1、一、名詞解釋1. 工藝礦物學：是以工業固體原料及其加工產物的礦物學特征和加工時組成礦物的性狀為研究目標的邊緣性科學。 2. 貝克線：在礦物的邊緣附近可看到一條比較明亮的細線，升降鏡筒時亮線移動，該亮線稱為貝克線或光帶。3. 背散射電子：電子射入試樣后，受到原子的彈性和非彈性散射，有一部分電子的總散射角大于90度，會重新從試樣表面逸出，這種電子為背散射電子，這個過程稱為背散射。4. 補色器：又稱試板或消色器。常用的類型有石膏試板、云母試板、石英楔3種。5. 補色法則(消色法則)： 在正交偏光鏡間放置2個非均質體任意方向的切片，在45度位置時，光通過兩切片后總的光程差的增減法則，稱為補色法則，又稱

2、消色法則。6. 糙面： 在單偏光鏡下觀察礦物的表面時，某些礦物表面比較光滑，某些礦物表面較為粗糙，呈現麻點狀，好像粗糙皮革，這種現象稱為糙面。7. 多色性 ：礦物的顏色隨光波振動方向的不同而發生改變的現象。8. 電子探針微區分析（EPMA或EPA）：是一種微區化學成分分析儀器。它將電子光學技術和X射線光譜技術有機結合起來，使礦物中元素的定性和定量分析的空間分辨率達到微米級水平。9. .電子探針的分析方法有定點分析、線掃描分析和面掃描分析10. 二次電子：在單電子激發過程中,被入射電子轟擊出來的核外電子，稱為二次電子。11. 俄歇電子：從距樣品表面小于1nm深度范圍內發射的并具有特征能量的二次電

3、子。12. 反射率:反射率是表示礦物磨光面反光能力的參數，用符號R表示. 指反光顯微鏡下,垂直入射光經礦物光面反射后的反射光強度(Ir)與原入射光強度(Ii)的比率，用百分數表示，即：R=Ir/Ii*100%13. 反射器:反射器是垂直照明器中重要的部件，其作用為將來自進光管的水平入射光垂直向下反射，透過物鏡達到光片表面。 常用的反射器有玻片式和棱鏡式兩種。14. 反射色：礦物光片在單偏光鏡下呈現的顏色稱為礦物的反射色。15. 反射多色性：礦物反射色隨光性方位而變化的現象稱為反射多色性16. 非均質體： 中級晶族和低級晶族的礦物其光學性質隨方向而發生變化，稱為光性非均質體，簡稱非均質體，絕大多

4、數礦物屬于非均質體。17. 分離礦物定量法： 利用待測礦物與原料中其他礦物性質的差異，將待測礦物從原料中分離出來而進行定量的一種方法18. 干涉色譜表：根據光程差公式R=d(Ng-Np)，把公式中光程差與切片厚度、雙折射率三者之間的關系，用圖表方式表示出來，這種圖表稱為色譜表19. 干涉色級序：在正交偏光鏡間由薄至厚慢慢插入石英楔，石英楔干涉色連續不斷地變化，依次為暗灰灰白淺黃橙紫紅藍藍綠一黃綠一橙黃一紫紅一藍一藍綠一黃一橙紅直至亮白色。這種由低到高有規律的變化，就構成了干涉色級序。20. 光率體：光波在晶體中傳播時，折射率值隨光波振動方向變化的一種立體幾何圖形。21. 光軸：光波沿非均質體的

5、特殊方向入射時(如沿中級晶族晶體的Z軸方向)，不發生雙折射，不改變入射光波的振動特點和振動方向，這個特殊方向稱為光軸。22. 環帶: 有些礦物的晶粒內部，沿晶面方向有一系列環狀的紋線和條帶23. 晶形: 晶體的天然幾何多面體外形稱為晶形。24. 解理概念：礦物在外力作用下沿晶格中一定方向發生破裂的固有性質稱為解理，沿解理裂開的平面叫解理面。25. 均質體： 等軸晶系礦物和非晶質物質在各方向的光學性質相同，稱為光性均質體，簡稱均質體。26. 礦物的邊緣： 在薄片中2種折射率不同的物質接觸處，光線透過時可看到比較黑暗的邊緣，稱為礦物的邊緣27. 礦物的顏色： 礦物的顏色是由光波透過礦片時經礦物的選

6、擇性吸收后產生的28. 內反射: 當光線照射到具有一定透明度的礦物光片表面時，有一部分光線折射透入礦物內部，遇到礦物內部的某些界面(如解理、裂隙、空洞、晶粒、包裹體等)，光線被反射出來或散射開，該現象稱為礦物的內反射。29. 偏光：只在垂直光傳播方向的某一固定方向上振動的光波，稱平面偏振光，簡稱偏振光或偏光。30. 偏光化作用：使自然光轉變為偏光的作用稱為偏光化作用31. 雙折射：光波射入非均質體，除特殊方向外，都要發生雙折射，分解形成振動方向不同、傳播速度不同、折射率值不等的2個偏光32. 雙反射:礦物反射率隨晶體方向而變化，當旋轉物臺時，礦物亮度發生改變，反射率隨方向而變化的現象稱為礦物的

7、雙反射。33. 雙晶: 2個或多個同種晶體按一定的對稱規律形成的規則連生體，稱為雙晶。34. 突起： 在薄片中，不同礦物表面好像高低不同，某些礦物表面顯得高一些，某些礦物則顯得低平一些，這種現象稱為突起35. 吸收性： 礦物的顏色深淺發生變化的現象36. x射線衍射物相分析：將待測的單相或多相物質進行x射線衍射實驗，得到衍射花樣或衍射的有關數據，然后將衍射花樣或數據跟標準物質或標準礦物的衍射卡片作對比，從而達到確定單相或多相物質的目的，這個過程稱為x射線衍射物相分析37. 選擇性溶解法：選擇性溶解法是利用礦物化學性質的差異，特別是礦物在不同溶劑中溶解性的差異，使不同礦物分離。38. 顯微鏡下礦

8、物定量：是從待測礦物原料中選取少量有代表性的樣品，加工制備成光片或薄片，在顯微鏡下通過測定不同礦物在光片或薄片上所占的比例，達到礦物定量的目的。39. 消光位： 非均質體在正交偏光鏡間處于消光時的位置稱為消光位40. 消光現象： 礦片在正交偏光鏡間變黑暗的現象，稱為消光現象41. 自然光：在垂直光波傳播方向的平面內作任意方向的振動，各個振動方向的振幅相等。二 問答題1.差熱分析法工作原理(1)差熱分析簡寫為DTA，是根據不同溫度下出現的不同熱反應的原理來對礦物進行鑒定。通過研究這些礦物加熱或冷卻到某溫度點會發生放熱反應或吸熱反應的特征，在測試過程中，將會發生熱反應的待測礦物與不會發生熱反應的某

9、種已知標樣(標準礦物或中性體)一同放在加熱爐中加熱升溫或降溫，當加熱或冷卻到某個溫度點時，待測樣品由于發生熱反應使它與標樣之間的溫度不一致。q(2)由于試樣與標樣之間在某溫度點下存在著固有溫度差，將它們的溫度差繪成差熱曲線。q(3)在礦物鑒定時，將試樣的差熱曲線跟所查閱的有關手冊中的已知礦物的差熱曲線進行對比，如果相互之間能吻合，則可確定待測樣品的礦物名稱，這就是用差熱分析法來鑒定礦物的原理。2.俄歇電子能譜表面微區分析原理俄歇電子的產生是由原子內殼層電子因電離激發留下一個空位，引起較外層電子向這一能級躍遷使原子釋放能量，該能量使外層電子進一步電離，發射一個與原子序數相關的俄歇電子，檢測俄歇電

10、子的能量和強度可以獲得表面層化學成分的定性和定量信息。3.反光顯微鏡下礦物性質的測定（1）.反射率和雙反射 （2）.反射色和反射多色性 （3.）內反射 （4）.均質性和非均質4.工藝礦物學研究內容 （1）原料與產物中的礦物組成 (任務：查清原料與產物中所有礦物種(亞種)屬；判明各主要礦物成分的變化規律；考察伴生物質的特征，確定各組分的含量?；A性工作)（2）原料與產物中的礦物粒度分析 (有用礦物的粒度大小，既是確定磨礦細度的關鍵因素，又對流程方案的選擇有重要影響。)（3）原料與產物中元素的賦存狀態 (元素賦存狀態指元素在原料或產物中的存在形式及其在各組成物相中的分配比例)(4)礦物在工藝加工進

11、程中的性狀 (礦物在生產工藝中受到一定的物理或化學作用時，所呈現的狀態形式的改變，即為它的性狀)（5）礦物工藝性質改變的可能性和機理（6）判明尾礦和廢渣（工業廢棄物）綜合利用的可能性（7）礦物的工藝性質與元素組成和結構的關系 （8）查明礦石工藝類型空間分布規律，編制礦物工藝圖（目的是為礦山采掘、選廠生產的合理高效運行提供依據。）（9）研究工業固體原料加工前的表生變化（出露地表的礦床由風化作用產生的改變（10）分折礦物工藝性質的生成條件 ( 礦物是地殼上各種地質作用的產物，具有的各種工藝性質都與自身成礦作用有關。)5.工藝礦物學研究中的取樣問題（1）基本要求樣品具有充分的代表性。（2）獲取樣品的

12、方式有2種： 一是在現場取樣點上采取地質標本樣。二是從分選產品及試驗用礦樣中抽??；（3）樣品的取樣網絡布置方法：:在平面上，要照顧到全區情況，適當布點；在剖面上，要顧及到上、中、下各段都有取樣點。取樣點的數目一般至少要有4個以上的采樣點。如果試樣為G，則全礦區實際取樣重量不得小于2G；一般試樣重100200kg，個別可到1t。取樣方法，根據地質條件、礦石品位、取樣點數及工作目的而定。常用的有爆破法、方格法、刻槽法、全巷剝層法等。（4）工藝礦物學研究中常見的樣品處理方法：i樣品混勻法： 鐵锨拌勻法、環錐法、滾移法、槽型分樣器法ii樣品縮分法 常用堆錐四分法或網格法進行。6.簡述分離礦物定量法的基

13、本原理及特點 (1)原理：利用待測礦物與原料中其他礦物性質的差異，將待測礦物從原料中分離出來而進行定量的一種方法。（2分）(2) 該法主要適用于某些易于分選且嵌布粒度較粗大的礦物定量，對于嵌布粒度細小且難以分離的礦物的定量則不適用。（2分）(3)該法定量結果準確可靠，但操作過程繁瑣、費時、費力，其應用受到了一定的限制。（2分）7.簡述磁鐵礦在鐵礦石中的嵌布特征與其可磨性和可選性的關系？有用礦物的嵌布特征，指礦石中有用礦物的顆粒大小、形狀、與脈石礦物的結合關系以及空間分布特點，它是有關礦物空間形態的綜合概念。結晶粒度粗，易磨易選，反之難磨難選8.簡述在實驗室將塊狀鐵礦石加工成化學分析樣的制樣流程

14、并畫出流程圖（4分）答：簡述略：一共4分的題，隨便寫寫就可以 流程圖如下礦石（100mm）顎式破碎機（粗）顎式破碎機（8mm）輥式破碎機（2mm）混勻、縮分副樣2混勻、縮分副樣1振動磨研磨混勻、縮分副樣3化學分析樣9.熱分析方法熱分析方法是根據礦物在加熱過程中所發生的熱效應或重量變化等特征來研究和鑒定礦物的一種方法。目前應用較廣的方法有差熱分析法、熱重分析法、微分熱重分析法、熱膨脹法、差示掃描熱量分析法和逸出氣體分析法。差熱分析（DTA），是根據不同溫度下出現的不同熱反應的原理來對礦物進行鑒定。熱重分析法 (TG)，是通過測定礦物在加熱過程中重量的變化來鑒定礦物的一種方10.掃描電鏡的工作原理

15、 由電子槍發射出能量535Kev的電子流，經聚光鏡和物鏡縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈的驅動下，在試樣表面按照一定時間和空間順序作拉網式掃描。 聚焦后的微細電子束與試樣相互作用產生二次電子、背射電子和其它物理信號。 二次電子發射量隨試樣表面起伏而變化，背散射電子的發射量與試樣中元素的原子序數成正比，二次電子信號及背散射電子信號分別被探測器收集并轉換成電信號。 經視頻放大后傳到顯像管柵極，分別得到二次電子像及背散射電子像。11.調節焦距 調節焦距目的是為了使物像清晰可見。a) 將觀察的礦物薄片置于物臺中心，并用薄片夾子將薄片夾緊。b) 轉動粗動螺旋，從側面看

16、鏡頭，將鏡頭下降到最低位置。c) 若使用高倍物鏡，需要下降到幾乎與薄片接觸的位置，注意不要碰到薄片，以免損壞鏡頭。從目鏡中觀察，同時轉動粗動螺旋，使鏡筒緩慢上升，直至視域內有物像后，再轉動微動螺旋使之清楚。12.透射電子顯微鏡（TEM）工作原理 工作原理：電子槍產生的電子束經12級聚光鏡會聚后均勻照射到試樣的某一微小區域，入射電子與物質相互作用，由于試樣很薄，絕大部分電子可以穿透試樣，其強度分布與所穿過試樣區的形貌、結構構造等對應。透射出的電子經物鏡、中間鏡、投影鏡的二級磁透鏡放大后投射在顯示圖像的熒光屏上，熒光屏把電子強度分布轉變為人眼可見的光強分布，于是在熒光屏上顯示出與試樣形貌和結構構造

17、相對應的圖像。13.透射電鏡中試樣的制備方法有哪些？Ø(1) 粉未試樣的制備 對于粒徑為微米級和納米級的粉末，如粘土礦物及其它超細粉末等，在測試前先應用超聲波分散器將待觀察的粉末置于與試樣不發生作用的液態試劑中，并使之充分分散制成懸浮液。Ø(2)超薄片試樣的制備 對塊狀的巖礦試樣及非金屬的陶瓷試樣來說，其制樣原理是首先將塊狀樣品切割，然后在磨片機中將其磨成厚小于003nm的薄片，將磨好的薄片放到離子減簿機中，在真空下用高能量的氫離子轟擊薄片，使試樣中心穿孔，由于穿孔周圍的厚度極薄，對電子束透明時，即可進行觀察。Ø(3)復型試樣的制備 所謂復型是將待測試樣的表面或斷

18、面形貌用薄膜將它們復制下來。將復型后的薄膜拿到樣品室內觀察。14.透射電鏡和掃描電鏡式樣制備有何不同？（1）透射電鏡中所顯示的物質像是由電子束透過試樣后形成的像，由于電子束的穿透能力比x射線弱得多，因此，必須用小而薄的試樣。 對于加速電壓為50一200kv的透射電鏡，試樣厚度以100nm左右。如果要獲得高分辨電子像，試樣的厚度必須小于10nm。透射電鏡分析試樣的制備相對比x射線衍射分析和掃描電鏡等測試方法的樣品制備麻煩。主要有粉末法、超薄片法和復型法3種。（2）掃描電鏡試樣制備：根據掃描電鏡類型不同，試樣大小為幾毫米20mm。只作形貌觀察，樣品表面不做拋光；做成分分析時，表面需拋光；如果試樣不

19、導電（巖礦樣），需要在表面蒸鍍導電炭膜（金、鉑）。15.x射線的產生方法通過x射線管來產生，真空管真空度小于10-6Pa。有2個金屬電極，陰極由鎢絲卷成，陽極為某種金屬(Cu、Fe、Co、Ag等)磨光面(稱為靶)。當陰極鎢絲通入電流加熱時，鎢絲周圍會產生大量的自由電子。 在陰極和陽極之間加上高電壓(30一50kv)，在強電場作用下，自由電子向陽極高速移動，當陽極靶受到高速自由電子的轟擊時，電子的大部分能量變為熱能，一部分能量轉變成x射線，由靶面射出。16.x射線在晶面上的“反射”與可見光在鏡面上反射不同： (1)可見光的反射限于物體的表面，而x射線的“反射”是受x射線照射的所有原子(包括晶體內

20、部)的散射線干涉加強而形成。 (2)可見光的反射無論入射光線以任何入射角入射都會產生。x射線只有在滿足布拉格方程的某些特殊角度下才能“反射”。17.影響礦物反射率和雙反射的因素(1)光源 光源的強度及入射光波長對反射率影響很大。光源越強，反射率就越高；波長改變，反射率也隨之改變。因此在測定反射率時，對標樣和欲測礦物要保持相同的測試條件。(2)光片及安裝質量 光片表面磨光質量要高，做到無擦痕、麻點或氧化膜等，否則會降低礦物的反射率。光片安裝時必須嚴格壓平，若光片表面與入射光不垂直，則會影響反射光的方向，降低礦物的反射率。(3)其他因素 浸沒介質、放大倍數、焦距、內反射及溫差等因素均能影響反射率的

21、高低。18.元素在礦物原料中的賦存狀態元素在礦物原料中的賦存狀態有3種，即：獨立礦物形式、類質同象形式和吸附形式。19.元素賦存狀態研究方法（1）重砂分離法（2）選擇性溶解法：酸堿浸出法：選擇合適的溶劑，在一定條件下，對載體礦物進行溶解或浸出，根據礦物中有關礦物組分的可溶性，以及待測元素與主元素可溶性的相關性，分析判斷元素在載體礦物中的賦存狀態。無機鹽或有機酸浸出法：當有用元素以離子吸附形式被吸附在黏土或其他礦物中時，可用無機鹽或有機酸浸出， 常用的選擇性浸出試劑有：無機鹽類、有機酸類、無機酸、堿等。（3）電滲析是基于在外加直流高壓電場的作用下，將礦物中呈吸附狀態的元素離子解吸下來，并向極性相

22、反的電極遷移。（4）礦物微區分析法：用于研究元素賦存狀態的礦物微區分析方法主要包括：掃描電鏡、電子探針、離子探針等，其原理是通過對元素在礦物表面分布特征的檢測，來判斷元素的賦存狀態。20.原料與產物內組成礦物的定量原料與產物中礦物定量基本方法 (1)分離礦物定量法；(2)顯微鏡下定量法；3)特征元素化學分析定量法；(4)儀器分析定量法。1）分離礦物定量法（實驗法）a）重力分離法（重選）：利用不同礦物之間密度的差異進行礦物分離b）磁力分離：是利用原料中不同礦物間磁性的差異進行礦物分離的。適于磁力分離的礦物主要是強磁性礦物(亞鐵磁性物質)和部分弱磁性礦物(順磁性物質)。c）介電分離是在具有一定介電常數的介電液中進行的，將介電分離儀的電磁振蕩電極插入介電液中，在電極周圍形成交變非均勻電場，電場強度自電極向外降低。d）選擇性溶解法：選擇性溶解法是利用礦物化學性質的差異，特別是礦物在不同溶劑中溶解性的差異，使不同礦物分離。2） 顯微鏡下目估定量面測法： 面測法是根據光片或薄片中的各礦物所占面積百分含量等于礦物在原料中所占體積百分含量的原理來測定礦物的含量。線測法： 線測法是根據礦片表面不同礦物沿一定方向直線上線段截距長度百分含量與其在原料中的重量百分含量相等的原理進行測量的。點測法：點測法的原理是礦片上各種礦物表面所占點數之比與各礦物在原料中的體積之比相等。3）化學分析礦物定量