標(biāo)準(zhǔn)解讀

《T/CIE 134-2022 磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試方法》是一項(xiàng)由中國電子學(xué)會(huì)發(fā)布的團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，主要針對磁隨機(jī)存儲(chǔ)器（MRAM）的數(shù)據(jù)保持時(shí)間進(jìn)行規(guī)范化的測試方法制定。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評估MRAM在不同環(huán)境條件下的長期數(shù)據(jù)存儲(chǔ)穩(wěn)定性。

標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了測試所需的基本設(shè)備與材料要求，包括但不限于溫度控制裝置、磁場發(fā)生器等，確保測試過程中能夠準(zhǔn)確模擬實(shí)際使用中可能遇到的各種環(huán)境變化。同時(shí)，對于樣品準(zhǔn)備也給出了明確指導(dǎo)，比如樣品的選擇原則、預(yù)處理步驟等，以保證測試結(jié)果的有效性和可比性。

關(guān)于測試程序，《T/CIE 134-2022》規(guī)定了一系列具體的操作流程，從初始狀態(tài)設(shè)置到最終數(shù)據(jù)分析都有詳盡說明。其中包括但不限于數(shù)據(jù)寫入方式、讀取驗(yàn)證機(jī)制以及如何通過改變外部條件（如溫度、磁場強(qiáng)度）來觀察并記錄數(shù)據(jù)保持特性隨時(shí)間的變化趨勢。

此外，本標(biāo)準(zhǔn)還特別強(qiáng)調(diào)了實(shí)驗(yàn)記錄的重要性，要求所有參與測試的人員必須嚴(yán)格按照規(guī)定格式記錄每次實(shí)驗(yàn)的具體參數(shù)及結(jié)果，并且對異常情況處理也有相應(yīng)建議，旨在提高測試過程的透明度和可靠性。


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....

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  • 2022-08-10 頒布
  • 2022-08-10 實(shí)施
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T/CIE 134-2022磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試方法-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS31200

CCSL.56

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/CIE134—2022

磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試方法

Testmethodsfordataretentiontimeofmagneticrandom-accessmemorychips

2022-08-10發(fā)布2022-08-10實(shí)施

中國電子學(xué)會(huì)發(fā)布

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版

T/CIE134—2022

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

測試設(shè)備及條件

4…………………………2

測試設(shè)備和裝置

4.1……………………2

測試條件

4.2……………2

測試方法

5…………………2

通則

5.1…………………2

磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試

5.2……………3

測試原理

5.2.1………………………3

測試方法

5.2.2………………………4

測試記錄

5.2.3………………………5

參考文獻(xiàn)

………………………6

T/CIE134—2022

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國電子學(xué)會(huì)提出并歸口

。

本文件起草單位北京航空航天大學(xué)致真存儲(chǔ)北京科技有限公司中國電子科技集團(tuán)公司第五

:、()、

十八研究所上海佑磁信息科技有限公司北京時(shí)代民芯科技有限公司深圳亙存科技有限責(zé)任公司合

、、、、

肥致真精密設(shè)備有限公司

。

本文件主要起草人趙巍勝彭守仲李偉祥蘆家琪李月婷雷娜曹凱華王昭昊聶天曉

:、、、、、、、、、

張博宇劉佳豪劉照春王戈飛劉宏喜趙桂林帥喆孫杰杰王超盧輝王亮鄭宏超陸時(shí)進(jìn)

、、、、、、、、、、、、、

李鑫云曹安妮郭瑋何帆程厚義杜寅昌

、、、、、。

Ⅰ

T/CIE134—2022

磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試方法

1范圍

本文件規(guī)定了磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試方法的測試原理測試環(huán)境測試設(shè)備測試程

、、、

序等

。

本文件適用于磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)保持時(shí)間測試和磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)保持時(shí)間驗(yàn)證

。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒有規(guī)范性引用文件

。

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

磁隨機(jī)存儲(chǔ)器magneticrandom-accessmemoryMRAM

;

利用磁性層的磁矩作為信息存儲(chǔ)的載體利用隧穿磁阻效應(yīng)作為信息讀取方法具有非易失性近

,,、

乎無限次擦寫和快速寫入等優(yōu)點(diǎn)的隨機(jī)存儲(chǔ)器

。

32

.

數(shù)據(jù)保持時(shí)間dataretentiontime

磁隧道結(jié)或者磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片不進(jìn)行讀寫的情況下在允許錯(cuò)誤范圍內(nèi)能夠保持?jǐn)?shù)據(jù)穩(wěn)定存儲(chǔ)的

,

最長時(shí)間

。

注數(shù)據(jù)保持時(shí)間決定了磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片的可靠性數(shù)據(jù)保持的定義見中的相關(guān)規(guī)定

:。GB/T35003—20183.2。

33

.

熱穩(wěn)定性thermalstability

磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片的耐熱性磁隨機(jī)存儲(chǔ)芯片在溫度影響下的穩(wěn)定性

,。

34

.

熱穩(wěn)定因子thermalstabilityfactor

Δ

表示熱波動(dòng)下自由層磁化方向隨機(jī)發(fā)生翻轉(zhuǎn)的傾向用能量勢壘E和操作溫度T與玻爾茲曼常

。b

數(shù)k的乘積的比值來計(jì)算熱穩(wěn)定因子越大相同操作溫度下存儲(chǔ)中數(shù)據(jù)儲(chǔ)存時(shí)間越長

B。,。

35

.

垂直磁各向異性perpendicularmagneticanisotropyPMA

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