掃描電子顯微鏡觀察金剛石膜_第1頁
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文檔簡介

1m于射電子的方向固定時，樣品表面的凹凸形貌使各個部位 角不同。二次電子產率 越高。而探測器的位置是固定的，于是樣品表面不同部位相對于于射電子的方向固定時，樣品表面的凹凸形貌使各個部位 角不同。二次電子產率 越高。而探測器的位置是固定的，于是樣品表面不同部位相對于ER 的開關，搬向ON X=20，Y=20，T=0附近，ZEX合在一起，這里 T 表室樣品的傾角AIRX=20，Y=20，T=0附近，ZEX合在一起，這里 T 表室樣品的傾角AIR按鍵，30秒后取出樣品微動裝置，將裝有樣品 成 顯示器電源。檢查顯示器的 VIEW 按鈕是否按入， 放大倍數鈕及FILAMENT燈絲鈕是否左擰到頭，工作距離鈕設定是否合適ACCVOLTAGE加速電壓鈕，設定為 20kV將FILAMENT燈絲鈕逐漸向右擰，使燈絲電流飽和。在實驗中燈絲電流 將PHOTOSPEED 關水太早

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