標準解讀

《GB/T 7509-1987 半導體集成電路微處理器空白詳細規范(可供認證用)》是一項國家標準,旨在為半導體集成電路中的微處理器提供一個詳細的空白規范模板。此標準適用于希望為其生產的微處理器產品制定具體技術規格的制造商,并且這些規格可以作為第三方認證的基礎。

該標準涵蓋了微處理器的基本特性、功能要求、電氣參數、測試方法以及質量保證等方面的內容。通過遵循這份文檔所設定的框架,企業能夠更加系統地描述其產品的性能指標和工作條件,從而便于用戶理解和選擇適合他們需求的微處理器產品。此外,它還促進了行業內對于微處理器產品質量的一致性理解與評價,有利于推動整個半導體行業向著更高水平發展。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 1987-03-25 頒布
  • 1987-11-01 實施
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GB/T 7509-1987半導體集成電路微處理器空白詳細規范(可供認證用)_第1頁
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文檔簡介

UDC621.38.049.774L56中華人民共和國國家標準GB7509-87半導體集成電路微處理器空白詳細規范Biankdetailspecificationformicroprocessorsemiconductorintegratedcircuits(可供認證用)1987-03-25發布1987-11-01試行家標準國高發布

中華人民共和國國家標準UDC621.38半導體集成電路微處理器.049.774GB7509-87空白詳細規范Blankdetailspecificatlonformicroprocessorsemiconductorintegratedcircuits(可供認證用)本規范規定了編制半導體集成電路微處理器(以下簡稱器件)詳細規范的基本原則。本規范是與GB4589.1一84《半導體集成電路總規范》有關的一系列空白詳細規范之一。要求的資料下列D~Q項要求的內容與首頁表中各欄資料相對應,編制詳細規范時應填寫在相應的欄中詳細規范的識別)發布詳細規范的國家標準化機構名稱。圖)IECQ詳細規范的編號。圖總規范號和年代號。)詳細規范的國家編號、發布日期及國家標準體系需嬰的資料。器件的識別@器件類型。G)典型結構和應用資料。如果設計的器件是多用途的,應在詳細規范中說明。這些用途對器件所要求的特性和檢驗都應得到滿足。如果器件屬靜電敏感型,應在詳細規范中注明。外形圖和(或)與外形有關的參考文件。圖質量評定類別。Q)能在各類器件之間進行比較的最重要的性能參考數據。【本規范中,中括號所列內容僅供指導編制詳細規范用,不必在詳細規范中列出】。本規范中,“x”表示當特性或額定值適用時應在詳細規范中填寫的值。(x):表示適用

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