標準解讀

《GA/T 2078-2023 法庭科學 固體物證制樣 離子束法》是一項針對法庭科學領域內固體物證制樣的技術標準。該標準主要規定了使用離子束技術對固體物證進行制樣的方法,旨在為司法鑒定過程中提供更加準確、可靠的物證分析基礎。具體來說,它涵蓋了從樣品準備到最終分析的整個流程,包括但不限于:

  • 樣品的選擇與預處理:詳細描述了如何根據案件需求選取合適的固體物證樣本,并對其進行必要的清潔或切割等預處理步驟,以確保后續分析的有效性。
  • 離子束設備的操作指南:介紹了用于固體物證制樣的離子束設備的基本工作原理及其操作方法,包括參數設置建議和安全注意事項。
  • 制樣過程中的質量控制措施:強調在整個制樣過程中實施嚴格的質量控制程序的重要性,比如定期校準儀器、記錄實驗條件等,以保證結果的一致性和可重復性。
  • 數據處理與報告編寫:提供了關于如何正確解讀由離子束技術獲得的數據以及撰寫正式報告時應包含的關鍵信息等方面的指導。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。

....

查看全部

  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2023-03-01 頒布
  • 2023-12-01 實施
?正版授權
GA/T 2078-2023法庭科學固體物證制樣離子束法_第1頁
GA/T 2078-2023法庭科學固體物證制樣離子束法_第2頁
GA/T 2078-2023法庭科學固體物證制樣離子束法_第3頁
免費預覽已結束,剩余9頁可下載查看

下載本文檔

GA/T 2078-2023法庭科學固體物證制樣離子束法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS13310

CCSA.92

中華人民共和國公共安全行業標準

GA/T2078—2023

法庭科學固體物證制樣離子束法

Forensicsciences—Samplepreparationmethodsforsolidevidence—

Ionbeammilling

2023-03-01發布2023-12-01實施

中華人民共和國公安部發布

GA/T2078—2023

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由公安部刑事偵查局提出

本文件由全國刑事技術標準化技術委員會理化檢驗分技術委員會歸口

(SAC/TC179/SC4)。

本文件起草單位上海市公安局物證鑒定中心南京市公安局刑事科學技術研究所中國人民公安

:、、

大學公安部鑒定中心

、。

本文件起草人沈雯怡丁敏菊呂小寶趙曉雷王勇王磊楊瑞琴周正

:、、、、、、、。

GA/T2078—2023

法庭科學固體物證制樣離子束法

1范圍

本文件規定了法庭科學領域中采用離子束截面切割和離子束平面刻蝕對固體物證進行制樣的

方法

本文件適用于法庭科學領域中需要截面分析的固體粉末多層油漆片高分子薄膜層等物證的截面

、、

切割制樣以及需要平面檢測分析的金屬合金等物證的平面刻蝕制樣其他領域亦可參照使用

,、,。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

電氣火災原因技術鑒定方法第部分金相法

GB/T16840.44:

法庭科學微量物證的理化檢驗術語

GA/T242

3術語和定義

和界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T16840.4GA/T242。

31

.

離子束截面切割cross-sectionmilling

用離子束轟擊樣品表面以切割方式獲得樣品測試截面的制樣方法

,。

注截面切割通常應用于多層樣品以及斷面凹凸不平樣品的切割拋光制樣以獲得滿足測試分析要求的樣品截面

:,。

32

.

離子束平面刻蝕flatmilling

用離子束轟擊樣品表面以刻蝕方式獲得樣品測試截面的制樣方法

,。

注平面刻蝕通常應用于樣品表面材料的刻蝕拋光制樣以獲得滿足測試分析要求的樣品平面

:,。

4原理

使用高能離子槍轟擊樣品的頂面高能離子與待測樣品的頂部非晶層中的松散結合的表面原子相

,

互作用將其除去以獲得原有結構特征破壞小多層樣品層與層之間污染少的鏡面級平整的表面并暴

,、,

露樣品的亞表面結構在整個過程中通過調整離子能量電子束入射角等參數可以優化樣品制備時間

。,,

和表面質量

經離子束截面切割處理的固體粉末多層油漆片高分子薄膜層等物證可用掃描電子顯微鏡射

、、,/X

線能譜儀等設備觀察其截面層次結構和內部結構并進行元素分析

經離子束平面刻蝕處理的金屬物證可用金相顯微鏡掃描電子顯微鏡等設備觀察其內部結構金

,、、

相結構并為觀察通道襯度像和電子背散射衍射等分析提供樣品

,。

注根據本文件制得的截面樣品能用于掃描電子顯

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用,未經授權,嚴禁復制、發行、匯編、翻譯或網絡傳播等,侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本(可閱讀打印),因數字商品的特殊性,一經售出,不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質量問題。

評論

0/150

提交評論