標準解讀

《GB/T 12085.12-2010 光學和光學儀器 環境試驗方法 第12部分:污染》相比于其前身《GB/T 12085.12-1989 光學和光學儀器 環境試驗方法 污染》,主要在以下幾個方面進行了更新與調整:

  1. 標準的適用范圍:2010版標準可能對適用的產品類型或試驗條件進行了更明確或擴展的定義,以適應近年來光學和光學儀器技術的發展和應用需求變化。

  2. 污染測試方法的完善:新標準可能引入了更先進的污染模擬技術和評價指標,對污染物的種類、濃度及試驗時間等方面給出了更具體、科學的指導,旨在提高測試結果的準確性和可重復性。

  3. 環境因素的考慮:隨著對環境因素影響認識的深入,2010版標準可能加入了更多關于溫度、濕度等環境條件對光學元件污染影響的評估內容,以及如何控制這些變量以確保試驗的有效性。

  4. 安全和環保要求:考慮到環境保護和操作人員安全的重要性日益增加,新標準可能新增了相關安全操作規程和環保要求,指導試驗過程中有害物質的處理和廢棄物的處置。

  5. 術語和定義的更新:為了與國際標準接軌并反映技術進步,2010版標準對一些關鍵術語和定義進行了修訂或新增,以提供更清晰、統一的溝通基礎。

  6. 數據處理和報告格式:新標準可能對測試數據的收集、分析方法及試驗報告的編制格式提出了更詳細的要求,有助于提升報告的規范性和信息的可比性。

  7. 引用標準的更新:鑒于基礎標準和技術規范的不斷演進,2010版標準可能引用了最新版本的相關國家標準或國際標準,確保試驗方法的先進性和兼容性。


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....

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  • 已被新標準代替,建議下載現行標準GB/T 12085.12-2022
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實施
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文檔簡介

ICS37020

N30.

中華人民共和國國家標準

GB/T1208512—2010

代替.

GB/T12085.12—1989

光學和光學儀器環境試驗方法

第12部分污染

:

Opticsandopticalinstruments—Environmentaltestmethods—

Part12Contamination

:

(ISO9022-12:1994,MOD)

2011-01-14發布2011-05-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T1208512—2010

.

前言

光學和光學儀器環境試驗方法分為以下個部分

GB/T12085《》16:

第部分術語試驗范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分低溫低氣壓綜合試驗

———5:、;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高壓低壓浸沒

———8:、、;

第部分太陽輻射

———9:;

第部分振動正弦與高溫低溫綜合試驗

———10:()、;

第部分長霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分沖擊碰撞或自由跌落與高溫低溫綜合試驗

———13:、、;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分寬帶隨機振動數字控制與高溫低溫綜合試驗

———15:()、;

第部分彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗

———16:、。

本部分為的第部分

GB/T1208512。

本部分修改采用光學和光學儀器環境試驗方法第部分污染

ISO9022-12:1994《12:》。

本部分與的主要差異如下

ISO9022-12:1994:

刪除國際標準的序言和前言

———;

根據第章及我國標準用語習慣作了重新編寫

———ISO9022-121;

國際標準本部分一詞改為本部分

———“”“”。

本部分代替光學和光學儀器環境試驗方法污染與

GB/T12085.12—1989《》,GB/T12085.12—

的主要差異為

1989:

合并了范圍與試驗目的

———;

增加了試驗程序的總則規定了相關標準的依據

———,;

增加了環境試驗的標記名稱修改了相應標準號的編寫

———,;

調整了附錄的標準編寫結構

———A。

本部分的附錄為規范性附錄

A。

本部分由中國機械工業聯合會提出

本部分由全國光學和光子學標準化技術委員會歸口

(SAC/TC103)。

本部分起草單位上海理工大學寧波永新光學股份有限公司

:、。

本部分主要起草人章慧賢馮瓊輝曾麗珠葉慧

:、、、。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況為

:

———GB/T12085.12—1989。

GB/T1208512—2010

.

光學和光學儀器環境試驗方法

第12部分污染

:

1范圍

本部分規定了污染試驗條件條件試驗試驗程序及環境試驗標記

、、。

本部分中所指的污染的含義是腐蝕性化學物質1)以下稱試劑同光學儀器的接觸

“”()。

本部分適用于光學儀器裝有光學零部件的儀器和光學零部件

、。

本部分不適用于作為正常的生產控制

本試驗目的是研究儀器尤其是儀器的表面涂層或合成材料短時間內暴露在試劑中的抵抗能力

,、。

試驗通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時參考

2規范性引用文件

下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文

GB/T12085。

件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵根據本部分達成

,(),,

協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本

。,

部分

光學和光學儀器環境試驗方法第部分術語試驗范圍―

GB/T12085.11:、(GB/T12085.1

2010,ISO9022-1:1994,MOD)

3試驗條件

31總則

.

試驗應在規定的大氣環境條件下進行

GB/T12085.1。

在第章條件試驗中列出的試劑表示了不同的化學試劑種類

4。

32試樣

.

除有關標準要求整臺儀器或部件試驗外試驗應采用代表性樣品作試樣

,。

非金屬涂層試驗的基片用至少厚的代表性材料按圖中所示尺寸制作

1mm1。

注有關標準也可以規定試片的長度為或

:140mm±2mm280mm±2mm。

待試涂層的結構應與儀器或儀器的部件所用涂層結構相同

試樣施加涂層前的表面應與所代表的儀器或部件的表面用同樣的方法制備涂層應完全地覆蓋住

,

試樣的表面以至于能夠覆蓋特殊的邊角和孔的邊緣涂層的厚度應與儀器或部件的涂層的厚度相同

,、。

偏差不超過試樣的標記數字等應在施加涂層前制作好制備好的試樣必須防止污染直到試

(5μm),、。

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