ICS81.060.20Y24TestMethodsforfeatureextractioI本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任。本文件由陶瓷藝術(shù)品鑒證委員會(huì)提出。本文件由景德鎮(zhèn)陶瓷協(xié)會(huì)歸口。本文件起草單位：景德鎮(zhèn)陶瓷大學(xué)、景德鎮(zhèn)陶瓷協(xié)會(huì)、景德鎮(zhèn)市市場(chǎng)監(jiān)督管理綜合檢驗(yàn)檢測(cè)中心、景德鎮(zhèn)市國(guó)資運(yùn)營(yíng)投資控股集團(tuán)有限責(zé)任公司、景德鎮(zhèn)官方溯源陶瓷藝術(shù)品運(yùn)營(yíng)管理有限公司、景德鎮(zhèn)弄子里文化發(fā)展有限公司。本文件主要起草人：方濤程昔恩張穎閔銳殷俊楊建鳴姚兢景甘俊杰朱鵬陶瓷藝術(shù)品特征提取方法內(nèi)部形貌結(jié)構(gòu)測(cè)試方法本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息采集技術(shù)與測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源認(rèn)證、驗(yàn)證活動(dòng)中陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部形貌結(jié)構(gòu)的認(rèn)證與驗(yàn)證測(cè)試。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的，凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修改版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T26835-2011無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線CT裝置通用技術(shù)條件GB/T17589-2011X射線計(jì)算機(jī)斷層攝影裝置質(zhì)量保證檢測(cè)規(guī)范GB4075密封放射源一般要求和分級(jí)T/JDZCA0007-2023陶瓷藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源認(rèn)證規(guī)程T/JDZCA0008-2023陶瓷藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源驗(yàn)證規(guī)程3術(shù)語(yǔ)3.1CT：computedtomographyX-rayscanner，計(jì)算機(jī)斷層掃描3.2POI點(diǎn)：PointOfInterest是指感興趣點(diǎn)。機(jī)器視覺、圖像處理中，從被處理的圖像以點(diǎn)的方式標(biāo)注出需要處理的區(qū)域，稱為感興趣點(diǎn)。3.3分辨率：在物體與背景在衰減程度上的差異與噪聲相比足夠大的情況下，CT成像時(shí)分辨不同大小物體的能力。3.4CT值：CTnumber，CT影像中每個(gè)像素對(duì)應(yīng)體素的X射線衰減平均值。注：CT值通常用Hounsfield作為單位,簡(jiǎn)稱HU。利用式(1),將測(cè)得的衰減值按照國(guó)際統(tǒng)一的Hounsfield標(biāo)度轉(zhuǎn)換為CT值。μ物質(zhì)——感興趣區(qū)物質(zhì)的線性衰減系數(shù)μ水——水的線性衰減系數(shù)3.5平均CT值：meanCTnumber，在一個(gè)斷層影像內(nèi)所有像素CT值的平均值4方法提要將陶瓷藝術(shù)品放入X射線CT裝置中掃描，得到樣品內(nèi)部各斷層信息，利用X-CT影像重建技術(shù)將其內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)唯一性特征，如孔洞、裂紋、泥釉縷等信息，予以采集并保存。5試劑和儀器5.1X射線CT裝置：符合GB/T26835-2011技術(shù)條件，并按照GB/T17589-2011檢測(cè)規(guī)范對(duì)設(shè)備裝置進(jìn)行穩(wěn)定性檢測(cè)。5.1.1輻射源：X射線機(jī)峰值射線能量≥160KeV。警告-如果使用放射性源，則應(yīng)該按照GB4075要求把它屏蔽起來(lái)。注意把放射源取出時(shí)，應(yīng)由經(jīng)過(guò)專門訓(xùn)練懂得防護(hù)技術(shù)的人員來(lái)完成。5.1.2分辨率：密度分辨率≤1%，空間分辨率≥2.0LP/mm。5.1.3樣品室：樣品臺(tái)大小能容下待測(cè)樣品并且五個(gè)方向要有不少于20cm的空隙。5.2乙醇：無(wú)水乙醇（分析純）。（注：不能使用對(duì)陶瓷藝術(shù)品有任何損害的試劑，如氫氟酸等）6測(cè)試步驟6.1檢查和清理待測(cè)樣品（如瓶、罐等器形樣品）內(nèi)是否有金屬等異物，避免偽影干擾。將待測(cè)樣品用無(wú)水乙醇（符合4.2要求）擦拭干凈并晾干，確保樣品表面無(wú)可見雜質(zhì)。6.2將待測(cè)樣品放置于X射線CT裝置樣品臺(tái)上，使用泡沫、膠帶等材料將樣品固定在樣品臺(tái)上，確保樣品在掃描過(guò)程中保持穩(wěn)定，拍照記錄其放置位置及角度。6.3設(shè)置掃描參數(shù)：6.3.1掃描模式：根據(jù)樣品尺寸、內(nèi)部特征類型選擇合適的掃描模式，如錐束掃描、扇束掃描、螺旋掃描等。6.3.2電流電壓：根據(jù)樣品材料的密度和厚度選擇合適的電流電壓，確保X射線能夠穿透樣品并獲得足夠的圖像對(duì)比度。6.3.3視野大小：視野大小需覆蓋到樣品整體。6.3.4分辨率：根據(jù)內(nèi)部特征大小設(shè)置合適的分辨率，為節(jié)省掃描時(shí)間，以能準(zhǔn)確分辨出內(nèi)部特征形貌，選擇最大分辨率為宜。6.4定位掃描：確定樣品掃描范圍覆蓋特征部位，層厚能穿透特征部位、層距能分辨出內(nèi)部特征。6.5斷層掃描：觀察斷層影像，根據(jù)斷層影像中的唯一性特征確定POI點(diǎn)，并記錄POI點(diǎn)所在斷層的坐標(biāo)信息，記錄各斷影像的平均CT值。6.6整體掃描：根據(jù)選定的掃描范圍、層厚、層距對(duì)整件樣品進(jìn)行掃描，記錄整體掃描的三維影像數(shù)據(jù)信息。7數(shù)據(jù)處理7.1將整體掃描數(shù)據(jù)保存為.stl格式文件；將包含POI點(diǎn)信息的斷層數(shù)據(jù)保存為.jpg圖片格式，并標(biāo)注出POI信息。7.2將整體掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行三維數(shù)據(jù)重建，保存陶瓷藝術(shù)品三維數(shù)據(jù)的平面三視圖（主