ICS31080

L53.

中華人民共和國國家標準

GB/T32872—2016

空間科學照明用LED篩選規范

ScreeningspecificationsforilluminationLEDsinspacesciences

2016-08-29發布2016-11-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T32872—2016

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

總則

3………………………1

篩選項目和程序

4…………………………1

篩選方法

5…………………2

外觀檢查

5.1……………2

參數測量

5.2……………2

恒定加速度

5.3…………………………2

粒子碰撞噪聲檢測

5.4…………………2

密封性檢查

5.5…………………………3

高溫存儲

5.6……………3

溫度沖擊

5.7……………3

低溫啟動

5.8……………3

溫度循環

5.9……………4

老煉

5.10…………………4

參數終測

5.11……………4

參數測量和合格判定

6……………………4

測量條件

6.1……………4

測試參數

6.2……………5

測試方法

6.3……………5

合格判定

6.4……………6

附錄資料性附錄空間科學照明用篩選統計表

A()LED………………7

GB/T32872—2016

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由全國空間科學及其應用標準化技術委員會歸口

(SAC/TC312)。

本標準起草單位中國科學院上海技術物理研究所

:。

本標準主要起草人張濤章美敏劉石神顧建忠袁士東王晨飛

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T32872—2016

空間科學照明用LED篩選規范

1范圍

本標準規定了空間科學照明用篩選項目和程序篩選方法參數測量

LED(LightEmittingDiode)、、

和合格判定

。

本標準適用于空間科學照明用額定功率和以上封裝的單芯的篩選其他功率級別

1W1WLED,

的也可參照執行

LED。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

普通照明用模塊測試方法

GB/T24824—2009LED

半導體分立器件試驗方法

GJB128A—1997

軍用電子元器件破壞性物理分析方法

GJB4027

3總則

31被篩選器件應按產品規范或技術協議的要求進行參數初測合格的器件可參加篩選篩選按規定

.,。

的項目和程序進行完成每個項目之后剔除不合格產品

,,。

32被篩選器件應逐個編號并在每次測試時記錄測試數據篩選結束后應編寫篩選統計表格式參

.,。,,

見附錄器件的參數測試數據可作為篩選報告的附件

A,。

33測試如有異常應記錄異常的發生時間和器件編號

.,。

34當篩選剔除率超過時應判批次不合格當出現功能失效時應按照進行失效分

.20%,。,GJB4027

析如屬于材料或工藝因素的非偶然性失效也應判批次性不合格

,。

4篩選項目和程序

篩選按表規定的項目和程序進行完成每個項目之后剔除不合格產品

1,,。

表1篩選項目和程序

序號篩選項目篩選方法

外觀檢查見

15.1

參數測量