ICS31200

L56.

中華人民共和國國家標準

GB/T35006—2018

半導體集成電路

電平轉換器測試方法

Semiconductorintegratedcircuits—

Measuringmethodoflevelconverter

2018-03-15發布2018-08-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

中華人民共和國

國家標準

半導體集成電路

電平轉換器測試方法

GB/T35006—2018

*

中國標準出版社出版發行

北京市朝陽區和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區三里河北街號

16(100045)

網址

:

服務熱線

:400-168-0010

年月第一版

20181

*

書號

:155066·1-58844

版權專有侵權必究

GB/T35006—2018

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

總則

4………………………2

測試環境要求

4.1………………………2

測試注意事項

4.2………………………2

功能測試

5…………………2

目的

5.1…………………2

測試原理圖

5.2…………………………2

測試程序

5.3……………3

測試條件

5.4……………3

靜態參數測試

6……………3

輸入鉗位電壓V

6.1(IK)…………………3

輸入高電平電壓V

6.2(IH)………………4

輸入低電平電壓V

6.3(IL)………………5

輸出高電平電壓V

6.4(OH)……………5

輸出低電平電壓V

6.5(OL)………………5

輸入高電平電流I

6.6(IH)………………5

輸入低電平電流I

6.7(IL)………………5

輸出高電平電流I

6.8(OH)………………5

輸出低電平電流I

6.9(OL)………………6

輸出高阻態時高電平電流I

6.10(OZH)…………………7

輸出高阻態時低電平電流I

6.11(OZL)…………………8

靜態電流I

6.12(CCQ)……………………9

電流偏移量I

6.13(ΔCCQ)………………9

輸出對地短路電流I

6.14(OSL)………………………10

輸出對電源短路電流I

6.15(OSH)……………………11

開啟電阻R

6.16(ON)…………………12

通道間開啟偏移電阻R

6.17(ΔON)……………………13

動態參數測試

7……………14

電源電流I

7.1(CC)……………………14

最高工作頻率f

7.2(MAX)………………14

最低工作頻率f

7.3(MIN)………………15

輸入電容C和輸出電容C

7.4(I)(O)…………………16

輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間t

7.5(PLH)……………………16

輸出由高電平到低電平傳輸延遲時間t

7.6(PHL)……………………17

Ⅰ

GB/T35006—2018

輸出由高阻態到高電平傳輸延遲時間t

7.7(PZH)……………………18

輸出由高阻態到低電平傳輸延遲時間t

7.8(PZL)……………………18

輸出由高電平到高阻態傳輸延遲時間t

7.9(PHZ)……………………19

輸出由低電平到高阻態傳輸延遲時間t

7.10(PLZ)……………………20

輸出由低電平到高電平轉換時間t

7.11(TLH)………21

輸出由高電平到低電平轉換時間t

7.12(THL)………22

眼圖高度e

7.13(H)……………………23

眼圖寬度e

7.14(W)……………………24

確定性抖動Dj

7.15()…………………25

隨機抖動Rj

7.16()……………………25

總抖動J

7.17(t)………………………26

Ⅱ

GB/T35006—2018

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本標準由全國半導體器件標準化技術委員會集成電路分技術委員會歸口

(SAC/TC78/SC2)。

本標準起草單位深圳市國微電子有限公司中國電子科技集團公司第五十八研究所工業和信息

:、、

化部電子第五研究所成都振芯科技股份有限公司

、。

本標準主要起草人宦承永鄔海忠陸堅魏軍王小強羅彬

:、、、、、。

Ⅲ

GB/T35006—2018

半導體集成電路

電平轉換器測試方法

1范圍

本標準規定了半導體集成電路電平轉換器以下稱為器件功能靜態參數和動態參數的測試方法

()、。

本標準適用于半導體集成電路電平轉換器功能靜態參數和動態參數的測試

、。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

半導體器件集成電路第部分數字集成電路

GB/T17574—19982:

3術語和定義

下列術語和定義適用于本文件

。

31

.

被測器件deviceundertestDUT