TC8.17.040.20J04中華人民共和國國家標準GB/T_15757-2002eqvISO8785：1998產品幾何量技術規(guī)范(GPS)表面缺陷術語、定義及參數GeometricalProductSpecifications(GPS)SurfaceimperfectionsTerms.definitionsandparameters2002-07-15發(fā)布2003-01-01實施人民共中華和發(fā)布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T15757-2002前本標準是根據國際標準ISO8785:1998《產品兒何量技術規(guī)范（GPS）表面缺陷術語、定義及參數》1998年版)對GB/T15757—1995《表面缺陷術語、定義及參數》進行修訂.在技術內容上與ISO8785:1998等效，編寫規(guī)則上與之等同。本標準主要在以下內容修訂：-增加了縮孔、凹面)飄曲、（凸面)飄曲定義的相應圖示；對表面缺陷的特性和參數的代號做了改動。本標準與ISO8785的區(qū)別：-略去了ISO8785中的導言，與國家標準的編寫規(guī)則相協(xié)調；-略去了ISO8785中的附錄B(參考目錄)。本標準自實施之日起，同時代替GB/T15757—1995本標準的附錄A是提示的附錄。本標準由全國產品尺寸和幾何技術規(guī)范標準化技術委員會提出并歸口本標準起草單位：中國機械科學研究院、時代集團公司、中國計量科學研究院、北京計量科學研究所、沈陽601所本標準主要起草人：王欣玲、王忠濱、高思田、吳迅、王肇強、趙有祥

GB/T15757-2002ISO前言ISO(國際標準化組織)是一個世界范圍的國家標準化組織(ISO成員)的聯(lián)合會，國際標準的制定工作通常由ISO各技術委員會進行。每個成員組織,對某一主題的技術委員會感興趣,就有權參加該委員會工作,其他與ISO協(xié)作的政府間或非政府間的國際組織也可以參加工作。ISO與IEC(國際電工委員會)在所有有關電工技術標準化的內容上進行密切合作。由技術委員會提出的國際標準草案，散發(fā)給各成員組織，由各成員組織投票表決，至少需要75%的贊成票才能作為國際標準公布。國際標準ISO8785是由ISO/TC213《產品尺寸和幾何技術規(guī)范》技術委員會制定的本標準附錄A是提示的附錄

中華人民共和國國家標準產品幾何量技術規(guī)范(GPS）術語、定義及參數GB/T15757-2002表面缺陷eqvISO8785：1998GeometricalProductSpecifications(GPS)代替GB/T15757-1995SurfaceimperfectionsTerms.definitionsandparameters1范圍本標準規(guī)定了有關表面缺陷的術語，允許表面缺陷的程度及測量表面缺陷方法的技術規(guī)范等內容本標準適用于技術文件、技術圖紙和科技出版物等本標準的定義不涉及表面粗糙度和表面波紋度本標準沒有指出是否要進行表面缺陷的評定，這取決于具體的應用或表面的功能對于特殊的應用和制造工藝·在必要情況下可附加專用的術語和定義。這些術語和定義將在相關的標準中規(guī)定。幾種特殊表面缺陷將在其他標準中定義一般術語與定義2.1基準面referencesurface用以評定表面缺陷參數的一個幾何表面，1基準面通過除缺陷之外的實際表面的最高點，且與由最小二乘法確定的表面等距。2基準面是在一定的表面區(qū)域或表面區(qū)域的某有限部分上確定的·這個區(qū)域和單個缺陷的尺寸大小有關。該區(qū)域的大小須足夠用來評定缺陷·同時在評定時能控制表面形狀誤差的影響。3基準面具有幾何表面形狀,它的方位和實際表面在空間與總的走向相一致2.2表面缺陷評定區(qū)域(A）surfaceimperfectionevaluationarea（A)工件實際表面的局部或全部，在該區(qū)域上，檢驗和確定表面缺陷。23表面結構Surfacetexture出自幾何表面的重復或偶然的偏差，這些偏差形成該表面的三維形貌，住：表面結構包括在有限區(qū)域上的粗糙度、波紋度、紋理方向、表面缺陷和形狀誤差.24表面缺陷(SIM）Surfaceimperfection(SIM)在加工、儲存或使用期間，非故意或偶然生成的實際表面的單元體、成組的單元體、不規(guī)則體1建議不要將“表面瑕班”的術語用于本標準定義的表達中。這些單元體或不規(guī)則體的類型.明顯區(qū)別于構成一個粗糙度表面的那些單元體或不規(guī)則體3在實際表面上存在缺陷并不表示該表面不可用。缺