第四章原子吸收光譜法_第1頁
第四章原子吸收光譜法_第2頁
第四章原子吸收光譜法_第3頁
第四章原子吸收光譜法_第4頁
第四章原子吸收光譜法_第5頁
已閱讀5頁,還剩134頁未讀 繼續免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

歐陽崇陽連續光譜出現暗線的原因?第四章原子吸收光譜法

(AtomicAbsorptionSpectrometry,AAS)§4-1概述§4-2原子吸收光譜法基本原理§4-3原子吸收光譜儀§4-4定量分析方法§4-5干擾及其抑制§4-6靈敏度、檢出極限、測定條件的選擇§4-7方法特點及應用

§4-1概述原子吸收光譜分析原子吸收分光光度法原子吸收法

基于物質產生的原子蒸汽對特定譜線(通常是待測原子的特征譜線)的吸收來進行元素定量分析的一種方法。如圖:測定試液中Mg2+的含量

原于吸收分析示意圖原子吸收法和分光光度法在基本原理上是相同的,都是基于物質對光的吸收。但吸光物質的狀態不同,一個是基態原子的吸收,一個是溶液中分子或離子的吸收。原子蒸氣對光的吸收程度也是符合朗伯比耳定律的。儀器的基本結構也與一般光度計類似。歷史:

1802年,發現原子吸收現象;

1955年,Australia物理學家WalshA建立將該現象應用于化學分析;隨后,

Hilger、Varian、Perkin-Elmer公司先后推出了原子吸收光譜商品儀器,20世紀60年代中期發展最快;

近年來,AAS的發展主要表現在儀器上;如今已在許多部門廣泛使用,是元素定量分析的常規武器。

§4-2原子吸收光譜法基本原理一、共振發射線與共振吸收線

原子在兩個能態之間的躍遷伴隨著能量的發射和吸收。最外層電子由基態躍遷到第一激發態時,所產生的吸收譜線稱為共振吸收線。躍回到基態時,則發射出同樣頻率的光,稱為共振發射線。

發射吸收E0E1共振線:共振發射線和共振吸收線的波長相同,簡稱為共振線。各種元素的原子結構和外層電子排布不同,各能級的能量不同,不同元素的原子在基態和第一激發態間躍遷能量不同——共振線具有特征性。各種元素的基態和第一激發態間躍遷最易發生——最靈敏線。

hν在原子吸收分析中,就是利用處于基態的待測原子蒸汽對從光源發射的共振發射線的吸收來進行分析的。共振線的特點:①是元素的特征譜線;②一般是元素所有譜線中最靈敏的譜線。二、熱激發時基態原子數與激發態原子數之間的分配原子化過程:

MOMn+

Mj在適當條件下,基本不發生,且應盡量防止發生。在適當條件下,基本不發生,且應盡量防止發生。熱力學平衡時,激發態與基態原子數之比服從玻爾茲曼(Boltzmann

)分布定律:式中:Nj和N0——激發態和基態原子數;

Pj和PO——激發態和基態的統計權重;

k——玻爾茲曼常數;

T——熱力學溫度。T一定,比值一定。溫度升高或共振線的波長越長,比值越大。通常比值<1%,Nj<<N0,N0≈N,故可用基態原子數代表待測元素的原子總數。三、譜線輪廓與譜線變寬

原子吸收線與發射線并不是絕對單色,而是具有一定的寬度,通常稱為譜線輪廓。若將不同頻率的光(強度為I0ν)通過原子蒸汽,其透光強度與原子蒸汽的厚度符合朗伯定律:

Iν=I0νe-KvL

Kv

為原子蒸汽對頻率為ν的光的吸收系數,隨光源的輻射頻率而改變。表征譜線輪廓的值:①中心頻率ν0

②半寬度Δν譜線變寬因素:(1)自然寬度:無外界因素影響時譜線具有的寬度。其大小與激發態原子的壽命有關,壽命越短,譜線越

寬。

~10-5nm(2)多普勒(Doppler)變寬:原子在空間作無規則的熱運動所引起的,故又稱為熱變寬。

一個運動著的原子發出的光,如果運動方向離開觀察者(接受器),則在觀察者看來,其頻率較靜止原子所發的頻率低,反之,高。光子觀測光子觀測使檢測器接受到許多頻率稍有不同的光。多普勒變寬與元素的相對原子質量、溫度及譜線的頻率有關。10-3nm~10-2nm(3)壓力變寬:由于原子相互碰撞使能級發生稍微變化。10-3nm~10-2nm

勞倫茲(Lorentz)變寬ΔνL

待測原子和其他原子碰撞。隨蒸汽壓力增加而增大。

赫魯茲馬克(Holtsmark)變寬(共振變寬)

同種原子碰撞。濃度高時起作用,在原子吸收中可忽略。(4)自吸變寬、場致變寬在一般分析條件下,ΔνD、ΔνL為主。如以連續光源進行原子吸收測量,經單色器分光后所得入射光的譜帶寬度約為0.2nm,而原子吸收線半寬度約為10-3nm,原子吸收引起的吸收值僅相當于總入射光強度的0.5%,即0.001/0.2,信號變化小,難于檢測,測定靈敏度極差。四、原子吸收法的定量基礎理論上:把原子蒸氣所吸收的全部能量稱為積分吸收。N0―單位體積原子蒸氣中吸收輻射的基態原子數即積分吸收與單位體積原子蒸氣中原子總數成正比。問題:需分辨率高達十萬的單色器,現在的分光裝置無法實現;被測量的光強太弱而無法準確測量。測量積分吸收不可能,怎么辦?

1955年A.Walsh提出,采用銳線光源測量峰值吸收的辦法解決了這個問題。

銳線光源需要滿足的條件:此時基態原子對光的吸收就成為峰值吸收了,用一般的單色器即可。

怎樣才能得到銳線光源呢?

用一個與待測元素相同的純金屬或合金制成的低壓密封空心陰極燈就可獲得。燈內氣壓低,壓力變寬基本上消除,又這種燈供電電流小,產生的溫度低,所以多普勒變寬也小,同時又使發射線與吸收線的中心頻率一致。在一定條件下,峰值吸收系數與積分吸收之間有一定的函數關系:實際測定中,是通過測量吸光度而求得待測物質的濃度。§4-3原子吸收光譜儀

TAS-990北京普析空心陰極燈原子化器單色儀檢測器原子化系統霧化器樣品液廢液切光器助燃氣燃氣原子吸收儀器結構示意圖有單光束和雙光束兩種類型。與一般分光光度計不同之處主要有:1、銳線光源(一般是用空心陰極燈)一般分光光度法為什么可以用連續光源單色器分出的光作入射光(0.2nm)?這是由于溶液的吸收是分子吸收,而分子吸收是寬帶吸收(約10nm),這樣得到的入射光相對于分子吸收譜線是單色光。2、分光系統安排在火焰和檢測器之間

避免來自火焰的強光直接照射到檢測器上。3、光源在進入原子化器之前應進行調制

消除火焰中的輻射干擾(包括火焰本身和火焰中待測元素的輻射線)。用機械斬光器(一金屬圓盤分成四個扇形,其中對角的兩個扇形可讓入射光通過,并以一定的速度旋轉,入射光被“切”成交變的光)或電調制(即對空心陰極燈采用交流脈沖供電),產生交流信號。而來自火焰中的干擾輻射未經調制,是直流信號。

一、光源—空心陰極燈作用:發射待測元素的特征光譜,以供吸收測量之用。

對光源的要求:①能發射待測元素的共振線;②能發射銳線;③輻射光強度要足夠大,穩定性要好。空心陰極燈結構陽極是吸氣金屬,空心圓筒形使待測原子集中,惰性氣體可防止與元素反應,譜線簡單。原理:施加適當電壓,電子從陰極內壁流向陽極;與充入的惰性氣體碰撞使之電離產生正電荷,其在電場作用下,向陰極內壁猛烈轟擊;使陰極表面的金屬原子濺射出來,濺射出來的金屬原子再與電子、惰性氣體原子及離子發生撞碰而被激發,于是陰極內輝光中便出現了陰極物質和內充惰性氣體的光譜。用不同待測元素作陰極材料,可制成相應空心陰極燈。單元素燈,比如銅燈。多元素燈,如Ca-Mg-Al三元素空心陰極燈。空心陰極燈的輻射強度與燈的工作電流有關。空心陰極燈使用前應經過5-20min預熱時間。優缺點:(1)僅有一個操作參數,輻射光強度大,穩定,譜線窄,燈容易更換。(2)每測一種元素需更換相應的燈。二、原子化系統作用:將試樣中的待測元素轉變為原子蒸氣。試樣原子化是原子吸收分析的關鍵問題。1、火焰原子化器作用:將試液霧化。要求:噴霧穩定、霧滴微小而均勻、霧化效率高。

(1)霧化器載氣為高壓助燃氣(空氣、氧、氧化亞氮)等結構如圖形成霧滴的效率除取決于溶液的物理性質(如表面張力、粘度)外,還取決于助燃氣的壓力及霧化器結構。主要缺點:霧化效率較低,10∽30%。(2)燃燒器試樣霧化后進入預混合室(霧化室),與燃氣(如乙炔、丙烷、氫等)在室內充分混合,其中較大的霧滴凝結在壁上,經預混合室下面的廢液管排出,而最細的霧滴則進入火焰中。單縫燃燒器(3)火焰作用:提供能量,使試液霧滴脫水干燥、熱解離產生基態原子。溫度過高,基態原子數減少,測定靈敏度下降;溫度過低,靈敏度也降低,且還會發生分子吸收造成干擾。在保證待測元素充分離解為基態原子的前提下,盡量采用低溫火焰。火焰溫度主要取決于火焰的類型,但也與兩者的流量比例有關。常用的火焰類型有:①air-C2H2

應用最廣,最高溫度約2300℃,可用于測定30多種元素,不宜用于測定易形成難離解氧化物的元素(如Al、V、Mo、Ti、W、Zr、B),因靈敏度低。②N2O-C2H2

溫度高(可達3000℃),火焰的還原性氣氛強,可用于測定易形成難離解氧化物的元素。使用時注意安全。火焰的三種狀態:

火焰狀態定義性質適用對象化學計量焰(中性焰)燃助比近似于二者反應的計量關系火焰穩定、溫度高、背景低、干擾少大多數常見元素貧燃焰燃氣量少于化學計量,藍色火焰溫度最低、具有氧化性氣氛堿金屬元素、難氧化元素(如Ag、Pb等)富燃焰燃氣量大于化學計量,黃色溫度較低、具有還原性、噪聲大較易形成難離解氧化物的元素(如Cr、Mo等)

火焰原子化法的優缺點:重現性好、操作簡單、速度快,應用普及;原子化效率低、噴霧氣體對試樣的稀釋嚴重,使得靈敏度不夠高;不能直接分析固體試樣。2、石墨爐原子化器石墨管:用微量進樣器注入樣品,用大電流通過高阻值的石墨管加熱,產生高溫,原子化就在管中進行。石墨爐原子化裝置通入Ar防止試樣及石墨管被氧化,排除干燥和灰化過程中產生的蒸汽。原子化時停止通氣。水冷卻系統,保護爐體、迅速降低爐溫。測定時分干燥、灰化、原子化、除殘凈化四階程序升溫。石墨管升溫程序示意圖階段目的溫度(℃)時間(秒)干燥除溶劑100-300數十秒灰化除去易揮發的基體組分、破壞有機物等500-180030-300原子化使待測元素原子化1800-28005-10除殘除去管中殘留分析物,避免記憶效應3000數秒鐘測定不同的樣品,用不同的溫度和時間。

石墨爐法的優缺點:1、靈敏度高(原子化效率高);2、用樣量少(5-100μl,固樣20-40μg);3、能直接分析液樣和固樣;4、操作安全;5、精密度差(取樣量少,進樣量及注入管內位置的變動都會引起偏差);6、背景吸收較大;7、測定速度慢,操作不夠簡便,裝置較復雜。3、其它原子化法①氫化物原子化法主要應用于:As、Sb、Bi、Sn、Ge、Se、Pb、Ti等元素。原理:

待測試樣在氫化物發生器中產生氫化物,通過Ar或N2將其帶入熱的石英管內原子化并測定。特點:①原子化溫度低(700~900゜C)

②靈敏度高(對砷、硒可達10-9g);

③基體干擾和化學干擾小。氫化物原子化裝置示意圖②

冷原子化法

(測定Hg2+)

原理:將試樣中的汞離子用SnCl2還原為金屬汞后,用氣流將汞蒸氣帶入具有石英窗的氣體測量管中進行吸光度(253.7nm)測量。特點:常溫測量;靈敏度、準確度較高(可達10-8g汞)。三、分光系統空心陰極燈發出的光束中,除了待測元素的共振線外,還有該元素的非共振線,陰極材料中雜質的發射譜線,惰性氣體的發射譜線,另還有火焰本身的發射譜線等。單色器的作用就是將待測元素的共振線與鄰近譜線分離開來。原子吸收測定,既要將譜線分開,又要有一定的出射光強度才便于測定。因此如果光源強度一定,就需要選用適當的通帶來滿足上述要求。

光譜通帶W:是指通過單色器出射狹縫的光束所包含的波長范圍。

光譜通帶寬度示意圖

W=倒線色散率D(nm/mm)×狹縫寬度S(mm)

儀器一定,D一定,通過調節S來改變W。

調寬狹縫,出射光強度增加,但單色器的分辨率下降,使測得的吸收值偏低,導致工作曲線彎曲。

D是指單色器焦面上單位距離間的波長差,分辨率是指儀器分開鄰近兩條譜線的能力。

四、檢測系統作用:對共振線的吸收情況進行檢測并顯示結果。包括:光電轉換器(光電倍增管)、交流放大器、對數變換器、顯示儀表。現代的儀器具有自動校準、自動調零、自動進樣、積分讀數(在一定的時間內測定數次,取平均值)、微機處理數據、打印等功能。

§4-4定量分析方法一、標準曲線法

適用于組成簡單的試樣分析。注意幾點:①線性范圍

②組成相似

③條件不變④消除干擾二、標準加入法操作原理:取等體積試液兩份,分別移入容量瓶1及2中,于2中加入一定量的標液,然后將兩瓶溶液稀釋到刻度,測吸光度。加標后濃度的增量實際測定采用作圖法:取等體積的試液若干份(一般為5份),從第二份開始,加入不同量的待測元素的標液,設定容后濃度分別為:

Cx、Cx+C0、Cx+2C0、Cx+3C0、Cx+4C0,測得的吸光度分別為:Ax、A1、A2、A3、A4,以A對濃度增量作圖。CX點即待測溶液濃度優點:能消除基體效應(如粘度)的影響,因而準確度較高,適合組成復雜或待測元素含量低的樣品分析(但不適合批量樣品的測定)。注意幾點:①應保證加標后濃度仍在線性范圍內,否則曲線外推易造成較大誤差;②至少采用4個點外推,且加標量要適當;CxCx+C0Cx+2C0Cx+3C0A0.20.30.40.5ΔA0.10.20.3③不能消除背景吸收的影響;標準曲線的彎曲:1、產生彎曲的理論分析:

假設在分析線附近有一條強度為i0的線,它不被基態原子吸收,又不能被單色器分開而進入檢測器。這時表現的吸光度為:

使第一個加標量產生的吸收值約為試樣原吸收值的一半至相同。

第2次故A'<A,C不同,It不同,i0對吸光度的影響不同,所以彎曲。2、原因及措施:分析線傍過吸收層;燈發射線變寬;光電倍增管產生暗電流(如熱電子發射等);被測物濃度過大;狹縫過寬,其它譜線進入檢測器。采取的措施:對準光束;

燈電流不要過大,選擇質量好的燈;

工作時間不要過長;

控制分析物濃度;

選擇合適的狹縫寬度等。§4-5干擾及其抑制一、光譜干擾

指非測定譜線進入檢測器,或者測定譜線受到除待測元素吸收以外的其它吸收或減弱而造成的偏離吸收定律的現象。

1、分析線附近有待測元素的鄰近線

——減小狹縫寬度

2、燈內有單色器不能分離的非待測元素的譜線

——用單元素燈

鎳空心陰極燈的光譜3、燈中有連續背景發射

——換新燈;用較小通帶4、待測元素的分析線與另一元素的吸收線十分接近(譜線重疊)

——另選分析線或分離干擾

待測元素共振線

干擾元素共振線

波長差

Cu:324.754nmEu:324.753nm0.001nm Hg:253.652nmCo:253.649nm 0.003nm5、背景吸收泛指除待測元素外的其他物質對譜線的吸收。①火焰成分對光的吸收:

如火焰中OH、CH、CO等分子或基團的吸收。調節零點或改用火焰類型。②試樣中鹽或酸、氧化物等的分子吸收:

這種情況一般在鹽或酸的濃度較高時出現,在低溫火焰中它們的影響較明顯。H2SO4、H3PO4在250nm以下有很強的分子吸收,所以測定譜線在250nm以下的元素時,通常不用H2SO4、H3PO4處理樣品,而用HNO3、HCl、HClO4

。③固體微粒對光的散射:進行低含量或痕量分析時,大量基體成分進入原子化器,在原子化過程中形成煙霧或固體顆粒在光路中阻擋光束。光散射隨譜線的波長減短而增大,并隨基體濃度增加而增大。

消除背景吸收的幾種辦法:①用與試樣有相似組成的標液來校正②分離基體③用鄰近非吸收線校正背景

用分析線測量原子吸收與背景吸收,用鄰近非吸收線測量背景吸收,相減。此法要求兩線的波長相近(>10nm時就不能使用),因背景吸收隨波長而變。例如Ni的測定,共振線為232.0nm,非吸收線231.6nm。非吸收線可來自同一燈的發射線,也可用另一燈的發射線。④用背景校正器

A.氘燈背景校正旋轉斬光器交替使空心陰極燈提供的共振線和氘燈提供的連續光譜(190∽350nm)通過火焰。連續光譜通過時:測定的為背景吸收(此時的共振線吸收相對于總吸收可忽略);共振線通過時:測定總吸收;差值為有效吸收。不足:氘燈測的是整個通帶內的平均背景,與分析線處的真實背景有差異,校正有可能過度或不足,且有波段限制,兩燈光束在原子化器中嚴格重迭才能使兩光源測得的背景一致。B.塞曼(Zeeman)效應背景校正塞曼效應是指在強磁場中(光源發射線或)吸收線發生分裂的現象。一條譜線分裂為三條(均為偏振光),一條叫π線,平行于磁場方向,中心線與原吸收線波長相同,另兩條叫σ+、σ-線,垂直于磁場方向,波長偏離原吸收線波長。

光源發射線通過起偏器后變為偏振光,隨著起偏器的旋轉,某一時刻有平行于磁場方向的偏振光通過原子化器,吸收線π和背景均產生吸收,測得原子吸收和背景吸收的總和。在另一時刻有垂直于磁場的偏振光通過原子化器,不產生原子吸收,測得的只是中心波長處背景的吸光度(背景吸收沒有方向性),兩次吸光度之差,便校正了背景吸收。優點:可在全波段范圍內進行;可校正較高吸光度(高達1.5~2.0)的背景,校正準確度較高,比氘燈校正優越得多。

光源發射線與磁場中吸收線的塞曼分裂(a)譜線加背景吸收;(b)背景吸收C.用自吸效應校正背景特點:校正范圍大(紫外區和可見光區);校正能力強(能扣除背景吸收值達2.0以上);儀器結構簡單;影響空心陰極燈的壽命。原理:利用空心陰極燈在大電流時將產生自吸收這一效應,使燈的供電方式改為兩種:一種是大電流的背景電流(幾十毫安),這時測得的吸光度值為背景吸收值;另一種是小電流的信號電流(幾毫安),這時的吸光度值為背景吸收和被測元素吸收之和。若調節兩種電流的入射光強相等,則在兩種電流下測得吸光度之差即與被測元素的含量成線性關系。二、物理干擾(基體效應)

物理干擾是指試樣的物理性質改變(溶液的粘度、表面張力、溶劑蒸氣壓等)所引起的干擾。主要影響試樣噴入火焰速度、霧化效率、霧滴大小、溶劑的蒸發速度等,從而影響基態原子數。大量基體元素的存在,總含鹽量的增加,在火焰中蒸發和離解時,必然要消耗大量熱量,使火焰溫度發生變化,因而也會影響原子化效率,影響結果。

消除的辦法是:

①配制相似組成的標液②使用標準加入法③如待測元素含量不太低,稀釋試液。三、電離干擾

電離干擾是指待測元素的原子發生了電離反應,使基態原子數減少,吸收強度減弱。這種干擾多發生在易電離(電離電位≤6ev)的元素如堿金屬、堿土金屬的測定中,溫度越高,干擾越嚴重。

消除的辦法:①控制溫度②加消電離劑加入較大量的更易電離元素的鹽,如CsCl等。四、化學干擾

化學干擾是指待測元素與其它組分發生了化學反應所引起的干擾效應。

典型的化學干擾是待測元素與共存組分作用生成穩定難揮發的化合物,致使參與吸收的基態原子數減少。有些元素(Al、Si、B、Ti)在火焰中易生成難離解的氧化物,使這些元素很難完全從化合物中解離出來,這也是常見的化學干擾。這種形成穩定化合物而引起干擾(原子化效率降低)的大小,在很大程度上取決于火焰溫度,使用高溫火焰可降低這種干擾。

消除的辦法:①加釋放劑—與干擾元素生成更穩定化合物使待測元素釋放出來。例:鍶和鑭可有效消除磷酸根對鈣的干擾。②加保護劑—與待測元素形成穩定的絡合物,防止干擾物質與其作用。例:加入EDTA生成EDTA-Ca,避免磷酸根與鈣作用。③加飽和劑—加入足夠的干擾元素,使干擾趨于穩定。例:用N2O—C2H2火焰測鈦時,在試樣和標準溶液中加入300mg/L以上的鋁鹽,使鋁對鈦的干擾趨于穩定。

④加入基體改進劑

在石墨爐法中,加入基體改進劑可以使待測元素轉變成更難揮發的化合物,或者使干擾組分轉變為易揮發的化合物。比如,Se在300—400℃時便開始揮發,如果加入Ni鹽,反應后生成NiSe,灰化溫度可提高至1200℃,這樣既有利于將干擾組分在灰化階段除去,又不會造成Se的損失。又如,NaCl對測Cd有干擾,加入基體改進劑NH4NO3,使其轉變為易揮發的NH4Cl和NaNO3,在灰化階段便可除去。

⑤采用標準加入法該法中,由于試樣和加標試樣的基體基本相同,在比較測定結果時能將干擾因素部分扣除。⑥分離干擾

以有機溶劑萃取法用得多,既分離了干擾物質又富集了低含量的待測元素。有機溶劑對試樣霧化及火焰燃燒過程有影響。含氯的有機溶劑如氯仿、四氯化碳和苯、環已烷、正庚烷、石油醚等,燃燒不完全,生成的微粒碳引起散射,且這些溶劑本身也呈現很強的吸收,故不宜采用。而酯類、酮類燃燒完全,火焰穩定,溶劑本身也不呈現強吸收,是比較合適的溶劑,如甲基異丁基酮。§4-6靈敏度、檢出極限、測定條件的選擇一、靈敏度靈敏度(S)——指在一定濃度時,測定值的增量(ΔA)與相應的待測元素濃度(或質量)的增量(Δc或Δm)的比值(待測元素的濃度或質量改變一個單位時吸光度A的變化量):

Sc

=ΔA/Δc

Sm

=ΔA/Δm

火焰法中,用特征濃度來表征靈敏度。所謂特征濃度是指能產生1%吸收或吸光度為0.0044時,溶液中待測元素的濃度。單位:μg/(mL·1%)例如:

0.4μg/mL鎂溶液,用空氣一乙炔焰原子吸收光度計測得其吸光度為0.225,測得溶劑空白的吸光度為0.005,求鎂元素的特征濃度。

Cc越小,則分析靈敏度越高。

石墨爐法中,用特征質量mc來表征靈敏度。其定義為:能產生1%吸收信號時所對應的待測元素的質量。單位:g/1%對一定元素來講,決定靈敏度的因素包括儀器性能和使用條件兩個方面。

二、檢測限

檢測限是指能以適當的置信度檢出的待測元素的最小濃度或最小量。

火焰法中,用相對檢測限表示:

石墨爐法,用絕對檢測限表示:

用空白溶液,經多次重復測定所得吸光度的標準偏差工作曲線斜率

置信因子

檢測限指出了測定的可靠程度,是靈敏度與精密度的綜合。只有具有高的靈敏度和精密度時,才有低的檢測限。降低噪聲,提高測定精密度,是改善檢測限的有效途徑。三、測定條件的選擇1、分析線的選擇

通常選擇元素的共振線(靈敏而特征)作分析線。如測微量Na用589.0nm,較高濃度時則用次靈敏線330.3nm。2、燈電流電流過大,燈本身發生自吸現象反而減弱發射光強度;加快燈內氣體的消耗而縮短壽命;多普勒變寬,工作曲線彎曲;燈光強度不穩定等。電流過低,光強度小、穩定性及信噪比下降。通過實驗選定適宜的工作電流。

在保證穩定和合適光強輸出的情況下,盡量選用較低的工作電流。空心陰極燈標有允許使用的最大工作電流值。

3、原子化條件

火焰原子化:

火焰類型(溫度-背景-氧還環境);燃助比(溫度-氧還環境);

對于易生成難離解化合物的元素,如Al、V、Mo、Ti、W等,應選擇溫度高的乙炔一氧化亞氮火焰;對于易電離、易揮發的元素,如Pb、Cd、Zn、堿金屬、堿土金屬等,應選用低溫火焰。

石墨爐原子化:

升溫程序的優化。具體溫度及時間通過實驗確定。4、觀測高度調節觀測高度(燃燒器高度),可使光束通過自由原子濃度最大的火焰區,靈敏度高,觀測穩定性好。高度不同,化學干擾可能不同。5、通帶寬度無鄰近干擾線(如測堿及堿土金屬)時,選較大的通帶,

如Na+0.5nm;反之(如測過渡及稀土金屬),宜選較小通帶,如Fe3+0.2nm。6、進樣量進樣量過小,信號太弱;過大,對火焰會產生冷卻效應,霧化效率降低,在GFAAS中,會使除殘產生困難。在實際工作中,通過實驗測定吸光度值與進樣量的變化,選擇合適的進樣量。§4-7原子吸收光譜法特點及應用特點:靈敏度高;干擾少,或易于克服;分析速度快;可測定七十多種元素。

不足之處:不同元素要換用不同的燈;對于成分復雜的樣品,干擾仍較嚴重;對某些元素如稀土等,測定靈敏度較低;儀器比較復雜,價格較貴。

應用:原子吸收法廣泛應用于地質、冶金、建材、化工、環境監測、生物食品、醫藥衛生等方面。(1)頭發中微量元素的測定—微量元素與健康關系;(2)水中微量元素的測定—環境中重金屬污染分布規律;(3)水果、蔬菜中微量元素測定;(4)礦物、合金及各種材料中微量元素的測定;(5)各種生物試樣中微量元素的測定。原子吸收法吸光光度法定量依據L一B定律同左儀器組成光源→原子化器→單色器→檢測器光源→單色器→吸收池→檢測器吸收實質基態原子分子或離子對光源要求銳線光源連續光源、單色器分光吸收質點的分布不均勻均勻靈敏度高低精密度略差稍好干擾小大應用范圍小廣儀器結構和操作復雜、價高簡單、價廉分析速度快慢作業:1、原子吸收光譜儀與一般分光光度計相比,主要不同點有哪些?為什么?2、原子吸收法中背景吸收是怎樣產生的?有哪些消除方法?

原子熒光光譜法

AtomicFluorescenceSpectrometry(AFS)原子熒光光譜法是1964年以后發展起來的分析方法。是以原子在輻射能激發下發射的熒光強度進行定量分析的發射光譜分析法。原子熒光光譜法從機理看來屬于發射光譜分析,但所用儀器及操作技術與原子吸收光譜法相近。一、原理1.原子熒光光譜的產生

氣態自由原子吸收特征輻射后躍迂到較高能級,然后又躍遷回到基態或較低能級。同時發射出與原激發輻射波長相同或不同的輻射即原子熒光。

原子熒光為光致發光,二次發光,激發光源停止時,再發射過程立即停止。2.原子熒光的類型原子熒光分為共振熒光,非共振熒光與敏化熒光等三種類型。(1)共振熒光

氣態原子吸收共振線被激發后,再發射與原吸收線波長相同的熒光即是共振熒光。它的特點是激發線與熒光線的高低能級相同,其產生過程見圖(a)中之A。如鋅原子吸收213.86nm的光,它發射熒光的波長也為213.86nm。若原子受熱激發處于亞穩態,再吸收輻射進一步激發,然后再發射相同波長的共振熒光,此種原子熒光稱為熱助共振熒光見圖(a)中之B。(2)非共振熒光當熒光與激發光的波長不相同時,產生非共振熒光。非共振熒光又分為直躍線熒光、階躍線熒光、antiStokes熒光。

直躍線熒光激發態原子躍遷回至高于基態的亞穩態時所發射的熒光稱為直躍線熒光,見圖(b).由于熒光的能級間隔小于激發線的能線間隔,所以熒光的波長大于激發線的波長。如鉛原子吸收283.31nm的光,而發射405.78nm的熒光。它是激發線和熒光線具有相同的高能級,而低能級不同。如果熒光線激發能大于熒光能,即熒光線的波長大于激發線的波長稱為Stokes熒光;反之,稱為anti-Stokes熒光。直躍線熒光為Stokes熒光。

階躍線熒光

有兩種情況,正常階躍熒光為被光照激發的原子,以非輻射形式去激發返回到較低能級,再以輻射形式返回基態而發射的熒光。很顯然,熒光波長大于激發線波長。例如:鈉原子吸收330.30nm光,發射出588.99nm的熒光。非輻射形式為在原子化器中原子與其他粒子碰撞的去激發過程。熱助階躍線熒光為被光照激發的原子,躍遷至中間能級,又發生熱激發至高能級,然后返回至低能級發射的熒光。例如鉻原子被359.35nm的光激發后,會產生很強的357.87nm熒光。階躍線熒光的產生見圖(c)。

anti-Stokes熒光

當自由原子躍遷至某一能級,其獲得的能量一部分是由光源激發能供給,另一部分是熱能供給,然后返回低能級所發射的熒光為anti-Stokes熒光。其熒光能大于激發能,熒光波長小于激發線波長。例如銦吸收熱能后處于一較低的亞穩能級,再吸收410.13nm的光后,發射410.18nm的熒光,見圖(d).(3)敏化熒光

受光激發的原子A與另一種原子B碰撞時,把激發能傳遞給B原子使其激發,后者再以輻射形式去激發而發射熒光即為敏化熒光。火焰原子化器中觀察不到敏化熒光(要求A原子濃度很高),在非火焰原子化器中才能觀察到。在以上各種類型的原子熒光中,共振熒光強度最大,最為常用。3.熒光強度

If

=φIa

If熒光強度,φ為熒光量子效率,

Ia吸收光的強度.A為有效面積,I0

為單位面積上光的強度,l為吸收光程長,N為基態原子數,ε為峰值吸收系數.

展開方程,忽略高次時,可得:

If=φAI0ειN

If=kC增加光源強度I0可以提高原子熒光分析的靈敏度。4.量子效率與熒光猝滅量子效率:

φ=φf/φA

φf

單位時間時內發射的熒光光子數

φA

單位時間內吸收激發光的光子數

φ一般小于1。熒光猝滅

受激原子和其他粒子碰撞,把一部分能量變成熱運動與其他形式的能量,因而發生無輻射的去激發過程。

可用氬氣來稀釋火焰,減小猝滅現象。最好采用氫火焰,并以氬氣-氧氣代替空氣(N2、CO2、CO、H2O、OH都是熒光猝滅劑)。二、儀器

原子熒光光度計分為非色散型和色散型。這兩類儀器的結構基本相似,只是單色器不同。原子熒光光度計與原子吸收光度計在很多組件上是相同的。如原子化器(火焰和石墨爐);用切光器及交流放大器來消除原子化器中直流發射信號的干擾;檢測器為光電倍增管等。

光源也可以是連續光源如高壓Xe弧燈原子化器反光鏡單色器檢測器AFS-230E原子熒光光度計原子化器

原子熒光光度計與原子吸收光度計的主要區別:

1.光源

需要采用強光源。商品儀器中多采用高強度空心陰極燈、無極放電燈兩種。(1)高強度空心陰極燈高強度空心陰極燈特點是在普通空極陰極燈中,加上一對輔助電極。輔助電極的作用是產生第二次放電,從而大大提高金屬元素的共振線強度(對其它譜線的強度增加不大)。(2)無極放電燈無極放電燈比高強度空心陰極燈的亮度高,自吸小壽命長。特別適用于在短波區內有共振線的易揮發元素的測定。2.光路在原子熒光中,為了檢測熒光信號,避免待測元素本身發射的譜線,要求光源、原子化器和檢測器三者處于直角狀態。而原子吸收光度計中,這三者是處于一條直線上。3.色散系統

⑴色散型。色散元件是光柵。

⑵非色散型。非色散型用濾光器來分離分析線和鄰近譜線,可降低背景。4、原子吸收光譜法常用縫式火焰,以增大原子蒸氣的厚度;而原子熒光光譜法則用方形或圓形截面火焰,以便更容易被激發輻射照射。三、定量分析方法(一)定量分析方法—標準曲線法(二)干擾及消除原子熒光的主要干擾是猝滅效應。這種干擾可采用減少溶液中其它干擾離子的濃度。其它干擾因素如光譜干擾、化學干擾、物理干擾等與原子吸收光譜法相似。

四、原子熒光光譜法的特點(1)高靈敏度、低檢出限。

特別對Cd、Zn等元素有相當低的檢出限,Cd

可達0.001ng.cm-3、Zn為0.04ng.cm-3。由于原子熒光的輻射強度與激發光源成比例,采用新的高強度光源可進一步降低其檢出限。(2)譜線簡單、干擾少。可以制成非色散原子熒光分析儀。這種儀器結構簡單,價格便宜。(3)標準曲線線性范圍寬,可達3-5個數量級。(4)多元素同時測定。因為原子熒光是向空間各個方向發射的,比較容易制作多道儀器,因而能實現多元素同時測定。

雖然原子熒光法有許多優點,但由于熒光猝滅效應,以致在測定復雜基體的試樣及高含量樣品時,尚有一定的困難。此外,散射光的干擾也是原子熒光分析中的一個麻煩問題(由于光源的強度比熒光強度高幾個數量級)。因此,原子熒光光譜法在應用方面不及原子吸收光譜法和原子發射光譜法廣泛,但可作為這兩種方法的補充。目前主要用于Cd、Zn、Hg、As、

Sb、

Sn、

Pb、

Ga、In、

Tl

等元素分析。五、化學蒸氣發生原子熒光分析技術(CVG-AFS)

將氫化物進樣技術和原子熒光光譜技術相結合→(HG-AFS),如砷的測定。氫化法是原子熒光光譜法中的重要分析方法,主要用于易形成氫化物的金屬,如砷、銻、鉍、硒、碲、錫、鍺和鉛等。氫化法是以強還原劑硼氫化鈉在酸性介質中與待測元素反應,生成氣態的氫化物后,再引入原子化器中進行分析。

汞和鎘生成冷蒸氣也可用該測試系統進行測定,氯化物發生體系可進行Ge等的測定。從此該技術由原來的HG-AFS拓展為CVG-AFS。由于硼氫化鈉在弱堿性溶液中易于保存,使用方便,反應速度快,且很容易地將待測元素轉化為氣體,所以在原子熒光光譜法中得到廣泛的應用,成為食品、環境、醫藥、農業產品、輕工產品及礦產品中As、Pb、Hg、Se、Cd等元素分析的國家標準方法。CVG-AFS技術的特點靈敏度高、檢出限低。被測定的11個元素的檢出限可達到10-10~10-13水平。精密度好,一般RSD<1%。線性范圍寬,可達到3~4個數量級。分析元素與基體有效分離,光譜和化學干擾少。適用于As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd11個元素的測定。可以進行兩個/3~4個元素同時測定。易于和HPLC、GC、FIA等技術聯用,實現在線和形態分析。完全實現了自動化。儀器結構簡單,不需要額外的燃氣,儀器成本及運行費用低。CVG-AFS分析過程中的影響因素(1)酸度;(2)還原劑濃度;(3)價態的影響;(4)載氣流速;(5)屏蔽氣流速;(6)爐高。第3次(1)酸種類及酸度的影響

不同的酸種類和酸的濃度有很大的影響,因此在實際樣品分析中首先要考慮每個元素測定的最佳酸類型和酸度。下表列出了11個可用CVG-AFS法測定元素的最適宜酸濃度。各元素的可選擇酸及酸度范圍元

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論