14表BP組檢驗注：1.機械、環境試驗方法中規定的試驗后檢測項目和本表中機械、環境試驗后所列試驗項目相同時可將相同2.個別試驗條款只針對某一特定類型的連接器，試驗項6.6交收檢驗6.6.1抽樣方案抽樣方案應按照GB/T2408-2008的一般檢驗水平II進行抽樣，樣品數量應根據檢驗批的大小而定。6.6.2檢驗項目按照6.6.1的規定抽取樣品進行P組檢驗的產品后從中抽取測試樣品，進行表15規定的試驗。表15CP組檢驗6.6.3合格判據可接受質量水平（AQL百分不合格品率嚴重不合格品為0.25；輕不合格品為1，嚴重不合格品和輕不合格品應符合附錄A的定義。如果一個檢驗批中不合格品數不大于合格判定數，則判定該批產品交收組檢驗合格。否則判定該批產品不合格。6.6.4拒收批處理若有一個檢驗批被拒收，承制方可以返修該批產品，以糾正其缺陷或剔除有缺陷的產品，再次提交檢驗，重檢批應按附錄A的規定加嚴檢查進行檢驗。重撿批應與新的批區分開來，并清楚標明為復驗批。若復驗批仍被拒收，則應停止交收檢驗。6.6.5樣品處理已經受過單pin拔出力、整體插入力或接觸電阻的樣品，合格后正常交貨。已經受過端子保持力、Housing保持力、上板檢測的樣品，報廢處理。6.7周期檢驗6.7.1抽樣方案抽樣方案應按照GB/T2408-2008的一般檢驗水平II進行抽樣，試驗樣品數量應根據檢驗批的大小而6.7.2檢驗項目按照AP組檢驗的規定進行。6.7.3合格判據如果樣品未能通過周期檢驗，則承制方應按下列步驟進行處理：a)立即通知用戶并停止產品交貨和交收組檢驗；b)查明失效原因，在材料、工藝或其他方面提出糾正措施，對采用基本相同的材料和工藝進行制造、失效模式相同、能夠進行糾正的所有產品采取糾正措施；c)完成糾正措施后，重新抽取樣品進行周期組檢驗（由鑒定機構或用戶決定進行全部項目檢驗或進行原樣本失效項目的檢驗）；d)交收組檢驗也可以重新開始，但必須在交收組組重新檢驗合格后，產品才能交貨。如果交收組重新檢驗不合格，則應由承制方與訂購方雙方共同就該產品在一起協商處理。6.7.4樣品處理已經受過周期