標準解讀

《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫機通用規范》作為一項技術標準,為集成電路卡讀寫設備的制造商和用戶提供了統一的功能要求、性能指標、測試方法及安全要求。然而,您提供的對比參照物未明確給出,這使得直接對比具體變更內容變得不可能。不過,可以一般性地說明當一個標準更新或與另一個相關標準比較時,通常會涉及以下幾個方面的變化:

  1. 技術進步的適應性:新標準可能會納入新技術要求,以適應集成電路卡讀寫技術的發展,比如支持更高頻率的通信協議、增加對新型IC卡標準的兼容性等。

  2. 安全性增強:鑒于信息安全的重要性日益增加,新標準可能會加強關于數據加密、身份驗證、防篡改功能等方面的要求,確保交易和數據傳輸的安全性。

  3. 互操作性提升:為了促進不同廠商設備間的順暢交互,新標準可能會細化互操作性測試標準,確保不同品牌讀寫器與IC卡之間的兼容性。

  4. 性能指標調整:可能會根據技術進步和市場需求調整讀寫速度、錯誤率、耐用性等性能指標,以提高用戶體驗和系統效率。

  5. 環境適應性與可靠性:隨著應用環境的多樣化,新標準可能對設備的工作溫度范圍、濕度抵抗能力、電磁兼容性等提出更嚴格的要求。

  6. 測試方法與認證流程:為了確保產品符合新標準,可能會引入新的測試方法和認證程序,包括實驗室測試、現場試驗等,以驗證設備的合規性。

  7. 用戶界面與可訪問性:考慮到用戶體驗,新標準可能會包含對用戶界面友好度、多語言支持、無障礙設計等方面的指導原則。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2000-10-17 頒布
  • 2001-08-01 實施
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文檔簡介

ICS.35.240.15L64中華人民共和國國家標準GB/T18239—2000集成電路(IC)卡讀寫機通用規范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader2000-10-17發布2001-08-01實施國家質量技術監督局發布

GB/T18239-2000目次前言……上范圍引用標準定義4要求5試試驗方法6檢驗規則7標志、包裝、運輸、財存·附錄A(標準的附錄)故故障分類及判據附錄B(標準的附錄)集成電路卡讀寫機檢查程序的規定

GB/T18239-2000本標準規定IC卡讀寫機的技術要求、試驗方法和檢驗規則,以及IC卡讀寫機的標志和標簽。本標準所涉及的IC卡讀寫機適用于工商、稅務、交通及流動人口管理等領域。該機適用的IC卡應符合GB/T16649.1—1993《識別卡帶觸點的集成電路卡第1部分:物理特性》和GB/T16649.2-1993《識別卡帶觸點的集成電路卡第2部分:觸點的尺寸和位置》和GB/T16649.3—1993《識別卡帶觸點的集成電路卡第3部分:電信號和傳輸協議》的規定。本標準的附錄A、附錄B是標準的附錄。本標準由中華人民共和國信息產業部提出本標準由中國電子技術標準化研究所歸口本標準主要起草單位:華旭金卡有限責任公司、中國電子技術標準化研究所、中國華大集成電路設計中心、長城計算機軟件與系統公司、深圳開發科技股份有限公司、福建實達電腦股份有限公司、上海良標智能終端股份有限公司。本標準主要起草人:丁榮興、馮樹德、王立建、張金霞

中華人民共和國國家標準GB/T18239-2000集成電路(IC)卡讀寫機通用規范Genericspecificationforintegratedcircuitcardreader1范圍本標準規定了集成電路(IC)卡讀寫機(以下簡稱產品)的技術要求、試驗方法和檢驗規則,以及標志、包裝、運輸和貼存要求。本標準適用于IC卡讀寫機產品、2引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時.所示版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性GB191—1990包裝儲運圖示標志GB/T1988—1998信息技術信息交換用七位編碼字符集(eqvISO/IEC646:1991)GB2312—1980信息交換用漢字編碼字符集基本集GB/T2421—1999電工電子產品環境試驗第1部分:總則(idtIEC68-1:1988)GB/T2423.1—1989電工電子產品基本環境試驗規程試驗A:低溫試驗方法(eqvIEC68-2-1:1974)GB/T2423.2—1989電工電子產品基本環境試驗規程足試驗B:高溫試驗方法(eqvIEC68-2-2:1974)GB/T2423.3-1993電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法(eqvIEC68-2-3:1984)5電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法GB/T2423.5-1995試驗Ea和導則:沖擊(idtIEC68-2-27:1987)GB/T2423.6-1995電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞(idtIEC68-2-29.1987),電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法GB/T2423.8-1995試驗Ed:自由跌落CidtIEC68-2-32:1990GB/T2423.10—1995電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法:試驗Fe和導則:振動(正弦)idtIEC68-2-6.1982)GB/T2828—1987逐批檢查計數抽樣程序及抽樣表(適用于連續批的檢查)GB4943—1995信息技術設備(包括電氣事務設備)的安全(idtIEC950:1991)GB/T5007.1—1985信息交換用漢字24×24點陣字模集GB/T5007.2-1985信息交換用漢字24×24點陣字模數據集GB/T5080.7-19

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