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文檔簡(jiǎn)介
1、晶體中的缺陷及其對(duì)材料性能的影響、八,、刖言晶體的主要特征是其中原子(或分子)的規(guī)則排列,但實(shí)際晶體中的原子排列會(huì)由于各種原因或多或少地偏離嚴(yán)格的周期性,于是就形成了晶體的缺陷,晶體中缺陷的種類(lèi)很多,它影響著晶體的力學(xué)、熱學(xué)、電學(xué)、光學(xué)等各方面的性質(zhì)。晶體的缺陷表征對(duì)晶體 理想的周期結(jié)構(gòu)的任何形式的偏離。晶體缺陷的存在,破壞了完美晶體的有序性,弓I起晶體內(nèi)能 U和熵S增加。 按缺陷在空間的幾何構(gòu)型可將缺陷分為點(diǎn)缺陷、線缺陷、面缺陷和體缺陷,它們 分別取決于缺陷的延伸范圍是零維、 一維、二維還是三維來(lái)近似描述。每一類(lèi)缺 陷都會(huì)對(duì)晶體的性能產(chǎn)生很大影響,例如點(diǎn)缺陷會(huì)影響晶體的電學(xué)、光學(xué)和機(jī)械 性能
2、,線缺陷會(huì)嚴(yán)重影響晶體的強(qiáng)度、電性能等。晶體缺陷的基本類(lèi)型點(diǎn)缺陷1、點(diǎn)缺陷定義由于晶體中出現(xiàn)填隙原子和雜質(zhì)原子等等,它們引起晶格周期性的破壞發(fā)生 在一個(gè)或幾個(gè)晶格常數(shù)的限度范圍內(nèi), 這類(lèi)缺陷統(tǒng)稱(chēng)為點(diǎn)缺陷。這些空位和填隙 原子是由熱起伏原因所產(chǎn)生的,因此又稱(chēng)為熱缺陷。(2>(3)OMnhmR i* * JT4IAIbi fCAI2、空位、填隙原子和雜質(zhì)空位:晶體內(nèi)部的空格點(diǎn)就是空位。由于晶體中原子熱運(yùn)動(dòng),某些原子振動(dòng)劇烈而脫離格點(diǎn)跑到表面上,在內(nèi)部留下了空格點(diǎn),即空位。填隙原子:由于晶體中原子的熱運(yùn)動(dòng),某些原子振動(dòng)劇烈而脫離格點(diǎn)進(jìn)入晶格中的間隙位置,形成了填隙原子。即位于理想晶體中間隙中的
3、原子。雜質(zhì)原子:雜質(zhì)原子是理想晶體中出現(xiàn)的異類(lèi)原子。3、幾種點(diǎn)缺陷的類(lèi)型弗侖克爾缺陷:原子(或離子)在格點(diǎn)平衡位置附近振動(dòng),由于非線性的影 響,使得當(dāng)粒子能量大到某一程度時(shí), 原子就會(huì)脫離格點(diǎn),而到達(dá)鄰近的原子空 隙中,當(dāng)它失去多余動(dòng)能后,就會(huì)被束縛在那里,這樣產(chǎn)生一個(gè)暫時(shí)的空位和一 個(gè)暫時(shí)的填隙原子,當(dāng)又經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后,填隙原子會(huì)與空位相遇,并同空位復(fù) 合;也有可能跳到較遠(yuǎn)的間隙中去。 若晶體中的空位與填隙原子的數(shù)目相等, 這 樣的熱缺陷稱(chēng)為弗侖克爾缺陷。肖特基缺陷:空位和填隙原子可以成對(duì)地產(chǎn)生 (弗侖克爾缺陷),也可以在晶 體內(nèi)單獨(dú)產(chǎn)生。若脫離格點(diǎn)的原子變成填隙原子,經(jīng)過(guò)擴(kuò)散跑到晶體表面占
4、據(jù)正 常格點(diǎn)位置,則在晶體內(nèi)只留下空位,而沒(méi)有填隙原子,僅由這種空位構(gòu)成的缺 陷稱(chēng)之為 肖特基缺陷形成填隙原子時(shí),原子擠入間隙位置所需的能量比產(chǎn)生肖 特基缺陷空位所需的能量大,一般地,當(dāng)溫度不太高時(shí),肖特基缺陷的數(shù)目要比弗 侖克爾缺陷的數(shù)目大得多。 雜質(zhì)原子:實(shí)際晶體中存在某些微量雜質(zhì)。 一方面是晶體生長(zhǎng)過(guò)程中引入的;另一方面是有目的地向晶體中摻入的一些微量雜質(zhì)。當(dāng)晶體存在雜質(zhì)原子時(shí),晶體的內(nèi)能會(huì)增加,由于少量的雜質(zhì)可以分布在數(shù)量很大的格點(diǎn)或間隙位置上,使晶體組態(tài)熵的變化也很大。因此溫度T下,雜質(zhì)原子的存在也可能使自由能降低。 (F = U-TS)當(dāng)雜質(zhì)原子取代基質(zhì)原子占據(jù)規(guī)則的格點(diǎn)位置時(shí),形
5、成替位式雜質(zhì), 如圖a;若雜質(zhì)原子占據(jù)間隙位置,形成間隙式雜質(zhì),如圖b雜JffiW(于母點(diǎn)的點(diǎn)筑后普位式融at* o 問(wèn)障式雜質(zhì)對(duì)一定晶體,雜質(zhì)原子是形成替位式雜質(zhì)還是間隙式雜質(zhì),主要取決于雜質(zhì) 原子與基質(zhì)原子幾何尺寸的的相對(duì)大小及其電負(fù)性。 雜質(zhì)原子比基質(zhì)原子小得多 時(shí),形成間隙式雜質(zhì);替位式雜質(zhì)在晶體中的溶解度也決定于原子的幾何尺寸和 化學(xué)因素。色心:色心是一種非化學(xué)計(jì)量比引起的空位缺陷。 該空位能夠吸收可見(jiàn)光使原來(lái)透明的晶體出現(xiàn)顏色,因而稱(chēng)它們?yōu)樯模詈?jiǎn)單的色心是F心。所謂F 心是離子晶體中的一個(gè)負(fù)離子空位束縛一個(gè)電子構(gòu)成的點(diǎn)缺陷。 與F心相對(duì)的色 心是V心。V心和F心在結(jié)構(gòu)上是堿鹵晶
6、體中兩種最簡(jiǎn)單的缺陷。線缺陷1、線缺陷的定義:當(dāng)晶格周期性的破壞發(fā)生在晶體內(nèi)部一條線的周?chē)鷦t稱(chēng)為線缺陷,通常又稱(chēng)之為位錯(cuò)。它是由于應(yīng)力超過(guò)彈性限度而使晶體發(fā)生范性形變所產(chǎn)生的, 從晶體 內(nèi)部看,它就是晶體的一部分相對(duì)于另一部分發(fā)生滑移, 以致在滑移區(qū)的分界線 上出現(xiàn)線狀缺陷。2、位錯(cuò)的基本類(lèi)型:常見(jiàn)的位錯(cuò)有兩種形式:刃位錯(cuò)和螺位錯(cuò)。刃位錯(cuò):亦稱(chēng)棱位錯(cuò)。其特點(diǎn)是:原子的滑移方向與位錯(cuò)線的方向相垂直。- ri11EC螺位錯(cuò):特點(diǎn):是原子的滑移方向與位錯(cuò)線平行,且晶體內(nèi)沒(méi)有多余的半個(gè)晶面。垂直于位錯(cuò)線的各個(gè)晶面可以看成由一個(gè)晶面以螺旋階梯的形式構(gòu)成。當(dāng)晶體中存在螺位錯(cuò)時(shí),原來(lái)的一族平行晶面就變成為以
7、位錯(cuò)線為軸的螺旋面。螺位錯(cuò)位錯(cuò)線的特征:1. 滑移區(qū)與未滑移區(qū)的分界線;2. 位錯(cuò)線附近原子排列失去周期性;3. 位錯(cuò)線附近原子受應(yīng)力作用強(qiáng),能量高,位錯(cuò)不是熱運(yùn)動(dòng)的結(jié)果;4. 位錯(cuò)線的幾何形狀可能很復(fù)雜,可能在體內(nèi)形成閉合線,可能在晶 體表面露頭,不可能在體內(nèi)中斷。刃型位錯(cuò)的特點(diǎn)是位錯(cuò)線垂直于滑移矢量 b;螺型位錯(cuò)的特點(diǎn)是位錯(cuò)線平行于滑移矢量 bob又稱(chēng)為伯格斯(Burgers )矢量,它的模等于滑移方向上的平衡原子間距, 它的方向代表滑移方向。除此之外,還存在位錯(cuò)線于滑移矢量既不平行又不垂直的混合型位錯(cuò)。混 合位錯(cuò)的原子排列介于刃型位錯(cuò)和螺型位錯(cuò)之間,可以分解為刃型位錯(cuò)和螺型位 錯(cuò)。面缺陷
8、1、面缺陷的定義:當(dāng)晶格周期性的破壞發(fā)生在晶體內(nèi)部一個(gè)面的周?chē)鷦t稱(chēng)為面缺陷。2、常見(jiàn)的面缺陷的類(lèi)型:層錯(cuò):是由于晶面堆積順序發(fā)生錯(cuò)亂而引入的面缺陷,又稱(chēng)堆垛層錯(cuò)。小角晶界:具有完整結(jié)構(gòu)的晶體兩部分彼此之間的取向有著小角度 9的傾斜, 在角9里的部分是由少數(shù)幾個(gè)多余的半晶面所組成的過(guò)渡區(qū),這個(gè)區(qū)域稱(chēng)小角 晶界。體缺陷在體缺陷中比較重要的是包裹體。包裹體是晶體生長(zhǎng)過(guò)程中界面所捕獲的夾雜 物。它可能是晶體原料中某一過(guò)量組分形成的固體顆粒,也可能是晶體生產(chǎn)過(guò)程 中坩堝材料帶入的雜質(zhì)微粒。二.晶體缺陷對(duì)材料性能的影響(1) 點(diǎn)缺陷對(duì)材料性能的影響晶體中點(diǎn)缺陷的不斷無(wú)規(guī)則運(yùn)動(dòng)和空位與間隙原子不斷產(chǎn)生與復(fù)合
9、是晶體中 許多物理過(guò)程如擴(kuò)散、相變等過(guò)程的基礎(chǔ)。空位是金屬晶體結(jié)構(gòu)中固有的點(diǎn)缺陷, 空位會(huì)與原子交換位置造成原子的熱激活運(yùn)輸, 空位的遷移直接影響原子的熱運(yùn) 輸,從而影響材料的電、熱、磁等工程性能。晶體中點(diǎn)缺陷的存在一方面造成點(diǎn) 陣畸變,使晶體內(nèi)能升高,增加了晶體熱力學(xué)不穩(wěn)定性,另一方面增大了原子排 列的混亂程度,改變了周?chē)拥恼駝?dòng)頻率。使熵值增大使晶體穩(wěn)定。矛盾因素 使晶體點(diǎn)缺陷在一定溫度下有一定平衡數(shù)目。 在一般情形下,點(diǎn)缺陷主要影響晶 體的物理性質(zhì),如比容、比熱容、電阻率等。1. 比容:為了在晶體內(nèi)部產(chǎn)生一個(gè)空位,需將該處的原子移到晶體表面上的新 原子位置,導(dǎo)致晶體體積增大2比熱容:由
10、于形成點(diǎn)缺陷需向晶體提供附加的能量(空位生成焓),因而引 起附加比熱容。3. 電阻率:金屬的電阻來(lái)源于離子對(duì)傳導(dǎo)電子的散射。 在完整晶體中,電子基 本上是在均勻電場(chǎng)中運(yùn)動(dòng),而在有缺陷的晶體中,在缺陷區(qū)點(diǎn)陣的周期性被破壞, 電場(chǎng)急劇變化,因而對(duì)電子產(chǎn)生強(qiáng)烈散射,導(dǎo)致晶體的電阻率增大。4. 密度的變化:對(duì)一般金屬,輻照引起體積膨脹,但是效應(yīng)不明顯,一般變 化很少超過(guò)0.10.2%,這種現(xiàn)象可以用弗侖克爾缺陷來(lái)描述5. 電阻:增加電阻,晶體點(diǎn)陣的有序結(jié)構(gòu)被破壞,使原子對(duì)自由電子的散射 效果提升。一般可以通過(guò)電阻分析法萊追蹤缺陷濃度的變化 6晶體結(jié)構(gòu):輻照很顯著地破壞了合金的有序度,而且一些高溫才穩(wěn)定
11、的相 結(jié)構(gòu)可以保持到室溫7力學(xué)性能:輻照引起金屬的強(qiáng)化和變脆(注,空位使晶格畸變類(lèi)似置換原 子引起的)。此外,點(diǎn)缺陷還影響其他物理性質(zhì),如擴(kuò)散系數(shù),內(nèi)耗,介電常數(shù)等,在堿金 屬的鹵化物晶體中,由于雜質(zhì)或過(guò)多的金屬離子等點(diǎn)缺陷對(duì)可見(jiàn)光的選擇性吸 收,會(huì)使晶體呈現(xiàn)色彩,這種點(diǎn)缺陷稱(chēng)為色心。(2)線缺陷對(duì)材料性能的影響位錯(cuò)是一種及重要的晶體缺陷,他對(duì)金屬的塑性變形,強(qiáng)度與斷裂有很重要的 作用,塑性變形就其原因就是位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng),而強(qiáng)化金屬材料的基本途徑之一就是 阻礙位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng),另外,位錯(cuò)對(duì)金屬的擴(kuò)散、相變等過(guò)程也有重要影響。所以深 入了解位錯(cuò)的基本性質(zhì)與行為,對(duì)建立金屬?gòu)?qiáng)化機(jī)制將具有重要的理論和實(shí)際意
12、義。金屬材料的強(qiáng)度與位錯(cuò)在材料受到外力的情況下如何運(yùn)動(dòng)有很大的關(guān)系。如果位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)受到的阻礙較小,則材料強(qiáng)度就會(huì)較高。實(shí)際材料在發(fā)生塑性變形時(shí), 位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)是比較復(fù)雜的,位錯(cuò)之間相互反應(yīng)、位錯(cuò)受到阻礙不斷塞積、材料中 的溶質(zhì)原子、第二相等都會(huì)阻礙位錯(cuò)運(yùn)動(dòng),從而使材料出現(xiàn)加工硬化。因此,要 想增加材料的強(qiáng)度就要通過(guò)諸如:細(xì)化晶粒(晶粒越細(xì)小晶界就越多,晶界對(duì)位 錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)具有很強(qiáng)的阻礙作用)、有序化合金、第二相強(qiáng)化、固溶強(qiáng)化等手段使 金屬的強(qiáng)度增加。以上增加金屬?gòu)?qiáng)度的根本原理就是想辦法阻礙位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)。位錯(cuò)密度取決于材料變性率的大小。 在高形變率荷載下,位錯(cuò)密度持續(xù)增大, 因?yàn)楦邞?yīng)變率下材料的動(dòng)態(tài)回復(fù)
13、與位錯(cuò)攀巖被限制, 因而位錯(cuò)密度增大,材料強(qiáng) 度增大,可以等同于降低材料溫度。金屬材料的強(qiáng)度與位錯(cuò)在材料受到外力的情況下如何運(yùn)動(dòng)有很大的關(guān)系。如果位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)受到的阻礙較小,則材料強(qiáng)度就會(huì)較高。實(shí)際材料在發(fā)生塑性變形時(shí), 位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)是比較復(fù)雜的,位錯(cuò)之間相互反應(yīng)、位錯(cuò)受到阻礙不斷塞積、材料中 的溶質(zhì)原子、第二相等都會(huì)阻礙位錯(cuò)運(yùn)動(dòng),從而使材料出現(xiàn)加工硬化。因此,要 想增加材料的強(qiáng)度就要通過(guò)諸如:細(xì)化晶粒(晶粒越細(xì)小晶界就越多,晶界對(duì)位 錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)具有很強(qiáng)的阻礙作用)、有序化合金、第二相強(qiáng)化、固溶強(qiáng)化等手段使 金屬的強(qiáng)度增加。以上增加金屬?gòu)?qiáng)度的根本原理就是想辦法阻礙位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)。對(duì)金屬材料來(lái)說(shuō),位錯(cuò)密度對(duì)
14、材料的韌性,強(qiáng)度等有影響。對(duì)于晶體來(lái)說(shuō),位 錯(cuò)密度越大,材料強(qiáng)度越大。對(duì)于非晶剛好相反:位錯(cuò)密度正比于自由體積,位 錯(cuò)密度越多,強(qiáng)度越低,塑性可能會(huì)好。在外力的作用下,金屬材料的變形量增 大,晶粒破碎和位錯(cuò)密度增加,導(dǎo)致金屬的塑性變形抗力迅速增加, 對(duì)材料的力 學(xué)性能影響是: 硬度和強(qiáng)度顯著升高;塑性和韌性下降,產(chǎn)生所謂的“加工硬 化”現(xiàn)象。隨著塑性變形程度的增加,晶體對(duì)滑移的阻力愈來(lái)愈大。從位錯(cuò)理論 的角度看,其主要原因是位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)愈來(lái)愈困難。 滑移變形的過(guò)程就是位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的 過(guò)程,如果位錯(cuò)不易運(yùn)動(dòng),就是材料不易變形,也就是材料強(qiáng)度提高,即產(chǎn)生了 硬化。加工硬化現(xiàn)象在生產(chǎn)工藝上有很現(xiàn)實(shí)的作用,
15、如拉絲時(shí)已通過(guò)拉絲模的金 屬截面積變小,因而作用在這一較小界面積上的單位面積拉力比原來(lái)大,但是由于加工硬化。這一段金屬可以不繼續(xù)變形,反而引導(dǎo)拉絲模后面的金屬變形, 從 而才能進(jìn)行拉拔。加工硬化對(duì)金屬材料的使用也是有利的, 例如構(gòu)件在承受負(fù)荷時(shí),盡管局部地 區(qū)負(fù)荷超過(guò)了屈服強(qiáng)度,金屬發(fā)生塑性變形,但通過(guò)加工硬化,這部分金屬可以 承受這一負(fù)荷而不發(fā)生破壞,并把部分負(fù)荷轉(zhuǎn)嫁給周?chē)芰^小的金屬,從而保 證構(gòu)件的安全。鋼經(jīng)形變處理后,形變奧氏體中的位錯(cuò)密度大為增加, 可形變量愈大,位錯(cuò)密 度愈高,金屬的抗斷強(qiáng)度也隨之增高。隨著形變程度增加不但位錯(cuò)密度增加而且 位錯(cuò)排列方式也會(huì)發(fā)生變化由于變形溫度下,
16、 原子有一定的可動(dòng)性,位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)也 較容易進(jìn)行,因此在形變過(guò)程中及形變后停留時(shí)將出現(xiàn)多邊化亞結(jié)構(gòu)及位錯(cuò)胞狀 結(jié)構(gòu)。當(dāng)亞晶之間的取向差達(dá)到幾度時(shí), 就可像晶界一樣,起到阻礙裂紋擴(kuò)展的 作用,由霍爾一派奇公式,晶粒越小則金屬?gòu)?qiáng)度越大。(3)面缺陷對(duì)材料性能的影響1. 面缺陷的晶界處點(diǎn)陣畸變大,存在晶界能,晶粒長(zhǎng)大與晶界平直化使晶界 米面積減小,晶界總能量降低,這兩過(guò)程通過(guò)原子擴(kuò)散進(jìn)行,隨溫度升高與保溫 時(shí)間增長(zhǎng),有利于這兩過(guò)程的進(jìn)行。2. 面缺陷原子排列不規(guī)則,常溫下晶界對(duì)位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)起阻礙作用,塑性變形抗 力提高,晶界有較高的強(qiáng)度和硬度。晶粒越細(xì),材料的強(qiáng)度越高,這就是細(xì)晶強(qiáng) 化,而高溫下剛好相反,高
17、溫下晶界又粘滯性,使相鄰晶粒產(chǎn)生相對(duì)滑動(dòng)。3. 面缺陷處原子偏離平衡位置,具有較高的動(dòng)能,晶界處也有較多缺陷,故 晶界處原子的擴(kuò)散速度比晶內(nèi)快。4. 固態(tài)相變中,晶界能量較高,且原子活動(dòng)能力較大,新相易于在晶界處優(yōu) 先形核,原始晶粒越細(xì),晶界越多,新相形核率越大。5由于成分偏析和內(nèi)吸附現(xiàn)象,晶界富集雜質(zhì)原子情況下,晶界熔點(diǎn)低,加 熱過(guò)程中,溫度過(guò)高引起晶界熔化與氧化,導(dǎo)致過(guò)熱現(xiàn)象。6. 晶界處能量較高,原子處于不穩(wěn)定狀態(tài),及晶界富集雜質(zhì)原子的緣故,晶 界腐蝕速度較快。(4) 缺陷對(duì)半導(dǎo)體性能的影響硅、鍺等第4族元素的共價(jià)晶體絕對(duì)零度時(shí)為絕緣體,溫度刀高導(dǎo)電率增加但比金屬的小得多,稱(chēng)這種晶體為半
18、導(dǎo)體。晶體呈現(xiàn)半導(dǎo)體性能的根本原因是填 滿電子的最高能帶與導(dǎo)帶之間的禁帶寬度很窄, 溫度升高部分電子可以從滿帶躍 遷到導(dǎo)帶成為傳導(dǎo)電子。晶體的半導(dǎo)體性能決定于禁帶寬度以及參與導(dǎo)電的載流 子(電子或空穴)數(shù)目和它的遷移率。缺陷影響禁帶寬度和載流子數(shù)目及遷移率, 因而對(duì)晶體的半導(dǎo)體性能有嚴(yán)重影響。1. 缺陷對(duì)半導(dǎo)體晶體能階的影響硅和鍺本征半導(dǎo)體的晶體結(jié)構(gòu)為金剛石型。每個(gè)原子與四個(gè)近鄰原子共價(jià)結(jié) 合。雜質(zhì)原子的引入或空位的形成都改變了參與結(jié)合的共價(jià)電子數(shù)目,影響晶體的能價(jià)分布。有時(shí)為了改善本征半導(dǎo)體的性能有意摻入一些三、五族元素形成摻雜半導(dǎo)體; 而其他點(diǎn)缺陷如空位或除三,五族以外的別的雜質(zhì)原子原則上
19、也會(huì)形成附近能 階。位錯(cuò)對(duì)半導(dǎo)體性能影響很大,但目前只對(duì)金鋼石結(jié)構(gòu)的硅、 鍺中的位錯(cuò)了解 得較多一點(diǎn)。2. 缺陷對(duì)載流子數(shù)目的影響點(diǎn)缺陷使能帶的禁帶區(qū)出現(xiàn)附加能階,位錯(cuò)本身又會(huì)起懸浮鍵作用,它起著施 主或受主的作用,另外位錯(cuò)俘獲電子使載流子數(shù)目減少, 所以半導(dǎo)體中實(shí)際載流 子數(shù)目減少。由于晶體缺陷對(duì)半導(dǎo)體材料的影響,故可以在半導(dǎo)體材料中有以下應(yīng)用1. 過(guò)量的Zn原子可以溶解在ZnO晶體中,進(jìn)入晶格的間隙位置,形成間隙型離子缺陷,同時(shí)它把兩個(gè)電子松弛地束縛在其周?chē)瑢?duì)外不表現(xiàn)出帶電性。但這兩個(gè)電子是亞穩(wěn)定的,很容易被激發(fā)到導(dǎo)帶中去,成為準(zhǔn)自由電子,使材料具 有半導(dǎo)性。2. Fe3O4晶體中,全部
20、的Fe2+離子和1/2量的Fe3+離子統(tǒng)計(jì)地分布在由氧離 子密堆所構(gòu)成的八面體間隙中。因?yàn)樵?Fe2+ Fe3+ Fe2+ Fe3+,之間可以遷移,F(xiàn)e3O4是一種本征半導(dǎo)體。3. 常溫下硅的導(dǎo)電性能主要由雜質(zhì)決定。在硅中摻入VA族元素雜質(zhì)(如P、As、Sb等)后,這些VA族雜質(zhì)替代了一部分硅原子的位置,但由于它們的最外 層有5個(gè)價(jià)電子,其中4個(gè)與周?chē)柙有纬晒矁r(jià)鍵,多余的一個(gè)價(jià)電子便成了 可以導(dǎo)電的自由電子。這樣一個(gè) VA族雜質(zhì)原子可以向半導(dǎo)體硅提供一個(gè)自由電 子而本身成為帶正電的離子,通常把這種雜質(zhì)稱(chēng)為施主雜質(zhì)。當(dāng)硅中摻有施主雜 質(zhì)時(shí),主要靠施主提供的電子導(dǎo)電,這種依靠電子導(dǎo)電的半導(dǎo)體被成為 n型半導(dǎo) 體。4. 在BaTiO3陶瓷中,人們常常加入
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