ICS33.180.01

CCSM33

YD

中華人民共和國通信行業標準

YD/T4020.3—202X

城域接入用單纖雙向波分復用器

第3部分：LWDM

Singlefiberbi-directionalwavelengthdivisionmultiplexersformetroaccess

network-Part3:LWDM

（報批稿）

202X-XX-XX發布202X-XX-XX實施

中華人民共和國工業和信息化部發布

YD/T4020.3—202X

前??言

本文件按照GB/T1.1-2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規則》的規

定起草。

本文件是YD/T4020《城域接入用單纖雙向波分復用器》的第3部分。YD/T4020已經發布了以下

部分：

——第1部分：DWDM；

——第2部分：CWDM；

——第3部分：LWDM；

——第4部分：MWDM。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別專利的責任。

本文件由中國通信標準化協會提出并歸口。

本文件起草單位：中國電信集團有限公司、中國信息通信研究院、中興通訊股份有限公司、深圳市

中興新地技術股份有限公司、華為技術有限公司、中國信息通信科技集團有限公司、長飛光纖光纜股份

有限公司、深圳市迅特通信技術股份有限公司、東莞銘普光磁股份有限公司、江蘇亨通光電股份有限公

司、江蘇通鼎寬帶有限公司、中天寬帶技術有限公司、武漢網銳檢測科技有限公司，無錫市德科立光電

子技術股份有限公司，蘇州蘇駝通信科技股份有限公司。

本文件主要起草人：唐建軍、劉昊、劉璐、謝俊杰、盛夏、武成賓、孔祥君、蔣臣迪、李建、徐旺

生、薄生偉、魏志堅、陳聰、馬鈞、蘆國斌、張偉、傅曉明、王雷、許助勇。

III

YD/T4020.3—202X

引言

隨著5G網絡等建設的加速推進，單纖雙向波分復用技術在城域接入網絡建設中得到大規模使用，

成本、技術成熟度和網絡可維護性等因素推動多種波分復用技術并行發展。基于密集波分復用（DWDM）、

粗波分復用（CWDM）、細波分復用（LWDM）、中等波分復用（MWDM）技術的產品已經或即將投

入使用，這些技術的系統標準及部分器件業已發布或正在制定過程中，《城域接入用單纖雙向波分復用

器》規定其中重要的無源器件——波分復用器的性能、功能及測試方法。

考慮到上述多種波分復用器件在產品性能、功能、產品形態、測試方法等方面存在較大的差異，因

此將YD/T4020《城域接入用單纖雙向波分復用器》依據不同的技術方案分為以下四個部分：

——第1部分：DWDM。明確城域接入用單纖雙向密集波分復用器需要遵循的技術方案、產品形

態、技術參數、測試方法、可靠性試驗、檢驗規則等要求。

——第2部分：CWDM。明確城域接入用單纖雙向粗波分復用器需要遵循的技術方案、產品形態、

技術參數、測試方法、可靠性試驗、檢驗規則等要求。

——第3部分：LWDM。明確城域接入用單纖雙向細波分復用器需要遵循的技術方案、產品形態、

技術參數、測試方法、可靠性試驗、檢驗規則等要求。

——第4部分：MWDM。明確城域接入用單纖雙向中等波分復用器需要遵循的技術方案、產品形

態、技術參數、測試方法、可靠性試驗、檢驗規則等要求。

IV

YD/T4020.3—202X

城域接入用單纖雙向波分復用器

第3部分：LWDM

1范圍

本文件界定了城域接入用單纖雙向細波分復用器（以下簡稱“BiDi-LWDM”）的術語和定義，規

定了BiDi-LWDM的光纖類型、接口、波長分配、光學特性、傳輸性能、環保符合性等技術要求，描述

了相應的測試方法，規定了檢驗規則、標識、包裝、運輸和貯存等。

本文件適用于城域接入用單纖雙向細波分復用器的設計、開發、生產、測試和檢驗。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T2828.1計數抽樣檢驗程序第1部份：按接收質量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T9771.3通信用單模光纖

GB/T20440-2006密集波分復用器解復用器技術條件

GB/T26125-2011電子電氣產品六種限用物質（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴二苯醚）的

測定

GB/T26572-2011電子信息產品中有毒有害物質的限量要求

GB/T39560電子電氣產品中某些物質的測定

SJ/T11364-2014電子電氣產品有害物質限制使用標識要求

YD/T1272.1-2018光纖活動連接器第1部分：LC型

IEC61300-3-2:2009光纖互聯器件及無源組件-基本測試及測量程序第3-2部分：檢查及測量-單模

光纖器件偏振相關損耗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestand

measurementprocedures-Part3-2:Examinationandmeasurements–Polarizationdependentlossina

single-modefibreopticdevice)

IEC61300-3-29:2014光纖互聯器件及無源組件-基本測試及測量程序第3-29部分：檢查及測量

-DWDM器件的光譜傳遞特性(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestand

measurementprocedures-Part3-29:Examinationsandmeasurements-Spectraltransfercharacteristicsof

DWDMdevices)

TelcordiaGR-1209-CORE:2010光無源器件總規范（Genericrequirementsforpassiveoptical

components）

TelcordiaGR-1221-CORE:2010光無源器件一般可靠性保證要求（Genericreliabilityassurance

requirementsforpassiveopticalcomponents）

3術語和定義

下列術語和定義適用于本文件。

5

YD/T4020.3-202X

3.1

中心波長centralwavelength

從平均光功率損耗曲線的頂點向下3dB，與光功率損耗波形相交于兩點，兩交點之間寬度的二分之

一處的波長。

[來源：YD/T2000.2-2018，4.3]

3.2

波長對wavelengthpair

按照單纖雙向波長配對規則要求組合在一起的兩個波長。

[來源：YD/T4020.1-2022，3.1]

3.3

成對合分波器插損insertionlossofpairedMUXandDMUX

配合使用的兩個合分波器構成的每個波長通道的插入損耗，單位為分貝（dB）。

注：單只由TFF技術構成的BiDi-LWDM，其波長通道的插入損耗與波長對應的濾波片所處位置相關，將兩只波長

位置排序顛倒的合分波器配合使用，可以使所有波長通道的總插入損耗保持較好的均勻性。

[來源：YD/T4020.1-2022，3.2]

3.4

成對合分波器插損均勻性uniformityofinsertionlossofpairedMUXandDMUX

成對使用的兩個合分波器構成的所有波長通道的插損的最大值和最小值之差，單位為分貝（dB）。

[來源：YD/T4020.1-2022，3.3]

3.5

插入損耗insertionloss

某一通道的插入損耗定義為：在規定的工作溫度范圍內，考慮了偏振特性后光功率損耗曲線（包括

光功率損耗最大、最小兩條曲線）上所對應ITU-T通道帶寬內的最大損耗值，單位為分貝（dB）。

[來源：YD/T2000.2-2018，4.5]

3.6

帶寬bandwidth

從該通道最小光功率損耗曲線的頂點向下ndB(n=0.5,1,3,20...)時與光功率損耗波形的交點之間的

寬度。ITU-T中心波長距離交點之間的寬度為半帶寬，當帶寬不以ITU-T中心波長為對稱時，按照較小

半帶寬的2倍計算。

3.7

單纖雙向波分復用器singlefiberbi-directionalwavelengthdivisionmultiplexers

按照本文件6.3節規定的波長分配要求，同時實現波長的復用和解復用功能，且至少在線路端實現

單纖雙向傳輸的波分復用器。圖1為線路端使用單纖雙向、支路端使用雙纖雙向連接的BiDi-LWDM示

意圖。

注：相關工作原理參見附錄A。

6

YD/T4020.3—202X

波長對

λ1、λn+1

λ1λ2…λn…λ2n

λi、λn+iBiDi-LWDM單纖雙向

線路端

λn、λ2n

支路端/雙纖雙向

圖1支路端非單纖雙向的BiDi-LWDM

3.8

相鄰通道隔離度adjacentchannelisolation

在某一特定通道上該通道輸出光功率對相鄰通道輸出光功率的抑制比，用dB來表示。

[來源：GB/T20440-2006，3.2.16]

3.9

非相鄰通道隔離度non-adjacentchannelisolation

某一特定通道上該通道輸出光功率對非相鄰的其他通道輸出光功率的抑制比，用dB表示。

[來源：GB/T20440-2006，3.2.16]

3.10

方向性directivity

從輸入支路端口i到其他支路端口j的傳輸損耗，單位為分貝（dB）。可用公式(1)表示：

…………（1）

式中：????=10lg?(??/?j)

Pi——為輸入支路i的輸入光功率，輸入信號波長為該支路的工作波長，單位為毫瓦（mW）；

Pj——為其他支路j的輸出光功率，單位為毫瓦（mW）。

[來源：YD/T4020.1-2022，3.11]

3.11

波長熱穩定性wavelengththermalstability

表征波分復用器件通道中心波長在規定的工作溫度范圍內隨溫度變化而產生的漂移量/變化量，通

常表示為每單位溫度（℃）的波長漂移量，即nm/℃。

[來源：GB/T20440-2006，3.2.18]

3.12

插入損耗熱穩定性insertionlossthermalstability

表征波分復用器件通道插入損耗在規定的工作溫度范圍內隨溫度變化而產生的變化量，通常表示為

每單位溫度（℃）的波長漂移量，即dB/℃。

[來源：GB/T20440-2006，3.2.19]

7

YD/T4020.3-202X

4縮略語

下列縮略語適用于本文件。

AAU有源天線單元（ActiveAntennaUnit）

BiDi單纖雙向（Bi-Directional）

CWDM粗波分復用器（CoarseWavelengthDivisionMultiplexer）

DMUX解復用器（Demultiplexer）

DU分布單元（DistributedUnit）

DWDM密集波分復用器（DenseWavelengthDivisionMultiplexer）

LWDM細波分復用器（LANWavelengthDivisionMultiplexer）

MUX復用器（Multiplexer）

MWDM中等波分復用器（MediumWavelengthDivisionMultiplexer）

OPM光功率計（OpticalPowerMeter）

PDL偏振相關損耗（PolarizationDependentLoss）

SSE源自發輻射（SourceSpontaneousEmission）

TFF薄膜濾波片(ThinFilmFilter）

TLS可調諧光源（TunableLightSource）

WDM波分復用器（WavelengthDivisionMultiplexer）

5分類

5.1按傳輸距離應用分

按傳輸距離應用可分為：

——中距應用，用于10km以內且線路端無50:50分光的場景；

——長距/超長距應用，用于15km以內且線路端無分光的場景，或線路端有50:50分光的場景。

5.2按封裝方式分

按封裝方式可分為：

——帶適配器型，可進一步細分為機架式、托盤式、插片式等子類型；

——連接器插頭型。

5.3按工作溫度范圍分

按工作溫度范圍可分為：

——室外型：-40℃~+70℃；

——室內型：-5℃~+65℃。

5.4其他分類

按線路端是否提供分光信號輸出可分為：

——帶分光信號輸出型；

——不帶分光信號輸出型。

注：提供分光功能的BiDi-LWDM工作原理參見附錄A。

6技術要求

8

YD/T4020.3—202X

6.1光纖類型

BiDi-LWDM應使用非色散位移單模光纖，光纖應符合GB/T9771.3（B1.3類）的要求。

6.2接口要求

對于帶適配器型，接口應為LC型，適配器接口應符合YD/T1272.1-2018的規定。

對于連接器插頭型，線路側接口應為LC型，支路側尾纖特征參見B.4。

6.3波長分配

BiDi-LWDM兩個通信方向分別為遠端到局端方向和局端到遠端方向，共計6波長對。波長配對關

系應符合表1規定，其中每一行的兩個波長為配對波長。

表1BiDi-LWDM波長通道分配表

遠端到局端局端到遠端

標稱中心頻率標稱中心波長標稱中心頻率標稱中心波長

波長編號波長編號

THznmTHznm

L01236.21269.23L07231.41295.56

L02235.41273.54L08230.61300.05

L03234.61277.89L09229.81304.58

L04233.81282.26L10229.01309.14

L05233.01286.66L11228.21313.73

L06232.21291.10L12227.41318.35

6.4光學特性

6波長對BiDi-LWDM的光學特性應符合表2要求。

表26波長對光復用器參數及要求

指標

參數名稱單位

中距長距/超長距

中心波長nm應符合表1

中心波長偏差（最大）nm±1.1

1dB帶寬nm≥2.3

插入損耗dB≤3.5≤3a

通帶平坦度bdB≤0.5

成對合分波器插損dB≤4.5≤4a

成對合分波器插損均勻性dB≤1.5

相鄰通道隔離度dB≥25

非相鄰通道隔離度dB≥30

方向性dB≥50

偏振相關損耗dB≤0.3

9

YD/T4020.3-202X

表26波長對光復用器參數及要求（續）

指標

參數名稱單位

中距長距/超長距

回波損耗dB≥40

波長熱穩定性nm/℃≤0.002

插入損耗熱穩定性dB/℃≤0.007

工作溫度范圍℃室外型：-40～+70

室內型：-5～+65

存儲溫度℃-40～+85

a在長距/超長距應用場景中，對于線路端帶50:50光耦合器的BiDi-LWDM，插入損耗在該數值基礎上增加3.3dB。

b通帶是以BiDi-LWDM中心波長為中心，向左、右兩側分別擴展1.1nm的帶寬。通帶內平均光功率損耗曲線的最大

值和最小值之差為通道平坦度。

6.5封裝結構

BiDi-LWDM封裝結構參見附錄B。

6.6波長信息標識

所有端口的波長信息應按以下方式在面板對應位置（或對應尾纖）清楚標識：

a）線路端以COM字符標識；

b）支路端使用表1的波長編號標識，同時可以使用字母T和R分別表示發送和接收等方向信息標識；

c）對于監視端口，使用MON字符標識；

d）對于具有主干光路保護倒換功能的波分復用器，線路端以COM字符標識工作通道，以PRO字符

標識保護通道。

6.7環保符合性

BiDi-LWDM組成單元分類應符合GB/T26572—2011中表1的規定。有毒有害物質的限量要求按

GB/T39560（所有部分）或GB/T26125—2011規定的方法進行檢測，應符合GB/T26572—2011中表2

的要求。

7測試方法

7.1測試環境要求

測試環境要求如下：

——溫度：15℃～35℃；

——相對濕度：45%～75%；

——大氣壓力：86kPa～106kPa。

當不能在標準大氣條件下進行測試時，應在測試報告上寫明測試環境條件。

7.2測試儀器

7.2.1波長可調光源

測試中所用的光源為波長可調諧光源（TLS），性能指標應滿足：

10

YD/T4020.3—202X

——波長范圍：根據工作波長選擇適當的波長，波長連續可調，步長≤3pm；

——輸出功率穩定度：優于±0.02dB（靜態及波長動態掃描條件下觀察時長1hour）；

——波長精度：優于±10pm（靜態及波長動態掃描條件下）；

——波長重復性：≤0.5pm（靜態及波長動態掃描條件下）；

——波長穩定性：優于±3pm（靜態及波長動態掃描條件下觀察時長15min）；

——信號對源自發輻射（SSE）比：≥60dB（SSE帶寬為1nm條件下）；

——邊模抑制比：≥45dB；

——輸出光功率：≥+3dBm。

7.2.2光功率計

光功率計應滿足：

——工作波長范圍：根據工作波長選擇適當的波長；

——光功率最大動態范圍：-80dBm～+20dBm（連續光）；

——分辨率：≤0.01dB；

——準確度：±3.5%；

——偏振相關性：≤0.02dB；

——對多通道光功率計，除滿足上述各條要求外，所有通道間功率測量結果相對差≤0.1dB。

7.2.3偏振控制器

偏振控制器應滿足：

——工作波長范圍：根據工作波長選擇適當的波長；

——邦加球覆蓋率：≥99%；

——偏振相關損耗：≤0.005dB；

——最大允許輸入光功率：+20dBm。

7.2.4回波損耗測試儀

回波損耗測試儀應滿足：

——工作波長：1260nm～1320nm，且在此波長范圍內連續可調；

——測試范圍：0dB～60dB；

——測試精度：優于±1dB。

7.2.5其他測試儀

對于使用諸如波長計等進行波長精度監視來維持波長精度而不依賴TLS波長精度的測試系統，應滿

足以下要求：

——波長范圍：滿足測試需要的波長范圍要求，波長連續可調，步長≤3pm；

——波長精度：優于±10pm；

——波長重復性：優于1pm；

——插損測試動態范圍：70dB。

對于BiDi-LWDM的測試，也可以使用寬譜光源和光譜分析儀等測試儀器，應滿足以下要求：

——波長范圍：1260nm～1320nm；

——波長精度：優于±10pm；

——波長重復性：優于1pm；

——光源功率譜密度：≥-17dBm/nm；

11

YD/T4020.3-202X

——功率譜密度穩定性：優于0.05dB；

——光譜分析儀動態范圍：90dB；

——光功率測量范圍：-90dBm～+10dBm；

——光功率精度：優于±0.05dB。

7.3中心波長、中心波長偏差、ndB帶寬、通帶平坦度、插入損耗、插入損耗均勻性、相鄰通道隔離

度、非相鄰通道隔離度、偏振相關損耗、波長熱穩定性、插入損耗熱穩定性

7.3.1測試框圖

測試框圖如圖2所示。

觸發輸入

觸發輸出

.多通道測試軟件

可調諧光源偏振.

BiDi_LWDM.光功率計通信連接

（TLS）控制器

（OPM）

溫度試驗箱

圖2插入損耗譜測試配置

7.3.2測試步驟

測試步驟如下：

a）清潔所有光連接的端面及適配器，按圖2虛線連接，TLS連接至多通道OPM的任意通道x；

b）設置TLS的波長掃描范圍為1267nm～1320nm，掃描波長點數至少為掃描波長范圍寬度（單

位為nm）乘以300/nm；

c）分別設置偏振控制器為四種偏振態：（1）水平線性偏振，（2）垂直線性偏振，（3）45°線性

偏振，（4）右旋圓偏振，在每種偏振態下啟動波長掃描，并在觸發信號作用下同步測量OPM

通道x的每個波長點的光功率，得到測試波長范圍內TLS輸出功率隨波長變化曲線數據P1(λ)、

P2(λ)、P3(λ)、P4(λ)，單位為毫瓦（mW），其中下標數字代表偏振態的序號；

d）確保除圖2虛線所示光連接器外的其他所有光連接及儀表連接狀態不變，按圖2實線連接，設

置溫度試驗箱的溫度值t為23℃并啟動溫箱，等待溫箱溫度達到設定值；

e）在步驟c)相同的四種偏振態下分別啟動TLS波長掃描，并同步測量OPM所有通道的每個波長

點的光功率，得到測試波長范圍內待測試器件每個通道輸出功率隨波長變化曲線數據Pi1(λ)、

Pi2(λ)、Pi3(λ)、Pi4(λ)，單位為毫瓦（mW），其中下標中數字為偏振態序號，i為通道序號；

f）對步驟c）及e）所獲得的每個波長通道掃描數據，按照IEC61300-3-2：2009的計算方法，根

據以下公式（1）～（8）計算得到Mueller矩陣的m11(λ)、m12(λ)、m13(λ)、m14(λ)元素；

……………（1）

??1?=??1(?)/?1(?)……………（2）

??2?=??2(?)/?2(?)

12

YD/T4020.3—202X

……………（3）

??3?=??3(?)/?3(?)……………（4）

??4?=??4(?)/?4(?)……（5）

?11?=∣[??1?+??2?]/2∣……（6）

?12(?)=∣[??1????2?]/…2∣……（7）

………（8）

?13(?)=∣??3???11?∣

式中Ti1、Ti2、Ti3、Ti4分別為通道序號i的4種偏振態條件下的傳輸系數；

?14(?)=∣??4???11?∣

g）按照IEC61300-3-29:2014的Mueller矩陣計算方法，根據以下公式（9）～（11）分別計算最

大、最小、平均傳輸系數Timax(λ)、Timin(λ)、Tiave(λ)，其中下標首字母i為波長通道序號，然后

根據公式（12）計算得到以分貝（dB）為單位的每個波長通道的最大、最小、平均插入損耗譜

曲線ILimax()、ILimin()、ILiave()，見圖3所示；根據公式(13)計算PDL隨波長變化的曲線PDLi(λ)；

λλλ…（9）

222

??????=?11?+[?12?+?13?+?14?]…（10）

222

??????=?11??[?12?+?…1…3…?…+…?…14…?…]…（11）

??????=??????+…??…???…?……/2………（12）

???=?10???(??)………（13）

h）根據相關參數的定義??和??計λ算=方?法???，?從?(每λ)個?波??長???通?(道λ)插入損耗譜曲線中得到每個波長通道的中心

波長、中心波長偏差、ndB帶寬、通帶平坦度、插入損耗、插入損耗均勻性、相鄰通道隔離度、

非相鄰通道隔離度等測試結果,從PDL(λ)曲線中計算PDL測試結果；

圖3BiDi-LWDM波長通道插入損耗譜示意圖

i）分別設置溫度試驗箱的溫度值t為待測器件的工作溫度范圍下限值tmin和上限值tmax，待溫度值

到達設定值后30min，重復步驟e）~h），當TLS功率長期穩定性（超過1h）不足時，重復步

驟為a)～h）；得到每個波長通道在工作溫度范圍下限和上限點對應的中心波長和插入損耗；

j）找出三個溫度點對應的每個波長通道的中心波長最大值和最小值，并計算二者之差為Δλi，單位：

13

YD/T4020.3-202X

nm，則每個通道中心波長溫度熱穩定性等于Δλi除以tmax減tmin的差值，單位：nm/℃；

k）找出三個溫度點對應的每個波長通道的插入損耗最大值和最小值，并計算二者之差為ΔILi，單

位：dB，則每個通道插入損耗溫度熱穩定性等于ΔILi除以tmax減tmin的差值，單位：dB/℃。

7.4成對合分波器插損、成對合分波器插損均勻性

7.4.1測試框圖

測試框圖如圖4所示。

觸發輸入

觸發輸出

.

.多通道測試軟件

.

可調諧光源.

BiDi-LWDMBiDi-LWDM.

.光功率計通信連接

（TLS）12

（OPM）

長度L=1m

注：圖中BiDi-LWDM1與BiDi-LWDM2為成對使用器件。

圖4成對合分波器插損測試配

7.4.2測試步驟

測試步驟如下：

a）按圖4虛線連接，TLS連接至多通道OPM的任意通道x，設置TLS的波長掃描范圍為1267nm～

1320nm，掃描波長點數至少為掃描波長范圍寬度（單位為nm）×300/nm；

b）在觸發信號作用下同步測量OPM通道x的每個波長點的光功率，得到測試波長范圍內TLS輸

出功率隨波長變化曲線數據P0(λ)，單位：dBm；

c）按圖4實線連接，TLS連接BiDi-LWDM1的通道i；

d）用OPM測量BiDi-LWDM2的通道i的光功率隨波長變化曲線數據Pi(λ)，單位：dBm；

e）計算P0(λ)減Pi(λ)得到通道i的成對合分波器插損譜ILi(λ)，在標稱中心波長的通帶內找出插損

最大值即為通道i的成對合分波器插損，單位：dB；

f）改變i值，重復步驟a）～e），直到完成所有波長通道的測試；

g）找出所有波長通道的成對合分波器插損的最大值和最小值之差，即為成對合分波器插損均勻性。

7.5回波損耗

按GB/T20440-2006中5.4.6的規定進行測試。

7.6方向性

7.6.1測試框圖

14

YD/T4020.3—202X

測試框圖如圖5所示。

.多通道測試軟件

可調諧光源.

BiDi-LWDM.光功率計通信連接

（TLS）

無回損（OPM）

終端

圖5方向性測試配置

7.6.2測試步驟

測試步驟如下：

a）按圖5虛線連接，設置TLS輸出波長對應待測試器件通道波長i，測量TLS輸出光功率P0，單

位：dBm；

b）按圖5實線連接，將待測器件波長通道i連接TLS，其余波長通道連接至OPM的各通道，WDM

的線路端及分光口（如果有）連接無回損終端；

c）用OPM測量所有連接通道的光功率Pdj，j為待測試器件與OPM連接的波長通道號，單位：dBm；

d）計算各通道對波長通道i的方向性為P0減去Pdj的差值，單位：dB；

e）改變i值，重復步驟a）～d），直到完成所有波長通道的方向性測試。

8可靠性試驗

BiDi-LWDM產品可靠性試驗包括機械完整性試驗和環境溫度耐久性試驗，按表3要求進行。

表3BiDi-LWDM可靠性試驗要求

批內允許抽允許

試驗項目名稱參考章、條試驗條件不合格品樣失效合格判據

率(%)數數

Telcordia

加速度500g，脈沖持續時間1

GR-1221-CO

機械沖擊ms，5次/每方向，方向X1、X2、20110

機RE:2010

、、、。1）插入損耗變化

械Y1Y2Z1Z2

6.2.1量≤0.5dB；

完2）其它性能參數

整滿足表2要求；

性3）不得有機械損傷，

如變形、龜裂、松弛

試Telcordia

加速度20g，振動頻率20Hz～等現象。

驗GR-1221-CO

變頻振動2000Hz，4min/每循環，4循環/20110

RE:2010

每軸向，方向X、Y、Z。

6.2.2

15

YD/T4020.3-202X

表3（續）BiDi-LWDM可靠性試驗要求

批內允許抽允許

試驗項目名稱參考章、條試驗條件不合格品樣失效合格判據

率(%)數數

負載4.41N，扭轉±180°,10個循

Telcordia

環，距離殼體22cm～28cm或

GR-1209-CO

光纖扭曲c光纖尾端起10cm處，取短者20110

RE:2010

（250μm涂敷光纖、緊套光纖不

5.4.3.2

機要求）。1）插入損耗變化

械松套光纖拉力負載4.41N（除量≤0.5dB；

Telcordia

完250μm涂敷光纖、緊套光纖的側2）其它性能參數

GR-1209-CO

整光纖側拉c拉力負荷為2.25N外），側拉20110滿足表2要求；

RE:2010

性90°,時間5s，3次，距離殼體223）不得有機械損傷，

5.4.3.3

試cm～28cm。如變形、龜裂、松弛

驗負載：9.8N（除250μm涂敷光等現象。

Telcordia

纖或緊套光纖負載為4.41N外），

光纖光纜GR-1209-CO

保持時間1min，距離殼體2220110

保持力cRE:2010

cm～28cm或光纖尾端起10cm

5.4.3.4

處，取短者。

Telcordia

溫度85℃，相對濕度＜40%RH，

高溫貯存GR-1221-CO20110

持續時間2000h。

RE:20106.2.4

溫度75℃、相對濕度85%或溫

Telcordia

度85℃，相對濕度85%，COa

恒定濕熱GR-1221-COR20110

貯存時間500h、UNCb貯存時

E:20106.2.5

間2000h。

環

Telcordia

境1）插入損耗變化

低溫貯存dGR-1221-COR-40℃，貯存時間1000h。20110

溫量≤0.5dB；

E:20106.2.6

度2）其它性能參數

耐COa，溫度范圍-40℃～+70℃，滿足表2要求；

久溫度變化速率>10℃/min，極限3）不得有機械損傷，

性溫度下的停留時間≥15min，100如變形、龜裂、松弛

Telcordia

試次循環；等現象。

溫度循環GR-1221-COR20110

驗UNCb，溫度范圍-40℃～

E:20106.2.7

+70℃，溫度變化速

率>10℃/min，極限溫度下的停

留時間≥15min，500次循環。

Telcordia溫度范圍+65℃～+25℃～

濕熱循環GR-1221-COR-10℃，高溫時濕度90%，低溫20110

E:20106.2.8濕度不控制，循環10次。

注：每項試驗不需進行在線監控，只需進行試驗前后插入損耗的測試，計算出變化量，依據變化量來判斷合格與

否。

aCO——可控環境。

bUNC——非可控環境。

c僅適用于連接器插頭型。

d僅適用于UNC環境的產品。

9檢驗規則

16

YD/T4020.3—202X

9.1出廠檢驗

9.1.1日常檢驗

該檢驗是生產廠家對全部產品進行的檢驗，其檢驗數據應隨同產品提交給用戶。BiDi-LWDM需要

進行日常檢驗的項目是：外觀、插入損耗、插入損耗均勻性、通帶平坦度、中心波長、中心波長偏差、

帶寬、相鄰通道隔離度、非相鄰通道隔離度、偏振相關損耗、回波損耗。檢驗方法按照第7章中相關測

試方法執行。

9.1.2抽樣檢驗

由質量部門從一個生產批或幾個生產批（這些生產批是在基本相同的材料、工藝、設備等條件制造）

的產品抽取樣品進行檢驗。抽樣檢驗項目同9.1.1條，檢驗方法見第7章。抽樣方案按GB/T2828.1規

定，檢驗水平IL=Ⅱ、允許質量水平AQL=1.0。

9.2型式檢驗

9.2.1檢驗條件

有下列情況之一時，應進行型式檢驗：

a）產品定型時或已定型產品轉場；

b）正式生產后，如結構、材料、工藝有較大改變，可能影響產品性能時；

c）產品長期停產12個月后，恢復生產時；

d）出廠檢驗結果與產品定型時的型式檢驗有較大差別時；

e）正常生產24個月后；

f）國家質量監督機構提出進行型式檢驗要求時。

9.2.2型式檢驗要求

在進行型式檢驗前，應按表3的要求，對樣品的性能參數進行測試，并記錄測試結果。

9.2.3檢驗項目及抽樣方案

型式檢驗的檢驗項目及抽樣方案見表3。

9.2.4產品不合格的判定

各項試驗完成后，若其中任何一項試驗不符合表3所示的合格判據時，則判該批不合格。

9.2.5不合格批的重新提交

對不合格分組的產品，可進行返工，以糾正缺陷或篩除失效