1、場均勻性測試（FU）（翻譯至：IEC 61000-4-3）6.2場地校準場地校準的目的是確保在被測樣品上產生的場的均勻性， 以便能保證測試結 果的有效性。為了保證場強探頭的讀數準確，在場地校準時，發射信號不進行任 何調制。IEC 61000-4-3定義了 “均勻面”的概念，該面是一個被認為場的變化足夠 小的假想的垂直面。除非 EUT及其線束內在一個較小的區域內被充分的照射， 通常的均勻面的尺寸為1.5mX 1.5m。均勻面的最小尺寸不能小于 0.5mX0.5m（僅 一個4點的窗口）。在測試布置中，應把EUT被照射的面和該均勻面重合起來。（如圖）暗室墻室時啥富皆續的比新建特源可選的吸波材料,在半

2、，電波暗空 中可曜少地面的反射立式設備的測試場均句域連畿小于1米場發射入戰驗收式鐵綱體及EML潴波器小于3米的連綻,無感式摘質成不超過】來的氏度可選的噴波材料.在幸電波暗富 中可減少地面的反肘非耳電匚作臺J 1連繾大于3米或無規定時外科長度為1臺式設備的測試由于在參考地平面附近不可能建立一個均勻場， 所以，被校面的高度不能低 于0.8米。如果有可能，以后測試時，EUT也盡可能處于這個高度。有一些EUT及其線束在測試時必須要靠近參考地平面或者超出1.5m X 1.5m的范圍，那測試高度也可定在 0.4m,但關于EUT的所有的尺寸數據應當包含的 報告中加以說明。均勻面的校準要在一個空暗室中進行，其

3、中僅保留測試相關的東西（天線， 探頭，額外的吸波材料等等）。均勻面校準應當每年進行一次或是在暗室內配置 改變時（吸波材料的更換、移動，設備改變等）立刻進行。發射天線應放置在一個合適的距離上，以便發射場的主瓣帶寬能夠覆蓋1.5mx 1.5m的校準面。如果均勻面想要覆蓋一個尺寸大于1.5mX1.5m的EUT受測面，那么，容納EUT受測面的均勻面要進行一系列的照射和測試（部分照 射法）。即：1 .發射天線處于不同的位置，進行均勻面的校準，這樣，拼合起來的校準面 能夠容納EUT受測面。2 .或者，將EUT放在不同的位置，這樣，具上的每個部分都能被校準面覆蓋。如果一個容納大于1.5mx 1.5mEUT受

4、測面的校準面滿足場均勻性測試的要 求，則可以不進行部分照射法。場強探頭同發射天線的距離至少為 1米。最好是3米，這是天線和EUT之 間的距離。這個距離是以雙錐天線的中心或周期天線的標記處為準量得的。 這些 要在報告中給予說明。在出現爭議時，3米法校準為優先考慮的若校準面中的大部分點（75%以上）的歸一化值在（一0+6dB）內時，該面上的場被認為是均勻。如果校準面尺寸為 0.5mx 0.5m,則全部點都應滿足要求。允許有3%的頻率的歸一值落入+ 6dB+10dB的容限范圍內，但不能低于一 0dB,但要在報告中注明。若存在爭議時， 0+ 6dB范圍優先。通常，對全電波暗室或半電波暗室的場校準的布置

5、如下圖：場校準一般在水平和垂直極化方式下用給定的頻率步進的無調制載波進行測試。場校準時所用的場強至少為測試時用在 器工作于線性區。將這個校準場強記做 強則不能超過Ec/1.8。EUT上的場強的1.8倍，且要保證放大Ec。這個值僅用于場的校準，測試用場以下介紹了兩種不同的場校準方法。 如果使用正確，這兩種方法能給出相同 的場均勻性結果。如果EUT所有的面（包含一些線束）都能包含在“測試域”中，則認為場校準是有效的。用于場地校準的天線和電纜可用于以后的對 EUT的測試。也正因為使用了 相同的天線和電纜，電纜的損耗和發射天線的天線系數在測試中可以不必考慮。校準時，應記錄好天線，電纜及相關設備的位置，

6、因為場地中極小的改動都 會對場造成很大的影響，在以后的測試中要使用和校準時相同的位置。6.2.1恒定場強校準法通過調整前向功率，建立一個場強恒定的均勻場，用一個經校準的場強探頭 已指定的步長在每個頻段內進行測量，一個位置接一個位置的測，一共 16個位 置。，5 m地板16個位置的前向功率的測量以 dBm為單位各向同性場棚探頭以下為校準步驟：1 .將場探頭置于16個測試位置中的一個，并將信號發生器的頻率設為校準要求 中的最低頻率（比如：80MHz）。2 .調整饋入發射天線的前向功率（即調整功放的增益），使場強達到校準要求的 Ec。記錄此時的前向功率值。3 .以最大為前頻率的1 %為步進，增加頻率

7、。4 .重復2、3步，直到該頻段的最大頻率點。（使每個頻點的場強都一樣）5 .在每個測試位置重復14步，直到測算16個位置。測完之后，在每個頻點：6,將16個前向功率值作升序排列。7 .從最大值開始，檢查是否至少有11個低于該值的數和該最大值的差在容限- 6dB+0dB 內。8 .若不在上述容限內，照上述步驟重測該頻點，注意到，每個頻點有5個可重測的位置（5個重測完后，仍不達標，校準失敗）9 .不含最大值，如果至少12個值在6dB容限內，則校準完成10 2.2恒定功率校準法通過調整前向功率，建立一個場強恒定的均勻場，用一個經校準的場強探頭已指定的步長在每個頻段內進行測量，一個位置接一個位置的測

8、，一共 16個位在16個位置應用相同的前向功率，由此在每一個位置記錄產生的場強。以下為校準步驟：1 .將場探頭置于16個測試位置中的一個，并將信號發生器的頻率設為校準要求 中的最低頻率（比如：80MHz）。2 .調整饋入發射天線的前向功率（即調整功放的增益），使場強達到校準要求的 Ec。記錄此時的前向功率值和場強值。3 .以最大為前頻率的1 %為步進，增加頻率。4 .重復2、3步，直到該頻段的最大頻率點。（使每個頻點的場強都一樣）5 .應用2步中每個頻點記錄的前向功率值（保持功率值不變），在每個位置重復14步，記錄場強值，直到測算所有的 16個位置。測完之后，在每個頻點：6 . 將16個場強值作升序排列7 .選一個場強值為參考值，在dB單位下計算其它值同參考值的差值。8 .從最小