1、熱工長度計量崗位考試復習大綱1.檢定人員是指經主管部門考核合格的，持有計量檢定證件，從事計量檢定工作的人員。2.計量檢定人員出具的數于量值傳遞、計量認證、技術考核、裁決計量糾紛和實施計量監督具有法律效力。3.JJG3092檢定規程經國家技術監督局1992年6月23日 批準，并自1992年12月1日起施行。4.百分表的準確度分為 0 、1、2 級。5.測量范圍為0300分度值為0.02的游標卡尺，其標定示值誤差應不少于均勻分布 3點，示值誤差不應超過 +/-0.02mm6.標卡尺測量面的表面粗糙度是用表面粗糙度比較樣塊以比較法檢定。7.JJG30-92游標卡尺檢定規程適用范圍為新制造的、使用中和

2、修理后的分度值為0.02、0.05和0.1mm，測量上限至1000mm；8.檢定千分尺工作面的平行度，可以用平行平晶檢定，也可用量塊檢定。9.千分表的傳動放大機構，通常有兩種，一種是齒條和齒輪傳動放大機構，另一種是杠桿和齒輪傳動放大機構。10.檢定游標卡尺或游標深度尺的游標刻線面的棱邊至主尺刻線面的距離，是為了控制視差。11.檢定分尺微分筒錐面的端面至固定套管毫米刻線右邊緣的相對位置，是為了防止讀錯數。11.無論哪種量具，凡有平工作面的，均有平面度要求，那么平面度是指包容實際表面且距離為最小的兩平行平面之間的距離。 13.無論檢定哪種量具，對室溫均有要求，如果室溫偏離標準溫度20時，會引起 系

3、統 誤差；當室溫時高時低時，則引起 隨機 誤差。14.無論杠桿式百分表還是杠桿式千分表，其示值變動性的檢定，應將表安裝在具有筋形工作臺的支架上，用 半圓柱面側塊進行檢定。15.千分表的大指針末端上表面至表盤刻線面的距離應不大于 0.7mm，其目的是為了控制視差。16.千分尺的測量下限調整至正確后，微分筒錐面的端面與毫米刻線的相對位置，離線不大于0.1mm或壓線不大于 0.05mm。17.千分尺的結構，主要由測微頭、測砧、弓形架以及測力裝置、制動器等組成。18.通常用的測量范圍為（01）mm千分表，其整個工作行程范圍內的示值誤差不超過5um ，回程誤差不超過2um 。19.內測千分尺的示值誤差，

4、用專用環規檢定，也可以用5等或2級量塊和量塊附件。20.數顯卡尺的讀數機構的基本原理是 容柵 或者是 光柵 。21.不論數顯卡尺還是游標卡尺，其圓柱面的內測量爪的基本尺寸為10mm或20mm。22.不論數顯卡尺還是游標卡尺，其圓柱面的內測量爪的基本尺寸對使用中和修理后的卡尺來說，必然要偏小，但重新確定的合適（或實用）標稱尺寸為0.1mm的整數倍。23.不論游標卡尺還是數顯卡尺，其示值誤差用3級量塊檢定，對一示值檢定時，量塊分別放在卡尺量爪工作面的里端和外端兩位置上進行。24.千分尺的刻線寬度為0.150.20mm，同一把千分尺上刻線寬度差不大于0.03mm。25.測量范圍至500mm的千分尺，

5、其測力為610N。26.分度值為0.02mm的游標卡尺，其刻線寬度為0.080.12mm，同一把游標卡尺的刻線寬度差不大于0.02mm。， 27.分度值為0.05mm的游標卡尺，其圓柱面內測量爪的尺寸偏差不超過±0.02mm，平行度不大于0.02mm。28.使用中的杠桿式百分表，其測力為0.20.6N。29使用中的杠桿式百分表，測桿的扭力為38N 。30.杠桿式百分表示值變動性不大于3um 。31.杠桿式千分表示值變動性不大于0.5um 。32.杠桿式百分表的回程誤差不大于 3um。33.杠桿式千分表的回程誤差不大于 2um 。34.卡尺是由 法國 首創的，其創始于 1631年 。3

6、5.深度千分尺基座工作面的平面度不大于0.002mm 。36深度千分尺的校對用量具，其尺寸偏差不超過±2um 。37.測量上限大于150mm 的千分尺，其示值誤差可以只檢定測微頭的示值誤差，該示值誤差不超過±3um。37.數顯卡尺外測量爪工作面的平面度不大于0.002mm，該量爪兩工作面合并后的間隙量不大于0.006mm。38.杠桿式千分尺的指示表的表盤刻線寬度為0.10.2mm。39.杠桿式千分尺的指示表的表盤刻線寬度差不大于0.03mm。40.JJG 3496指示表檢定規程適用于新制造的、使用中和修理后的分度值為0.01mm，二 判斷題1.測量范圍為03、05、010m

7、m的百分表及分度值為0.001mm，測量范圍為01、02、03、05mm的千分表的檢定。是2.指示表是利用齒條齒輪或杠桿齒輪傳動，將指針的角位移變為測桿的直線位移的計量器具。否3.檢定指示表裝夾套筒直徑的主要檢定工具是1級千分尺。是4.檢定前受檢的指示表在檢定室內平衡時間不少于1小時。否5.規程規定百分表指針末端上表面到表盤刻線面間的距離不超過0.8mm。否6.百分表在工作行程內的最大測力應不大于1.5N，單向行程測力變化應不大于0.5N，同一點正、反同測力之差應不大于0.5N。否7.百分表測力檢定要用分度值不大于0.1N的測力裝置在百分表工作行程的始、中、末三個位置上檢定，正向檢定完后繼續使

8、指針轉過510個分度，再進行反向檢定。是8.檢定百分表測桿受徑向力時對示值的影響的實質是檢定測桿與套筒配合間隙量，在使用時對示值的影響。是9.百分表示值誤差的檢定是在正反行程的方向上每間隔10個分度進行的。是10.百分表任意0.1mm范圍內的示值誤差以正反行程內任意相鄰兩點上的誤差之差來求得。否11.指示表在示值誤差檢定完后，取正、反行程同一點誤差之差的最小值確定回程誤差否12.千分尺應附有調整零位的工具，測量上限小于25mm的千分尺應附有校對用的量桿否13.千分表測微螺桿的軸向串動和徑向擺動均用杠桿千分表檢定。是14.測量范圍為2550mm的千分尺測砧與測微螺桿工作面的相對偏移量應不大于0.

9、1mm。否15.檢定千分尺的測力，用分度值不大于0.2N的專用測力計檢定。檢定時，使工作面與測力計的球工作面接觸后進行。是16.千分尺刻線寬度及寬度差是在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽二條刻線。否17.檢定千分尺微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離在工具顯微鏡上檢定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定。是18.檢定千分表工作面的平面度用二級平晶用技術光波干涉法檢定。是19.千分尺測微螺桿與測砧兩軸線間偏差不能太大，否則會影響千分尺的準確度。是20.千分表測砧與測微螺桿測量面的相對偏移的檢定是在平板上用杠桿百分表進行，對于測量范圍大于30mm的

10、千分尺用百分表檢定。否21.千分尺兩測量面的平行度可用平行平晶檢定。目前，我國生產的平行平晶共分四組，可用來檢定0100mm四個規格的千分尺平行度。是22.用平行平晶檢定千分尺兩測量面的平行度時，當千分尺測量面與平行平晶接觸時，必須在測力作用下接觸，也可以轉動微分筒接觸。否23.對于千分尺測量面的平行度，可以用平行平晶檢定，也可用量塊進行檢定，但用量塊檢定比用平行平晶檢定精度高.否24.千分尺校對用量桿的檢定包括兩項內容：量桿的尺寸和測量面的平面度。否25.對千分尺示值誤差的檢定，受檢點應均勻分布于測量范圍的5點上，測量點的選擇原則是：考慮在千分尺測量范圍內固定套管上的整數刻度。否26.游標類

11、計量器具都存在阿貝誤差。否27.游標卡尺零值誤差以零刻線和尾刻線的不重合度來表示。否28.檢定卡尺示值誤差時，要求把量塊放在量爪中部進行檢定。否29.游標卡尺刀口外量爪示值誤差檢定是指游標卡尺的上量爪即刀口外量爪，包括帶有一小段刀口的外量爪。否30.檢定深度尺示值誤差時，可以用刀口尺以光隙法檢查主尺端面與深度尺端面是否在同一平面內來代替量塊檢定深度尺示值誤差。否31.修理后的游標卡尺的刻線寬度和刻線寬度差、尺身和尺框測量面的表面粗糙度可不檢定。否32.高度游標卡尺示值誤差用6等或3級量塊在1級檢驗平板上檢定。是33.用平行平晶或量塊同時測量一把千分尺的平行度，測量結果可能產生一個合格，一個不合

12、格.是34.百分表示值誤差檢定過程中，除到達整個受檢刻度段終點過后需改變行程方向外，中途不得改變測桿的移動方向，也不應對受檢百分表和百分表檢定器作任何調整.是35.檢定百分表示值誤差時，在反行程讀數時，指針反轉不到受檢點位置讀為負值，超出受檢點位置讀為正值。否36.內徑百分表的示值誤差檢定時，用手推壓活動測頭，觀察百分表大指針是否回原位，如果回原位或不超過示值變動性允差要求，就認為合格；如果超出允差要求就判定此百分表變動性不合格。否37.游標卡尺測量面的表面粗糙度是用表面粗糙度比較樣塊以比較法檢定。是38.游標卡尺的檢定周期可根據使用的具體情況確定，但最長不超過2年。否39.對分度值為0.02

13、mm的游標卡尺，用0級樣板直尺（刀口尺）以光隙法檢定，必要時，可以用2級平面平晶檢定。是40.經檢定符合規程要求的指示表發給檢定證書，不符合規程要求的發給檢定結果通知書。是三選擇題1.百分表的構造，由測量桿的直線位移變為指針的角位移，實現它的傳動放大機構是 C。A、齒輪和齒輪 B、杠桿和齒輪 C、齒條和齒輪2.有定中心架的內徑百分表，其示值誤差在測頭壓縮方向上檢定時，受檢點的間隔為 B 。A、0.05mm B、0.10mm C、0.20mm3.杠桿式百分表示值變動性的檢定，是在測桿受力相隔180度兩個方位上進行，每一方位上的檢定，應使表的示值 A 。A、大致處于工作行程的中點 B、分別在工作行

14、程的始終二點 C、處于工作行程的始中終三點4.千分尺的兩工作面，如果其中一個工作面與測量軸線垂直，那么兩工作面的平行度用平行平晶檢定時，所需平行平晶的塊數 B 。A、四塊 B、一塊 C、二塊5.百分表測量桿受徑向力對示值影響的檢定所用的檢定器具是 C 。A、徑向力工具 B、尺寸為10mm五等量塊 C、半徑為10mm半圓柱測塊6.不論百分表還是千分表，其大指針的末端應蓋住表盤短刻線長度的 C 。A、2080% B、3070% C、3080%7.百分表和千分表，其示值變動性應不超過 B 。A、0.5分度 B、0.3分度 C、1分度8.杠桿式百分表在任意0.1mm范圍內的示值誤差不超過 B 。A、5

15、um B、6um C、8um9.杠桿式千分表在任意0.02mm范圍內的示值誤差不超過 B 。A、2um B、3um C、4um10.為滿足千分尺示值誤差的檢定，所用量塊的準確度為 C 。A、5等或2級 B、4等或1級 C、4等或1級和5等或2級11.千分尺的準確度分為 A 。A、0級和1級 B、1級和2級 C、0級、1級和2級12.用刀口尺（樣板直尺）檢定工作面的平面度時，通常以光隙法進行，當采用此法檢定時，其間隙量一般不大于 B 。A、0.010mm B、0.005mm C、0.003mm13.游標深度尺的刻線寬度大小，對讀數正確性有一定的影響，對于分度值0.05mm游標深度尺來說，其刻線寬

16、度為 C 。A、0.080.12mm B、0.080.20mm C、0.080.15mm14.游標高度尺的用途，除測量高度外，還用于劃線，那么劃線用的量爪，其刃口厚度為 A 。A、0.15±0.05mm B、0.10±0.05mm C、0.20±0.05mm15.以技術光波干涉法檢定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2級平晶，其工作面的平面度不大于 C 。A、0.03um B、0.05um C、0.10um16.某一量具工作面的平面度，若在白光情況下用平晶以技術光波干涉法檢定時，受檢工作面的平面度一般不大于 B 。A、0.01mm B、0.02um C、0.03u

17、m17.若有一量具工作面的平面度為0.010mm，為了達到檢定結果的準確起見，該工作面的平面度采用合適的檢定方法為 C 。A、用刀口尺以光隙法檢定 B、用平晶以技術光波干涉法檢定 C、用刀口尺以量塊比較法檢定18.千分尺校對用的量桿，其兩端平工作面的平行度符合要求，而長度尺寸超過了要求時，可按實際尺寸使用，其實際尺寸是 C 。A、一面上各點中的一點至另一面的最大垂直距離（即最大尺寸） B、一面上各點中的一點至另一面的最小垂直距離（即最小尺寸） C、一面上的中心點至另一面的垂直距離（即中心長度）19.用于測量孔的直徑的千分尺，其中示值誤差最小的千分尺是 C 。A、內徑千分尺 B、內測千分尺 C、

18、孔徑千分尺20.千分尺的工作面及校對用量桿工作面，其表面粗糙度Ra不大于 A 。A、0.04um B、0.05um C、0.063um21.分度值為0.02mm游標卡尺和數顯卡尺，其外測量爪工作面的表面粗糙度Ra不大于 B 。A、0.32um B、0.16um C、0.63um21內徑千分尺的示值誤差，對于測量范圍至50mm的，不超過 A 。A、±8um B、±4um C、±6um22.千分尺的測微螺桿，其軸向竄動量和徑向擺動量應不大于 B 。A、0.005mm B、0.010mm C、0.020mm23.指示表的檢定項目中， A 檢定項目對于新制的、修理后和使用

19、中的指示表都應檢定。A、各部分相互作用 B、測頭測量面的表面粗糙度 C、裝夾套筒直徑24.我國規定工業標準溫度為 B 。A、18 B、20 C、2525.游標卡尺的檢定項目中， A 檢定項目對于使用中的游標卡尺可不檢定。A、刻線寬度和刻線寬度差 B、外量爪測量面的平面度 C、零值誤差26.檢定游標卡尺需要千分尺，其精度要求為 A 。A、1級 B、2級 C、3級27.規程規定游標卡尺的檢定項目共有 B 項。A、10項 B、11項 C、12項28.檢定游標刻線面棱邊至尺身刻線面的距離是用 B 塞尺比較檢定。A、1級 B、2級 C、3級29.對分度值為0.02mm的游標卡尺，檢定外量爪測量面的平面度

20、用0級樣板直尺（刀口尺）以 C 方法檢定。A、比較法 B、技術光波干涉法 C、光隙法30.游標卡尺圓弧內量爪的平行度在內量爪距外端 B 處沿平行于尺身方向開始測量，以內量爪全長范圍內最大與最小尺寸之差確定。A、1mm B、2mm C、3mm31.游標卡尺的刀口外量爪與其它型式卡尺的外量爪相比短的多，其示值誤差的檢定與其它型式的外量爪示值誤差檢定方法基本上是相同的。所不同的是游標卡尺刀口外量爪示值誤差檢定只需把量塊放在量塊的 C 就行了。A、里端 B、外端 C、中間位置32.帶深度尺的游標卡尺測深部分示值誤差的檢定，只在尺寸 C 一點進行。A、10mm B、15mm C、20mm33.深度游標卡

21、尺的檢定項目中，對修理后的游標卡尺， C 檢定項目可不檢定。A、示值誤差 B、各部分的相互作用 C、刻線寬度和刻線寬度差34.千分尺測砧與測微螺桿測量面的相對偏移的檢定是在平板上用杠桿百分表進行，對于測量范圍大于 B 的千分尺用百分表檢定。A、200mm B、300mm C、400mm35.新制的及修理后的千分尺測量面平面度可用2級平晶以 A 方法檢定。A、技術光波干涉法 B、比較法 C、光隙法36.測量上限 C 100mm千分尺可用量塊進行檢定。A、大于 B、等于 C、小于37.千分尺的檢定周期為 C 。A、1年 B、2年 C、根據使用的具體情況確定38.內徑千分尺檢定規程JJG2291適用

22、于新制造、使用中和修理后的分度值為 A 、測量范圍至5000mm的內徑千分尺的檢定。A、0.01mm B、0.02mm C、0.03mm39.檢定千分尺刻線寬度及刻線寬度差，要求固定套管縱刻線和微分筒上的刻線寬度為0.15±0.05mm，刻線寬度差應不大于 B 。A、0.04mm B、0.05mm C、0.06mm四問答題1.內徑百分表的定中心架的正確性，用尺寸為該表測量下限的環規檢定，這能否保證？為什么？答：用尺寸為該表測量下限的環規檢定是保證不了定中心架的正確性，因為用這種尺寸的環規檢定，只能控制定中心架對測量軸線不對稱引起的內徑誤差，但定中心架對測量軸線不垂直引起的內徑誤差，是

23、隨內徑的加大而增大，因此除該表測量下限的環規檢定外，還必須用尺寸為該表測量上限的環規再檢定，才能控制。2.百分表的示值誤差如何檢定？答：百分表的示值誤差采用示值誤差在10mm范圍內不大于3um，回程誤差不大于1um的百分表檢定器檢定。示值誤差的檢定是在正反行程方向上每間隔0.1mm檢定一點。檢定時，先將百分表和檢定器對準零位，然后使檢定器每位移0.1mm按百分表讀出其受檢點的誤差，直至正行程終點后再反行程檢定。3.百分表整個測量范圍內的示值誤差如何確定？答示值誤差是根據正反行程方向上所得各點誤差中的最大值和最小值的差值確定。4.杠桿式千分表的指示表示值誤差檢定點如何分布的？杠桿式千分表的指示表

24、，其示值誤差檢定點的分布為：在（0±0.01）mm范圍內，每間隔0.002mm檢定一點，超過±0.01mm范圍，每間隔0.01mm檢定一點。5.杠桿式千分表的指示表示值誤差用何準確度的量塊檢定？杠桿式千分表的指示表示值誤差的檢定，用4等或1級量塊進行。對于指示表的分度值為0.001mm的，在（0±0.01）mm范圍內的示值誤差，用3等或0級量塊檢定。6.測量范圍為（2550）mm的千分尺，其測量面的平行度用何尺寸的平行平晶檢定？測量范圍為（2550）mm的千分尺，其測量面平行度的檢定，所用的平行平晶尺寸為（4041）mm中依次間隔（0.120.13）mm四個尺寸，

25、如40.00、40.12、40.25和40.37mm。7.用平行平晶檢定千分尺兩測量面的平行度時，平行度如何確定？用平行平晶檢定千分尺兩測量面的平行度時，平行度是根據平行平晶與兩測量面的接觸點在同一側時，所產生的干涉條紋數確定。千分尺兩測量面的平行度，是以其中一塊平行平晶檢定時產生干涉條紋數最多的確定。8.不論哪種千分尺，為什么都要檢定微分筒錐面的棱邊至固定套管刻線面的距離？ 檢定微分筒錐面的棱邊至固定套管刻線面的距離，其目的是為了控制視差。9.不論哪種千分尺，為什么都要檢定微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置？檢定微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置，其目的是為了防止讀錯數。

26、10.百分表通過什么機構使測量桿的直線位移轉變為指針的角位移的？使百分表的測量桿的直線位移轉變為指針的角位移，是通過齒條和齒輪的放大機構（一般為兩級傳動放大機構）實現的。11.檢定千分尺測量面平面度時，初學人員用平面平晶往往在測量面上產生不了干涉條紋，主要原因是什么？主要原因是平晶與測量面之間夾角太大，或操作時不注意使測量面上帶有臟物所致。12.內徑百分表的示值變動性如何檢定？示值變動性可在工作行程的任意位置進行檢定。把內徑表放進專用環規內，在環規的軸向平面內找最小讀數（轉折點），確定指示表的讀數。這樣在專用環規的同一個位置重復進行5次，所得5個讀數中，最大值與最小值之差即為內徑表的示值變動性

27、。13.內徑百分表示值誤差檢定中為什么不檢定反向行程？這是因為在使用內徑百分表測量孔徑時，必須壓縮活測頭，在軸向平面內找最小讀數（轉折點），在測頭放松（不被壓縮）的情況下不能進行測量。所以，根據實際使用情況就沒有必要去檢定內徑百分表的反向行程示值誤差了。14.檢定杠桿百分表需要哪些計量器具？檢定杠桿百分表所用計量器具有：粗糙度樣板、百分表檢定器、千分尺和測力計。15.什么是光隙法？光隙法是憑觀察“測量基準”與被測表面之間的光隙量來判斷形狀誤差的一種方法。一般用于直線度誤差的測量。16.影響光隙法測量精度的基本因素有哪些？影響光隙法測量精度的主要因素有照明條件、接觸面的斷面形狀及寬度和接觸面的表

28、面粗糙度等。17.用千分尺測量刀口內量爪的尺寸時，為什么不能只沿平行尺身的方向測量而忽視其它方向的測量？因為卡尺刀口內量爪的“刃”部有一定的寬度，由于使用磨損寬度還會加大，再加上兩量爪側面間隙，這就有可能造成在平行尺身的方向測量不超差，而在其它方向測量時卻超過規定上偏差。用這樣的卡尺測量內孔時會測出錯誤的結果。18.高度游標卡尺劃線量爪刀口厚度如何檢定？高度游標卡尺劃線量爪刀口厚度用工具顯微鏡或用塞尺在平板上比較檢定。19.簡述游標卡尺的主要作用？游標卡尺主要用于測量制件的外尺寸和內尺寸。20.簡述檢定游標卡尺的室內溫度要求？檢定游標卡尺的室內溫度對分度值0.02mm的卡尺為20±3

29、，對分度值0.05和0.10mm的卡尺為20±5。21.簡述游標卡尺各部分相互作用的檢定方法？對于尺身和尺框的配合質量，用手輕輕擺動活動量爪，進行觀察檢定。22.例舉兩種檢定千分尺的測力設備。板簧式測力計和復式杠桿機構測力計23.用量塊檢定千分尺測量面的平行度，應注意哪些問題？用量塊檢定千分尺測量面的平行度應注意如下問題：1.手拿量塊時間不能太長，檢定應迅速，否則手熱將影響量塊尺寸。2.由于量塊本身也有平行度偏差，為了提高檢定精度，檢定千分尺四個方位時都用量塊一個位置。24.簡述內徑千分尺的主要作用？內徑千分尺主要用于測量工件的內徑、槽寬和兩個內表面之間的距離。25.怎樣用、組平行平

30、晶檢定大于50150mm千分尺的平行度？對于大于50150mm千分尺的平行度可以通過、組平行平晶的適當組合進行檢定。1 平行平晶與平行平晶組合法。2.平行平晶與4等量塊組合法。26.千分尺校對用量桿如果檢定結果出現平行度合格，單尺寸不合格的情況時是否還允許繼續使用？可以給出量桿的實際尺寸去使用，這個實際尺寸是五個測量值中的最大值。因為用它校準千分尺時，盡管千分尺兩測量面間存有平行度偏差，但轉動量桿時，總能以最大尺寸點與兩測量面接觸而校準千分尺。27.測量上限大于150mm的千分尺示值誤差如何檢定？對于測量上限大于150mm的千分尺，可以只檢定測微頭的示值誤差。用5等或2級量塊并借助相應準確度的

31、專用檢具按025mm的千分尺受檢點進行檢定。28.杠桿式千分表示值變動性如何檢定？將表裝夾在具有筋形平工作臺的臂架上，并使表的測桿軸線與測量方向相垂直。在筋形工作臺與測頭之間放置一柱面形測塊（或量塊附件中的側塊），當測塊柱面最高點與表的測頭接觸時，表的示值大致處于工作行程的中點。然后分別按前后、左右方向移動測塊不少于5次，并依次記下測塊柱面最高點與測頭接觸時表的示值。29.杠桿式千分表示值變動性如何確定？杠桿式千分表示值變動性以不少于20個讀數中的最大值與最小值的差值確定。30.游標卡尺的結構，是否符合阿貝原則？產生示值誤差的主要因素是什么？游標卡尺的結構，是不符合阿貝原則的，因測量軸線不在基

32、準軸線上。產生示值誤差的主要因素是：油框沿尺身移動的導向面直線度，尺身的毫米刻度誤差，量爪測量面與導向面的垂直度，以及測量面的平面度。31.測量范圍至500 mm的千分尺，其示值誤差檢定哪幾點？測量范圍至500mm的千分尺，其示值誤差的受檢點為A+5.12 、A+10.24、 A+15.36、 A+21.5和25mm。A為測量下限，如（2550）mm千分尺A為25mm。32.千分尺的示值誤差，引起的主要因素是什么？引起千分尺示值誤差的主要因素是：測砧和測量桿工作面對測量軸線的垂直度，或者兩工作面的平行度，螺絲副誤差、工作面的平面度，微分筒的分度誤差以及測量力的變化。33.測量上限至1000mm

33、的游標卡尺，其受檢點如何分布的？并舉例說明？對于示值范圍至300mm的，均勻分布于3點上檢定，例如（0125）mm卡尺，其受檢點為41.2、81.5和121.8mm。對于示值范圍大于300mm的，均勻分布于6點上檢定，其中3點只是主尺的示值，例如，（4001000）mm的卡尺，其受檢點為501.2、600、701.5、800、901.8和1000mm。在檢定之前，對測量下限400mm，必須檢定符合要求后進行示值誤差的檢定。34.對于機械式百分表的示值誤差檢定，其受檢點如何分布的？百分表示值誤差的檢定，其受檢點以正反行程方向上每間隔0.1mm檢定一點。35.機械式百分表的示值誤差如何確定？百分表

34、的示值誤差，不論在整個工作行程范圍內，還是任意1mm和任意0.1mm范圍內，均按正反行程時所得各點的誤差中最大值與最小值的差值確定。對于任意0.1mm的示值誤差，是以任意相鄰兩受檢點四個誤差中的最大值與最小值的差值確定。對于任意1mm的示值誤差，它分別以01、02、23mm范圍內各點誤差中的最大值與最小值的差值確定。36.百分表和內徑百分表整個工作行程內示值誤差的檢定有何區別？對百分表示值誤差的檢定，是以正反行程上每間隔0.1mm檢定一點。示值誤差是根據正反行程上各受檢點的誤差中，以最大值于最小值的差值確定。對內徑百分表示值誤差的檢定，是以活動測桿壓縮的行程上每間隔0.1mm（漲簧式的，每間隔

35、0.05mm）檢定一點。示值誤差是根據活動測桿壓縮的行程上各受檢點的誤差中，以最大值與最小值的差值確定。37.不論游標卡尺還是千分尺，其示值誤差均采用量塊檢定，以量塊使用準確度出發，根據量塊的中心長度允許偏差和中心長度測量極限誤差，寫出3、4、5等量塊的等與級的關系？按等和級使用時，應分別按量塊的什么尺寸用？3、4、5等量塊中心長度測量極限誤差依次與0、1、2級量塊中心長度允許偏差相同。量塊按等使用時，用量塊的實際尺寸，按級使用時，用量塊的標稱尺寸。38.百分表檢定器和千分表檢定儀的示值誤差和回程誤差有何區別？百分表檢定器的示值誤差，在全程范圍內不超過4um，在任意10mm內不超過3um，回程

36、誤差不超過1um。千分表檢定儀的示值誤差：對于新制的，在2mm范圍內不超過1.2um，任意1mm內不超過0.8um。對于使用中和修理后的，在2mm范圍內不超過1.5um，任意1mm內不超過1.0um?；爻陶`差：新制的不超過0.4um，使用中和修理后的不超過0.5um。39.千分表檢定儀示值誤差用何準確度的量塊檢定？千分表檢定儀示值誤差的檢定，用3等或0級量塊，以分度值為0.1um的電感式比較儀作定位或讀數。40.千分表檢定儀示值誤差受檢點是如何分布的？千分表檢定儀示值誤差受檢點的分布，是以正反行程上每間隔0.05mm檢定一點。41.千分表檢定儀示值誤差如何確定？千分表檢定儀的示值誤差，是以正反

37、行程時所得各點誤差中的最大值與最小值的差值確定。42.千分表的示值誤差，在檢定之前，應將測量下限校準后進行，對于測量下限25mm以上的千分尺，其測量下限用等的量塊進行校準時應如何進行？用等的量塊對千分尺測量下限校準時，是根據量塊的實際尺寸進行，例如對（2550）mm千分尺的測量下限進行校準時，所用的量塊的實際尺寸為25.0010mm，只要千分尺上的指示值為25.0010mm，則測量下限是正確的，若不是25.0010mm，將千分尺的示值調整至25.0010mm時這一數值。43.內測千分尺和內徑千分尺均是測量內尺寸用的計量器具，但兩者之間有何關系？內徑千分尺通常是接長桿式的，單也有單桿式的。不論接

38、長桿式的還是單桿式的，其最小測量下限均為50mm。而小于50mm的內徑千分尺一方面不易制造，另一方面難于使用，但為了解決小于50mm的內徑測量，則由內測千分尺來彌補，內測千分尺的結構是內卡式的，其測量范圍為（530）（或25）mm和（2550）mm。所以內徑千分尺和內測千分尺是同一體系的，前者用于50mm以上內尺寸測量，后者用于50mm以下內尺寸測量。44.對于分度值為0.02mm的游標卡尺，當兩外量爪工作面接觸后，其間隙量應不超過多少？如果間隙量合格與否判斷不準時，應如何檢定？間隙量應不超過0.006mm。對間隙量判斷不準時采用量塊比較法檢定。檢定時，將尺寸為1mm的量塊放在兩工作面接觸部位

39、，將尺寸為1.006mm量塊放在兩工作面間隙量大的部位，當活動量爪工作面與量塊接觸時，如其中1mm量塊與量爪工作面不接觸，則間隙量合格，如其中1.006mm量塊與量爪工作面不接觸，則間隙量不合格。如兩塊量塊于量爪工作面均接觸時，則間隙量合格。45.千分尺外觀如何檢定？檢定千分尺外觀，一定分開是新制的，還是使用中的。一般情況下，凡出廠檢定或新購來的為新制的，凡修理后的或周期檢定屬使用中的檢定。新制的千分尺及其校對量桿不得有碰傷、銹蝕，不得帶磁，測微頭上的刻線應清晰均勻。千分尺上應標明測量范圍、制造廠名或商標和出廠編號等，并帶有零位調整工具，大于25mm的千分尺應附有校對量桿。使用中的千分尺及校對

40、量桿：外觀要求不嚴格，只要不影響檢定、使用就行了。46.什么是游標類計量器具？游標計量器具是以主尺刻度為整數，利用固定在游框上的游標刻度，讀出主尺兩個相鄰刻度之間的分數部分的計量器具。47.游標類計量器具如何分類？按精度分，屬線值的，其分度值為0.02mm，0.05mm，0.10mm3種。屬角值的，其分度值為2和5兩種。按用途分為游標卡尺、深度游標卡尺、高度游標卡尺、角度規、測齒游標卡尺。48.何謂阿貝原則？如果要使計量器具得出正確的測量結果，則必須將計量器具的標尺（刻度尺）安裝在被測件測量中心線的延長線上，這一原則就叫阿貝原則。違反阿貝原則所產生的誤差叫做阿貝誤差。49.游標卡尺是否符合阿貝

41、原則？游標卡尺的標準尺（刻線面）與被測物不在一條直線上，而處于偏離位置，故不符合阿貝原則，產生的測量誤差LLtgL· L屬一階誤差，L越大，產生誤差也越大。50.為何要對計量器具進行周期檢定？計量量值的傳遞是依靠計量器具來實現的，為了使計量器具傳遞的量值準確可靠，就要對使用中的計量器具進行周期性的檢定，即周期檢定。51.計量器具周期檢定的時間如何確定？計量器具周期檢定的最長間隔一般是根據檢定規程規定的，如果該計量器具使用頻繁、磨損嚴重，其周期檢定時間可以縮短，但確定間隔時間的長短必須遵守以下原則：在周期內檢定的計量器具到周期檢定時，其合格率不低于95。52.檢定游標卡尺需要哪些計量器

42、具？檢定游標卡尺需用量塊、千分尺、刀口尺、平面平晶、研磨平板、工具顯微鏡、塞尺和表面粗糙比較樣塊。53.游標卡尺應檢定的項目有哪些？規程規定游標卡尺的檢定項目共有11項，分布是：1.外觀；2.各部分相互作用；3.游標刻線面的棱邊至尺身刻線面的距離；4.刻線寬度和刻線寬度差；5.測量面的表面粗糙度；6.外量爪測量面的平面度；7.外量爪兩測量面的合并間隙；8.圓弧內量爪的尺寸及平行度；9.刀口內量爪尺寸和平行度；10.零值誤差；11.示值誤差。其中3、4、5項對于使用中的游標卡尺可不檢定。54.游標刻線面的棱邊至尺身刻線面的距離如何檢定？如果游標刻線面至尺身刻線面距離過大，會影響準確讀數，所以規定

43、了這個檢定項目。規程規定：用2級塞尺比較檢定。55.刻線寬度和寬度差如何檢定？用工具顯微鏡檢定。尺身和游標的刻線至少各抽檢3條，刻線寬度以受檢刻線中最大與最小寬度之差確定。56.檢定千分尺為什么要嚴格控制檢定室溫度？由于長度尺寸隨溫度變化而變化，這個變化量與材料的熱膨脹系數有關。由于量塊和千分尺使用材料不同，在溫度變化量相同的情況下，其長度變化量不同。檢定室溫度偏離標準溫度越大，其長度變化的差值就越大。為此，要嚴格控制檢定室溫度。57.為什么要規定被檢千分尺在室內的平衡溫度時間？從使用場所送來檢定的千分尺，往往與檢定場所溫度差別較大。此時，如果送來的千分尺不經恒溫，馬上進行檢定，將產生較大的檢

44、定誤差。所以，要規定受檢千分尺在室內的平衡溫度時間。58.簡述測微螺桿的軸向串動和徑向擺動的檢定要求？測微螺桿的軸向串動和徑向擺動均不大于0.01mm。59.千分尺測微螺桿的軸向串動如何檢定（檢定方法）？測微螺桿的軸向串動，用杠桿千分表檢定。檢定時，使杠桿千分表與測微螺桿測量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分布往返加力3N5N，杠桿千分表示值的變化，即為軸向串動量。60.千分尺測微螺桿的徑向擺動如何檢定（檢定方法）？測微螺桿的徑向擺動，用杠桿千分表檢定。檢定時，將測微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測微螺桿端部，再沿杠桿千分表測量方向加力2N3N，然后以相反方向加力2N3N。這一檢定應在相互垂直的兩個徑向方向檢定。杠桿千分尺示值的變化，即為徑向擺動量。61.什么叫做千分尺的測力？千分尺的測力系指測量面與球面接觸時所作用的力。62.對于示值范圍L125mm，量爪的長度l=40mm的卡尺，當其游框移動的導向面的直線度0.02mm(中間凹)時，則由直線度引起的示值誤差多少？由導向面的直線度引起的示值誤差：8l/L=8×0.02×40/125=0.051mm63.用5等量塊檢定（75100）mm千分尺80.12mm這一點的示值誤差，所用的量塊實際尺寸為80.1210mm，千分尺上的讀數為80.119