標準解讀

《GB/T 14115-1993 半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理》作為一項技術標準，為半導體集成電路中的采樣/保持放大器(S/H Amplifier)提供了測試方法的指導原則。然而，您提供的對比文獻或標準名稱不完整，這使得直接對比具體變更內容變得不可能。不過，基于此類標準更新的一般趨勢和行業實踐，可以推測一些可能的變更方向，盡管這些并非針對某個特定對比標準的直接解讀。

通常，技術標準隨時間更新會涉及以下幾個方面：

  1. 技術進步的反映：新版本的標準可能會納入新技術、新材料或新測試方法的發展成果，以確保測試的準確性和適用性。對于采樣/保持放大器而言，這可能包括對更高采樣率、更寬頻帶、更低噪聲或更小失真等性能指標的測試要求。

  2. 測試精度與效率提升：隨著測量設備和分析技術的進步，新標準可能會提出更加精確的測試參數定義，以及更高效的測試流程，以減少測試時間和成本，同時提高測試結果的可重復性和可靠性。

  3. 標準化術語和定義的統一：為了國際兼容性和行業內的交流便利，標準更新時往往會調整或新增術語定義，使之與國際標準或行業內最新共識保持一致。

  4. 環境和可靠性要求的增強：考慮到電子設備在不同應用環境下的表現，新標準可能會加強對工作溫度范圍、濕度、電磁兼容性(EMC)等方面的測試要求，以確保器件在惡劣條件下的穩定性和可靠性。

  5. 安全與合規性要求：遵循全球各地不斷演進的安全法規和環保要求，標準更新時可能會增加關于產品安全測試、材料限制（如RoHS指令）等方面的內容。

由于沒有具體的對比標準提供，以上僅為一般性推測，實際的變更內容需要依據完整的標準文檔進行詳細比對才能確定。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 1993-01-21 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14115-1993半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理_第1頁
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文檔簡介

UDC621.382：621.375L56中華人民共和國國家標準GB/T14115—93半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofSample/Holdamplifiersforsemiconductorintegratedcircuits1993-01-21發布1993-08-01實施國家技術監督局發發布

中華人民共和國國家標準半導體集成電路采樣/保持放大器GB/T14115-93測試方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofSample/Holdamplifiersforsemiconductorintegratedcireuits主題內容與適用范圍本標準規定了半導體集成電路采樣/保持放大器(以下簡稱器件)電參數測試方法的基本原理。本標準適用于半導體集成電路采樣/保持放大器的電參數測試。引用標準GB3439半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理GB3442半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理3總的要求3.1若無特殊說明,測試期間，環境或參考點溫度偏離規定值的范圍應符合器件詳細規范的規定：3.2測試期間，施于被測器件的電參量應符合器件詳細規范的規定。3.3測試期間，應避免外界干擾對測試精度的影響,測試設備引起的測試誤差應符合器件詳細規范的規定3.4被測器件與測試系統連接或斷開時，不應超過器件的使用極限條件。3.5若有要求時，應按器件詳細規范規定的順序接通電源。3.6測試期間，被測器件應按器件詳細規范規定連接外圍電路和補償網絡。3.7如需外接保持電容C。時，保持電容器應符合測試要求。在測試電路安排上應盡量減小外電路對保持電容的饋通與泄漏。3.8若電參數值是由幾步測試的結果經計算確定時,這些測試的時間間隔應盡可能短.4參數測試4.1線性誤差E4.1.1目的測試器件在采樣狀態時實際轉移特性曲線與最佳擬合直線間的最大相對偏差。4.1.2測試原

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