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文檔簡介

1、聲能傳輸損耗差的測定P.1 一般要求工件本身影響反射波幅的主要因素是:材料的材質衰減、工件 表面粗糙度或曲面的耦合狀況造成的表面聲能損失。碳鋼或低合金鋼板材的材質衰減,在頻率低于2.5MHz、聲程不 超過200mm時,或者衰減系數(shù)小于0.01dB/mm時,可以不計。檢測時,如聲程較大,或材質衰減系數(shù)超過上述范圍,在確定 缺陷波幅時,應考慮材質衰減修正。當工件表面粗糙度較大時或工件 表面為曲面時,還應考慮表面聲能損失問題。P2斜探頭檢測時超聲材質衰減的測量圖P.1超聲材質衰減的測定P2.1用兩只探頭尺寸、標稱頻率、折射角(K值)相同的斜探頭, 按圖P.1所示置在被檢工件完好部位,兩探頭入射點間距

2、為1P,儀器調為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大反射波幅,記錄其波幅值H1( dB )。P2.2將兩探頭拉開到距離為2P的位置,找到最大反射波幅,記錄其 波幅值H( dB)。P2.3衰減系數(shù)aH可用式(P.1)式(P.3)計算:aH=(Hi-H2- 0/(S2-Si) (P.1)S1=2t/cosp (P.2)S2=4t/cosp (P.3)式中:不考慮材質衰減時,不同聲程(S1、S2)聲束擴散造成的波幅差。可用公式20lg( S2/S1)計算或從該探頭的距離-波幅曲線上查得,一般約為6dB;(3探頭折射角。P2.4按同樣可以測定對比試塊的材質衰減系數(shù)。P.3傳輸損失差的測定-方法1用兩只晶片尺寸、標稱

3、頻率、折射角(K值)相同的實際檢測 用探頭,按圖P.2所示置于對比試塊檢測面上,兩探頭入射點距離為1P,儀器調為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大反射波幅,記錄其波幅值H1(dB)。圖P.2傳輸損失差測定-方法1不改變靈敏度,在被檢工件上(不通過焊接接頭)量探頭入射 點距離為1P,同樣測出接收波最大反射波幅,記錄其波幅值H2 (dB)傳輸損失差/按式(P.4)(P.8)計算:厶/二H1-H2 - A (P.4) =20lg(S2/Si) (P.5)Si=2T/cosB (P.6)S2=2t/cosp (P.7)A=2( ott- aT)/cos B (P.8)式中:A1 不考慮材質衰減時,不同聲程(S、S

4、2)聲束擴散造成的 波幅差,也可從該探頭的距離-波幅曲線上查得;S1在對比試塊中的聲程,mm;S2 在工件母材中的聲程,mm;A試塊中聲程S1與工件中聲程S2的超聲材質衰減差值,dB。 a聲波在工件中的衰減系數(shù),dB/mm;a聲波在工件中的衰減系數(shù),dB/mm。如試塊材質衰減系靈 敏度小于0.01dB/mm,此項可以不予考慮。P.4傳輸損失差的測定-方法2圖P.3傳輸損失差測定-方法2用兩只晶片尺寸、標稱頻率、折射角(K值)相同的實際檢測 探頭,按圖P.3a)所示置于對比試塊檢測面上,兩探頭入射點距離為 1P,聲程為儀器調為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大波幅,記錄其波幅 值Hi(dB);然后將兩探頭拉開到距離為2P位置,聲程為S2,找到最 大波幅,記錄其波幅值出(dB)。見圖)上點A1和點A2,并用 直線連接兩點。P4.2用同樣兩只探頭在被檢工件上測出聲程

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