標準解讀

《GB/T 37793-2019 鋼坯枝晶偏析的定量分析方法》是一項國家標準，旨在為鋼鐵材料中枝晶偏析現(xiàn)象提供一種科學(xué)合理的定量評價手段。該標準詳細規(guī)定了通過化學(xué)成分分布測定來評估鋼坯內(nèi)部枝晶偏析程度的方法流程。適用于碳素鋼及低合金鋼等類型鋼材。

根據(jù)此標準，首先需要采集待測樣品，并按照特定要求制備成適合檢測的狀態(tài)。樣品制備過程包括但不限于切割、磨光和腐蝕處理等步驟，以確保能夠清晰地觀察到微觀結(jié)構(gòu)特征。接著使用顯微鏡或其他適宜的技術(shù)手段對樣品進行觀察，確定其微觀組織形態(tài)以及枝晶邊界位置。

隨后，在明確的區(qū)域內(nèi)選取若干個測試點，利用電子探針顯微分析儀（EPMA）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）等設(shè)備獲取各點處主要元素含量數(shù)據(jù)。通過對這些數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計學(xué)處理，計算出平均值與標準差，進而得出枝晶偏析指數(shù)。該指數(shù)反映了不同區(qū)域間元素濃度差異大小，數(shù)值越大表示偏析越嚴重。

此外，《GB/T 37793-2019》還提供了具體的操作指南和技術(shù)參數(shù)設(shè)定建議，幫助實驗室人員準確執(zhí)行實驗并保證結(jié)果的一致性和可比性。同時，對于如何報告最終分析結(jié)果也給予了指導(dǎo)，確保信息傳達清晰無誤。

整個過程中強調(diào)了操作規(guī)范性、數(shù)據(jù)分析準確性以及結(jié)果表達標準化的重要性，從而為鋼鐵行業(yè)及相關(guān)領(lǐng)域提供了一個統(tǒng)一而可靠的枝晶偏析評價框架。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2019-08-30 頒布
  • 2020-07-01 實施
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文檔簡介

ICS7704099

H24..

中華人民共和國國家標準

GB/T37793—2019

鋼坯枝晶偏析的定量分析方法

Quantitativeanalysisofdendriticsegregationinsteelbillets

2019-08-30發(fā)布2020-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T37793—2019

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別這些專利的責任

。。

本標準由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會提出

。

本標準由全國鋼標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC183)。

本標準起草單位首鋼集團有限公司冶金工業(yè)信息標準研究院江蘇省沙鋼鋼鐵研究院有限公司

:、、。

本標準主要起草人嚴春蓮鞠新華孟楊柳洋波尹立新鄧素懷賈惠平顏丞銘欒燕張珂

:、、、、、、、、、、

吳園園

。

Ⅰ

GB/T37793—2019

鋼坯枝晶偏析的定量分析方法

1范圍

本標準規(guī)定了利用電子探針分析儀對鋼坯枝晶偏析進行定量分析的檢測條件標樣選擇操作步

、、

驟數(shù)據(jù)處理及檢測報告

、。

本標準適用于枝晶偏析元素含量在質(zhì)量分數(shù)以上的鋼坯鑄錠鑄件鋼材等也可參照

0.01%()。、、

使用

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

微束分析電子探針分析標準樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T4930

金屬顯微組織檢驗方法

GB/T13298

電子探針定量分析方法通則

GB/T15074

金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T15616

鋼中低含量的電子探針定量分析方法

GB/T17360Si、Mn

微束分析電子探針顯微分析術(shù)語

GB/T21636(EPMA)

微束分析電子探針顯微分析波譜法元素面分析

GB/T32055—2015

測量不確定度評定與表示

JJF1059.1

電子探針分析儀

JJG901—1995

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T21636。

31

.

枝晶偏析dendriticsegregation

固溶體合金按樹枝晶方式生長時先結(jié)晶的枝干與后結(jié)晶的枝間存在著成分差異的現(xiàn)象

,。

32

.

面分析mappinganalysis

將電子探針分析儀的分光晶體調(diào)整到待測元素特征射線波長的位置采用電子束掃描或樣品臺

X,

移動方式使電子束相對于試樣沿XY方向做直線移動記錄射線強度的變化獲得該元素的濃度分

、,X,

布圖像

。

33

.

線分析lineanalysis

將電子探針分析儀的分光晶體調(diào)整到待測元素特征射線波長的位置采用電子束掃描或樣品臺

X,

移動方式使電子束相對于試樣沿指定方向做直線運動記錄射線強度的

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