標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法》是一項國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在為通信領(lǐng)域中使用的光電子器件提供一套系統(tǒng)化的可靠性測試方案。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各類用于數(shù)據(jù)傳輸、信號處理等通信目的的光電子元件，如激光器、光電探測器、調(diào)制器等。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，可靠性試驗涵蓋了多個方面，包括但不限于環(huán)境應(yīng)力篩選、壽命評估、加速老化實驗等。這些測試旨在模擬實際使用條件下可能遇到的各種情況，通過嚴(yán)格的條件設(shè)定來檢測和驗證光電子器件在長期運行中的穩(wěn)定性和耐用性。

對于環(huán)境應(yīng)力篩選而言，它通常涉及到溫度循環(huán)、濕度變化等因素下的性能測試；而壽命評估則更多地關(guān)注于器件在持續(xù)工作狀態(tài)下的表現(xiàn)，比如連續(xù)發(fā)光時間對激光器的影響；加速老化實驗則是通過施加比正常使用更嚴(yán)苛的條件（例如更高的溫度或更大的電流），以縮短試驗周期的方式來預(yù)測產(chǎn)品在整個使用壽命期間的質(zhì)量狀況。

此外，《GB/T 33768-2017》還規(guī)定了詳細(xì)的測試程序、所需設(shè)備及其規(guī)格要求，以及如何記錄與分析實驗結(jié)果等內(nèi)容。這不僅有助于制造商確保其產(chǎn)品質(zhì)量符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，也為采購方提供了評估不同供應(yīng)商所提供光電子產(chǎn)品可靠性的依據(jù)。

該標(biāo)準(zhǔn)強調(diào)了測試過程中需要注意的安全措施，并指出所有操作都應(yīng)在具備相應(yīng)資格的專業(yè)人員指導(dǎo)下進行。同時，也鼓勵相關(guān)企業(yè)和研究機構(gòu)基于此框架不斷探索更加先進有效的檢測技術(shù)，推動整個行業(yè)的技術(shù)進步與發(fā)展。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2017-05-31 頒布
  • 2017-12-01 實施
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文檔簡介

ICS3318020

M31..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T33768—2017

通信用光電子器件可靠性試驗方法

Reliabilitytestmethodforoptoelectronicdevicesusedintelecommunications

2017-05-31發(fā)布2017-12-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

通信用光電子器件可靠性試驗方法

GB/T33768—2017

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20176

*

書號

:155066·1-56887

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T33768—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

一般要求

4…………………1

試驗類型

4.1……………1

試驗設(shè)備

4.2……………1

試驗環(huán)境

4.3……………2

抽樣方案

4.4……………2

試驗報告

4.5……………2

詳細(xì)要求

5…………………3

符合性試驗

5.1…………………………3

光電特性

5.1.1………………………3

外形尺寸

5.1.2………………………4

外部目檢

5.1.3………………………4

機械完整性試驗

5.2……………………5

機械沖擊

5.2.1………………………5

變頻振動

5.2.2………………………6

熱沖擊

5.2.3…………………………7

光纖扭力

5.2.4………………………8

光纖側(cè)向拉力

5.2.5…………………9

光纖拉力

5.2.6………………………9

引腳牢固性

5.2.7……………………10

連接器插拔耐久性

5.2.8……………11

受力傳輸

5.2.9………………………12

環(huán)境試驗

5.3……………13

高溫貯存

5.3.1………………………13

低溫貯存

5.3.2………………………14

溫度循環(huán)

5.3.3………………………14

恒定濕熱

5.3.4………………………16

抗潮濕循環(huán)

5.3.5……………………16

高溫壽命

5.3.6………………………18

物理特性試驗

5.4………………………19

內(nèi)部水汽含量

5.4.1…………………19

密封性

5.4.2…………………………20

閾值

5.4.3ESD………………………22

抗擾度

5.4.4ESD……………………24

Ⅰ

GB/T33768—2017

芯片剪切力

5.4.5……………………27

可焊性

5.4.6…………………………28

引線鍵合強度

5.4.7…………………30

可燃性

5.4.8…………………………31

參考文獻

……………………34

Ⅱ

GB/T33768—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部通信歸口

()。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位武漢烽火科技集團有限公司中興通訊股份有限公司中國信息通信研究院深圳

:、、、

新飛通光電子技術(shù)有限公司

。

本標(biāo)準(zhǔn)起草人趙先明宋夢洋江毅龔雪羅勇鄧智芳楊春武成賓趙文玉陳悅

:、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T33768—2017

通信用光電子器件可靠性試驗方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通信用光電子器件可靠性試驗方法的術(shù)語和定義一般要求詳細(xì)要求包括試驗的

、、,

目的設(shè)備條件程序檢驗及失效判據(jù)

、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于通信用光電子器件其他領(lǐng)域的光電子器件也可參照使用

,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

質(zhì)量管理體系要求

GB/T19001

通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求

GB/T21194

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T21194。

31

.

光電子器件optoelectronicdevice

具有光電特性的元件

。

注包括但不限于激光二極管發(fā)光二極管光電二極管雪崩光電二極管及由它們組成的組件或模塊統(tǒng)稱光電

:

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