標準解讀

《GB/T 6463-1986 金屬和其他無機覆蓋層 厚度測量方法評述》是一份國家標準文件，其主要目的是對用于測量金屬及其合金表面以及非金屬基體上形成的無機覆蓋層厚度的各種方法進行綜合評價。該標準涵蓋了多種常用的測量技術，并對其適用范圍、精度、操作復雜性等方面進行了比較和討論。

在內容結構上，該標準首先定義了“覆蓋層”這一術語，指的是通過電鍍、化學沉積、熱噴涂等工藝手段，在基材表面上形成的一層或多層具有特定功能或裝飾作用的材料。接著，詳細介紹了幾種典型的測量方法，包括但不限于：

  • 磁感應法：適用于鐵磁性基體上的非鐵磁性涂層厚度測定。這種方法基于電磁場原理，當探頭接近被測物體時，由于不同材質對磁場的影響差異，可以間接計算出涂層的厚度。
  • 渦流法：主要用于非導電基底上的導電涂層或者導電基底上的非導電涂層。它利用高頻交變電流產生變化的磁場，在試樣中激發起渦流，根據渦流的變化來判斷涂層厚度。
  • 顯微鏡法：這是一種直接觀察的方法，通常需要破壞樣品才能實現。通過對截面進行拋光處理后使用光學顯微鏡觀察，可以直接讀取到涂層的實際厚度值。
  • X射線熒光法：能夠非接觸式地檢測某些類型的涂層厚度。通過分析從樣品表面反射回來的特征X射線強度，與已知標準對比從而得出結果。
  • β背散射法：采用放射性同位素作為輻射源，依據不同元素對β粒子的吸收特性差異來進行測量。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 6463-2005
  • 1986-06-11 頒布
  • 1987-05-01 實施
?正版授權
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文檔簡介

UDC669.058:531.717.1中華人民共和國國家標準GB6463-86金屬和其它無機覆蓋層厚度測量方法評述Metallicandotherccoatingsrnon-organicReviewfmeasurementofmethods0fthicknesss0f1986-06-11發布1987-05-01實施家標準批準

中華人民共和國國家標準UDC669.058:531金屬和其它無機覆蓋層.717.1GB6463-86厚度測量方法評述Metallicandothernon-organiccoatings-Reviewofmethodsofmeasurementofthickness本標準評述了金屬或非金屬基體上的金屬和其它無機覆蓋層厚度的測最方法測量方法分為無損法和破壞法兩類。本標準介紹了不同方法的工作原理，允許測量誤差以及某些儀器測量方法的適用范圍。標準中列出的方法，只包括國家標準中規定的一些試驗方法，不包括某些特殊情況下使用的方法。本標準可以作為選擇金屬和其它無機覆蓋層厚度測量方法的依據。本標準等效采用國際標準ISO3882一—1986《金屬和其它無機覆蓋層一厚度測量方法評述》1測量方法1.1無損法1.1.1磁性法本方法使用的儀器有兩種類型：一種是測量一磁體與基體金屬之間的磁引力，該磁引力由于覆蓋層的存在而受到影響；另一種是測量通過覆蓋層和基體金屬磁通路的磁阻。本方法的測量誤差通常小于待測厚度的10%或1.5m兩個數值中較大的一個數實際上，本方法只用于測量磁性基體上非磁性覆蓋層的厚度和磁性或非磁性基體上電鍍鎳層的厚國家標準（B4956—85《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測鼠磁性方法》，說明了使用磁性測厚儀，無損測量磁性基體金屬上非磁性（包括釉瓷和塘瓷）覆蓋層厚度的方法和要求。1.1.2潤流法本方法使用的儀器其工作原理是，儀器的測頭裝置產生了一個高頻磁場，使置于測頭下的導體產生渦流，渦流的振幅是測頭和導體之間的非導電覆蓋層厚度的函數。本方法主要用于測量非磁性金屬上非導電蓋層的厚度以及非導體上單層金屬覆蓋層的厚度。本方法的測量誤差通常小于待測厚度的10%或1.5um兩個數值中較大的一個數。國家標準GB4957一85《非磁性金屬些體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法》，說明了使用渦流測厚儀無損測最非磁性基體金屬上非導電覆蓋層厚度的方法和要求。1.1.3X射線光譜測定法本方法利用發射和吸收義射線光譜的裝置確定金屬覆蓋層的厚度。其儀器的工作原理是，使X射線照射到一定面積的覆蓋層表面時，覆蓋層要發射二次射線，或者是由基體發射而被覆蓋層減弱了的二次射線。該射線的強度可以被測量到。利用X射線的二次射線強度和覆蓋層厚度之間存在的一定關系，確定做蓋層的厚度。X射線法在一般情況下是適用的，但在下述情況下此精度偏低：當基體金屬中存在慢蓋層的成分或者置蓋層中存在基體金屬成分時

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