電子元器件的老化測(cè)試為了到達(dá)滿足的合格率，幾乎全部產(chǎn)品在出廠前都要先藉由老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時(shí)間的條件下提高其效率？本文介紹在老化過(guò)程中進(jìn)展功能測(cè)試的方案，以降低和縮短老化過(guò)程所帶來(lái)的本錢(qián)和時(shí)間問(wèn)題。在半導(dǎo)體業(yè)界，器件的老化問(wèn)題始終存在各種爭(zhēng)論。像其它產(chǎn)品一樣，半導(dǎo)體隨時(shí)可能由于各種緣由而消滅故障，老化就是藉由讓半導(dǎo)體進(jìn)展超負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)消滅，避開(kāi)在使用早期發(fā)生故障。假設(shè)不藉由老化，很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造制程簡(jiǎn)單性等緣由在使用中會(huì)產(chǎn)生很多問(wèn)題。在開(kāi)頭使用后的幾小時(shí)到幾天之內(nèi)消滅的缺陷〔取決于制造制程的成熟程度和器件總體構(gòu)造〕稱100老化制程必需要確保工廠的產(chǎn)品滿足用戶對(duì)牢靠性的要求，除此之外，它還必需能供給工程數(shù)據(jù)刻的試驗(yàn)使故障盡早消滅，典型的半導(dǎo)體壽命曲線如右圖。由圖可見(jiàn)，主要故障都消滅在器件壽命周期開(kāi)頭和最終的格外之一階段。老化就是加快器件在其壽命前10%部份的運(yùn)行過(guò)程，迫使早期故障在更短的時(shí)間內(nèi)消滅，通常是幾小時(shí)而不用幾月或幾年。不是全部的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠商對(duì)全部器件都需要進(jìn)展老化。一般器件制造由于對(duì)生產(chǎn)制程比較了解，因此可以預(yù)先把握藉由統(tǒng)計(jì)得出的失效估量值。假照實(shí)際故障率高于預(yù)期值，就需要再作老化，提高實(shí)際牢靠性以滿足用戶的要求。本文介紹的老化方法與10年前幾乎一樣，不同之處僅僅在于如何更好地利用老化時(shí)間。提高溫度、增加動(dòng)態(tài)信號(hào)輸入以及把工作電壓提高到正常值以上等等，這些都是加快故障消滅的通常做法；但假設(shè)在老化過(guò)程中進(jìn)展測(cè)試，則老化本錢(qián)可以分?jǐn)傄徊糠莸焦δ軠y(cè)試上，而且藉由對(duì)故障點(diǎn)的監(jiān)測(cè)還能收集到一些有用信息，從總體上節(jié)約生產(chǎn)本錢(qián)，另外，這些信息經(jīng)統(tǒng)計(jì)后還可證明找出某個(gè)器件全部早期故障所需的時(shí)間是否適宜。過(guò)去的老化系統(tǒng)進(jìn)展老化的第一個(gè)緣由是為了提高半導(dǎo)體器件的牢靠性，目前為止還沒(méi)有其它的替代方法。老化照舊是在高溫室〔125℃左右〕內(nèi)進(jìn)展，給器件加上電子偏壓，大部份時(shí)候還使用動(dòng)態(tài)驅(qū)動(dòng)信號(hào)。很多公司想削減或者全部取消老化，但是他們又找不到其它牢靠的替代方法能夠在產(chǎn)品到達(dá)客戶之前把有早期故障的剔除掉，所以看來(lái)老化還會(huì)長(zhǎng)期存在下去。半導(dǎo)體生產(chǎn)廠商另外也期望藉由老化做更多的事，而不是鋪張貴重時(shí)間被動(dòng)地等待組件送來(lái)做老化。過(guò)去的老化系統(tǒng)設(shè)計(jì)比較簡(jiǎn)潔。10年以前，老化就是把一個(gè)器件插入老化板，再把老化板放入老化室，給老化板加上直流偏壓〔靜態(tài)老化〕并上升溫度，168個(gè)小時(shí)之后將器件取出進(jìn)展測(cè)試。假設(shè)經(jīng)100%測(cè)試后仍舊性能完好，就可以保證器件質(zhì)量牢靠并將其發(fā)送給用戶。假設(shè)器件在老化時(shí)消滅故障，則會(huì)被送去故障分析試驗(yàn)室進(jìn)展分析，這可能會(huì)需要幾周的時(shí)間。試驗(yàn)室供給的數(shù)據(jù)將用來(lái)對(duì)設(shè)計(jì)和生產(chǎn)制程進(jìn)展微小調(diào)整，但這也說(shuō)明對(duì)可能消滅的嚴(yán)峻故障實(shí)行補(bǔ)救措施之前生產(chǎn)已進(jìn)展了幾個(gè)星期。目前工程師們找了一些方法，對(duì)器件進(jìn)展長(zhǎng)時(shí)間錯(cuò)誤掩蓋率很高的老化，甚至還對(duì)器件作一些測(cè)試。但圓滿的是沒(méi)有人能解決老化的根本問(wèn)題，即削減本錢(qián)與時(shí)間。于是半導(dǎo)體制造商們承受了另一種老化方式：在老化中進(jìn)展功能測(cè)試。為什么要在老化時(shí)進(jìn)展測(cè)試試”的真正含義。一般半導(dǎo)體測(cè)試要用到昂貴的高速自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，在一個(gè)電性能條件可調(diào)的測(cè)試臺(tái)上對(duì)半導(dǎo)體作測(cè)試。它還可疑在標(biāo)稱性能范圍之外進(jìn)展，完成功能〔規(guī)律〕和參數(shù)〔速度〕方面的測(cè)試，像信號(hào)升降時(shí)間之類的參數(shù)可準(zhǔn)確到皮秒級(jí)。或許是由于可控測(cè)試環(huán)境只有一個(gè)器件作為電性負(fù)載，所以信號(hào)轉(zhuǎn)換很快，能夠進(jìn)展真實(shí)的器件響應(yīng)參要求，可把多個(gè)器件裝在一個(gè)大的印刷線路板上，這個(gè)板稱為老化板，它上面的全部器件都并聯(lián)在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和只測(cè)試一個(gè)器件的小測(cè)試臺(tái)相比，由于老化板上的容性和感性負(fù)載會(huì)給速度測(cè)試帶來(lái)麻煩。所以我們通常無(wú)法用老化進(jìn)展全部功能測(cè)試。不過(guò)在某些狀況下，運(yùn)用特別的系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)在老化環(huán)境下進(jìn)展速度測(cè)試也是可能的。老化系統(tǒng)中的“測(cè)試”可以指任何方面，從對(duì)每一器件每一管腳進(jìn)展根本信號(hào)測(cè)試，到對(duì)老化板上的全部器件作幾乎100任何器件進(jìn)展100%功能測(cè)試都是可以做得到的，但是這樣承受的方法可能會(huì)削減老化板上的器件密度，從而增加整體本錢(qián)并降低產(chǎn)量。在老化中進(jìn)展測(cè)試的好處有：將耗時(shí)的功能測(cè)試移到老化中可以節(jié)約昂貴的高速測(cè)試儀器的時(shí)間。如果老化后只進(jìn)展參數(shù)測(cè)試及很少的功能測(cè)試，那么用現(xiàn)有設(shè)備可測(cè)試更多器件，僅此一點(diǎn)即可抵消因承受老化測(cè)試方案而發(fā)生的費(fèi)用。到達(dá)預(yù)期故障率的實(shí)際老化時(shí)間相對(duì)更短。過(guò)去器件進(jìn)展首批老化時(shí)都要先藉由168小時(shí)，這是人們期望覺(jué)察全部早期故障的標(biāo)準(zhǔn)起始時(shí)間，而這完全是由于手頭沒(méi)有器件數(shù)據(jù)所致。在隨后的半年期間，這個(gè)時(shí)間會(huì)不斷縮短，直到用試驗(yàn)和誤差分析方法得到實(shí)際所需的老化時(shí)間為止。在老化同時(shí)進(jìn)展測(cè)試則可以藉由檢查老化系統(tǒng)生成的實(shí)時(shí)記錄準(zhǔn)時(shí)覺(jué)察產(chǎn)生的故障。盡快把握老化時(shí)間可提高產(chǎn)量，降低器件本錢(qián)。準(zhǔn)時(shí)對(duì)生產(chǎn)制程作出反響。器件故障有時(shí)直接對(duì)應(yīng)于某個(gè)制造制程或者某生產(chǎn)設(shè)備，在故障發(fā)生時(shí)準(zhǔn)時(shí)了解信息可馬上解決可能存在的制程缺陷，避開(kāi)制造出大量不合格產(chǎn)品。確保老化的運(yùn)行狀況與期望相符。藉由監(jiān)測(cè)老化板上的每個(gè)器件，可在老化一開(kāi)頭時(shí)就先更老化測(cè)試系統(tǒng)類型在內(nèi)部開(kāi)發(fā)了一些供他們自己使用的此類系統(tǒng)。大多數(shù)系統(tǒng)都承受計(jì)算機(jī)作主機(jī)，用于數(shù)據(jù)采集和電LED作為狀態(tài)指示器，需要人工來(lái)收集數(shù)據(jù)。為了能對(duì)老化板上的每一器件作獨(dú)立測(cè)試，必需要在老化系統(tǒng)掌握下將每個(gè)器件與其它器件進(jìn)展電性隔離。內(nèi)存件格外適合于這種場(chǎng)合，由于它們被設(shè)計(jì)成按簇方式使用并帶有多路選通訊號(hào)，而規(guī)律器件則可能無(wú)法使用選通訊號(hào)，這使得在老化系統(tǒng)中設(shè)計(jì)通用規(guī)律測(cè)試會(huì)更難一些。因此針對(duì)不同器件類型存在不同的規(guī)律老化系統(tǒng)是很正常的。老化測(cè)試系統(tǒng)可歸為兩大類：規(guī)律器件和內(nèi)存。規(guī)律器件測(cè)試系統(tǒng)又可分為兩類：平行和串行；同樣，內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)也可分為兩類：非易失性和易失性。規(guī)律器件老化測(cè)試規(guī)律器件老化測(cè)試是兩類系統(tǒng)中難度最大的，這是由于規(guī)律產(chǎn)品具有多功能特性，而且器件上可能還沒(méi)有選通訊號(hào)引腳。為使一種老化測(cè)試系統(tǒng)適應(yīng)全部類型的規(guī)律器件，必需要有大量的輸入輸出引線，這樣系統(tǒng)才能生成多引腳器件通常所需的多種不同信號(hào)。老化系統(tǒng)還要有一個(gè)驅(qū)動(dòng)板，作為每個(gè)信號(hào)通路的引腳驅(qū)動(dòng)器，它一般承受較大的驅(qū)動(dòng)電流以抑制老化板的負(fù)載特性。輸出信號(hào)要確保能夠?qū)π枳骼匣娜魏纹骷愋瓦M(jìn)展處理。假設(shè)老化板加載有問(wèn)題，可以將其分隔成兩個(gè)或更多的信號(hào)區(qū)，但是這需要將驅(qū)動(dòng)板上的信號(hào)線數(shù)量增加一倍。大多數(shù)平行輸出信號(hào)利用專用規(guī)律、預(yù)編程EPROM、或可重編程及可下載SRAM產(chǎn)生，用SRAM的好處是可利用計(jì)算機(jī)重復(fù)編程而使老化系統(tǒng)適用于多種產(chǎn)品。規(guī)律器件老化測(cè)試主要有兩種實(shí)現(xiàn)方法：平行和串行，這指的是系統(tǒng)的輸入或監(jiān)測(cè)方式。一般來(lái)說(shuō)全部規(guī)律器件測(cè)試系統(tǒng)都用平行方式把大量信號(hào)傳給器件，但用這種方式進(jìn)展監(jiān)測(cè)卻不能將老化板上的每一個(gè)器件分別出來(lái)。平行測(cè)試法平行測(cè)試是在老化過(guò)程中進(jìn)展器件測(cè)試最快的方法，這是由于有多條信號(hào)線連在器件的輸入輸出端，使數(shù)據(jù)傳輸量到達(dá)最大，I/O線的輸入端由系統(tǒng)測(cè)試部份掌握。平行測(cè)試有三種根本方式：各器件單項(xiàng)選擇、單引腳信號(hào)返回和多引腳信號(hào)返回。各器件單項(xiàng)選擇法假設(shè)老化板上的器件可以和其它器件分別開(kāi)，系統(tǒng)就可藉由選擇方法分別連到每一個(gè)器件上，如使用片選引腳，全部器件都并聯(lián)起來(lái)，一次只選中一個(gè)器件生成返回信號(hào)〔2〕。系統(tǒng)供給特地的器件選擇信號(hào)，在測(cè)試過(guò)程中一次選中一個(gè)，老化時(shí)全部器件也可同時(shí)被選并接收同樣的數(shù)據(jù)。用這種方法每個(gè)器件會(huì)輪番被選到，器件和老化系統(tǒng)之間的大量數(shù)據(jù)藉由并行總線傳輸。該方法的局限是選中的器件必需抑制老化板及其它非選中器件的容性和感性負(fù)載影響，這可能會(huì)使器件在總線上的數(shù)據(jù)傳輸速度下降。單引腳信號(hào)返回這個(gè)方法里全部器件都并聯(lián)在一起，但每個(gè)器件有一個(gè)信號(hào)返回引腳除外，全部器件同時(shí)進(jìn)入工作狀態(tài)，由系統(tǒng)選擇所監(jiān)測(cè)的器件并讀取相應(yīng)的信號(hào)返回線。該方法類似于串行測(cè)試法，但信號(hào)引腳一般它存在器件內(nèi)以供測(cè)試之用，假設(shè)器件沒(méi)有自檢而只是單純由系統(tǒng)監(jiān)測(cè)它的一個(gè)引腳，那么測(cè)試可信度將會(huì)大大降低。多引腳信號(hào)返回該方法和單引腳信號(hào)返回類似，但是從每個(gè)器件返回的信號(hào)更多。由于每個(gè)器件有更多信號(hào)返回線，所以這種方法要用到多個(gè)返回監(jiān)測(cè)線路。而又由于必需要有大量返回線路為該方法專用，因此會(huì)使系統(tǒng)總體本錢(qián)急劇增加。沒(méi)有內(nèi)部自檢而且又格外簡(jiǎn)單的器件可能就需要用這種方法。串行測(cè)試法每個(gè)器件通常都并聯(lián)在一起。該方法用于有肯定處理功能并可藉由一條信號(hào)返回線反映各種狀態(tài)的器件。測(cè)試時(shí)傳送的數(shù)據(jù)必需進(jìn)展譯碼，因此老化板上應(yīng)有數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。RS-232C或同等協(xié)議一種串行監(jiān)測(cè)方法是在老化板上承受全雙工RS-232C通訊協(xié)議，全部器件的其它支持信號(hào)〔如時(shí)鐘和復(fù)位〕都并聯(lián)在一起〔3〕。RS-232C〔TxD〕通常也連到全部器件上，但同時(shí)也支持老化板區(qū)域分隔以進(jìn)展多路再使用傳輸。RS-232C〔RxD〕，該端口在驅(qū)動(dòng)板上可以多路再RxD線路進(jìn)展監(jiān)控，每個(gè)器件都會(huì)被選到，系統(tǒng)則將得到的數(shù)據(jù)與預(yù)留值進(jìn)展比較。這種測(cè)試系統(tǒng)通常要在驅(qū)動(dòng)板上使用微處理器，以便能進(jìn)展RS-232C邊界掃描〔JTAG〕規(guī)律器件老化的最趨勢(shì)是承受IEEE1149.1規(guī)定的方法。該方法也稱為JTAG或邊界掃描測(cè)試，它承受五線制〔TCK、TDO、TDI、TMS及TRST〕電子協(xié)議，可以和平行測(cè)試法相媲美。承受這種方法時(shí)，JTAG測(cè)試端口和整個(gè)系統(tǒng)必需要設(shè)計(jì)到器件的內(nèi)部。器件上用于JTAG測(cè)試的電路屬于專用測(cè)試口，用來(lái)對(duì)器件進(jìn)展測(cè)試，即使器件裝在用戶終端系統(tǒng)上并已開(kāi)頭工作以后，該測(cè)試口還可以使用。一般而言，JTAG映像器件的某一功能或特性，于是，訪問(wèn)器件的某種狀態(tài)只需將該緩存器的狀態(tài)數(shù)據(jù)串行移位至輸出端即可。JTAG端口串行移位到器件內(nèi)部。IEEE1149.1JTAG內(nèi)存老化內(nèi)存老化和測(cè)試的線路實(shí)現(xiàn)起來(lái)相對(duì)簡(jiǎn)潔一些，全部器件藉由統(tǒng)一方式寫(xiě)入，然后單獨(dú)選中每個(gè)器件，將其存入的數(shù)據(jù)讀出并與原來(lái)的值比照。由于具有掌握和數(shù)據(jù)采集軟件以及故障數(shù)據(jù)評(píng)估報(bào)告算法，所以內(nèi)存老化測(cè)試對(duì)生產(chǎn)商格外有用。大多數(shù)內(nèi)存件支持多個(gè)選通引腳，因而老化測(cè)試系統(tǒng)承受簇方式讀回?cái)?shù)據(jù)。某些系統(tǒng)具有很寬的數(shù)據(jù)總線，每一簇可同時(shí)讀取多個(gè)器件，再由計(jì)算機(jī)主機(jī)或類似的機(jī)器對(duì)器件進(jìn)展劃分。增加老化板上的平行信號(hào)數(shù)量可提高速度，削減同一條平行信號(hào)線所連器件數(shù)，并且降低板子和器件的負(fù)載特性。易失性內(nèi)存〔DRAM和SRAM〕易失性內(nèi)存測(cè)試起來(lái)是最簡(jiǎn)潔的，由于它無(wú)需特別算法或時(shí)序就可進(jìn)展屢次擦寫(xiě)。一般是全部器件先同時(shí)寫(xiě)入，然后輪番選中每個(gè)器件，讀回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)展比較。DRAM老化測(cè)試能夠?yàn)楹鬁y(cè)制程節(jié)約大量時(shí)間。刷出有缺陷的儲(chǔ)存單元。將這部份測(cè)試放入老化意味著老化后的測(cè)試制程不必再進(jìn)展這種很費(fèi)時(shí)的檢測(cè)，從而節(jié)約了時(shí)間。非易失性內(nèi)存〔EPROM和EEPROM〕非易失性內(nèi)存測(cè)試起來(lái)比較困難，這是由于在寫(xiě)入之前必需先將里面的內(nèi)容擦除，這樣使得系統(tǒng)算法更困難一些，通常還必需使用特別電壓來(lái)進(jìn)展擦除。不過(guò)其測(cè)試方法根本上是一樣的：把數(shù)據(jù)寫(xiě)入內(nèi)存再用更簡(jiǎn)單的算法將其讀回。老化測(cè)試系統(tǒng)性能有很多因素會(huì)影響老化測(cè)試系統(tǒng)的整體性能，下面是一些主要方面：1．首先是測(cè)試方法的選擇。抱負(fù)的狀況是器件在老化制程上花費(fèi)的時(shí)間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速消滅，因此能快速進(jìn)展反復(fù)測(cè)試的系統(tǒng)可削減總體老化時(shí)間。每單位時(shí)間里內(nèi)部節(jié)點(diǎn)切換次數(shù)越多，器件受到的考驗(yàn)就越大，故障也就消滅得更快。2．老化板互連性、PCB設(shè)計(jì)以及偏置電路的簡(jiǎn)單性。老化測(cè)試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速測(cè)試，但是，假設(shè)機(jī)械連接或老化板本身特性會(huì)減弱信號(hào)質(zhì)量，那么測(cè)試速度將會(huì)是一個(gè)問(wèn)題。如像過(guò)多機(jī)電性連接會(huì)增大整個(gè)系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設(shè)計(jì)不良會(huì)產(chǎn)生噪聲和串?dāng)_、而很差的引腳驅(qū)動(dòng)器設(shè)計(jì)則會(huì)使快速信號(hào)沿所需的驅(qū)動(dòng)電流大小受到限制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶頸，另外由于負(fù)載過(guò)大并存在阻抗、電路偏置以及保護(hù)組件值的選擇等也會(huì)使老化的性能受到影響。3．計(jì)算機(jī)接口與數(shù)據(jù)采集方式。有些老化測(cè)試系統(tǒng)承受分區(qū)方法，一個(gè)數(shù)據(jù)采集主機(jī)掌握多個(gè)老化板，另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實(shí)際狀況來(lái)看，單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù)，而且可能還具有更大的測(cè)試產(chǎn)量。對(duì)高速測(cè)試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換力量。有些老化測(cè)試系統(tǒng)有自己的測(cè)試語(yǔ)言，對(duì)需要做100%節(jié)點(diǎn)切換的被測(cè)器件不用再開(kāi)發(fā)程序；而有些系統(tǒng)能夠把高速測(cè)試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應(yīng)用上，可以在老化過(guò)程中進(jìn)展更準(zhǔn)確的測(cè)試。系統(tǒng)供給參數(shù)測(cè)試的力量。假設(shè)老化測(cè)試系統(tǒng)能進(jìn)展一些速度測(cè)試，那么還可得到其它一些相關(guān)失效數(shù)據(jù)以進(jìn)展牢靠性爭(zhēng)論，這也有助于精簡(jiǎn)老化后測(cè)試制程。6．依據(jù)時(shí)間動(dòng)態(tài)轉(zhuǎn)變測(cè)試參數(shù)的力量，如電壓與頻率。件構(gòu)造，直流電壓偏置及動(dòng)態(tài)信號(hào)的功率變動(dòng)都可加速消滅晚期壽命故障。7．計(jì)算機(jī)主機(jī)與測(cè)試系統(tǒng)之間的通訊。RS-232C或者類似協(xié)議，而另一些系統(tǒng)則使用雙向并行總線系統(tǒng)，大大提高了數(shù)據(jù)流通率。完畢語(yǔ)在老化過(guò)程中進(jìn)展測(cè)試會(huì)帶來(lái)一些本錢(qián)問(wèn)題，但最困難的是找出一個(gè)測(cè)試方法完成器件全部可能這樣老化硬件線路就可保持不變。對(duì)內(nèi)存而言，在小批量狀況下，最好是能有一種對(duì)易失性和非易失性內(nèi)存都能進(jìn)展處理的測(cè)試系統(tǒng)；而在大批量狀況下，則最好是承受不同的系統(tǒng)以降低本錢(qián)。References：FinnJensenandNielsErikPetersen,“Burn-In,AnEngineeringApproachtotheDesignandAnalysisofBurn-InProcedures,“JohnWileyandSons,1982.LarryW.Friedrich,“UnisysSystemBurn-InRequirementsandBurn-InImplementation,“NepconWestPresentations,VolumeII,1994.所謂老化試驗(yàn)是在不破壞產(chǎn)品失效的根底上施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力Arrhenius方程不同。SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t]式中，SS——篩選強(qiáng)度R——高溫與室溫〔25℃〕的差值t——恒定高溫持續(xù)時(shí)間〔h〕由瑞典物理化學(xué)家*阿列紐斯于1889年提出。他依據(jù)范特荷甫等容方程式與*質(zhì)量作用定律，從平衡常數(shù)與溫度的關(guān)系以及與正、逆反響速度常數(shù)的關(guān)系，推斷反響速度常數(shù) 與溫度( )的關(guān)系為：，或 。式中為前因子，又稱*頻率因子， 為反響的阿列紐斯*活化能。假設(shè) 不變，將前式積分，可得

，即以試驗(yàn)測(cè)得的速度常數(shù)取對(duì)數(shù)(

)后對(duì)溫度的倒數(shù)〔〕作圖，可得始終線，從直線的斜率可求得

，故 又稱為“閱歷活化能”。該公式一般適用于單相或多相系統(tǒng)，但也有例外，對(duì)某些簡(jiǎn)單反響不適用，如爆炸反響、酶反響等。老化工作環(huán)境，使它們內(nèi)部的潛在故障加速暴露出來(lái)，然后進(jìn)展電氣參數(shù)測(cè)量，篩選剔除那些失效或變值的元器件，盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。老化篩選的指導(dǎo)思想是，經(jīng)過(guò)老化篩選，有缺陷的元器件會(huì)失效，而優(yōu)質(zhì)品能夠通過(guò)。這里必需留意試驗(yàn)方法正確和外加應(yīng)力適當(dāng)，否則，可能對(duì)參與篩選的元器件造成不必要的損傷。目前我司使用的老化篩選工程有高溫儲(chǔ)存老化、凹凸溫循環(huán)老化、凹凸溫沖擊老化和高溫功率老化等。下面把各個(gè)試驗(yàn)方法作一簡(jiǎn)要介紹：、高溫儲(chǔ)存老化15016848小時(shí)。、凹凸溫循環(huán)老化：把器件置于-5515255分鐘，再置于1501510次。、凹凸溫沖擊老化：把器件置于05分鐘，然后取出馬上置于1005分鐘，接0510次。、高溫功率老化：對(duì)于一般整流管、開(kāi)關(guān)管等施加80VR額定電壓，然后置于125℃的環(huán)境中168小時(shí)，考慮到我司實(shí)際狀況，目前是置于10548小時(shí)；對(duì)穩(wěn)壓管我司目前是施加66％的功率置7048小時(shí)。二極管的加速壽命試驗(yàn)加速壽命試驗(yàn)是指承受加大應(yīng)力的方法促使樣品在短期內(nèi)失效，以推測(cè)在正常工作條件或儲(chǔ)存條件下的可靠性，但不轉(zhuǎn)變受試樣品的失效分布。通過(guò)加速壽命試驗(yàn)可到達(dá)以下目的：、在較短時(shí)間里，對(duì)高牢靠元器件的牢靠性水平進(jìn)展評(píng)估，可用外推法快速推測(cè)在規(guī)定