ICS17.040.20J04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7234—2004代替GB/T7234—1987產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)圓度測量術(shù)語、定義及參數(shù)GeometricalProductSpecifications(GPS)-MeasurementofroundnessTerms.definitionsandparametersofroundness2004-11-11發(fā)布2005-07-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T7234-2004前本標(biāo)準(zhǔn)是對GB/T7234—1987《圓度測量術(shù)語、定義及參數(shù)》標(biāo)準(zhǔn)的修訂。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T7234—1987相比主要變化如下：-給出了標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，使標(biāo)準(zhǔn)更完善。標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容與產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)標(biāo)準(zhǔn)體系協(xié)調(diào)一致。如對國標(biāo)中的“軌跡輪席、實際輪廊、濾波器波數(shù)范圍”等術(shù)語定義作了相應(yīng)的修改。在標(biāo)準(zhǔn)編寫格式上按新的GB/T1.1的規(guī)定作了相應(yīng)的修改。本標(biāo)準(zhǔn)附錄A為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：機械科學(xué)研究院、北京計量科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王欣玲、陳月祥、吳迅。本標(biāo)準(zhǔn)于1987年2月首次發(fā)布。

GB/T7234-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)圓度測量術(shù)語、定義及參數(shù)1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有關(guān)圓度測量的術(shù)語、定義及參數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于確定圓度誤差的計量學(xué)術(shù)語附錄A給出了測量過程圖例和坐標(biāo)系統(tǒng)規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T3505—2000產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廊法：表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語、定義及參數(shù)(cqvISO4287:1997GB/T6062-2002產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廊法接觸（觸針)式儀器的標(biāo)稱特性（eqvISO3274:1996)GB/T18777-2002產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS)表面結(jié)構(gòu)輪摩法相位修正濾波器的計量特性（eqvISO11562:1996)3一般術(shù)語由GB/T3505、GB/T6062和18777標(biāo)準(zhǔn)確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)3.1一般術(shù)語3.1.1實際表面realsurface物體與周圍介質(zhì)分離的表面。3.1.2名義回轉(zhuǎn)軸線儀器主軸回轉(zhuǎn)的理論軸線。3.1.3瞬時回轉(zhuǎn)軸線instantaneousaxisofrotation在任意瞬間儀器主軸實際的回轉(zhuǎn)軸線。3.1.4基準(zhǔn)回轉(zhuǎn)軸線referenceaxisofrotation儀器主軸各瞬時回轉(zhuǎn)軸線的平均軸線。3.1.5瞬時回轉(zhuǎn)誤差instantaneouserr