材料測試方法智慧樹知到課后章節答案2023年下江蘇大學江蘇大學

第一章測試

點陣參數精確測定時，應盡可能選取高角度的衍射線。

A:對B:錯

答案:對

材料的內應力分為三類，X射線衍射方法可以測定

A:第一類應力（宏觀應力）B:第二類應力（微觀應力）C:第三類應力D:D.A+B+C

答案:第一類應力（宏觀應力）

當X射線將某物質原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出核外，這整個過程將產生

A:光電子B:二次熒光C:背散射電子

D:俄歇電子

答案:光電子;二次熒光;俄歇電子

在衍射儀的光學布置中，梭拉狹縫由一組平行的金屬薄片組成，其作用是限制射線在豎直方向的發散度

A:對B:錯

答案:對

理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。

A:對B:錯

答案:對

第二章測試

閃爍體計數器探測信號是基于信號作用于閃爍體產生光、所產生的光作用于光敏陰極而產生電信號來實現探測的。

A:對B:錯

答案:對

對于給定原子，其Kα線的波長比Kβ線波長短。

A:錯B:對

答案:錯

下列哪些信號可通過電子束與固體物質作用產生？

A:背散射電子B:特征X射線C:二次電子D:俄歇電子

答案:背散射電子;特征X射線;二次電子;俄歇電子

電磁透鏡可用于（）的聚焦。

A:電子束B:X射線C:原子D:可見光

答案:電子束

假設電子從燈絲上逸出時的能量為0，請問在加速電壓為10000V時電子最終的能量大約是多少？

A:10000JB:1.6×10-15eVC:1.6eVD:10000eV

答案:10000eV

第三章測試

X射線衍射法測定結晶度是通過測定樣品中晶相與非晶相的衍射方位來實現的

A:對B:錯

答案:錯

非晶物質的衍射圖由少數漫散峰組成

A:對B:錯

答案:對

脈沖高度分析器可以剔除那些對衍射分析不需要的干擾脈沖，從而達到降低背底和提高峰背比的作用

A:對B:錯

答案:對

X射線衍射方法有哪些？

A:布拉格法B:勞埃法C:周轉晶體法D:粉末法

答案:勞埃法;周轉晶體法;粉末法

X射線衍射儀常規測量中衍射強度的測量方法有哪些？

A:步進掃描B:間歇掃描C:連續掃描D:快速掃描

答案:步進掃描;連續掃描

德拜相機底片安裝方法有哪些？

A:斜裝法B:正裝法C:反裝法D:偏裝法

答案:正裝法;反裝法;偏裝法

第四章測試

用愛瓦爾德球圖解說明電子衍射過程中，以下錯誤的是（

）。

A:是倒易原點B:O是愛瓦爾德球的球心C:k是衍射波的波矢量D:倒易陣點G落在愛瓦爾德球的球面上

答案:k是衍射波的波矢量

關于電子衍射與X射線衍射的說法，以下正確的是（

）。

A:電子衍射的反射球半徑小B:電子衍射的散射能力高C:X射線的衍射角相對較大D:二者采用的光源是一致的

答案:電子衍射的散射能力高;X射線的衍射角相對較大

晶體正空間中的點陣晶面對應倒易空間中的點。

A:對B:錯

答案:對

調節中間鏡使中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，實現電子衍射操作。

A:錯B:對

答案:錯

零層倒易面上的各倒易矢量ghkl的方向和正空間中相應晶面的法向之間的關系是

。

A:重合B:垂直C:平行D:交叉

答案:平行

體心立方晶體的衍射條件和消光條件分別是

和

。

A:（H+K）偶數B:H、K、L同性數C:（H+K+L）偶數D:（H+K+L）奇數

答案:（H+K+L）偶數;（H+K+L）奇數

零層倒易面的法線和正空間中的晶帶軸[uvw]是垂直的關系。

A:錯B:對

答案:錯

零層倒易面上的各倒易矢量都和晶帶軸r=[uvw]垂直（⊥r）

A:對B:錯

答案:對

當入射束不嚴格滿足布拉格方程的時候，衍射情況應該是

。

A:產生強衍射束B:產生弱衍射束C:不產生衍射

答案:產生弱衍射束

薄晶體樣品應該用

來獲得滿意的圖像反差。

A:衍射襯度B:振幅襯度C:相位襯度D:質厚襯度

答案:衍射襯度

關于中心暗場成像，以下說法正確的是

。

A:入射電子束方向傾斜2θB:透射束被擋掉C:利用衍射束得到圖像襯度D:用于成像的是離軸光線

答案:入射電子束方向傾斜2θ;透射束被擋掉;利用衍射束得到圖像襯度

入射束與試樣內各晶面相對位向不同不會造成衍射強度的明顯差異。

A:對B:錯

答案:錯

襯度是顯微圖像中不同區域的明暗差別

A:錯B:對

答案:對

用以實現透射電鏡成像操作和電子衍射操作的轉換的是

。

A:物鏡B:投影鏡C:聚光鏡D:中間鏡

答案:中間鏡

入射電子束穿過樣品經物鏡聚焦成像，在

上形成衍射花樣，在

上形成顯微圖像。

A:熒光屏B:像平面C:物鏡背焦面D:物鏡后焦面

答案:像平面;物鏡背焦面

場發射電子槍比熱發射電子槍亮度更高，束斑尺寸更小，電子束相干性更好。

A:對B:錯

答案:對

投影鏡是用來形成第一幅高分辨電子顯微圖像或電子衍射花樣。

A:對B:錯

答案:錯

選區光闌應該加在什么位置以實現選取電子衍射操作？

A:物鏡的后焦面B:物鏡的像平面C:樣品上D:物鏡的背焦面

答案:物鏡的像平面

關于選區電子衍射操作的說法正確的是

。

A:可以實現晶體結構分析B:可以實現組織形貌觀察C:選區光闌的水平位置在電鏡中是可以調整的的D:物鏡的像平面和中間鏡的物平面都必須和選區光闌的位置齊平

答案:可以實現晶體結構分析;可以實現組織形貌觀察;物鏡的像平面和中間鏡的物平面都必須和選區光闌的位置齊平

在物鏡像平面上插入選區光闌可以實現選區電子衍射操作。

A:對B:錯

答案:對

選區電子衍射操作需要先把透射電鏡切換到電子衍射模式。

A:對B:錯

答案:錯

實現入射電子束平移和傾斜的裝置是

。

A:消像散器B:物鏡光闌C:極靴D:電磁偏轉器

答案:電磁偏轉器

以下哪些可以用來搭載樣品？

A:碳支持膜B:微柵膜C:銅網D:載網支持膜

答案:碳支持膜;微柵膜;銅網;載網支持膜

消像散器形成的矯正磁場在強度上可調，在方位上不可調。

A:對B:錯

答案:錯

物鏡光闌通常安裝在物鏡的背焦面上。

A:錯B:對

答案:對

關于化學拋光減薄法，以下說法錯誤的是（）。

A:表面沒有機械硬化層B:屬于最終減薄C:大部分控制在20~50μm的厚度D:利用化學試劑腐蝕減薄樣品

答案:屬于最終減薄

電子束對薄膜樣品的穿透能力和加速電壓無關。

A:對B:錯

答案:錯

透射電子顯微操作中，對于樣品的要求以下說法正確的是（）。

A:杜絕腐蝕和氧化B:組織結構能夠代表大塊樣品C:表面效應可忽略D:強度和剛度不做要求

答案:杜絕腐蝕和氧化;組織結構能夠代表大塊樣品;表面效應可忽略

電火花切割法只能用于導電樣品。

A:錯B:對

答案:對

計算晶帶軸指數的基本原理是（

）。

A:矢量運算B:結構消光原理C:電子衍射基本公式D:晶帶定理

答案:晶帶定理

關于標準電子衍射花樣，以下說法正確的是（

）。

A:是經過實際觀察、記錄得到衍射花樣B:可以利用其進行衍射花樣標定C:各晶體點陣主要晶帶的倒易截面D:可以根據晶帶定理和消光規律繪出

答案:可以利用其進行衍射花樣標定;各晶體點陣主要晶帶的倒易截面;可以根據晶帶定理和消光規律繪出

測量衍射斑點間距時，應該測量靠近中心斑點的幾個衍射斑點至中心斑點的距離。

A:對B:錯

答案:對

未知晶體結構衍射花樣標定時，應該在幾個不同的方位攝取衍射花樣，測低指數斑點的R值。

A:錯B:對

答案:對

關于超點陣斑點，以下說法正確的是（

）。

A:可能會改變原有晶體的衍射花樣B:會給分析和標定帶來方便C:在一定條件下才能產生D:可以提供更多的結構信息

答案:可能會改變原有晶體的衍射花樣;在一定條件下才能產生;可以提供更多的結構信息

當晶體內部的原子或離子產生有規律的位移或不同原子產生有序排列時，有可能使本來消光的斑點出現，衍射花樣中也將出現相應的額外斑點。

A:對B:錯

答案:對

超點陣斑點一般出現在無序固溶體禁止反射的位置，強度一般較高。

A:對B:錯

答案:錯

關于高分辨透射電子顯微術，以下說法錯誤的是（

）。

A:增大了樣品臺的傾轉角B:配備了高分辨物鏡極靴和光闌組合C:反映了晶體的周期性排列D:是透射束和衍射束干涉形成的襯度

答案:增大了樣品臺的傾轉角

以下哪個不屬于高分辨透射電子顯微鏡的改進方向？

A:增加球差B:降低球差C:配備慢掃描CCD相機D:配備TV圖像增強器

答案:增加球差

利用高分辨透射電子顯微技術可以獲得材料的哪些信息？

A:晶體中界面及表面的原子分布B:微疇C:微觀結構D:晶體缺陷

答案:晶體中界面及表面的原子分布;微疇;微觀結構;晶體缺陷

高分辨透射電子顯微術（HRTEM）是材料分子級別顯微組織結構的相位襯度顯微術。

A:對B:錯

答案:錯

高分辨顯微像的襯度由透射波與衍射波的相位差決定。

A:錯B:對

答案:對

第五章測試

SEM鏡筒中聚光鏡及物鏡均為（）。

A:中