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光的干涉§1－9邁克爾孫干涉儀邁克爾孫干涉儀裝置圖M2′22￠11￠SS半透半反膜M1G1G2EM2G1G2E補(bǔ)償板的作用？由M2反射的光束可以當(dāng)作是從它虛像M2′反射過來的，這樣，發(fā)生干涉的光束相當(dāng)于M1與M2′之間的空氣薄膜反射形成的。邁克爾孫干涉儀原理圖(i1=0)M2M2/M1G2G1SAL2L1FPM2M1M2M2M2M2M2M2M2M2M2M1M1M1M1M1M1M1M1M1與重合等厚干涉條紋等傾干涉條紋邁克耳遜干涉儀的干涉條紋M2M1M2/L2FL1SAG1（分光板）G2（補(bǔ)償板）邁克爾孫干涉儀原理圖(i1≠0)空氣薄膜的類型對干涉花樣的影響邁克爾孫等傾干涉條紋邁克爾孫等厚干涉條紋hM2′M1h邁克爾孫干涉儀其光程差的計算與分振幅薄膜干涉相似。因為，不發(fā)生折射，所以，并且沒有半波損失（為什么？）利用此干涉儀進(jìn)行精密測量的公式：

以cosi2=1為例（即垂直入射）亮條紋公式化為：

2h=jλ

現(xiàn)在，我們使空氣層的厚度增加（或減少）λ/2，則有：

2(h±λ/2)=2h±λ=jλ±λ=(j±1)λ此式說明：使空氣層厚度增加（或減少）λ/2，則干涉條紋就增加（或減少）一級。如果在干涉場中數(shù)得條紋有N次改變（條紋級次改變N級），則空氣層厚度變化量為：Δh=Nλ/2邁克耳孫干涉儀的應(yīng)用：（1）測定了國際標(biāo)準(zhǔn)米尺的長度（2）精密測量：A、檢測棱鏡、透鏡的質(zhì)量。B、測量折射率。

C、測量角度。D、測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性（測震）。

E、研究光譜結(jié)構(gòu)。邁克爾孫干涉儀劈形空氣薄膜干涉（等厚干涉）問題的提出：請參閱P65：圖1-23§1－10法布里-珀羅干涉儀和多光

束干涉（Fabry-Perot）法布里-珀羅干涉儀示意圖

相鄰兩光束到達(dá)透鏡L2焦平面某一點時的光程差和位相差分別為:GG/A0

各光束的位相依次為（假設(shè)第一束光的位相為零）當(dāng)G和G′面的反射率很大時，各光束的振幅基本相等。設(shè)每束光的振幅為A0，等振幅多光束疊加的合振動的強(qiáng)度為:主最大最小值02πIN=4光強(qiáng)曲線0IN=4光強(qiáng)曲線4π-2π-4ππ/2π3π/2兩相鄰主最大值之間有N－1個最小值，N－2個次最大值。§1－11干涉現(xiàn)象的應(yīng)用牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象的應(yīng)用牛頓環(huán)垂直入射的單色光，經(jīng)

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