ICS31200

L55.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T38341—2019

微機(jī)電系統(tǒng)MEMS技術(shù)

()

MEMS器件的可靠性綜合環(huán)境試驗(yàn)方法

Micro-electromechanicalsystemtechnology—

ThereliabilitytestmethodsofMEMSinintegratedenvironments

2019-12-31發(fā)布2020-04-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T38341—2019

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

試驗(yàn)方法

4…………………1

預(yù)處理

4.1………………1

溫度濕度試驗(yàn)

4.2、………………………2

機(jī)械試驗(yàn)

4.3……………9

耦合試驗(yàn)

4.4……………12

失效結(jié)果處理

5……………15

參考文獻(xiàn)

……………………16

Ⅰ

GB/T38341—2019

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微機(jī)電技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC336)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位東南大學(xué)華為技術(shù)有限公司佛山市川東磁電股份有限公司中機(jī)生產(chǎn)力促進(jìn)中

:、、、

心浙江博亞精密機(jī)械有限公司沈陽國儀檢測技術(shù)有限公司無錫華潤上華科技有限公司北京大學(xué)

、、、、、

中北大學(xué)中國科學(xué)院電子學(xué)研究所北京必創(chuàng)科技股份有限公司

、、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王磊黃創(chuàng)君于振毅陸學(xué)貴朱悅夏長奉黃慶安龍克文石云波李海斌

:、、、、、、、、、、

肖昆輝鄭鳳杰張威程逸軒馬書嫏陳得民

、、、、、。

Ⅲ

GB/T38341—2019

微機(jī)電系統(tǒng)MEMS技術(shù)

()

MEMS器件的可靠性綜合環(huán)境試驗(yàn)方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了器件可靠性綜合環(huán)境的試驗(yàn)方法和失效結(jié)果處理

MEMS。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于需要進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的器件

MEMS。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù)術(shù)語

GB/T26111(MEMS)

3術(shù)語和定義

界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T26111。

4試驗(yàn)方法

41預(yù)處理

.

411概述

..

試驗(yàn)前應(yīng)對(duì)器件進(jìn)行預(yù)處理若器件使用時(shí)不需要焊接或者使用者認(rèn)定焊接不會(huì)對(duì)器件產(chǎn)生影

。

響則無需進(jìn)行預(yù)處理

,。

412目的

..

本試驗(yàn)?zāi)M器件在實(shí)際使用時(shí)因?yàn)楹附铀?jīng)歷的各種環(huán)境的影響由于焊接工藝過程中溫度與濕

。

度影響有可能造成器件產(chǎn)生熱失配應(yīng)力水汽蒸發(fā)造成的大應(yīng)變以及有機(jī)物污染等失效因此有焊

、,。,

接需要的器件應(yīng)進(jìn)行此試驗(yàn)

。

413設(shè)備

..

試驗(yàn)設(shè)備包括一臺(tái)能在規(guī)定溫度下恒溫的溫控試驗(yàn)箱一臺(tái)可在規(guī)定溫度和濕度下工作的浸濕設(shè)

、

備以及一臺(tái)能夠達(dá)到規(guī)定溫度的回流焊設(shè)備

,。

414程序

..

4141試驗(yàn)箱的維護(hù)和初始處理

...

試驗(yàn)計(jì)時(shí)開始前溫度試驗(yàn)箱應(yīng)保留足夠的升溫時(shí)間以保證所有待測樣品溫度盡量均勻浸濕設(shè)

,