深圳科萊電子有限公司文件編號：KL-WI-QA-005文件名稱：模組（LCM）檢驗標準文件版本：B執行部門：品質部生效日期：2013-03-1頁碼/總頁：第 9 頁 共 9 頁1.0 目的:規范LCM彩屏成品的檢驗項目以及判斷標準，保證產品出貨能滿足客戶需求。2.0 適用范圍: 適用于本公司LCM彩屏產品內部的出貨檢驗（客戶有特殊要求的依客戶要求）。3.0 檢查條件：在2040W日光燈的光照環境下，被檢查樣品放在離檢查者眼睛20cm的位置，檢查者在垂直方向4515度區域內觀察。 30 degree 4.0 LCD區域定義：CBA 區域A：符號或數字顯示區區域B：視區（除A區）（A區+B區=最小視區，相對于模塊確認圖中的VA區范圍） 區域C：視區外圍（模塊確認圖的VA區外，客戶機殼設計應參考此范圍，裝機后看不到此區域）.注：在區域C中有看得見的缺陷，但不影響產品穩定性及客戶產品組裝，允許出貨。5.0 檢查標準5.1重缺陷序號檢驗項目檢驗標準缺陷等級5.1.1所有功能缺陷1) 不顯示、顯示異常2) 斷筆、缺劃、短路3) 背光不亮，或點亮不正常、閃爍4) TP不觸摸 5) 其他功能缺陷 重缺陷5.1.2遺漏缺少任何元件5.1.3尺寸超出模塊外觀尺寸超出圖紙上的規格值5.2外觀缺陷部分：序號檢驗項目檢查標準等級5.2.1清晰點黑白點亮點暗點刻痕針孔異物上偏光片氣泡白點點狀缺陷的定義： y = x 串污：點距5mm的兩個或兩個以上的點/線 區域尺寸（mm）最多允許數量輕缺陷ABC0.1忽略不計（密集不可）忽略不計0.100.152（點距10mm）0.150.2010.200模糊點圓擴散型邊緣模糊，輕微TP下表面臟污的點狀缺陷 區域 尺寸（mm）最多允許數量ABC0.1忽略不計（密集不可）忽略不計0.100.252（點距10mm）0.250.510.50輕缺陷序號檢查項目檢查標準等級5.2.2線缺陷尺寸（mm）最多允許數量輕缺陷長度（L）寬度（W）區域A區B區C區忽略不計W0.02忽略不計（不允許串污）忽略不計L2.00.02W0.032（點距10mm）L2.00.03W0.051L20.05W按點缺陷處理5.2.3上偏光片邊緣脫膠不帶TP帶TP輕缺陷不能超過LCD黑框1/3不能超過LCD黑框1/25.2.4下偏光片氣泡，邊緣脫膠異物，黑點，白點AA區LCD黑框輕缺陷以裝成品后的效果判斷，對產品整體和外觀無影響可接受。可接受5.2.5偏光片位置1） 偏光片張貼要附合圖紙要求，不允許超出玻璃邊緣。2） 偏光片必須完全覆蓋顯視區，并與黑框（環氧框）重合1/2以上（圖紙有特別要求的除外）。 輕缺陷5.2.6玻璃缺陷(i) 破碎在邊角XYZ3.0S不考慮注: S=引線腳長度破碎邊角破碎不允許延伸到ITO引線部分，不允許進入封口。輕缺陷(ii)常見表面破損XYZ3.0不超過封膠外線不考慮輕缺陷(iii) 裂痕不允許有延伸趨勢的裂痕 裂縫重缺陷序號檢查項目檢查標準等級5.2.7TP外觀相關標準TP氣泡/凹凸點尺寸 (mm)接收數量A區B區C區0.1忽略（不允許串污）忽略0.10.152（點距10mm）0.150.210.21mm,拒收3.不可有橫跨2條（含以上）線路及露銅輕缺陷零件錯誤1.錯件：置放之零件規格、材料號碼未能與原設定的零件資料相符合2.缺件/多件：電路板上零件不可有缺裝或多裝3.反向：電路板上零件不可有正負極性錯誤焊接致命缺陷板面沾錫1.打線區1/2 Lead腳前之區域沾錫拒收2.產品有熱壓之制程,其金手指（壓著區）沾錫,拒收重缺陷空焊：焊面與焊墊未接合不可重缺陷錫尖/裂、虛焊一律不可重缺陷不可有白色粉狀殘留物輕缺陷LB元件偏移1.B1/2L 2. A2/3WAW 3.A2/3W B1/2L 4. t1/2*TTt參照1、2標示 輕缺陷大于1.25H，NG焊點錫量高度大于零件焊腳1.25H(鷗翼型)，拒收大于焊面高度NGH焊點錫量高度大于零件焊面高度(圓型),拒收輕缺陷焊量高度小于焊腳1/3H鷗翼型:焊點錫量高度小零件焊腳1/3H，或焊墊吃錫少于70%，拒收 圓柱型:焊點錫量高度小于零件焊面1/4H或焊墊吃錫少于70%，拒收錫量高度小于焊面1/4H NG焊墊吃錫少于70%，NG 重缺陷連接器(含:卡蓋)不可破損或掉，連接部位不可有松香，阻焊劑，白色粉狀殘留物，異物重缺陷板翹: PCB與平面之間的間隙大于長度的1/100不可(若無特殊要求依此標準作業)輕缺陷5.2.14離型紙/導電布等脫落不允許輕缺陷臟污參考極限樣板5.3、功能測試5.3.1 LCD Module 功能測試，一般依據設計提供的該產品的標準測試軟件和夾具進行。因產品而異，隨具體項目具體給出夾具功能測試方法(包括需檢查項和對應的檢測畫面)。5.3.2 對項目中所列測試項，如某一項異常，則說明產品功能存在相應缺陷5.3.3 測試第一次失敗，重新連接測試通過，則測試認為通過。5.3.4功能檢驗標準參照以下標準:NO檢驗項目檢驗內容判定檢驗方法及工具1電測背光,LCD部分模塊的顏色和亮度范圍參考各個型號的規格書及參考極限樣板CRI測試夾具、樣品、菲林卡、目視、無顯示不可CRI缺畫（缺行、缺列）不可CRI顯示異常不可(花/白/藍屏、少畫面、亂碼等)CRI顯示色深/色淡超樣品不可CRI顯示不均超樣品不可CRI顏色/色差(灰度)超規格范圍不可MA漏光（帶T/P產品不可有）MA背光暗超規格/樣品不可MA背光不均超規格/樣品不可MA背光燈常亮不可(與要求不符時)CRI斜紋（普通視覺產品，按視點方向3090角范圍不可見），超寬視覺產品不可有LCM亮度（帶T/P產品160cd/,不帶觸摸屏產品200cd/，正常以15MA測試，特殊以客戶要求為準）束光不可有（特殊情況以樣品為準）背光燈缺色不可(三色燈)MA背光顏色不符不可CRI背光膠印進V/A不可MA觸摸屏點不動,線性不良不可CRILCD與背光分離MA電測TP功能部分不觸摸：觸摸屏失效，劃寫測試時觸摸屏沒有反應MA測試夾具、觸摸筆觸摸不靈敏：劃寫程序書寫不流暢；MA漂移：觸摸屏劃線測試時，筆畫出現在非劃寫位置MA飛筆：在劃寫時，會有多余筆畫出現或筆畫出現毛刺現象MA斷筆：在劃寫時，筆畫出現不完整現象MA揮空：在劃寫時，有部分筆畫無法顯示MA自動觸摸：電測進入觸摸屏校準，屏上校準光標出現自動觸摸的現象MA點不完：點擊觸摸屏校準光標，點擊多個周期無法進入劃寫畫面MA5.4、可靠性實驗：按以下項目進行可靠性實驗，如客戶有特殊要求時，則按客戶要求進行實驗。實驗數量510PCS/每組實驗。測試項目測試條件溫度循環80 30分鐘 ,-30 30分鐘,每個循環為1個小時，共10個循環，高溫高濕（通電）50 903%RH,12h ，降至常溫2小時后檢測低溫存儲-30 10小時高溫存儲+80 10小時跌落高度: 80cm 六個面二個棱一角 方向及次數：一面/棱/角一次靜電LCD模組,空氣放電+4kv,接觸放電+2kv震動實驗針對所有帶TP的型號，震動時間為四小時，數量為100PCS高溫通電70, 12 小時低溫通電-30, 12 小時5.5、包裝檢查：NO檢查項目判定標準現象1包裝箱形態參照產品制造規格書2包裝方法參照產品制造規格書3數量參照產品制造規格書4印刷