大物實驗——雙棱鏡干涉實驗一、實驗目的1、觀察雙棱鏡產生的干涉現象，掌握獲得雙光束干涉的一種方法。2、用雙棱鏡測定光波波長。二、儀器用具半導體激光器、擴束鏡、可調狹縫、光闌（自備）、雙棱鏡、成像屏、測微目鏡、米尺三、原理：

菲涅爾雙棱鏡是在一塊玻璃薄板上，將其上表面加工成兩塊楔形板，楔角很小，棱與端面垂直。上圖是雙棱鏡產生光的干涉現象的原理圖，激光光源M發生的光束經擴束鏡L后，均勻的照射在可調狹縫S上形成線狀光源，有狹縫射出的光波通過雙棱鏡B后，其波前便分割成兩部分，各自向不同方向傳播。這相當于兩個相干的虛光源S1和S2所發出的柱面波，在它們相互疊加的區域內發生干涉，屏上形成平行于狹縫、等間距的明、暗交替的干涉條紋。由于干涉條紋寬度很小，實驗中使用測微目鏡進行測量，這時觀測屏就是測微目鏡的焦平面（分劃板）。至于公式中的d值可用透鏡二次成像的辦法求出：即在雙棱鏡與測微目鏡之間放置一會聚透鏡L2，只要D>4f（大致測一下透鏡焦距），當前后移動透鏡時，就可以在兩個不同位置上，通過測微目鏡觀測到虛光源S1、S2的一個放大的和一個縮小的實像，若測得放大實像間距為d1、縮小的實像間距為d2，則兩虛光源之間距離d有四、實驗步驟1.各光學元件的共軸調解（1）調節激光束平行于光具座沿導軌移動白屏，觀察屏上激光光點的位置是否改變，相應調解激光方向，直至在整根導軌上移動白屏時光點的位置不再變化，至此激光光束與導軌平行。（2）調雙棱鏡與光源共軸將雙棱鏡插于橫向可調支座上進行調節，使激光點打在棱脊正中位置，此時雙棱鏡后面的白屏上應觀察到兩個等亮并列的光點，這兩個光點的質量對虛光源像距b及b’的測量至關重要。此后將雙棱鏡置于距激光器約30cm的位置。（3）粗調測微目鏡與其它元件等高共軸將測微目鏡放在距雙棱鏡約70cm處，調節測微目鏡，使光點穿過其通光中心。此時激光尚未擴束，決不允許直視測微目鏡內的視場，以防激光灼傷眼睛。（4）粗調凸透鏡與其他元件等高共軸將凸透鏡插于橫向可調支座上，放在雙棱鏡后面，調節透鏡，使雙光點穿過透鏡的正中心。（5）用擴束鏡使激光束變成點光源在激光器與雙棱鏡之間距雙棱鏡20cm處放入擴束鏡并進行調節，使激光穿過擴束鏡。在測微目鏡前放置偏振片，旋轉偏振片是測微目鏡內視場亮度適中。（你認真做物理實驗的一瞬間，真像路邊貼手機膜的.........）（6）用二次成像法細挑調凸透鏡與測微目鏡等高共軸通過“大像追小像”，不斷調節透鏡和測微目鏡位置，直至虛光源大、小像的中心與測微目鏡叉絲重合。（7）干涉條紋調整去掉透鏡，適當微調雙棱鏡，使通過測微目鏡觀察到清晰的干涉條紋。2.波長的測量（1）測條紋間距△x。連續測量20個條紋的位置xi。如果視場內干涉條紋沒有布滿，則可對測微目鏡的水平位置略作調整；視場太暗可旋轉偏振片調亮。（2）測量虛光源縮小像間距b及透鏡物距S。提示：測b時應在鼓輪正反向前進時，各做一次測量。注意：i)不能改變擴束鏡、雙棱鏡及測微目鏡的位置；ii)用測微目鏡讀數時要消空程。（3）用上述同樣方法測量虛光源放大像間距b’及透鏡物距S’。五．數據處理六．總結這個實驗最難的部分就是等高共軸的調節。調節