光網絡測試培訓－光時域反射儀篇鏈路損耗測試光源光功率計鏈路損耗測試：直接方法-光源、光功率計方法鏈路損耗測試：間接方法-OTDR法OLP－6鍵盤開關鍵波長選擇鍵dBm：絕對功率dB：相對功率，應用于損耗測量保持一段時間可歸“0”，作為損耗測試起始點OLP－6測試接口采用2.5mm通用接口，適合FC、SC、ST、DIN等2.5mm插芯接頭OLP－6電源開機或關機時，瞬間顯示電池容量，如圖，容量為30％電池電量低告警電池裝入光功率計操作要點選擇與光源對應的波長檢查被測光纖：是否存在過度彎曲，纏繞等，會影響功率測試微彎會造成光泄露，使光功率偏低甚至無信號連接部位是否緊密注意：長時間不用儀表應取出干電池，以免漏液造成腐蝕儀表。OLS－6鍵盤開關鍵波長選擇鍵調制方式OLS－6接口1310nm1550nm采用雙端口輸出，每個輸出口對應唯一的波長。接口標準配置為FC型。OLS－6輸出波長選擇1310nm輸出1310nm輸出1550nm1310nm/1550nm雙波長輪發OLS-6調制信號輸出輸出“連續波”（損耗測試必須采用）輸出“270Hz”調制信號（主要用于對纖）輸出“1kHz”調制信號（主要用于對纖）輸出“2kHz”調制信號（主要用于對纖）AutoTest模式（可使OLP－6自動檢測到光源輸出波長）OLS－6電源開機或關機時，瞬間顯示電池容量，如圖，容量為30％電池電量低告警電池裝入光源操作要點選擇需要測試的波長連接部位是否緊密確定應用，選擇發送波形式連續波（CW）－用于損耗測試調制波（MOD）－用于對纖注意：長時間不用儀表應取出干電池，以免漏液造成腐蝕儀表。光纖線路測量－損耗鏈路損耗測量意義：鏈路的全程損耗，是否符合設計光程預算。單位：dB測試儀器：直接方法：光源、光功率計間接方法：光時域反射儀（OTDR）光損耗測試-直接方法原理性方法－剪斷法測量損耗－差值光纖跳線光源光功率計被測光纖光源光功率計12校準P1P2損耗=|P1-P2|光損耗測試-替代方法1測量損耗－差值光纖跳線光源光功率計被測光纖光源光功率計12校準P1P2損耗=|P1-P2|不切斷光纖，將光纖跳線直接取下。將被測光纖直接替換校準用光纖跳線。光損耗測試-替代方法2測量損耗－差值光纖跳線光源光功率計被測光纖光源光功率計12校準P1P2損耗=|P1-P2|將中間一段光纖跳線直接取下。將被測光纖直接替換中間一段光纖跳線。光源、光功率計方法測試光纖損耗注意事項光源設置為連續波（CW）。光源與光功率計波長一致。兩個步驟。校準和測量缺一不可。兩個步驟之間，光源不要關閉。我們現有光源輸出相對時間相對穩定。輸出精度較差。每次<開>、<關>輸出功率不一樣。典型錯誤方法：省略校準步驟。用光功率計讀數減去光源額定輸出。光損耗測試-間接方法光時域反射儀（OTDR）測試方法dBkm**dB起始反射結束端與測試結束點電平的高度差避讓首個反射峰接入光纖輔助OTDR法測試鏈路損耗測試方法-接入輔助光纖連接點輔助光纖被測光纖dBkmxxdB接入光纖輔助測量全段光纖損耗，無長度損失。光纖線路測量－纖長鏈路長度（纖長）測試儀器：光時域反射儀（OTDR）獲得光纖長度信息，作為最重要的檔案信息。輔助配盤。輔助衰減測量。dBkm**km光纖線路測量－衰減系數光纖衰減系數測量（平均損耗）測試儀器：光時域反射儀（OTDR）意義：評價鏈路質量。衰減＝鏈路損耗/長度dB/km兩種評價方法：兩點衰減：即為《兩點損耗/長度》；（A－B）兩點LSA衰減：為降低曲線波動性影響，而采取的數學分析方法。在兩點間取一條近似逼近直線。（A’－B’）A’ABB’逼近線光纖線路測量－插入損耗插入損耗測量測試儀器：光時域反射儀（OTDR）意義：連接點的損耗值，對應熔接點即為熔接損耗。dBkm事件前后軌跡的高度差即為插入損耗光纖線路測量－反射連接器反射測量測試儀器：簡單評價：光時域反射儀（OTDR）精確測量：光回損測試儀意義：評價連接器的連接質量。特別在有線網絡和PON網絡中，至關重要。dBkm反射事件前端與反射峰的高度差光纖線路測量－故障位置故障位置查找測試儀器：光時域反射儀OTDR輔助手段：可見光故障定位儀（紅光光源）dBkm故障的位置信息，**km處斷裂或其他事件光纖線路測量－光功率光功率測量測試儀器：光功率計單位：dBm、mwdBm＝10lg（P1/1mw）dB=10lg(P1/P2)意義：最為常規的測量，光纖測量的基礎內容。應注意調整校準波長，在校準波長上測量才能獲得準確的測試結果。光接收機靈敏度測量光接收機靈敏度測量測試儀器：誤碼率：光功率計、可變光衰減器、2M誤碼儀光功率低告警：光功率計、可變光衰減器可變光衰減器光發射機光接收機2M光功率計RXTX靈敏度測量點

DWDM測量色度色散(CD)意義：由于波長的不同引起的色散，造成收端脈沖展寬極化模式色散或偏振模色散(PMD)意義：由于光沿不同軸向傳輸，路徑不同（沿快軸的路徑短，沿慢軸的路徑長），造成收端脈沖展寬。經常會變化的屬性。光譜分析意義：分析光譜分布，確定波長中心頻率、及偏移等參數光纖線路測量－DWDMJDSUOTDR操作指南通測科技MTS6000測試平臺SDH10GOTN10G以太網10GFiberChannel波譜衰減OSACD/PMD主界面SYSTEM：系統設置FILE：文件SETUP：測試設置RESULTS：結果頁SCRIPT：宏操作START/STOP：測量鍵游標確認鍵開關鍵的操作與儀表提示對應即可接口電源接口USB接口U盤存儲鼠標鍵盤打印機網絡接口（RJ45）FTP下載測試文件遠程控制SYSTEM選擇OTDR功能模塊選擇后OTDR選項變成黃色系統設置：儀表參數背景光、對比度、屏保、語言、日期時間、接口、打印機設置等幫助頁：儀表信息，型號序列號/選件狀態專家工具：升級、遠端顯示、U盤格式化等脫機結果：視頻顯微鏡桌面應用：文檔讀取SYSTEM－測量功能選擇選擇對應的功能模塊，按確認鍵(原點)，變為黃色即可。！告警：功能未選擇或未裝入所需模塊

MTS6000-SYSTEM－幫助頁選件信息主機序列號、模塊序列號版本退出MTS6000：FILE瀏覽復制粘貼刪除文件瀏覽文件設置存儲MTS6000：FILE設置文件瀏覽文件設置如自動存儲選項選“是”請打開配合選項，“光纖號遞增”FILE-文件操作流程文件保存FILE－設置/文件瀏覽－設置－存儲跡線文件瀏覽FILE－設置/文件瀏覽－文件瀏覽文件載入FILE－設置/文件瀏覽－文件瀏覽－選擇文件－裝入文件名命名規則FILE－設置/文件瀏覽－設置－文件命名跡線方向FILE－設置/文件瀏覽－設置－方向SETUP-測量設置SETUP－采樣操作：上下－項目移動；左右－選項/數值變化采樣模式：專家、自動、故障定位專家：手動自動：自動故障定位：以獲取長度信息等簡單信息為目的。OTDR簡化測試。激光器：1310nm、1550nm、全部全部：雙波長測試脈寬－脈寬越大，測量距離越遠，盲區也越大。3ns最小（近），20us最大（遠）范圍－超過被測光纖即可，建議1.5~2倍。過大的范圍設置影響距離精度。分辨率－設置采樣間隔，越小距離精度越高。自動：折中策略高動態：以獲得更大的動態范圍為目的，采樣點少而稀。高分辨率：以獲得更好的距離精度為目的，采樣點多而密。采樣時間－即平均時間，時間越長動態范圍越好（距離越遠）。建議最小30秒，最大3分鐘SETUP－測量測量檢測－OTDR對事件的判別門限，建議不自己設定。折射率：常數，影響距離精度（曲線橫軸）。散射系數：常數，影響損耗精度（曲線縱軸）。導引光纜：即接入輔助光纖時起點，可設定從事件位置開始或設定距離。將0km點偏移到被測光纖起點。SETUP－結果顯示結果顯示告警說明SectionLossUnit：段損耗單位（dB/km或dB）跡線上顯示結果－不/全部/只顯示圖形柵格單位Colors－顏色RESULTS-結果頁事件表測試曲線標識線數據欄RESULTS-結果頁-事件非反射事件：熔接點、彎曲反射事件：物理連接結束點：帶反射結束、不帶反射結束偽增益：雙向測試，相加取平均RESULTS-結果頁-鬼影曲線實際鏈路中不存在的反射分析鬼影，判斷真正結束點輔助手動分析，獲取鏈路參數鬼影RESULTS-事件表-關鍵信息事件標識距離信息連接損耗反射衰減系數段距離累計損耗非反射事件：熔接點、彎曲反射事件：物理連接結束點：帶反射結束、不帶反射結束關鍵信息：結束點位置：距離（長度）累計損耗衰減系數RESULTS-標識線應用-手動分析A、B標識線信息：橫軸縱軸A到B信息：A-B：距離A-B：衰減系數A-B：累計損耗自動測試可以承擔大部分測量任務，但不一定會獲得最佳測試結果。手動測試是自動測試缺陷的彌補。在一些極限情況下，建議采用手動分析。如，短光纖、鬼影曲線等。尤其是自動分析未能準確判斷出結束點曲線。RESULTS-操作事件/跡線：事件：標識線跳到下一個事件跡線：屏幕跳到下一條跡線縮放/移動：縮放：放大、縮小跡線；上下鍵縱軸，左右鍵橫軸移動：移動跡線光標：A、B、AB跡線/表格：跡線和事件表的切換縮放自動：畫面自動變換到有效跡線（非全范圍）設置事件：人為添加事件（事件修正）高級：后續RESULTS－操作-高級多跡線顯示手動測量斜率（衰減）回損反射五點法鎖定/解除鎖定（事件）刪除/自動：原點鍵確認操作刪除測量結果自動分析曲線OTDR測試原則測量方法雙波長測量：區分熔接點和彎曲。雙向測量：雙向損耗結果和修正偽增益。接入光纖：輔助鏈路損耗測量。參數選擇原則波長：首選1550nm測試。1550nm測試距離更遠1550nm測試時對彎曲更加敏感脈寬：能夠看到跡線全貌，盡量選小的脈寬。平均時間（采樣時間）：30～180秒分辨率：采樣間隔的設置，采樣間隔越小距離精度越高。對曲線采樣密集后，也會引入更多噪聲，影響動態范圍。一般選自動即可。雙波長測試意義：分辨彎曲和熔接點原理：波長越大對微彎越敏感，也就是波長越大插入損耗值越大。方法：比較在兩個波長上的測試結果，如果插入損耗值相差過大，可以判斷為彎曲。常用測試方法a)b)d)c)小知識為什么微彎會有較大損耗？答：如果彎曲半徑太小，會造成彎曲部位發生光泄露，造成光能量損失。所以會有較大損耗。可以使用“紅光光源”驗證。雙向測試主要意義：修正偽增益帶來的測試誤差。方法：雙向測量損耗值相加取平均（注意：不是絕對值相加，而是帶有正負號相加；或者說應該絕對值相減取平均）其他意義：盲區的彌補雙向曲線比較幫助修正漏測事件常用測試方法典型操作－選擇OTDR選擇OTDR模塊功能進入SYSTEM，選擇對應的功能模塊，按