探針使用次數(shù)實驗報告_第1頁
探針使用次數(shù)實驗報告_第2頁
探針使用次數(shù)實驗報告_第3頁
探針使用次數(shù)實驗報告_第4頁
探針使用次數(shù)實驗報告_第5頁
已閱讀5頁，還剩6頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內容提供方，若內容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

探針使用次數(shù)實驗報告衡陽2009.4.29背景測試過程中測試架構會造成電池片F(xiàn)F值得損耗，進而影響測試效率。這種損耗包括：探針數(shù)量、探針磨損、探針是否完全與主柵接觸、架構材料的硬度以及探針、針筒和連接線的焊接情況。其中影響最大的是探針磨損，探針在使用一定數(shù)量后針尖的損傷以及針頭內夾雜漿料顆粒都會使接觸電阻變大。問題測試探針最高使用次數(shù)是多少？實驗設計選取一臺測試機（L7）從剛更換探針開始跟蹤，檢驗探針的使用壽命；檢驗手段采用衰減完全的電池片若干片，以每測試1~2W次后手動測試這些電池片的FF情況；以每天IPQC抽測十片數(shù)據(jù)作為參考項。實驗數(shù)據(jù)1.二級標片測試結果異常點備注：第10天測試時，累計測試數(shù)量不到18萬23日白班探針磨損的FQC抽測數(shù)據(jù)為說明該FF差異是由于探針損耗引起，對比更換探針前后的FQC10片數(shù)據(jù)。23日白班之前的FQC10片抽測數(shù)據(jù)23日晚班更換探針后FQC10片抽測數(shù)據(jù)根據(jù)前后的對比可以看出，F(xiàn)F的穩(wěn)定性受到探針磨損的影響較大。數(shù)據(jù)分析從實驗數(shù)據(jù)來看，探針出現(xiàn)磨損時表現(xiàn)出來的現(xiàn)象是自動測試時會出現(xiàn)一定比例的串聯(lián)較大，F(xiàn)F較低的測試結果。手動校準標片時不容易查出此異常。通過FQC的10片抽測數(shù)據(jù)可以看出出現(xiàn)異常。結論Berger測試機的探針使用不到18W次的情況下已經磨損，表現(xiàn)狀況是自動測試時部分電池片測試數(shù)據(jù)Rs較大，F(xiàn)F較低，需更換新探針；因自動測試和手動測試兩個過程有差異，標片校準過程不容易看出該異常，需要通過FQC的十片

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網頁內容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論