1、X射線檢測通用工藝守則文件編號：1 目的 本工藝文件的目的是對射線檢測對象、方法、人員資格、所用器材、工藝 技術、質量分級、報告的填寫與審核、資料檔案等的控制和要求。2 主要內容和適用范圍2.1 本工藝文件規定了無損檢測工作的一般要求， 規定了無損檢測的操作程序和 操作方法。2.2 本工藝文件適用于我公司所開展的鍋爐、壓力容器、壓力管道的射線檢測。3 編制依據3.1 特種設備無損檢測人員考核與監督管理規則3.2 GB/T3323-2005金屬熔化焊焊接接頭射線照相3.3 GB/T12605-90鋼管環縫熔化焊對接接頭射線照相工藝及質量分級3.4 GB4792-84射線衛生防護基本標準3.5 J

2、B/T4730-2005承壓設備無損檢測3.6 SY/T4109-2005石油天然氣鋼制管道無損檢測3.7 GB18871-2002電離輻射防護與輻射源安全基本標準4 檢測控制流程圖圖 4-1 射線檢測操作流程圖5 檢測控制要求5.1 檢測人員資格及要求5.1.1 從事承壓設備的原材料、零部件和焊接接頭無損檢測的人員，應按照特 種設備無損檢測人員考核與監督管理規則的要求取得相應無損檢測資格。5.1.2 無損檢測人員資格級別分為（高）級、（中）級和（初）級。取得 不同資格級別的人員， 只能從事與該方法和該資格級別相應的無損檢測工作， 并 負相應的技術責任。5.1.3 從事射線檢測人員上崗前應進行

3、輻射安全知識的培訓， 并取得放射工作人 員證。5.1.4 檢測人員未經矯正或經矯正的近（距）視力和遠（距）視力應不低于 5.0 （小數記錄值為 1.0）, 測試方法應符合 GB 11533的規定。檢測人員應每年檢 查一次視力。6 檢測前準備6.1 儀器、設備、材料的選擇6.1.1 射線檢測的主要設備為：定向工業 X 射線機、周向工業 X 射線機。6.1.2 射線膠片6.1.2.1 AB 級射線檢測技術應采用 T3類或更高類別的膠片， B 級射線檢測技術 應采用 T2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應不大于 0.3 。6.1.3 觀片燈6.1.3.1 觀片燈的最大亮度應能滿足評片的要求。6.

4、1.4 黑度計（光學密度計）6.1.4.1 黑度計可測的最大黑度應不小于 4.5 ，測量值的誤差應不超過 0.05 。6.1.4.2 黑度計至少每 6 個月校驗一次。校驗方法可參照 JB/T4730 附錄 B（資 料性附錄）的規定進行。6.1.5 增感屏射線檢測一般應使用金屬增感屏。增感屏的選用應符合表 6-1 的規定表 6-1 增感屏的材料和厚度射線源前屏后屏材料厚度 , mm材料厚度, mmX 射線 （ 150 kV 250kV）鉛0.02 0.15鉛0.02 0.15X 射線 （ 250 kV 500kV）鉛0.02 0.2鉛0.02 0.21） 如果 AB 級、B 級使用前屏 0.03

5、mm的真空包裝膠片， 應在工件和膠片之間加 0.07 0.15mm厚的附加鉛屏。6.1.6 像質計6.1.6.1 底片影像質量采用線型像質計測定。線型像質計的型號和規格應符合JB/T 7902 的規定， JB/T 7902 中未包含的絲徑、線號等內容，應符合 HB 7684 的有關規定。6.1.6.2 像質計的材料、材料代號和不同材料的像質計適用的工件材料范圍應符 合表 6-2 的規定表 6-2 不同材料的像質計適用的材料范圍像質計材料代號FeNiTiAlCu像質計材料碳鋼或奧氏體不 銹鋼鎳- 鉻合金工業純鈦工業純鋁3#純銅適用材料范圍碳鋼 , 低合金鋼 , 不銹鋼鎳 , 鎳合金鈦 , 鈦合金

6、鋁, 鋁合金銅, 銅合 金6.2 檢測技術及工藝準備6.2.1 檢測工藝卡6.2.1.1 檢測工藝卡由具有 RTII 級或以上資質人員編制。工藝卡的要求應與所 執行的技術規范及本工藝文件相符。6.2.1.2 檢測工藝卡由具有 RTII 級或以上資質人員審核批準。6.2.2 射線檢測技術的選擇6.2.2.1 射線檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關標準及設計圖樣 規定。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用 AB 級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制 作的對接焊接接頭，可采用 B 級技術進行檢測。6.2.2.2 由于結構、環境條件、射

7、線設備等方面限制，檢測的某些條件不能滿 足 AB級（或 B 級）射線檢測技術的要求時 , 經檢測方技術負責人批準，在采取 有效補償措施 （例如選用更高類別的膠片） 的前提下，若底片的像質計靈敏度達 到了 AB級（或 B級）射線檢測技術的規定 , 則可認為按 AB級（或 B級）射線檢 測技術進行了檢測。6.2.2.3 承壓設備在用檢測中， 由于結構、 環境、射線設備等方面限制 , 檢測的 某些條件不能滿足 AB 級射線檢測技術的要求時 , 經檢測方技術負責人批準 ,在 采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片） 后可采用 A 級技術進行射線檢測， 但應同時采用其它無損檢測方法進行補充檢測。6.2

8、.3 射線源和能量的選擇6.2.3.1 X 射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應保證適 當的曝光量。圖6-1 規定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高射線管電 壓。對截面厚度變化大的承壓設備， 在保證靈敏度要求的前提下， 允許采用超過 圖 6-1 規定的射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應超過 50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應超過 40kV；對鋁及鋁合金材料，管 電壓增量不應超過 30kV。1- 銅及銅合金； 2- 鋼；3- 鈦及鈦合金； 4-鋁及鋁合金圖 6-1 不同透照厚度允許的 射線最高透照管電壓6.2.4 透照布置6.2.4.1 透照方式6.

9、2.4.1.1 應根據工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。 在可以實施 的情況下應選用單壁透照方式 , 在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方 式。典型的透照方式參見 JB/T4730-2005 附錄 C（資料性附錄）。6.2.4.2 透照方向6.2.4.2.1 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區中心， 需要時也可選用有利 于發現缺陷的方向透照。6.2.4.3 一次透照長度6.2.4.3.1 一次透照長度應以透照厚度比 K進行控制。 ?不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應符合表 6-4 的規定。整條環向對接焊接 接頭所需的透照次數可參照 JB/T4730-200

10、5 附錄 D（資料性附錄） 的曲線圖確定表 6-4 允許的透照厚度比 K射線檢測技術級別A級；AB級B級縱向焊接接頭K 1.03K 1.01環向焊接接頭K 1.1 1)K 1.061） 對 100mm0.12 時,相隔120或 60 透照3次。垂直透照重疊成像時，一般應相隔 120或 60透照 3次。由于結構原因不能進行多次透照時， 可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一 次。鑒于透照一次不能實現焊縫全長的 100%檢測，此時應采取有效措施擴大缺 陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。6.2.6 焦距的選擇所選用的射線源至工件表面的距離 f 應滿足下式的要求：AB 級射線檢測技術

11、： f 10d b 2/3B 級射線檢測技術： f 15d b 2/3?有效焦點尺寸 d 按 JB/T4730-2005 附錄 E（規范性附錄）的規定計算。6.2.6.1 采用源在內中心透照方式周向曝光時， 只要得到的底片質量符合要求， f 值可以減小，但減小值不應超過規定值的 50%。6.2.6.2 采用源在內單壁透照方式時，只要得到的底片質量符合要求， f 值可 以減小，但減小值不應超過規定值的 20%。6.2.7 曝光量6.2.7.1 射線照相，當焦距為 700mm時，曝光量的推薦值為： A 級和 AB級射 線檢測技術不小于 15mA min； B 級射線檢測技術不小于 20mA min

12、。當焦距改 變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。6.2.8 曝光曲線6.2.8.1 對每臺在用射線設備均應做出經常檢測材料的曝光曲線， 依據曝光曲線 確定曝光參數。6.2.8.2 制作曝光曲線所采用的膠片、 增感屏、 焦距、射線能量等條件以及底片 應達到的靈敏度、黑度等參數均應符合本部分的規定。6.2.8.3 對使用中的曝光曲線，每年至少應校驗一次。射線設備更換重要部件或 經較大修理后應及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。6.2.9 無用射線和散射線屏蔽6.2.9.1 應采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當措施，屏蔽散射線 和無用射線，限制照射場范圍。6.2.9.2 對初次制定的

13、檢測工藝或當在使用中檢測工藝的條件、環境發生改變 時, 應進行背散射防護檢查。檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“ B”鉛字標記，一般 B 鉛字的 高度為 13mm、厚度為 1.6mm,按檢測工藝的規定進行透照和暗室處理。若在底片 上出現黑度低于周圍背景黑度的 “ B”字影像，則說明背散射防護不夠 , 應增大背 散射防護鉛板的厚度。 若底片上不出現 “B”字影像或出現黑度高于周圍背景黑 度的“ B”字影像，則說明背散射防護符合要求。6.2.10 像質計的使用 像質計一般應放置在工件源側表面焊接接頭的一端 （在被檢區長度的 1/4 左右位 置）, 金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側。當一張膠片上

14、同時透照多條焊接接頭 時, 像質計應放置在透照區最邊緣的焊縫處。6.2.10.1 像質計放置原則a）單壁透照規定像質計放置在源側。雙壁單影透照規定像質計放置在膠片側。雙壁雙影透照像質計可放置在源側，也可放置在膠片側b）單壁透照中，如果像質計無法放置在源側，允許放置在膠片側。c）單壁透照中像質計放置在膠片側時，應進行對比試驗。對比試驗方法是 在射源側和膠片側各放一個像質計，用與工件相同的條件透照，測定出 像質計放置在源側和膠片側的靈敏度差異，以此修正應識別像質計絲 號，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。d）當像質計放置在膠片側時，應在像質計上適當位置放置鉛字“ F”作為標 記， F 標記的影像

15、應與像質計的標記同時出現在底片上， 且應在檢測報 告中注明。6.2.10.2 原則上每張底片上都應有像質計的影像。 當一次曝光完成多張膠片照 相時，使用的像質計數量允許減少但應符合以下要求 :a）環形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地 放置 3個像質計 ;b）球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時，至少在北極區、赤道 區、南極區附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置 3 個像質計，在南、北 極的極板拼縫上各放置 1 個像質計 ;c）一次曝光連續排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張 膠片處各放置一個像質計。6.2.10.3 小徑管可選用通用線型像質計或 JB/

16、T4730-2005 附錄 F（規范性附錄） 規定的專用（等徑金屬絲）像質計，金屬絲應橫跨焊縫放置。6.2.10.4 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區）能夠清晰地看 到長度不小于 10mm的連續金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。專用像質計 至少應能識別兩根金屬絲。6.2.11 標記6.2.11 .1 透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。 標記一般由適當尺寸的 鉛（或其他適宜的重金屬）制數字、拼音字母和符號等構成。6.2.11.2 識別標記一般包括： 產品編號、 對接焊接接頭編號、 部位編號和透照 日期。返修后的透照還應有返修標記 , 擴大檢測比例的透照應有擴大檢測標記。6.

17、2.11.3 定位標記一般包括中心標記和搭接標記。 中心標記指示透照部位區段 的中心位置和分段編號的方向 , 一般用十字箭頭“”表示。搭接標記是連續檢 測時的透照分段標記，可用符號“”或其他能顯示搭接情況的方法表示。6.2.11 .4 標記一般應放置在距焊縫邊緣至少 5mm以外的部位，搭接標記放置的 部位還應符合附錄 G（規范性附錄）的規定。所有標記的影像不應重疊，且不應 干擾有效評定范圍內的影像。6.3 受檢物環境及檢測部位表面狀況的準備6.3.1 輻射防護6.3.1.1 放射衛生防護應符合 GB 18871、GB 16357和 GB 18465 的有關規定。6.3.1.2 現場進行射線檢測

18、時， 應按 GB16357的規定劃定控制區和管理區、 設 置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。6.3.1.3 現場進行 射線檢測時，應按 GB18465的規定劃定控制區和監督區、 設置警告標志， 檢測作業時， 應圍繞控制區邊界測定輻射水平。 檢測工作人員應 佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。6.3.2 焊縫表面質量要求6.3.2.1 在射線檢測之前， 對接焊接接頭的表面應經外觀檢測并合格。 表面的不 規則狀態在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。6.4 檢測的實施6.4.1 檢測時機6.4.1.1 除非另有規定，射線檢測應在焊后進行。對有延遲裂紋

19、傾向的材料，至 少應在焊接完成 24h 后進行射線檢測。6.4.2 檢測方法6.4.2.1 根據工件特點和技術條件， 選擇不同的檢測方法， 具體布置按照 要求。6.4.3 貼片、屏蔽6.4.3.1 用磁性貼片夾或其他工具貼片，盡量保證整個膠片與被檢焊縫緊帖（但 不得使膠片因受壓受折而損壞） 。6.4.3.2 應使膠片暗袋的中心對準射源束中心，以保證膠片曝光量均勻。6.4.3.3 當背散射比較嚴重時，應在暗袋背面襯以 12mm厚的鉛皮以阻擋散射 線。6.4.3.4 為監測背散射和無用附射，可適當在每個暗袋后背帖附“ B”字的鉛標 記，該標記影像不得疊加在焊縫影像上，并離焊縫邊緣 5mm以上。6.

20、4.4 拍片操作6.4.4.1 設備使用前檢查各部件接頭是否接觸良好， 電池或者電壓是否滿足拍片 需要，曝光時間是否準確等。6.4.4.2 用射線機進行透照時，根據射線機曝光曲線選擇合適的曝光參數，包括 管電壓和曝光時間。6.4.4.3 用源進行拍片時， 將源頭放到指定位置， 源頭作適當的固定， 防止源 頭松動造成廢片，然后將源搖出進行曝光。6.4.5 膠片處理6.4.5.1 膠片可按膠片說明書的方法處理。沖洗方式分為手工沖洗和自動沖洗， 膠片的自動沖洗應注意精確控制膠片顯影、 定影、水洗、干燥的傳遞速度及藥液 補充。6.4.5.2 膠片的手工沖洗應采用槽浸方式，在 20 2進行顯定影操作。定

21、影 后的底片應進行充分水洗和 0.1%濃度的洗滌劑脫水，然后自然干燥或在烘箱內 烘干。6.4.5.3 顯影時間一般為 4至 6min，停濕液采用 3%的醋酸溶液，停顯時間為 30s 左右，定影時間一般為 15min 左右，膠片剛進入顯定影液時應做約 10s 的上下抖 動處理。6.4.5.4 藥液的配制應按說明書進行操作6.4.6 評片要求6.4.6.1 評片一般應在專用的評片室內進行。 評片室應整潔、 安靜， 溫度適宜 , 光線應暗且柔和。6.4.6.2 評片人員在評片前應經歷一定的暗適應時間。 ?從陽光下進入評片的暗 適應時間一般為 5 min 10min；從一般的室內進入評片的暗適應時間應

22、不少于 30s。6.4.6.3 評片時，底片評定范圍內的亮度應符合下列規定： 當底片評定范圍內的黑度 D2.5 時，透過底片評定范圍內的亮度應不低于230cd/m2；10當底片評定范圍內的黑度 D2.5 時, 透過底片評定范圍內的亮度應不低于210cd/m2。6.4.6.4 底片評定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側 5mm寬的區域。6.4.7 底片質量6.4.7.1 底片上, 定位和識別標記影像應顯示完整、位置正確。6.4.7.2 底片評定范圍內的黑度 D 應符合下列規定 :A 級：1.5 D4.0 ；AB 級： 2.0 D 4.0 ；B 級：2.3 D4.0 。用 X 射線透照小徑管或其他

23、截面厚度變化大的工件時， AB 級最低黑度允許 降至 1.5 ； B級最低黑度可降至 2.0 。采用多膠片方法時，單片觀察的黑度應符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于 A級，疊加觀察時，單片的黑度應不低于 1.3 。對評定范圍內的黑度 D4.0 的底片，如有計量檢定報告證明底片評定范圍 內的亮度能夠滿足要求，允許進行評定。6.4.7.3 底片的像質計靈敏度單壁透照、像質計置于源側時應符合 JB/T4730-2005 中表 5 的規定；雙壁雙 影透照、像質計置于源側時應符合 JB/T4730-2005 中表 6 的規定；雙壁單影或雙 壁雙影透照、像質計置于膠片側時應符合 JB/T4730-2005

24、中表 7 的規定。6.4.7.4 底片評定范圍內不應存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽 缺陷影像。6.4.8 檢測結果的評定和質量分級6.4.8.1 范圍本條規定適用于厚度為 2 mm400mm的碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、 鎳及鎳基合金制承壓設備，以及厚度為 2 mm80mm銅及銅合金制承壓設備的熔 化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。管子和壓力管道環向對接焊接接頭射線檢測質量分級按照 JB/T4730-2005 第 6 章的規定執行。6.4.8.2 缺陷類型11對接焊接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓 形缺陷五類。6.4.8.3 質量分級依據根據對接接

25、頭中存在的缺陷性質、 數量和密集程度， 其質量等級可劃分為、 、級。6.4.8.4 質量分級一般規定6.4.8.4.1 級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。6.4.8.4.2 級和級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。6.4.8.4.3 對接焊接接頭中缺陷超過級者為級。當各類缺陷評定的質量級別不同時， 以質量最差的級別作為對接焊 接接頭的質量級別。6.4.8.5 圓形缺陷的質量分級6.4.8.5.1 圓形缺陷用圓形缺陷評定區進行質量分級評定，圓形缺陷評定區為 一個與焊縫平行的矩形，其尺寸見表 6-4 。圓形缺陷評定區應選在缺陷最嚴重的 區域。6.4.8.5.2

26、在圓形缺陷評定區內或與圓形缺陷評定區邊界線相割的缺陷均應劃 入評定區內。 將評定區內的缺陷按表 6-5 的規定換算為點數， 按表 6-6 的規定評 定對接焊接接頭的質量級別。表 6-4 缺陷評定區 mm母材公稱厚度 T 2525100100評定區尺寸101010201030表 6-5 缺陷點數換算表缺陷長徑 ,mm112233446688缺陷點數123610152512表 6-6 各級允許的圓形缺陷點數評定區（ mmmm）101010201030母材公稱厚度 T,mm 1010151525255050100100級123456級369121518級61218243036級缺陷點數大于級或缺陷長

27、徑大于 T/2注：當母材公稱厚度不同時，取較薄板的厚度。6.4.8.5.3 由于材質或結構等原因 , 進行返修可能會產生不利后果的對接焊接 接頭，各級別的圓形缺陷點數可放寬 1 點2點。6.4.8.5.4 對致密性要求高的對接焊接接頭，制造方底片評定人員應考慮將圓 形缺陷的黑度作為評級的依據。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷, 當對接焊接接頭存在深孔缺陷時，其質量級別應評為級。6.4.8.5.5 當缺陷的尺寸小于表 6-7 的規定時，分級評定時不計該缺陷的點數。 質量等級為級的對接焊接接頭和母材公稱厚度 T 5mm的級對接焊接接頭， 不計點數的缺陷在圓形缺陷評定區內不得多于 10 個，超過

28、時對接焊接接頭質量 等級應降低一級。表 6-7 mm母材公稱厚度 T缺陷長徑T 250.525 501.4 T條形缺陷的質量分級條形缺陷按表 6-8 的規定進行分級評定13表 6-8 各級對接焊接接頭允許的條形缺陷長度 mm級別單個條形缺陷最大長度一組條形缺陷累計最大長度不允許 T/3（最小可為 4）且 20在長度為 12T 的任意選定條形缺陷評定區內， 相鄰 缺陷間距不超過 6L 的任一組條形缺陷的累計長度 應不超過 T, 但最小可為 42T/3（最小可為 6）且 30在長度為 6T 的任意選定條形缺陷評定區內，相鄰 缺陷間距不超過 ?3L 的任一組條形缺陷的累計長度 應不超過 T，但最小可

29、為 6大于級注 1：L為該組條形缺陷中最長缺陷本身的長度； T 為母材公稱厚度，當母材公稱厚度不同時取較薄 板的厚度值。注 2：條形缺陷評定區是指與焊縫方向平行的、具有一定寬度的矩形區，T 25mm，寬度為 4mm；25 mm 100mm，寬度為 8mm。注 3 ：當兩個或兩個以上條形缺陷處于同一直線上、且相鄰缺陷的間距小于或等于較短缺陷長度時， 應作為 1 個缺陷處理，且間距也應計入缺陷的長度之中。綜合評級6.4.8.7.1 在圓形缺陷評定區內同時存在圓形缺陷和條形缺陷時，應進行綜合 評級。6.4.8.7.2 綜合評級的級別如下確定：對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別， 將兩者級別之和減一作為綜合評級的質量級別。6.5 檢測原始記錄6.5.1 原始范圍：檢測委托單、檢測工藝卡、檢測原始記錄、射線底片、檢測部 位圖、返