1、中山家普樂電子科技有限公司ZHONGSHAN JAPLEO ELECTRONIC TECHNOLOGY CO.，LTD.編 號WI-QA-52管理部門品保部標 題：進料檢驗標準版 號A/0頁 碼1/5PCB檢驗標準允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.25;次要缺點(MI): 2.5.檢驗項目檢查內容AQL檢驗標準檢驗方式備注線 路線路凸出MAa. 線路凸出部分不得 大于成品最小間距30%。帶刻度放大鏡殘銅MAa. 兩線路間不允許有殘銅。b. 殘銅距線路或錫墊不得小于0.1mm。c. 非線路區殘銅不可大于2.5mm×2.5mm，且不可露銅。帶刻度放大鏡線路

2、缺口、凹洞MAa. 線路缺口、凹洞部分不可大于最小線寬的30%。帶刻度放大鏡斷路與短路CRa. 線路或錫墊之間絕不容許有斷路或短路之現象。放大鏡、萬用表線路裂痕MAa. 在線路或線路終端部分的裂痕，不可超過原線寬1/3。帶刻度放大鏡線路不良MAa. 線路因蝕銅不良而呈鋸齒狀部分不可超過原線寬的 1/3。帶刻度放大鏡線路變形MAa. 線路不可彎曲或扭折。放大鏡線路變色MAa. 線路不可因氧化或受藥水、異物污染而造成變色。目檢線路剝離CRa. 線路必須附著性良好，不可翹起或脫落。目檢補線MAa. 補線長度不得大于5mm，寬度為原線寬的80%100%。b. 線路轉彎處及BGA內部不可補線。c. C/

3、S面補線路不得超過2處，S/S面補線不得超過1處。帶刻度放大鏡目檢刮傷MAa. 刮傷長度不超過6mm，深度不超過銅鉑厚度的1/3。放大鏡孔孔塞MAa. 零件孔不允許有孔塞現象。目檢孔黑MAa. 孔內不可有錫面氧化變黑之現象。目檢變形MAa. 孔壁與錫墊必須附著性良好，不可翹起，變形或脫落。目檢中山家普樂電子科技有限公司ZHONGSHAN JAPLEO ELECTRONIC TECHNOLOGY CO.，LTD.編 號WI-QA-52管理部門品保部標 題：進料檢驗標準版 號A/0頁 碼2/5檢驗項目檢查內容AQL檢驗標準檢驗方式備注外觀章記MA焊錫面上應有制造廠之UL號碼、生產日期、Vendor

4、 Mark；生產日期YY（年）、WW（周）采用蝕刻方式標示。目檢尺寸MA根據客戶托外調拔單所要求尺寸進行檢驗。卡尺板面污染MA板面不得有外來雜質，指印，殘留助焊劑，標簽，膠帶或其他污染物。目檢絲印文字清晰度Minora. 所有文字、符號均需清晰且能辨認，文字上線條之中斷程度以可辨認該文字為主。目檢重影或漏印MAa.文字，符號不可有重影或漏印。目檢印錯MAa.極性符號、零件符號及圖案等不可印錯。目檢文字脫落MAa.文字不可有溶化或脫落之現象。目檢 異丙醇文字覆蓋 錫墊MAa.文字油墨不可覆蓋錫墊（無論面積大小）。目檢焊錫性焊錫性MAa. 鍍層不可有翹起或脫落現象且焊錫性應良好。用供應商提供的試錫

5、板分別過回流爐和波峰焊，上錫不良的點不可大于單面錫墊點數的0.3%。目檢金手指G/F刮傷MAa.金手指不可有見內層之刮傷。放大鏡G/F變色MAa.金手指表面層不得有氧化變色現象。目檢 放大鏡G/F鍍層剝離MA以3M scotch NO.600 0.5"寬度膠帶密貼于G/F鍍層上,密貼長度約25mm,經過30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脫落或翹起之現象。目檢G/F污染MAa. 金手指不可沾錫、沾漆、沾膠或為其他污染物。目檢金手指G/F凹陷MAa. 金手指凹陷、凹洞見底材或銅面刮傷，不得在金手指中間3/5的關鍵位置，唯測試探針之針點可允收，凹陷長度不可超過0.3mmMAX。放大鏡 G

6、/F露銅MAa.金手指上不可有銅色露出。放大鏡中山家普樂電子科技有限公司ZHONGSHAN JAPLEO ELECTRONIC TECHNOLOGY CO.，LTD.編 號WI-QA-52管理部門品保部標 題：進料檢驗標準版 號A/0頁 碼3/5IC類檢驗標準允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.65;次要缺點(MI): 2.5.檢驗項目AQL檢驗標準檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數量檢驗MAa. 實際包裝數量與Label上的數量是否

7、相同,若不同不可接受；b. 實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa. 晶圓藍膜標識清晰，藍膜片不可有破裂;b. 來料品名錯，或不同規格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質, 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護的特殊要求不能現場打開封裝的，IQC僅進行包裝檢驗

8、，該IC在SMT上拉前IQC須進行拆封檢驗。拆封后首先確認包裝袋內的濕度顯示卡20%RH對應的位置有沒有變成粉紅色，若已變為粉紅色則使用前必須按供應商的要求進行烘烤。貼片元件檢驗標準(電容,電阻,電感，電池)允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.25;次要缺點(MI): 2.5.檢驗項目AQL檢查標準檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢尺寸檢驗CRa. 參照客戶調拔單要求與圖紙進行檢查。卡尺 千分尺中山家普樂電子科技有限公司ZHONGS

9、HAN JAPLEO ELECTRONIC TECHNOLOGY CO.，LTD.編 號WI-QA-52管理部門品保部標 題：進料檢驗標準版 號A/0頁 碼4/5外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b. 來料品名錯，或不同規格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質, 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內.LCR測試儀數字萬用表檢驗時，必須佩

10、帶靜電帶。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發光；否則該二極管不合格。 注：有標記的一端為負極。其它二極管 選擇數字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數需小于1，而反向測量讀數需無窮大；否則該二極管不合格。 注：有顏色標記的一端為負極。備注 抽樣計劃說明：對于CHIP二極管，執行抽樣計劃時來料數量以盤為單位，樣本數也以盤為單位；從抽檢的每盤中取35pcs元件進行檢測；AQL不變。檢驗方法見LCR數字電橋測試儀操作指引 和數字萬用表操作指引。化學品類檢驗標準(酒精、清洗劑、天那水、黑膠、紅膠)允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.65次要缺點(MI): 2.5.全數確認原料的外包裝有無破損；確認使用有效期的天數剩余是否在90天以上;全數確認原液灌開封；全數確認原液桶上的標簽有無殘缺、標簽是否易識別；檢驗合格后的原液外包裝上寫上“合格”和入庫日期；確認每批的材質證明書是否有,并確認材質證明書的內容是否合格。；如檢驗過程中發現不合格，則按照進料檢驗規范中不合格原料的處置執行；中山家普樂電子科技有限公司ZHONGSHAN JAPLEO ELECTRONIC TECHNOLOGY CO